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產(chan)品(pin)展示您(nin)的(de)位(wei)置(zhi) >> 首頁(ye) > 產(chan)品(pin)展示 > 全(quan)自(zi)動互(hu)感(gan)器(qi)測試(shi)儀(yi) > CT伏安特性測(ce)試儀(yi) > HDCT-A CT伏安特性測(ce)試儀(yi)
該(gai)款儀(yi)器參(can)考了(le)GB 1208-2006適(shi)用(yong)於對保護(hu)類、計(ji)量(liang)類CT進(jin)行(xing)自(zi)動測(ce)試,適(shi)用(yong)於實(shi)驗(yan)室(shi)也適(shi)用(yong)於現場檢(jian)測(ce)。滿足(zu) GB1207、GB1208等(deng)規(gui)程(cheng)要(yao)求,無需外接(jie)其它輔助(zhu)設備(bei),單(dan)機即可完成(cheng)所(suo)有檢(jian)測(ce)項目,主要(yao)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)有:伏安特性(勵(li)磁(ci)特性)曲(qu)線、自(zi)動給(gei)出(chu)拐點值(zhi)、自(zi)動給(gei)出(chu)5%和(he)10%的(de)誤差(cha)曲線、變(bian)比(bi)測(ce)量(liang)極性(xing)判斷(duan)、壹(yi)次(ci)通(tong)流測(ce)試(shi)、交(jiao)流耐(nai)壓(ya)測(ce)試、鐵心(xin)退磁(ci)。
CT(保護(hu)類、計(ji)量(liang)類)
1、伏安特性(勵(li)磁(ci)特性)曲(qu)線
2、自(zi)動給(gei)出(chu)拐點值(zhi)
3、自(zi)動給(gei)出(chu)5%和(he)10%的(de)誤差(cha)曲線
4、變(bian)比(bi)測(ce)量(liang)
5、極性(xing)判斷(duan)
6、壹(yi)次(ci)通(tong)流測(ce)試(shi)
7、交(jiao)流耐(nai)壓(ya)測(ce)試
8、鐵心(xin)退磁(ci)

1、支持檢(jian)測(ce)CT。
2、滿足(zu) GB1207、GB1208等(deng)規(gui)程(cheng)要(yao)求。
3、無需外接(jie)其它輔助(zhu)設備(bei),單(dan)機即可完成(cheng)所(suo)有檢(jian)測(ce)項目。
4、自(zi)帶(dai)微型快(kuai)速(su)打印(yin)機、可直(zhi)接(jie)現場打印(yin)測(ce)試結(jie)果。
5、采用(yong)智(zhi)能(neng)控制器,操作(zuo)簡單(dan)。
6、大(da)屏(ping)幕(mu)液晶(jing),圖(tu)形化顯(xian)示接(jie)口(kou)。
7、按規(gui)程(cheng)自(zi)動給(gei)出(chu)CT/PT(勵(li)磁(ci))拐點值(zhi)。
8、自(zi)動給(gei)出(chu)5%和(he)10%誤差(cha)曲線。
9、可保存(cun)3000組(zu)測試(shi)資料(liao),掉(diao)電後(hou)不丟(diu)失(shi)。
10、支(zhi)持U盤轉(zhuan)存(cun)資料(liao),可以通過(guo)標準(zhun)的(de)PC進(jin)行(xing)讀(du)取(qu),並(bing)生(sheng)成(cheng)檢(jian)測(ce)報告。
11、小(xiao)巧輕(qing)便≤22Kg,非(fei)常(chang)利(li)於現場測試(shi)。

| 項目 | 參(can)數(shu) | |
| 工(gong)作(zuo)電源(yuan) | AC220V±10%、50Hz | |
| 設備(bei)輸出 | 0~1000V(20A峰值) | |
| 大(da)電(dian)流輸出 | 0~600A | |
| 勵(li)磁(ci)測量(liang)精度 | ≤0.5%(0.2%*讀(du)數(shu)+0.3%*量(liang)程) | |
| CT變比(bi)測(ce)量(liang) | 範圍 | ≤5000A/1A(25000A/5A) |
| 精度 | ≤0.5% | |
| 工(gong)作(zuo)環境(jing) | 溫度(du):-10℃~40℃,溫度(du):≤90%,海(hai)拔高(gao)度:≤1000mm | |
| 尺(chi)寸(cun) | 400mm*250mm*250mm | |
| 重(zhong)量(liang) | ≤20Kg | |
| 設備(bei)名稱 | 技術(shu)規(gui)格(ge) |
HDCT-A | 測試(shi)功(gong)能(neng):CT伏安特性、5%和(he)10%誤差(cha)曲線、變(bian)比(bi)、極性(xing)、退磁(ci)、二次(ci)回(hui)路(lu)、二次(ci)交(jiao)流耐(nai)壓(ya)。 |
HDHG-A![]() | 具(ju)有HDCT-A型所(suo)有功(gong)能(neng)外增(zeng)加PT伏安特性、變(bian)比(bi)、極性(xing)、二(er)次(ci)交(jiao)流耐(nai)壓(ya)測(ce)試功(gong)能(neng)。 |
HDHG-B![]() | 具有HDHG-A型所(suo)有功(gong)能(neng)外輸出電(dian)壓和(he)電(dian)流提高(gao)。 |
HDHG-C![]() | 具有HDHG-B型所(suo)有功(gong)能(neng)外增(zeng)加6000V高(gao)壓輸出。 |
HDHG-D![]() | 具(ju)有HDHG-C型所(suo)有功(gong)能(neng)外增(zeng)加:PT的(de)比(bi)差(cha)和(he)角(jiao)差(cha)測試(shi)功(gong)能(neng)。 |
HDHG-E![]() | 具有HDHG-D型所(suo)有功(gong)能(neng)提高(gao)單(dan)機輸出容(rong)量(liang)。 |
HDHG-F![]() | 具有其它型(xing)號(hao)的(de)所(suo)有功(gong)能(neng)並(bing)增(zeng)加CT/PT二(er)次(ci)實(shi)際(ji)負荷(he)測(ce)量(liang)。無需外接(jie)任何設備(bei)(調(tiao)壓(ya)器(qi))即可完成(cheng)所(suo)有測試(shi)項目。 |
HDHG-F3![]() | 具(ju)有HDHG-F型所(suo)有功(gong)能(neng)外,另可同(tong)時(shi)檢(jian)測(ce)三(san)組(zu)變比(bi)測(ce)量(liang)。 |
HDHG-F6![]() | 具有HDHG-F3型所(suo)有功(gong)能(neng)外,另支(zhi)持六組(zu)變比(bi)同(tong)時(shi)測(ce)量(liang)。 |
HDHG-251![]() | 易操作(zuo)。測試(shi)功(gong)能(neng):CT伏安特性、5%和(he)10%誤差(cha)曲線、變(bian)比(bi)、比(bi)差(cha)、相位(wei)、極性(xing)、退磁(ci)、二次(ci)回(hui)路(lu)、二次(ci)交(jiao)流耐(nai)壓(ya)。 |
HDHG-252![]() | 具(ju)有HDHG251型所(suo)有功(gong)能(neng)外,另可進(jin)行(xing)壹(yi)次(ci)同(tong)流測(ce)試(shi)。電(dian)壓法+電流法。 |
HDHG-256![]() | 具有HDHG252型所(suo)有功(gong)能(neng)外,另可支持六組(zu)變比(bi)同(tong)時(shi)測(ce)量(liang)。 |
HDHG-258B![]() | 變頻(pin)式。具(ju)有HDHG-F型所(suo)有功(gong)能(neng)外(除壹(yi)次(ci)通(tong)流測(ce)試(shi)、PT交(jiao)流耐(nai)壓(ya)試(shi)驗(yan))。另可測剩(sheng)磁(ci)、二次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數(shu)、勵(li)磁(ci)、暫(zan)態(tai)、峰瞬(shun)。 |
HDHG-258D![]() |