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ZDBX-A 變壓(ya)器繞組變形測(ce)試(shi)儀根據對變壓(ya)器內部(bu)繞組特(te)征(zheng)參(can)數(shu)的(de)測(ce)量，采用目(mu)前世界(jie)發(fa)達國(guo)家正(zheng)在(zai)開(kai)發(fa)完善(shan)的(de)內(nei)部(bu)故障(zhang)頻率響(xiang)應(ying)分析（FRA）方法(fa)，能對變壓(ya)器內部(bu)故障(zhang)作出(chu)準確(que)判(pan)斷(duan)。
變壓(ya)器設計制(zhi)造完成(cheng)後(hou)，其線圈和(he)內(nei)部(bu)結(jie)構就確(que)定(ding)下(xia)來，因此(ci)對壹臺(tai)多繞組的(de)變壓(ya)器線圈而言，如(ru)果電(dian)壓等級相(xiang)同(tong)、繞制(zhi)方法(fa)相(xiang)同(tong)，則每(mei)個(ge)線圈對應參(can)數(shu)(Ci、Li)就應該是(shi)確(que)定(ding)的(de)。因(yin)此每(mei)個(ge)線圈的(de)頻(pin)域特(te)征(zheng)響(xiang)應(ying)也隨之確(que)定(ding)，對應的(de)三(san)相(xiang)線圈之間其(qi)頻率圖(tu)譜具有壹(yi)定(ding)可(ke)比性。
變壓(ya)器在試驗(yan)過程中發(fa)生(sheng)匝間、相(xiang)間短路，或(huo)在運(yun)輸過(guo)程中發(fa)生(sheng)沖(chong)撞，造成(cheng)線圈相(xiang)對位(wei)移(yi)，以(yi)及(ji)運(yun)行過(guo)程中在短路和(he)故障(zhang)狀態(tai)下(xia)因(yin)電(dian)磁(ci)拉(la)力(li)造成(cheng)線圈變形，就會(hui)使變壓(ya)器繞組的(de)分布參數(shu)發(fa)生(sheng)變化(hua)。進(jin)而影(ying)響(xiang)並(bing)改變變壓(ya)器原(yuan)有(you)的(de)頻(pin)域特(te)征(zheng)，即頻率響(xiang)應(ying)發(fa)生(sheng)幅(fu)度變化(hua)和(he)諧(xie)振頻(pin)點偏(pian)移等。並根據響(xiang)應(ying)分析方法(fa)研(yan)制開發(fa)的(de)ZDBX-A變壓(ya)器繞組頻率響(xiang)應(ying)測試儀，就是(shi)這(zhe)樣(yang)壹(yi)種新穎的(de)變壓(ya)器內部(bu)故障(zhang)無損檢(jian)測設備(bei)。它(ta)適(shi)用於(yu)63kV～500kV電(dian)力變壓(ya)器的(de)內(nei)部(bu)結(jie)構故障(zhang)檢(jian)測。
變壓(ya)器繞組變形測(ce)試(shi)儀、繞組變形測(ce)試(shi)儀
1． 采(cai)集控(kong)制(zhi)采用高速、高集成(cheng)化微處(chu)理器(qi)。
2． 筆記本(ben)電(dian)腦(nao)與儀器(qi)之間通信(xin)USB接口。
3． 筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)與儀器(qi)之間通信(xin)無線藍牙(ya)接(jie)口。
4． 硬(ying)件機芯(xin)采用DDS數(shu)字(zi)高速掃頻(pin)技術(shu)(美國(guo))，通過(guo)測(ce)試可(ke)以(yi)準(zhun)確(que)診(zhen)斷出(chu)繞組發(fa)生(sheng)扭(niu)曲(qu)、鼓包、移位(wei)、傾(qing)斜(xie)、匝間短路變形及(ji)相(xiang)間接(jie)觸短路等故障(zhang)。
5． 高分辨(bian)dB值測量(liang)，雙(shuang)通道(dao)16位(wei)A/D(現場試驗(yan)改變分接開關，即有明(ming)顯(xian)輸出(chu)變化(hua))。
6． 信(xin)號輸出(chu)幅(fu)度可(ke)以(yi)軟(ruan)件調(tiao)節，zui大幅(fu)度峰(feng)值±10V。
7． 計算(suan)機將(jiang)檢(jian)測結(jie)果生(sheng)成(cheng)電(dian)子文檔(Word)。
8． 選(xuan)用精(jing)密、高穩(wen)定(ding)元器件，對同壹(yi)相(xiang)重復試驗(yan)，測量重復率在(zai)99.5%以(yi)上(shang)。
9． 成(cheng)品電(dian)路板(ban),表(biao)面(mian)有特(te)殊處(chu)理，具有抗(kang)水和(he)有(you)害(hai)氣(qi)體汙(wu)染(ran)。
10．儀器(qi)具有線性掃頻(pin)測(ce)量和(he)分段掃頻(pin)測(ce)量雙(shuang)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)功能,兼容當(dang)前國內(nei)兩種(zhong)技術(shu)流(liu)派的(de)測(ce)量模(mo)式(shi)。
11．幅(fu)頻特(te)性符合(he)國(guo)家(jia)關於(yu)幅(fu)頻特(te)性測(ce)試(shi)儀的(de)技術(shu)指標(biao)。橫(heng)坐(zuo)標(biao)（頻(pin)率）具有線性分度及對數分度兩種(zhong)，因(yin)此打(da)印出(chu)的(de)曲(qu)線可(ke)以(yi)是(shi)線性分度曲線也可(ke)以(yi)是(shi)對數分度曲線，用戶(hu)可(ke)根據實(shi)際(ji)需要(yao)選(xuan)用。
12．檢(jian)測數據自動分析系統,橫向比較(jiao)A、B 、C三(san)相(xiang)之(zhi)間進(jin)行繞組相(xiang)似(si)性(xing)比較(jiao),其結(jie)果為:①*性(xing)很(hen)好(hao)②*性(xing)較(jiao)好(hao)③*性(xing)較(jiao)差④*性(xing)很(hen)差(cha),縱向(xiang)比較(jiao)A-A、B-B、C-C調(tiao)取(qu)原(yuan)數(shu)據與當(dang)前數據同相(xiang)之(zhi)間進(jin)行繞組變形比較(jiao)，其結(jie)果為:①正(zheng)常(chang)繞組②輕度(du)變形③中度變形④嚴(yan)重變形④。
13．自(zi)動生(sheng)成(cheng)Word電(dian)子文檔，供(gong)保(bao)存(cun)和(he)打(da)印。
14．該(gai)儀器(qi)*電(dian)力標(biao)準(zhun)DL/T911－2004《電(dian)力變壓(ya)器繞組變形的(de)頻(pin)率響(xiang)應(ying)分析法(fa)》的(de)技術(shu)條(tiao)件。
1、掃描(miao)方(fang)式(shi)：
（儀器(qi)具備(bei)線性掃頻(pin)測(ce)量和(he)分段掃頻(pin)測(ce)量雙(shuang)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)）
（1）線性掃描(miao)分布
掃頻(pin)測(ce)量範圍(wei)：(1kHz)-(2MHz)、2000掃頻(pin)點、分辨(bian)率為(wei)1kHz
（2）分段掃頻(pin)測(ce)量分布
掃頻(pin)測(ce)量範圍(wei)：(0.5kHz)-(1MHz)、2000掃頻(pin)點；
(0.5kHz)-(10kHz)、 分辨(bian)率為(wei)0.02kHz
(10kHz)-(100kHz)、 分辨(bian)率為(wei)0.2kHz
(100kHz)-(500kHz)、 分辨(bian)率為(wei)1kHz
(500kHz)-(1000kHz)、 分辨(bian)率為(wei)1kHz
2、其(qi)他(ta)技術(shu)參數(shu)：
2.1幅(fu)度測(ce)量(liang)範圍(wei): (-100dB)–(+20dB)
2.2幅(fu)度測(ce)量(liang)精(jing)度: 0.1dB
2.3掃描(miao)頻(pin)率精(jing)度(du): 小於(yu)0.01%
2.4信(xin)號輸入(ru)阻(zu)抗： 1MΩ
2.5信(xin)號輸出(chu)阻(zu)抗： 50Ω
2.6同(tong)相(xiang)測(ce)試(shi)重復率：99.5%
2.7測(ce)量(liang)儀器(qi)尺寸(長寬高) ：300×340×120(mm)
2.8儀器(qi)鋁合(he)金(jin)箱尺寸(長寬高) ：310×400×330(mm)
2.9總體(ti)重量(liang):10Kg
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