ET2512D智能直(zhi)流低電(dian)阻測試儀(yi)

本測試儀(yi)於(yu)測量1μΩ到20kΩ範圍(wei)的(de)電(dian)阻。可(ke)取代電(dian)橋(qiao)測量開(kai)關(guan)、插頭(tou)、插(cha)座(zuo)的(de)接(jie)地電(dian)阻、線(xian)圈(quan)的(de)繞組(zu)電(dian)阻及電(dian)纜(lan)的(de)導(dao)線(xian)電(dian)阻等(deng)各(ge)類低值電(dian)阻。儀(yi)器有附(fu)加分選功(gong)能，在分選狀(zhuang)態(tai)時(shi)，可(ke)選(xuan)擇(ze)顯示(shi)電(dian)阻值(zhi)或(huo)百(bai)分比值(zhi)，且可(ke)依(yi)設(she)定(ding)值判(pan)別(bie)電(dian)阻值(zhi)太(tai)大、太(tai)小或(huo)為(wei)良品。同(tong)時(shi)，儀(yi)器可(ke)選(xuan)配(pei)通訊接(jie)口(kou)。