真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)

真空斷路(lu)器(qi)是(shi)判斷真空管(guan)真空度(du)劣(lie)化與(yu)否(fou)的常(chang)用方法(fa)是(shi)工(gong)頻耐壓法，這(zhe)種方法(fa)只是(shi)能判斷真空度(du)嚴(yan)重劣化的(de)滅(mie)弧(hu)室(shi)。而(er)當真空度(du)劣(lie)化到(dao)10-1-10-1 Pa時，雖然(ran)擊(ji)穿電壓沒(mei)有(you)降(jiang)低(di)，但(dan)滅(mie)弧(hu)室(shi)已(yi)不合格(ge)。HTZK-IV型真空開(kai)關真空度(du)測(ce)試(shi)儀采(cai)用新型勵磁線圈(quan)，運(yun)用磁控放(fang)電(dian)法(fa)測(ce)試(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)的(de)真空度(du)，不必拆(chai)卸滅(mie)弧(hu)室(shi)。同(tong)時(shi)采(cai)用微機進行(xing)同(tong)步(bu)控制(zhi)與(yu)數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)處理(li)，使(shi)滅(mie)弧(hu)室(shi)真空度(du)的(de)現場(chang)測(ce)試(shi)靈(ling)敏(min)度(du)達(da)到(dao)了10-5Pa。本儀器(qi)Z突出(chu)的(de)特(te)點(dian)是(shi)