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LYFA3300變頻(pin)CT分析(xi)儀(yi)的(de)結(jie)構(gou)原理(li)如圖2.3所示(shi)，其中(zhong)的恒壓恒流(liu)變頻(pin)電(dian)源(yuan)模(mo)塊(kuai)與AC220V電(dian)源(yuan)輸入(ru)是(shi)*隔離的(de)。通(tong)過(guo)DSP數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)系(xi)統完成對(dui)恒壓恒流(liu)模(mo)塊(kuai)的控(kong)制，可(ke)以(yi)使電(dian)源(yuan)輸出AC0~180V正(zheng)弦電(dian)壓信(xin)號(hao)或(huo)者AC0~1A的(de)正(zheng)弦電(dian)流(liu)信(xin)號(hao)。
LYFA3300變頻(pin)CT分析(xi)儀(yi)的(de)使(shi)用範圍與技術指標
1.1 C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)功(gong)能(neng)與使用場合
C T分(fen)析(xi)儀(yi)用於電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)以(yi)下試驗(yan)：
1）勵磁特性試驗(yan)
2）匝(za)數(shu)比檢測(ce)
3）比(bi)差(cha)與角差校(xiao)驗(yan)
4）極(ji)性校(xiao)驗(yan)
5）二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)
6）二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
7）5%和(he)10%誤差曲線測(ce)量(liang)
8）CT暫(zan)態(tai)特(te)性測(ce)試與分析(xi)
9）CT銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)斷
10）拐(guai)點(dian)電(dian)壓/電(dian)流(liu)、準確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)、儀(yi)表(biao)保安系(xi)數、二次時間常數(shu)、剩(sheng)磁系數(shu)、準確(que)級、飽(bao)和(he)與不飽(bao)及電(dian)感(gan)，拐點(dian)電(dian)動(dong)勢(shi)，極限(xian)電(dian)動(dong)勢(shi)和(he)面(mian)積(ji)系數等(deng)CT 參(can)數(shu)的測(ce)量(liang)
11）電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯磁滯(zhi)回(hui)線測(ce)量(liang)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)還(hai)可(ke)用於電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)以(yi)下試驗(yan)：
1）PT匝(za)數(shu)比檢測(ce)
2）PT極(ji)性校(xiao)驗(yan)
3）PT二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)
4）PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
5) PT勵磁特性測(ce)量(liang)
裝置的應(ying)用場合主要(yao)有(you)：
1） CT銘(ming)牌(pai)的(de)參(can)數(shu)校(xiao)驗(yan)
2） CT接(jie)入(ru)當(dang)前負(fu)荷(he)時(shi)參(can)數(shu)校(xiao)驗(yan)
3） 分(fen)析(xi)CT的(de)暫(zan)態(tai)特(te)性對繼(ji)電(dian)保護裝置的影(ying)響(xiang)。
4） PT的(de)銘(ming)牌(pai)參(can)數(shu)校(xiao)驗(yan)
5） PT二次負(fu)荷(he)校(xiao)驗(yan)
1.2 C T分(fen)析(xi)儀(yi)技術指標
1 測(ce)試標準(zhun)依(yi)據(ju)：
IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,
GB16847, GBT4703, C57.13
2 輸入(ru)電(dian)源(yuan)電(dian)壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%
3 輸出電(dian)壓： 0.1~180V(AC)
4 輸出電(dian)流(liu)： 0.001~5A(RMS)
5 輸出功率：500VA
6 zui高(gao)等(deng)效拐點電(dian)壓：45KV
7 電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)： 範圍：0~10A (自動(dong)量程(cheng)0.1/0.4/2/10A)
誤差<±0.1%+0.01%FS
8 電(dian)壓測(ce)量(liang)： 範圍：0~200 V (自動(dong)量程(cheng)1/10/70/200V)
誤差< ±0.1%+0.01%FS
9 匝(za)數(shu)比測(ce)量(liang)： 範圍：1~35000，
1~2000 誤差<0.05%
2000~5000 誤差<0.1%
5000~35000 誤差<0.2%
10 相(xiang)位(wei)測(ce)量(liang)： 精(jing)度(du)：±2min，分(fen)辨(bian)率：0.01min
11 二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)範圍： 範圍：0~8KΩ(自動(dong)量程(cheng)2/20/80Ω/800Ω/8kΩ)
誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， zui大(da)分(fen)辨(bian)率：0.1mΩ
12 溫(wen)度(du)測(ce)量(liang)：-50~100度(du)， 誤差<3度(du)
13 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)
誤差0.2%RDG+0.02%FSzui大(da)分(fen)辨(bian)率0.001ohm
14 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)
誤差0.2%RDG+0.02%FSzui大(da)分(fen)辨(bian)率0.1ohm
15 PT匝(za)數(shu)比測(ce)量(liang)： 範圍：1~30000，
1~5000 誤差<0.2%
5000~30000 誤差<0.5%
16 能(neng)夠(gou)按(an)照(zhao)所選擇(ze)的(de)標準(zhun)，對(dui)測(ce)試結(jie)果進(jin)行自動(dong)評估，判(pan)斷互(hu)感(gan)器是(shi)否合格(ge)
17 能(neng)夠(gou)同(tong)時檢測(ce)額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)的比(bi)差與角差
18 具(ju)有(you)自動(dong)生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告功(gong)能
19 具(ju)備(bei)批量(liang)制作WORD試驗(yan)報(bao)告功(gong)能，壹次可(ke)以(yi)將選擇(ze)的(de)所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)制作成格(ge)式規(gui)範的WORD報(bao)告
20 能(neng)夠(gou)將勵磁曲線與存(cun)儲的(de)歷(li)史曲線進(jin)行自動(dong)對比(bi)
21 數(shu)據(ju)存(cun)儲組(zu)數(shu)：大(da)於1000組(zu)
22 工(gong)作條件(jian)： 溫(wen)度(du)：-10℃～50℃， 濕度(du)：≤90%
23 尺(chi)寸(cun)： 485mm×356mm×183mm
24 重(zhong)量：15Kg
第(di)二章(zhang) LYFA3300變頻(pin)CT分析(xi)儀(yi)硬(ying)件(jian)裝置
2.1 概(gai)述(shu)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)外形(xing)和(he)各部(bu)分的(de)描述如圖2.1所示(shi)
2.2電(dian)源(yuan)連接(jie)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)電(dian)源(yuan)輸入(ru)插(cha)座(zuo)在儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)的(de)右側(ce)，如圖2.2所示(shi)。電(dian)源(yuan)輸入(ru)範圍是(shi)AC220±10% ，50/60Hz±10%，電(dian)源(yuan)插(cha)座(zuo)內部(bu)安裝有(you)5A保險。
2.3輸入(ru)與輸出
CT/PT分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)測(ce)試接(jie)口(kou)有(you)3組(zu)：功(gong)率輸出，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)輸入(ru)，CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)輸入(ru)。
功(gong)率輸出端(duan)子(zi)：功(gong)率輸出接口(kou)，輸出電(dian)壓範圍是(shi)AC 0~180V，輸出電(dian)流(liu)AC0~5A
CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)輸入(ru)端(duan)子(zi)：
CT二次繞組/PT壹(yi)次繞組電(dian)壓測(ce)量(liang)輸入(ru)接(jie)口(kou)，輸入(ru)信(xin)號(hao)的(de)電(dian)壓範圍是(shi)AC0~180V
CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)輸入(ru)端(duan)子(zi)：CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)繞組電(dian)壓測(ce)量(liang)輸入(ru)接(jie)口(kou)，輸入(ru)信(xin)號(hao)的(de)電(dian)壓範圍是(shi)AC0~5V
2.4硬(ying)件(jian)部(bu)分原理(li)框圖
C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)結(jie)構(gou)原理(li)如圖2.3所示(shi)，其中(zhong)的恒壓恒流(liu)變頻(pin)電(dian)源(yuan)模(mo)塊(kuai)與AC220V電(dian)源(yuan)輸入(ru)是(shi)*隔離的(de)。通(tong)過(guo)DSP數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)系(xi)統完成對(dui)恒壓恒流(liu)模(mo)塊(kuai)的控(kong)制，可(ke)以(yi)使電(dian)源(yuan)輸出AC0~180V正(zheng)弦電(dian)壓信(xin)號(hao)或(huo)者AC0~1A的(de)正(zheng)弦電(dian)流(liu)信(xin)號(hao)。
DSP數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)系(xi)統的主要功能是(shi)完成對(dui)變頻(pin)電(dian)源(yuan)控制和(he)試驗(yan)過程(cheng)的數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)。所有(you)的(de)數據(ju)分(fen)析(xi)，存(cun)儲和(he)界(jie)面(mian)顯(xian)示(shi)都由工(gong)控(kong)機系統完成，工(gong)控(kong)機內置了(le)嵌(qian)入(ru)式(shi)XPE系(xi)統(tong)，並對系統的C盤進(jin)行的(de)自恢(hui)復保護，這(zhe)樣可(ke)以(yi)有(you)效的避免軟(ruan)件(jian)系(xi)統故障和(he)病毒(du)攻(gong)擊(ji)。儀(yi)器(qi)內部(bu)存(cun)儲空(kong)間>6G，zui大(da)存(cun)儲數(shu)據(ju)>1000組(zu)。
2.5鍵(jian)盤
C T分(fen)析(xi)儀(yi)面(mian)板(ban)帶(dai)有(you)壹(yi)個16鍵(jian)的(de)小(xiao)鍵(jian)盤用於數(shu)據(ju)輸入(ru)，鍵(jian)盤的外形(xing)如圖2.4所示(shi)，其中(zhong)各個按(an)鍵(jian)的(de)定(ding)義如下：
1）0~9 數(shu)字輸入(ru)鍵(jian)
2）∧向(xiang)上(shang)選擇(ze)方向鍵(jian)
3) ∨向(xiang)下(xia)選(xuan)擇(ze)方向鍵(jian)
4）＜刪(shan)除數據(ju)鍵(jian)
5）. 小(xiao)數(shu)點輸入(ru)鍵(jian)
6）ESC 取消選擇(ze)鍵(jian)
7）確(que)定(ding)選擇(ze)或(huo)輸入(ru)鍵(jian)
第(di)三章(zhang) 試驗(yan)連線
3.1 CT二次負(fu)荷(he)
在進(jin)行CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)請(qing)按(an)照(zhao)圖3.1連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)CT
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）將按照(zhao)圖3.1所示(shi)，斷開CT二次側(ce)和(he)二次回路的(de)連(lian)接(jie)
3）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)壹(yi)側(ce)，參(can)見圖(tu)3.1
4）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)的(de)另(ling)壹側(ce)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)CT分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.2。
註(zhu)意(yi)：在進(jin)行CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)，必須要斷開被測(ce)CT二次側(ce)與負(fu)載(zai)的(de)連(lian)接(jie)，否則(ze)測(ce)量(liang)的(de)結(jie)果(guo)將是CT二次側(ce)與二次負(fu)荷(he)的(de)並聯阻抗，這(zhe)將導致儀(yi)器(qi)獲(huo)得(de)錯誤的試驗(yan)結果(guo)。並且在進(jin)行二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)儀(yi)器(qi)不進(jin)行退(tui)磁處(chu)理(li)，因此如果CT二次側(ce)未斷開將會導致CT進(jin)入(ru)飽(bao)和(he)狀(zhuang)態。
3.2 CT分(fen)析(xi)，變比，極性試驗(yan)接線圖
在進(jin)行CT分(fen)析(xi)，變比或極性試驗(yan)時請(qing)按照(zhao)圖3.3連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)CT，這(zhe)三個試驗(yan)項目的接線方式是(shi)*的(de)
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）斷開電(dian)力(li)線與CT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)，未接地的(de)電(dian)力(li)線較(jiao)長，會給(gei)CT壹(yi)次側(ce)的測(ce)量(liang)引入(ru)較(jiao)大幹擾(rao)，參(can)見圖(tu)3.4。
3）將CT壹(yi)次側(ce)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)黑色(se)端(duan)子(zi)
4）將CT壹(yi)次側(ce)另(ling)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)
5）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
6）將按照(zhao)圖3.3所示(shi)，斷開被測(ce)CT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
7）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)的壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.3
8）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)
9）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
註(zhu)意(yi)：在對(dui)變比值(zhi)相(xiang)同(tong)的(de)多繞組(zu)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器進(jin)行CT分(fen)析(xi)或(huo)CT比(bi)差(cha)角差測(ce)試時(shi)，沒(mei)有(you)測(ce)試的(de)二次繞組應(ying)全(quan)部(bu)短(duan)接，否(fou)則(ze)測(ce)試誤差將會偏大
例如同時(shi)含(han)有(you)測(ce)量(liang)0.5級(ji)，保護10P10，暫(zan)態(tai) Y三個繞(rao)組(zu)的(de)2000/1的(de)CT，進(jin)行0.5級(ji)繞(rao)組(zu)的比差(cha)角差測(ce)量(liang)時(shi)應(ying)按(an)照(zhao)圖3.4.1進(jin)行接(jie)線
3.3 CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)接(jie)線圖
在測(ce)量(liang)CT線圈的直(zhi)流(liu)電(dian)阻時(shi)，請(qing)按照(zhao)圖3.5連(lian)接(jie)儀(yi)器(qi)和(he)被測(ce)CT。
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）按(an)照(zhao)圖3.5所示(shi)，斷開被測(ce)CT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
3）將CPTT分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)的壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.5
4）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
3.4 PT二次負(fu)荷(he)
在進(jin)行PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)請(qing)按(an)照(zhao)圖3.6連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)PT
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）將按照(zhao)圖3.6所示(shi)，斷開PT二次側(ce)和(he)二次回路的(de)連(lian)接(jie)
3）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)的(de)壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.6
4）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)的(de)另(ling)壹端(duan)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.2。
3.5 PT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)接(jie)線圖
在測(ce)量(liang)PT線圈的直(zhi)流(liu)電(dian)阻時(shi)，請(qing)按照(zhao)圖3.7連(lian)接(jie)儀(yi)器(qi)和(he)被測(ce)PT。
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）按(an)照(zhao)圖3.7所示(shi)，斷開被測(ce)PT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接，或(huo)是(shi)斷開PT壹(yi)次側(ce)與PT壹(yi)次線路的(de)連(lian)接(jie)
3）將CPTT分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT二次側(ce)(或(huo)PT壹(yi)次側(ce))的(de)壹(yi)端(duan)，參(can)見圖(tu)3.7
4）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT二次側(ce)（或PT壹(yi)次側(ce)）另(ling)壹端(duan)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
3.6 PT匝(za)數(shu)比，極性試驗(yan)接線圖
在進(jin)行PT變比或極性試驗(yan)時請(qing)按照(zhao)圖3.9連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)PT，這(zhe)兩(liang)個試驗(yan)項目的接線方式是(shi)*的(de)
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將PT二次側(ce)的壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)黑色(se)端(duan)子(zi)
2）將PT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)
3）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
4）將按照(zhao)圖3.9所示(shi)，斷開被測(ce)PT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
5）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT壹(yi)次側(ce)的壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.9
6）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT壹(yi)次側(ce)另(ling)壹端(duan)
7）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
3.7 PT勵磁試驗(yan)接線圖
在進(jin)行PT勵磁試驗(yan)時請(qing)按照(zhao)圖3.10連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)PT。
執(zhi)行(xing)PT勵磁試驗(yan)時，需要外接(jie)PT勵磁試驗(yan)模(mo)塊(kuai)，以(yi)防止(zhi)發(fa)生(sheng)高(gao)頻(pin)振蕩(dang)，造成測(ce)試結(jie)果的(de)電(dian)流(liu)過大(da)
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將PT二次側(ce)的壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)黑色(se)端(duan)子(zi)
2）將PT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)
3）將PT勵磁模(mo)塊(kuai)的黃(huang)色(se)/黑(hei)色(se)線連接至分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)功(gong)率輸出
4）將PT二次側(ce)的壹端(duan)連(lian)接(jie)至PT勵磁模(mo)塊(kuai)的紅(hong)色(se)插(cha)座(zuo)
5）將PT二次側(ce)的另(ling)外壹(yi)端(duan)連(lian)接(jie)至PT勵磁模(mo)塊(kuai)的黑(hei)色(se)插(cha)座(zuo)
6）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
7）將按照(zhao)圖3.10所示(shi)，斷開被測(ce)PT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
8）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
註(zhu)意(yi)：PT勵磁試驗(yan)完成後(hou)，PT壹(yi)次側(ce)可(ke)能(neng)有(you)高(gao)壓殘留(liu)，壹定(ding)要對(dui)PT壹(yi)次側(ce)進(jin)行放電(dian)，否(fou)則(ze)將壹次側(ce)再(zai)連(lian)接到(dao)儀(yi)器(qi)時(shi)，可(ke)能(neng)造成儀(yi)器(qi)損(sun)耗(hao)
第(di)四章(zhang) 用戶界(jie)面(mian)
4.1 儀(yi)器(qi)運行界(jie)面(mian)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)軟(ruan)件(jian)系(xi)統定(ding)義了(le)6種(zhong)運行狀(zhuang)態，這(zhe)6種(zhong)運行狀(zhuang)態分(fen)別(bie)為(wei)“等(deng)待新建試驗(yan)"，“等(deng)待查(zha)看歷史結果(guo)"，“等(deng)待試驗(yan)"，“運行"，“查(zha)看結果(guo)"和(he)“查(zha)看歷史結果(guo)"。不同的狀(zhuang)態下(xia)軟(ruan)件顯示(shi)界(jie)面(mian)是(shi)不壹樣的(de)，但是整個軟(ruan)件(jian)界(jie)面(mian)都是被(bei)劃(hua)分為(wei)5個區(qu)域(yu)，其(qi)劃(hua)分方式如圖4.1所示(shi)，5個區(qu)域(yu)分(fen)別為(wei)工(gong)具(ju)欄(lan)，儀(yi)器(qi)主(zhu)工(gong)作區（在等(deng)待試驗(yan)界(jie)面(mian)顯(xian)示(shi)為(wei)試驗(yan)項目選擇(ze)和(he)操作命令選擇(ze)，如圖4.1），儀(yi)器(qi)狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)，當(dang)前(qian)試驗(yan)參(can)數(shu)欄(lan)和(he)試驗(yan)控制欄(lan)。儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)不同的運行狀(zhuang)態時(shi)，僅(jin)僅(jin)是在主(zhu)工(gong)作區對(dui)顯示(shi)界(jie)面(mian)進(jin)行切(qie)換。
4.2 儀(yi)器(qi)軟(ruan)件(jian)工(gong)具(ju)欄(lan)
工(gong)具(ju)欄(lan)包(bao)含(han)了(le)對(dui)儀(yi)器(qi)操(cao)作的各(ge)個命令按鈕，其(qi)中(zhong)包(bao)括“新建試驗(yan)"，“保存(cun)"，“讀取"，“儀(yi)器(qi)設(she)置"，“語(yu)言(yan)選(xuan)擇(ze)"，“互(hu)感(gan)器設(she)置"，“數據(ju)導出"和(he)“使用幫助(zhu)"等(deng)，各個儀(yi)器(qi)控(kong)制命令的詳細(xi)解(jie)釋(shi)如下。
4.2.1新建試驗(yan)
新建試驗(yan)是指(zhi)結束(shu)當前(qian)的(de)試驗(yan)窗口(kou)，軟(ruan)件返回至“等(deng)待新建試驗(yan)狀(zhuang)態"，在該(gai)狀(zhuang)態下(xia)圖(tu)4.1所示(shi)界(jie)面(mian)被(bei)加載，可(ke)以(yi)在該(gai)窗體中(zhong)選擇(ze)將要進(jin)行的(de)試驗(yan)項目，該窗體中(zhong)的試驗(yan)項目包(bao)括“CT分(fen)析(xi)"，“CT比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)"，“CT二次負(fu)荷(he)"，“CT極(ji)性檢查(zha)"，“CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)"， “PT變比"，“PT二次負(fu)荷(he)"，“PT極(ji)性檢查(zha)"和(he)“PT線圈電(dian)阻"，也(ye)可(ke)以(yi)在該(gai)狀(zhuang)態下(xia)重(zhong)新啟(qi)動(dong)軟件(jian)或(huo)是(shi)關閉(bi)系(xi)統(tong)。
4.2.2 保存(cun)
保存(cun)按(an)鈕是(shi)在完成試驗(yan)以(yi)後，保存(cun)儀(yi)器(qi)試驗(yan)結果(guo)和(he)數據(ju)。在查(zha)看歷史結果(guo)時(shi)，如果用戶修(xiu)改(gai)當前(qian)的(de)顯(xian)示(shi)模(mo)式(shi)（標準(zhun)或(huo)互(hu)感(gan)器等(deng)級改(gai)變），可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)此(ci)按(an)鈕保存(cun)修(xiu)改(gai)後的(de)結(jie)果(guo)。
儀(yi)器(qi)在保存(cun)試驗(yan)結果(guo)時文(wen)件(jian)的名(ming)稱是(shi)按(an)照(zhao)如下格(ge)式進(jin)行組(zu)織的：
年-月(yue)-日 時(shi)：分(fen)：秒(miao) 互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) 試驗(yan)名(ming)稱.cta
例如 2011-04-08 11：12：30 CT分(fen)析(xi).cta
其(qi)中(zhong)時間部(bu)分是(shi)取自試驗(yan)啟(qi)動(dong)瞬間的(de)系(xi)統時間(jian)，因此在查(zha)看歷史結果(guo)狀(zhuang)態修(xiu)改(gai)試驗(yan)顯示(shi)模(mo)式(shi)後(hou)保存(cun)試驗(yan)結果(guo)，此時(shi)儀(yi)器(qi)將自動(dong)覆(fu)蓋原來(lai)的文(wen)件(jian)，而不會重(zhong)新為(wei)此(ci)文(wen)件(jian)創建壹(yi)個副(fu)本(ben)。
4.2.3讀取
讀取按鈕的(de)功能(neng)是重(zhong)新導入(ru)已保存(cun)的(de)歷史數據(ju)，當(dang)用戶點(dian)擊(ji)讀取按鈕以(yi)後圖(tu)4.2所示(shi)窗體將會被(bei)加載。
在試驗(yan)讀取界(jie)面(mian)，窗體的(de)左(zuo)邊(bian)列出了(le)當(dang)前(qian)儀(yi)器(qi)所保存(cun)的(de)所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)名(ming)稱；右邊(bian)是(shi)對保存(cun)文(wen)件(jian)的操作命令選擇(ze)；右上(shang)角是儀(yi)器(qi)當(dang)前(qian)存(cun)儲的(de)文(wen)件(jian)計數，其內容(rong)包(bao)括當(dang)前(qian)選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)索(suo)引和(he)當前存(cun)儲的(de)文(wen)件(jian)總數(shu)。
文(wen)件(jian)讀取窗體中(zhong)的命令按鈕包(bao)括
1)“上(shang)壹頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)上(shang)翻頁
2)“下(xia)壹(yi)頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)下翻頁
3)“刪(shan)除所有(you)文(wen)件(jian)"刪(shan)除當前(qian)存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)的所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)
4)“刪(shan)除文(wen)件(jian)"刪(shan)除當前(qian)所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)
5)“取消"退出文(wen)件(jian)讀取窗體
6)讀取當前所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“查(zha)看歷史結果(guo)界(jie)面(mian)"，
4.2.4 儀(yi)器(qi)設(she)置
儀(yi)器(qi)設(she)置按鈕用於設(she)置儀(yi)器(qi)的(de)運行參(can)數(shu)，點擊(ji)儀(yi)器(qi)設(she)置按鈕圖(tu)4.3所示(shi)的窗體會被(bei)加載。
儀(yi)器(qi)設(she)置界(jie)面(mian)中(zhong)的系統(tong)運行參(can)數(shu)只(zhi)會反(fan)映在儀(yi)器(qi)生(sheng)成(cheng)的(de)試驗(yan)報(bao)告中(zhong)，與試驗(yan)的流(liu)程控(kong)制無(wu)關，其(qi)中(zhong)的各個參(can)數(shu)詳細(xi)定(ding)義如表4.1
表(biao)4.1 系(xi)統(tong)運行參(can)數(shu)
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 含(han)義 |
儀(yi)器(qi)ID | 儀(yi)器(qi)的(de)出廠(chang)識(shi)別(bie)號(hao)，所有(you)的(de)儀(yi)器(qi)都具有(you)的(de)ID |
軟(ruan)件(jian)ID | 儀(yi)器(qi)的(de)DSP軟(ruan)件(jian)系(xi)統版(ban)本(ben)號(hao) |
操(cao)作人員(yuan) | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的操(cao)作人員(yuan)名(ming)字 |
試驗(yan)單(dan)位 | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的試驗(yan)單(dan)位 |
試驗(yan)地點(dian) | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的試驗(yan)地點(dian) |
報(bao)告頁眉 | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告頁眉部(bu)分的(de)內容(rong) |
報(bao)告頁腳 | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告頁腳部(bu)分的(de)內容(rong) |
生(sheng)成(cheng) 報(bao)告時(shi)含(han)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線 | 在完成CT分(fen)析(xi)試驗(yan)後，將磁滯(zhi)回(hui)線包(bao)含(han)在所生(sheng)成(cheng)的(de)WORD報(bao)告中(zhong) |
在誤差曲線中(zhong)使用整數(shu)壹次電(dian)流(liu)倍數(shu) | 在生(sheng)成(cheng)誤差曲線數據(ju)時(shi)只(zhi)顯(xian)示(shi)壹次電(dian)流(liu)整數(shu)倍數(shu)的數(shu)值(zhi) |
其(qi)余(yu)參(can)數(shu)均(jun)與試驗(yan)過程(cheng)的控(kong)制有(you)關，但是只(zhi)涉(she)及CT測(ce)試時(shi)的試驗(yan)流(liu)程，與PT試驗(yan)沒(mei)有(you)關系(xi)，其詳(xiang)細(xi)含(han)義如表4.2所示(shi)
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 含(han)義 |
自動(dong)評估設(she)置 | 如果設(she)為(wei)“關閉(bi)自動(dong)評估"，在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結束(shu)後，儀(yi)器(qi)給(gei)出各個參(can)數(shu)數值(zhi)，不會自動(dong)判定(ding)當前(qian)的試驗(yan)結果(guo)是否(fou)符(fu)合所選標準(zhun)的(de)要求。 如果設(she)置僅(jin)對操作負(fu)荷(he)進(jin)行評(ping)估，在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結束(shu)後，儀(yi)器(qi)除給出試驗(yan)各參(can)數(shu)的數值(zhi)外，還(hai)會依(yi)據(ju)CT所連接負(fu)荷(he)為(wei)當(dang)前(qian)操(cao)作負(fu)荷(he)時(shi)，自動(dong)判斷各項指(zhi)標是(shi)否(fou)符(fu)合所選標準(zhun)要(yao)求 如果設(she)置對額定(ding)和(he)操作負(fu)荷(he)進(jin)行評(ping)估，在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結束(shu)後，儀(yi)器(qi)除給出試驗(yan)各參(can)數(shu)的數值(zhi)外，還(hai)會分(fen)別(bie)對CT所連接負(fu)荷(he)為(wei)操(cao)作負(fu)荷(he)和(he)額定(ding)負(fu)荷(he)時(shi)，自動(dong)判斷各項指(zhi)標是(shi)否(fou)符(fu)合所選標準(zhun)要(yao)求 |
勵磁試驗(yan)控制 | 默(mo)認(ren)情(qing)況(kuang)下，系(xi)統設置為(wei)自動(dong)獲取系統的飽(bao)和(he)電(dian)壓點，此(ci)參(can)數(shu)用於對(dui)CT進(jin)行勵磁試驗(yan)時的(de)流(liu)程控(kong)制，儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)獲(huo)取的飽(bao)和(he)電(dian)壓自動(dong)選取合適的(de)試驗(yan)頻(pin)率。如果選(xuan)擇(ze)“自動(dong)獲取"則(ze)儀(yi)器(qi)在進(jin)行勵磁試驗(yan)之(zhi)前會自動(dong)測(ce)量(liang)所連接CT的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓，否則(ze)儀(yi)器(qi)以(yi)設定(ding)的飽(bao)和(he)電(dian)壓為(wei)準(zhun)進(jin)行勵磁試驗(yan)。 註(zhu)意(yi)：只(zhi)有(you)在“自動(dong)獲取"無(wu)法正(zheng)確(que)獲得儀(yi)器(qi)的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓或者互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓大於(yu)8KV時(shi)才(cai)將儀(yi)器(qi)設(she)為(wei)人(ren)工(gong)設(she)定(ding)模(mo)式(shi)，因為(wei)人(ren)工(gong)設(she)定(ding)模(mo)式(shi)可(ke)能(neng)會導致不能獲得(de)精細(xi)的(de)勵磁曲線 |
顯(xian)示(shi)簡化(hua)的(de)勵磁數據(ju) | 選(xuan)中(zhong)時勵磁曲線數據(ju)欄(lan)目將顯示(shi)zui多30個數(shu)據(ju)點(dian)，分(fen)別(bie)為(wei)拐(guai)點(dian)前(qian)15個數(shu)據(ju)點(dian)和(he)拐點後(hou)15個數(shu)據(ju)點(dian)，這(zhe)些(xie)數據(ju)點(dian)都是從(cong)勵磁曲線上(shang)等(deng)步長(chang)截取獲得的，顯(xian)示(shi)簡化(hua)數(shu)據(ju)時(shi)可(ke)以(yi)加快(kuai)生(sheng)成(cheng)WORD文(wen)檔(dang)的速(su)度 未(wei)選(xuan)中(zhong)時儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)實際(ji)獲取的勵磁數據(ju)點(dian)數(shu)，通(tong)常(chang)會大(da)於(yu)100個點(dian) |
1A/5A類(lei)型(xing)互(hu)感(gan)器判(pan)斷閾值(zhi) | 此(ci)參(can)數(shu)適用於銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用戶選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)，並且互(hu)感(gan)器二次額定(ding)電(dian)流(liu)未知(zhi)時(shi)，儀(yi)器(qi)以(yi)此閾(yu)值(zhi)來(lai)判斷互(hu)感(gan)器類(lei)型，線圈電(dian)阻小(xiao)於(yu)此閾值(zhi)則(ze)認(ren)為(wei)是(shi)5A互(hu)感(gan)器，否(fou)則(ze)為(wei)1A互(hu)感(gan)器 |
1A互(hu)感(gan)器測(ce)量(liang)和(he)保護類(lei)型(xing)判斷閾值(zhi) | 此(ci)參(can)數(shu)適用於銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用戶選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)，並且互(hu)感(gan)器等(deng)級未(wei)知時，儀(yi)器(qi)以(yi)此閾(yu)值(zhi)來(lai)判斷1A的(de)互(hu)感(gan)器保護和(he)測(ce)量(liang)類(lei)型(xing)，飽(bao)和(he)電(dian)壓小(xiao)於(yu)此閾值(zhi)則(ze)認(ren)為(wei)是(shi)測(ce)量(liang)1A互(hu)感(gan)器，否(fou)則(ze)為(wei)保護1A互(hu)感(gan)器 |
5A互(hu)感(gan)器測(ce)量(liang)和(he)保護類(lei)型(xing)判斷閾值(zhi) | 此(ci)參(can)數(shu)適用於銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用戶選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)，並且互(hu)感(gan)器等(deng)級未(wei)知時，儀(yi)器(qi)以(yi)此閾(yu)值(zhi)來(lai)判斷5A的(de)互(hu)感(gan)器保護和(he)測(ce)量(liang)類(lei)型(xing)，飽(bao)和(he)電(dian)壓小(xiao)於(yu)此閾值(zhi)則(ze)認(ren)為(wei)是(shi)測(ce)量(liang)5A互(hu)感(gan)器，否(fou)則(ze)為(wei)保護5A互(hu)感(gan)器 |
勵磁數據(ju)查(zha)找條件 | 設(she)置為(wei)通(tong)過(guo)電(dian)壓查(zha)找電(dian)流(liu)時 在勵磁曲線數據(ju)欄(lan)目中(zhong)，輸入(ru)勵磁電(dian)壓數值(zhi)儀(yi)器(qi)自動(dong)查(zha)找對應(ying)的(de)勵磁電(dian)流(liu)數值(zhi) 位(wei)置為(wei)通(tong)過(guo)電(dian)流(liu)查(zha)找電(dian)壓時 在勵磁曲線數據(ju)欄(lan)目中(zhong)，輸入(ru)勵磁電(dian)流(liu)數值(zhi)儀(yi)器(qi)自動(dong)查(zha)找對應(ying)的(de)勵磁電(dian)壓數值(zhi) |
4.2.5 語(yu)言(yan)選(xuan)擇(ze)
CT分(fen)析(xi)儀(yi)支(zhi)持漢語(yu)和(he)英(ying)文(wen)兩(liang)種(zhong)語(yu)言(yan)，此(ci)按(an)鈕用於系(xi)統(tong)語(yu)言(yan)的(de)選(xuan)擇(ze)和(he)切換。點擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)圖4.4所示(shi)窗體被(bei)加載。選擇(ze)簡(jian)體中(zhong)文(wen)後(hou)儀(yi)器(qi)的(de)工(gong)作語(yu)言(yan)為(wei)中(zhong)文(wen)，選(xuan)擇(ze)English則(ze)儀(yi)器(qi)的(de)工(gong)作語(yu)言(yan)變成英(ying)文(wen)
4.2.6 CT參(can)數(shu)設置
互(hu)感(gan)器設(she)置按鈕用於設(she)置被測(ce)CT銘(ming)牌(pai)參(can)數(shu)和(he)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)，變比試驗(yan)的流(liu)程控(kong)制參(can)數(shu)。點擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)圖4.5所示(shi)窗體被(bei)加載。此窗體中(zhong)各參(can)數(shu)的詳細(xi)定(ding)義請(qing)參(can)見第(di)5.2節參(can)數(shu)設置
4.2.7 數(shu)據(ju)導出
數(shu)據(ju)導出按鈕用於導出已保存(cun)在儀(yi)器(qi)上(shang)的試驗(yan)數據(ju)，WORD報(bao)告等(deng)文(wen)件(jian)。點擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)圖4.6所示(shi)的窗體被(bei)加載。
左(zuo)邊(bian)的(de)列表框(kuang)展(zhan)示(shi)的是(shi)當前(qian)存(cun)儲在儀(yi)器(qi)上(shang)文(wen)件(jian)列表，在文(wen)件(jian)類型選擇(ze)下(xia)拉(la)框(kuang)中(zhong)選擇(ze)不同的文(wen)件(jian)類型，則(ze)在左(zuo)邊(bian)列表(biao)框中(zhong)將展(zhan)示(shi)相應(ying)的(de)文(wen)件(jian)，文(wen)件(jian)類型包(bao)括“*.Cta“格(ge)式數據(ju)文(wen)件(jian)，WORD試驗(yan)報(bao)告文(wen)件(jian)和(he)Jpg圖(tu)片(pian)文(wen)件(jian)。文(wen)件(jian)索(suo)引和(he)文(wen)件(jian)總數(shu)計數器展(zhan)示(shi)儀(yi)器(qi)中(zhong)存(cun)儲的(de)當(dang)前(qian)類型文(wen)件(jian)總數(shu)和(he)現(xian)在所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)索(suo)引，通(tong)過(guo)鼠(shu)標點(dian)擊(ji)可(ke)以(yi)同時(shi)選擇(ze)多(duo)個文(wen)件(jian)，文(wen)件(jian)被選擇(ze)時(shi)顯(xian)示(shi)為(wei)藍色(se)底色(se)。
數(shu)據(ju)導出窗體中(zhong)的操作命令按鈕包(bao)括：
1)“上(shang)壹頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)上(shang)翻頁
2)“下(xia)壹(yi)頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)下翻頁
3)“清(qing)空(kong)存(cun)儲器(qi)"，指(zhi)刪(shan)除插(cha)入(ru)儀(yi)器(qi)的(de)U盤中(zhong)“試驗(yan)數據(ju)"目錄下的所有(you)文(wen)件(jian)
4)“刪(shan)除所有(you)文(wen)件(jian)"刪(shan)除當前(qian)存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)的所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)
5)“刪(shan)除文(wen)件(jian)"刪(shan)除存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)當前所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)
6)“導出所有(you)文(wen)件(jian)"，將當前左邊(bian)窗體中(zhong)的所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)導出至U盤中(zhong)。如果當(dang)前選擇(ze)的(de)是(shi)“*.Cta"，則(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)的所有(you)“*.Cta"文(wen)件(jian)都會被(bei)導出至U盤的“試驗(yan)數據(ju)\儀(yi)器(qi)試驗(yan)數據(ju)"文(wen)件(jian)目錄下，如果當(dang)前選擇(ze)的(de)是(shi)“.Doc"文(wen)件(jian)，則(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)的所有(you)“*.Doc"文(wen)件(jian)都會被(bei)導出至U盤的“試驗(yan)數據(ju)\WORD試驗(yan)報(bao)告"目錄下。如果當(dang)前選擇(ze)的(de)是(shi)“.Jpg"文(wen)件(jian)，則(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)的所有(you)“*.Jpg"文(wen)件(jian)都會被(bei)導出至U盤的“試驗(yan)數據(ju)\Jpg圖(tu)形(xing)文(wen)件(jian)"目錄下
7)“導出文(wen)件(jian)"，將當前所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)導出至U盤對應(ying)的(de)目錄下。
8)“取消"退出文(wen)件(jian)導出窗體
4.2.8 使(shi)用幫助(zhu)
此(ci)按(an)鈕可(ke)以(yi)打開(kai)儀(yi)器(qi)的(de)使(shi)用幫助(zhu)文(wen)檔(dang)，使用幫助(zhu)文(wen)檔(dang)以(yi)“*.Pdf"的(de)文(wen)件(jian)格(ge)式存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)，當用戶點(dian)擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)使用幫助(zhu)文(wen)檔(dang)會被(bei)打(da)開。
4.3 主(zhu)工(gong)作區
位(wei)於(yu)軟(ruan)件中(zhong)部(bu)的所有(you)區(qu)域是(shi)軟(ruan)件(jian)的主(zhu)工(gong)作區，儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)不同試驗(yan)狀(zhuang)態時(shi)主(zhu)工(gong)作區的(de)內容(rong)會被(bei)切(qie)換，例如當儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)“等(deng)待新建試驗(yan)狀(zhuang)態"時(shi)儀(yi)器(qi)主(zhu)工(gong)作區顯(xian)示(shi)試驗(yan)選擇(ze)按(an)鈕等(deng)如圖4.1. 當(dang)儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)“查(zha)看結果(guo)"或“查(zha)看歷史結果(guo)"時(shi)，並且選擇(ze)了(le)當(dang)前(qian)展(zhan)示(shi)模(mo)式(shi)為(wei)勵磁曲線時，儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)如圖4.7所示(shi)
4.4 儀(yi)器(qi)運行狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)
儀(yi)器(qi)狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)展(zhan)示(shi)的信(xin)息(xi)有(you)：
1）儀(yi)器(qi)的(de)當(dang)前運行狀(zhuang)態，如“等(deng)待新建試驗(yan)"，“等(deng)待試驗(yan)"，“查(zha)看結果(guo)"，“查(zha)看歷史結果(guo)"，“運行"，“等(deng)待查(zha)看歷史結果(guo)"等(deng)。
2）除了(le)儀(yi)器(qi)的(de)運行狀(zhuang)態外還(hai)有(you)對(dui)儀(yi)器(qi)內部(bu)的工(gong)控(kong)機與DSP之(zhi)間通(tong)信(xin)的(de)標識(shi)，如果DSP與工(gong)控(kong)機之(zhi)間通(tong)信(xin)成(cheng)功則(ze)儀(yi)器(qi)在狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)顯(xian)示(shi)聯機，否則(ze)儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)為(wei)脫(tuo)機狀(zhuang)態。
3）當(dang)前(qian)試驗(yan)項目，其內容(rong)為(wei)當(dang)前(qian)所選擇(ze)的(de)試驗(yan)項目名(ming)稱，如“CT分(fen)析(xi)"，“比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)"等(deng)
4）系(xi)統(tong)日期(qi)和(he)時間，當(dang)儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)聯機非運行狀(zhuang)態時(shi)，此(ci)欄(lan)目會顯(xian)示(shi)當前(qian)的系(xi)統日期(qi)，系統時(shi)間(jian)和(he)當前面(mian)板(ban)處(chu)的(de)環境(jing)溫(wen)度
5）環境(jing)溫(wen)度。儀(yi)器(qi)每(mei)隔(ge)2分(fen)鐘(zhong)會更(geng)新壹次環境(jing)溫(wen)度測(ce)量(liang)，所測(ce)得(de)的(de)環境(jing)溫(wen)度將會被(bei)用於計算75攝氏度的(de)參(can)考線圈電(dian)阻
4.5 試驗(yan)控制欄(lan)
試驗(yan)控制欄(lan)裏(li)具(ju)有(you)“試驗(yan)參(can)數(shu)設置"和(he)“開始試驗(yan)"按鈕，當(dang)儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)等(deng)待試驗(yan)狀(zhuang)態時(shi)點(dian)擊(ji)“試驗(yan)參(can)數(shu)設置"按鈕，儀(yi)器(qi)將會顯(xian)示(shi)對應(ying)的(de)試驗(yan)參(can)數(shu)設置窗體，在這(zhe)些(xie)窗體中(zhong)用戶可(ke)以(yi)設置當前(qian)試驗(yan)的控(kong)制參(can)數(shu)。
“開(kai)始試驗(yan)"按鈕用於啟(qi)動(dong)和(he)停止當(dang)前的(de)試驗(yan)，當用戶從(cong)“等(deng)待試驗(yan)"或“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態點(dian)擊(ji)“開(kai)始試驗(yan)"按鈕後(hou)，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“運行"狀(zhuang)態，對(dui)應(ying)的(de)試驗(yan)會被(bei)啟(qi)動(dong)，該按(an)鈕的(de)標識(shi)變成“停止試驗(yan)"，再(zai)次點擊(ji)該(gai)按(an)鈕或(huo)試驗(yan)自動(dong)完成後(hou)，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態，對(dui)應(ying)的(de)結(jie)果參(can)數(shu)被自動(dong)計算並展(zhan)示(shi)。
註(zhu)意(yi)：當儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)“查(zha)看歷史結果(guo)"時(shi)，如果需要運行試驗(yan)必須首(shou)先點(dian)擊(ji)新建試驗(yan)，讓儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)到(dao)“等(deng)待試驗(yan)界(jie)面(mian)"，然(ran)後(hou)按照(zhao)“等(deng)待新建試驗(yan)"->“等(deng)待試驗(yan)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"的流(liu)程完成試驗(yan)項目。
4.6 儀(yi)器(qi)的(de)啟(qi)動(dong)與關閉(bi)
打(da)開(kai)儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)的(de)電(dian)源(yuan)後，儀(yi)器(qi)的(de)軟(ruan)件系統被自動(dong)加載，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"狀(zhuang)態，開(kai)機過程完成。
如果要(yao)關閉(bi)儀(yi)器(qi)，請(qing)首(shou)先通(tong)過(guo)軟(ruan)件(jian)界(jie)面(mian)的(de)“關閉(bi)系(xi)統(tong)"按(an)鈕關閉(bi)儀(yi)器(qi)。等(deng)待儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)屏上(shang)提(ti)示(shi)“It is safe to shutdown now"時(shi)再(zai)切(qie)斷儀(yi)器(qi)的(de)電(dian)源(yuan)。
註(zhu)意(yi)：緊急(ji)情況(kuang)時，請(qing)直(zhi)接(jie)切(qie)斷儀(yi)器(qi)的(de)供(gong)電(dian)電(dian)源(yuan)
第(di)五章(zhang) 試驗(yan)操作
5.1 試驗(yan)運行的(de)壹(yi)般(ban)流(liu)程
如第(di)四章(zhang)中(zhong)的描述儀(yi)器(qi)的(de)軟(ruan)件運行可(ke)以(yi)分為(wei)“等(deng)待新建試驗(yan)"，“等(deng)待試驗(yan)"，“查(zha)看結果(guo)"，“運行"，“查(zha)看歷史結果(guo)"和(he)“等(deng)待查(zha)看歷史結果(guo)"6種(zhong)狀(zhuang)態。軟(ruan)件(jian)運行的(de)幾(ji)種(zhong)常(chang)見的(de)流(liu)程如下：
1） 儀(yi)器(qi)開(kai)機以(yi)後進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"
“等(deng)待新建試驗(yan)"->“等(deng)待試驗(yan)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"
此(ci)流(liu)程的(de)描述為(wei)儀(yi)器(qi)首(shou)先進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"狀(zhuang)態，用戶在此(ci)狀(zhuang)態選(xuan)擇(ze)要(yao)進(jin)行的(de)試驗(yan)，如CT分(fen)析(xi)，然(ran)後(hou)設(she)置CT分(fen)析(xi)試驗(yan)的各(ge)個參(can)數(shu)，儀(yi)器(qi)轉(zhuan)而(er)進(jin)入(ru)“等(deng)待試驗(yan)"狀(zhuang)態，用戶再(zai)點(dian)擊(ji)“開(kai)始試驗(yan)按鈕"，試驗(yan)被啟(qi)動(dong)，等(deng)待試驗(yan)完成後(hou)自動(dong)停止(zhi)，儀(yi)器(qi)自動(dong)計算各個參(can)數(shu)，並進(jin)入(ru)“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態。
2）從(cong)“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態開(kai)始另(ling)壹項(xiang)試驗(yan)
“查(zha)看結果(guo)"->“等(deng)待新建試驗(yan)"->“等(deng)待試驗(yan)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"
儀(yi)器(qi)在完成壹(yi)項試驗(yan)後需要進(jin)行另(ling)外壹(yi)個試驗(yan)項目，則(ze)此(ci)流(liu)按照(zhao)此流(liu)程進(jin)行。在“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態點(dian)擊(ji)“新建試驗(yan)"按鈕，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)狀(zhuang)態"，後(hou)面(mian)的(de)過(guo)程同第(di)1項(xiang)描述*
重(zhong)復當前(qian)的試驗(yan)
“查(zha)看結果(guo)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"
完成壹(yi)項試驗(yan)後，以(yi)相同(tong)的參(can)數(shu)重(zhong)復這壹(yi)試驗(yan)項目，則(ze)在“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態直(zhi)接(jie)點(dian)擊(ji)“開(kai)始試驗(yan)"按鈕即(ji)可(ke)。
5.2 CT分(fen)析(xi)
5.2.1 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
CT分(fen)析(xi)試驗(yan)項目的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)如圖5.1所示(shi)。CT分(fen)析(xi)試驗(yan)和(he)比差角差試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)是(shi)*的(de)，比差角差試驗(yan)所有(you)需設置的參(can)數(shu)項目在CT分(fen)析(xi)中(zhong)也(ye)需要設(she)置。
CT分(fen)析(xi)的(de)參(can)數(shu)設置分為(wei)2部(bu)分：與互(hu)感(gan)器等(deng)級相(xiang)關的(de)參(can)數(shu)和(he)與互(hu)感(gan)器等(deng)級無(wu)關的(de)參(can)數(shu)。其中(zhong)表5.1描述了(le)與互(hu)感(gan)器等(deng)級無(wu)關的(de)各參(can)數(shu)。表5.2至表(biao)5.8所列出的試驗(yan)參(can)數(shu)，是針對於不同等(deng)級的(de)互(hu)感(gan)器需要額外配置的參(can)數(shu)。
註(zhu)意(yi)：當互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓大於(yu)8KV時(shi)，請(qing)在系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)選(xuan)擇(ze)人(ren)工(gong)設(she)定(ding)勵磁試驗(yan)飽(bao)和(he)電(dian)壓，詳情(qing)見系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置
5.2.2 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)流(liu)程
進(jin)行CT分(fen)析(xi)試驗(yan)時，用戶需要按(an)照(zhao)如下步(bu)驟進(jin)行：
1)在遵循安全(quan)規(gui)則(ze)的(de)前(qian)提(ti)下(xia)，按(an)照(zhao)CT分(fen)析(xi)的(de)接(jie)線圖，完成儀(yi)器(qi)和(he)互(hu)感(gan)器的(de)連接(jie)
2)在軟(ruan)件(jian)上(shang)選擇(ze)“CT分(fen)析(xi)"試驗(yan)項目
3)完成互(hu)感(gan)器的(de)各種(zhong)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
4)啟(qi)動(dong)試驗(yan)，等(deng)待試驗(yan)完成
5)查(zha)看結果(guo)
註(zhu)意(yi)：對於(yu)飽(bao)和(he)電(dian)壓很高(gao)的互(hu)感(gan)器，儀(yi)器(qi)將會以(yi)很低(di)的(de)頻(pin)率檢(jian)測(ce)互(hu)感(gan)器的(de)勵磁特性（可(ke)能(neng)低(di)至0.25Hz），因此此(ci)時(shi)完成整個試驗(yan)所需的時(shi)間(jian)可(ke)能(neng)較(jiao)長（zui長(chang)會達(da)到(dao)半(ban)個小(xiao)時(shi)），請耐心等(deng)待。嚴禁在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)斷開測(ce)試線的連接(jie)
在執(zhi)行(xing)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)時，儀(yi)器(qi)會按(an)照(zhao)如下過(guo)程完成整個試驗(yan)：
線圈電(dian)阻檢(jian)測(ce)->壹(yi)次消磁->二次消磁->精(jing)細(xi)調(tiao)壓測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差->粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差->測(ce)量(liang)互(hu)感(gan)器勵磁曲線
1)如果用戶選(xuan)擇(ze)的(de)工(gong)作模(mo)式(shi)是(shi)非自動(dong)獲取飽(bao)和(he)電(dian)壓則(ze)壹(yi)次消磁過程(cheng)將被跳(tiao)過
2)如果互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓較(jiao)低(di)，則(ze)粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差的(de)流(liu)程將被跳(tiao)過
在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)，左下角會提(ti)示(shi)當前(qian)儀(yi)器(qi)的(de)功(gong)率輸出和(he)試驗(yan)運行狀(zhuang)態。
在參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)，如果選(xuan)擇(ze)“快(kuai)速(su)試驗(yan)"，儀(yi)器(qi)的(de)記(ji)錄點數較(jiao)少(shao)且升壓過程(cheng)中(zhong)電(dian)壓步進(jin)值(zhi)較(jiao)大，因此對(dui)於(yu)剩磁系數(shu)高(gao)，且飽(bao)和(he)電(dian)壓低(di)（<250V）的(de)互(hu)感(gan)器勵磁曲線會出現(xian)不平滑現(xian)象，此(ci)時因選擇(ze)標準(zhun)試驗(yan)。
選(xuan)擇(ze)標準(zhun)試驗(yan)時儀(yi)器(qi)記(ji)錄(lu)的數據(ju)點(dian)多(duo)，勵磁曲線以(yi)及計算參(can)數(shu)更(geng)，但是選(xuan)擇(ze)標準(zhun)試驗(yan)時，試驗(yan)時長(chang)是快(kuai)速(su)試驗(yan)的2倍以(yi)上(shang)。
圖(tu)5.1 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
是(shi)否(fou)推(tui)測(ce)信(xin)息(xi) | 用於CT分(fen)析(xi)和(he)變比試驗(yan)項目控制，如果選(xuan)擇(ze)為(wei)輸入(ru)已知(zhi)銘牌(pai)，則(ze)儀(yi)器(qi)不會自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)信(xin)息(xi)，如果選(xuan)擇(ze)為(wei)自動(dong)猜測(ce)銘(ming)牌(pai)則(ze)儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)缺(que)損(sun)的(de)信(xin)息(xi)自動(dong)推(tui)測(ce)“額定(ding)壹次電(dian)流(liu)"，“額定(ding)二次電(dian)流(liu)"和(he)“互(hu)感(gan)器等(deng)級" |
生(sheng)產(chan)廠(chang)家 | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器型(xing)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)壹次電(dian)流(liu) | 設(she)置互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)壹次電(dian)流(liu)值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)且額定(ding)壹次電(dian)流(liu)設為(wei)未(wei)知(zhi)，儀(yi)器(qi)將自動(dong)猜測(ce)額定(ding)壹次電(dian)流(liu)值(zhi) |
額定(ding)二次電(dian)流(liu) | 設(she)置互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)二次電(dian)流(liu)值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)且額定(ding)二次電(dian)流(liu)設為(wei)未(wei)知(zhi)，儀(yi)器(qi)將自動(dong)猜測(ce)額定(ding)二次電(dian)流(liu)值(zhi) |
額定(ding)頻(pin)率 | 額定(ding)頻(pin)率選(xuan)項用於比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)試驗(yan)項目的控制，如果選(xuan)擇(ze)了(le)50Hz，儀(yi)器(qi)將以(yi)50Hz的(de)頻(pin)率測(ce)量(liang)互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)角差，如果選(xuan)擇(ze)60Hz則(ze)儀(yi)器(qi)以(yi)60Hz頻(pin)率測(ce)量(liang)互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)和(he)角差 |
誤差曲線計算點 | 對(dui)於(yu)IEC60044-1的(de)保護類(lei)型(xing)互(hu)感(gan)器，儀(yi)器(qi)將計算此點(dian)處(chu)的(de)誤差曲線 |
測(ce)試標準(zhun)選(xuan)擇(ze) | 選(xuan)擇(ze)不同的測(ce)試標準(zhun)，儀(yi)器(qi)將獲得不同的測(ce)試結(jie)果參(can)數(shu)，對於相同的結(jie)果(guo)參(can)數(shu)其定(ding)義也(ye)可(ke)能(neng)不壹樣，例如拐點(dian)電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu) |
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 在選(xuan)擇(ze)了(le)測(ce)試標準(zhun)後(hou)，選擇(ze)互(hu)感(gan)器在此(ci)標準(zhun)下(xia)的等(deng)級定(ding)義。 |
二次負(fu)荷(he) | CT分(fen)析(xi)和(he)比差角差試驗(yan)的計算參(can)數(shu)與所接負(fu)荷(he)有(you)關，所以(yi)不同的負(fu)荷(he)值(zhi)會得(de)到(dao)不同的測(ce)試參(can)數(shu)，因此儀(yi)器(qi)的(de)計算結果(guo)會給(gei)出互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)負(fu)荷(he)條(tiao)件和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下的(de)兩(liang)種(zhong)結(jie)果(guo)。 額定(ding)負(fu)荷(he)：是(shi)指互(hu)感(gan)器銘(ming)牌上(shang)所標識(shi)的(de)zui大允(yun)許(xu)負(fu)荷(he)值(zhi) 操(cao)作負(fu)荷(he)：是(shi)互(hu)感(gan)器當(dang)前所接負(fu)荷(he)的(de)實測(ce)值(zhi) 負(fu)荷(he)範圍：0~100.00，功(gong)率因數範圍：0~1.00 |
75攝氏度線圈電(dian)阻 | 銘(ming)牌(pai)上(shang)所標識(shi)的(de)互(hu)感(gan)器在75攝氏度時(shi)線圈電(dian)阻值(zhi)，電(dian)阻範圍0~100.000 |
圖(tu)5.2 IEC60044-1/GB1208計量類電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)參(can)數(shu)定(ding)義
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
儀(yi)器(qi)保安系(xi)數FS | 的(de)儀(yi)器(qi)保護系(xi)數(shu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍1~300 |
擴(kuo)展(zhan)電(dian)流(liu)計算點Ext | 需要額外計算比差(cha)角差的(de)電(dian)流(liu)點，此(ci)計算結果(guo)在比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)中(zhong)展(zhan)示(shi)，參(can)數(shu)範圍0%~400% |
圖(tu)5.3 IEC60044-1/GB1208 的(de)5P/10P/5PR/10PR類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)參(can)數(shu)定(ding)義
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
zui大(da)短(duan)路電(dian)流(liu) | 互(hu)感(gan)器壹(yi)次側(ce)所在回(hui)路可(ke)能(neng)發(fa)生(sheng)的(de)zui大(da)短(duan)路電(dian)流(liu) |
圖(tu)5.4 IEC60044-1/GB1208 的(de)PX類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)參(can)數(shu)定(ding)義
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
面(mian)積(ji)系數 | 的(de)面(mian)積(ji)增(zeng)大系數，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
準(zhun)確(que)限制電(dian)壓 | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)準確(que)限制電(dian)壓，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍0~10000.00 |
準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu) | 準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍0~9.9999A |
圖(tu)5.5 IEC60044-6 S互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc | 的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd | 的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
壹(yi)次時間常數(shu)Tp | 的(de)壹(yi)次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000ms |
準(zhun)確(que)限制電(dian)壓Val | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)準確(que)限制電(dian)壓，此參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000V |
準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)Ial | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)準確(que)限制電(dian)流(liu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~9.9999A |
圖(tu)5.6 IEC60044-6 X/ Y互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc | 的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 Ktd | 的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
壹(yi)次時間常數(shu) Tp | 的(de)壹(yi)次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000ms |
二次時間常數(shu)Ts | 的(de)二次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~100000ms |
工(gong)作循環選(xuan)擇(ze) | 選(xuan)擇(ze)工(gong)作循環C-O或(huo)C-O-C-O，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
*次電(dian)流(liu)時限(xian) t1 | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)在t-al1 時(shi)間(jian)內不能達(da)到(dao)，範圍：0～10000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
第(di)二次電(dian)流(liu)時限(xian) t2 | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)在t-al2 時(shi)間(jian)內不能達(da)到(dao)，範圍：0～10000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
*次工(gong)作循環的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)的(de)允(yun)許(xu)時(shi)間(jian) t-al1 | 範圍：0～10000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
第(di)二次工(gong)作循環的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)的(de)允(yun)許(xu)時(shi)間(jian)t-al2 | 範圍：0～5000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
*次打開和(he)重(zhong)合閘(zha)的延時 tfr | 範圍：0～5000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
圖(tu)5.7 IEC60044-6 Z互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc | 的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 Ktd | 的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
壹(yi)次時間常數(shu) Tp | 的(de)壹(yi)次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000ms |
二次時間常數(shu)Ts | 的(de)二次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~100000ms |
圖(tu)5.8 C57.13 互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
額定(ding)熱(re)電(dian)流(liu)系數(shu)RF | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)額定(ding)二次熱(re)電(dian)流(liu)系數(shu)，如果此(ci)參(can)數(shu)不為(wei)0，將計算額定(ding)電(dian)流(liu)乘(cheng)以(yi)此系(xi)數後所得測(ce)量(liang)點(dian)的(de)比(bi)差和(he)角差，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果計算和(he)自動(dong)評估。參(can)數(shu)範圍：0~10.00 |
額定(ding)二次端(duan)電(dian)壓VB | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)額定(ding)二次端(duan)電(dian)壓，此參(can)數(shu)影響(xiang)參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)。參(can)數(shu)範圍：0~10000.0V |
5.2.3 CT分(fen)析(xi)試試驗(yan)結果(guo)
當(dang)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)圖4.7所示(shi)的勵磁曲線將會被(bei)首(shou)先顯(xian)示(shi)，通(tong)過(guo)圖(tu)中(zhong)的試驗(yan)結果(guo)項目切換按鈕，可(ke)以(yi)更(geng)換當前(qian)的(de)試驗(yan)結果(guo)內容(rong)，各(ge)個按(an)鈕的(de)說明(ming)如下：
1 磁滯(zhi)回(hui)線與數據(ju)
點(dian)擊(ji)磁滯(zhi)回(hui)線按鈕後(hou)，被測(ce)互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯的(de)飽(bao)和(he)磁滯(zhi)回(hui)線將會顯(xian)示(shi)在屏(ping)幕(mu)上(shang)如圖5.2.1所示(shi)，該曲(qu)線為(wei)被(bei)測(ce)互(hu)感(gan)器在某(mou)測(ce)試頻(pin)率下(xia)所獲得的飽(bao)和(he)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線，測(ce)試頻(pin)率顯(xian)示(shi)在界(jie)面(mian)的(de)左(zuo)側(ce)，曲線的橫軸(zhou)為(wei)瞬時電(dian)流(liu)，縱(zong)軸(zhou)為(wei)該(gai)電(dian)流(liu)下對(dui)應(ying)的(de)磁通(tong)量(liang)（單(dan)位是(shi)韋(wei)伯(bo)），磁滯(zhi)回(hui)線由上(shang)升曲線和(he)下降(jiang)曲線組成，點(dian)擊(ji)“啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)"可(ke)以(yi)獲取曲線上(shang)某壹(yi)電(dian)流(liu)點對(dui)應(ying)的(de)上(shang)升曲線數據(ju)和(he)下降(jiang)曲線數據(ju)，點(dian)擊(ji)磁滯(zhi)回(hui)線數據(ju)可(ke)以(yi)查(zha)看所有(you)測(ce)量(liang)點(dian)的(de)電(dian)流(liu)值(zhi)和(he)磁通(tong)量(liang)數(shu)值(zhi)
2 磁化(hua)曲(qu)線數據(ju)
點(dian)擊(ji)磁化(hua)曲(qu)線數據(ju)後(hou)，圖(tu)5.2所示(shi)的界(jie)面(mian)將會被(bei)加載。磁化(hua)曲(qu)線所對應(ying)的(de)磁化(hua)數(shu)據(ju)點(dian)將在本(ben)窗體中(zhong)展(zhan)現(xian)，拖(tuo)動(dong)列表(biao)框(kuang)的(de)滑動(dong)條或(huo)按(an)鍵(jian)盤的方向鍵(jian)，可(ke)以(yi)瀏覽所有(you)的(de)磁化(hua)曲(qu)線數據(ju)。在界(jie)面(mian)的(de)下(xia)方是自動(dong)計算得到(dao)的(de)磁化(hua)曲(qu)線的拐點(dian)電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)。磁化(hua)曲(qu)線數顯示(shi)界(jie)面(mian)還(hai)支(zhi)持勵磁電(dian)流(liu)查(zha)詢(xun)功能(neng)，只(zhi)要(yao)輸入(ru)不超過zui大(da)勵磁電(dian)壓的壹(yi)個數(shu)值(zhi)在勵磁電(dian)壓文(wen)本(ben)框中(zhong)，分析(xi)儀(yi)自動(dong)計算並顯示(shi)其對(dui)應(ying)的(de)勵磁電(dian)流(liu)值(zhi)。
3 磁化(hua)曲(qu)線
磁化(hua)曲(qu)線的界(jie)面(mian)如圖4.7所示(shi)，展(zhan)示(shi)的內容(rong)包(bao)括，自動(dong)計算的拐(guai)點電(dian)壓，拐點(dian)電(dian)流(liu)，磁化(hua)曲(qu)線圖，通(tong)過(guo)“拐(guai)點(dian)顯(xian)示(shi)"復選(xuan)框，可(ke)以(yi)顯示(shi)和(he)隱藏(zang)拐(guai)點(dian)在磁化(hua)曲(qu)線上(shang)的位(wei)置。
在磁化(hua)曲(qu)線展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)選(xuan)擇(ze)“啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)"後(hou)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)定(ding)位線獲取當前位置對應(ying)的(de)磁化(hua)電(dian)流(liu)和(he)磁化(hua)電(dian)壓值(zhi)，通(tong)過(guo)“<<左(zuo)移"，“>>右移"和(he)“鼠標點(dian)擊(ji)"可(ke)以(yi)改(gai)變定(ding)位線的位置。“鼠標點(dian)擊(ji)"是(shi)指(zhi)在“啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)"後(hou)通(tong)過(guo)鼠(shu)標或(huo)者觸(chu)摸屏點擊(ji)磁化(hua)曲(qu)線展(zhan)示(shi)區域(yu)，則(ze)定(ding)位線會移動(dong)至點(dian)擊(ji)處(chu)的(de)X坐標。
點(dian)擊(ji)曲(qu)線對比，還(hai)可(ke)以(yi)實現(xian)當前(qian)曲線和(he)存(cun)儲的(de)歷(li)史曲線對比，顯(xian)示(shi)界(jie)面(mian)如圖5.3所示(shi)。曲線比較(jiao)功能(neng)可(ke)以(yi)用來(lai)對同(tong)壹互(hu)感(gan)器不同時期(qi)的測(ce)量(liang)曲(qu)線進(jin)行對(dui)比，也(ye)可(ke)以(yi)用來(lai)對三相互(hu)感(gan)器的(de)勵磁特性曲線進(jin)行對(dui)比。曲線對比窗口(kou)各(ge)按鈕的(de)定(ding)義如下：
讀取參(can)考曲(qu)線1
從(cong)存(cun)儲的(de)歷(li)史數據(ju)中(zhong)讀取1條(tiao)參(can)考勵磁曲線與當前(qian)曲線進(jin)行對(dui)比
讀取參(can)考曲(qu)線2
從(cong)存(cun)儲的(de)歷(li)史數據(ju)中(zhong)讀取1條(tiao)參(can)考勵磁曲線與當前(qian)曲線進(jin)行對(dui)比
清(qing)除參(can)考曲(qu)線
清(qing)除當前(qian)對比窗口(kou)中(zhong)所有(you)的(de)參(can)考曲(qu)線
復(fu)制圖像
將當前對比(bi)曲(qu)線圖形(xing)窗口(kou)復(fu)制成為(wei)JPG文(wen)件(jian)並保存(cun)，保存(cun)的(de)Jpg文(wen)件(jian)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)U盤導出
退(tui)出
關閉(bi)曲(qu)線對比窗口(kou)
X坐標設(she)置
調(tiao)整曲(qu)線對比圖(tu)形(xing)窗口(kou)的(de)X坐標範圍，此(ci)參(can)數(shu)可(ke)以(yi)改(gai)變圖形(xing)的X軸(zhou)縮放比例
Y坐標設(she)置
調(tiao)整曲(qu)線對比圖(tu)形(xing)窗口(kou)的(de)Y坐標範圍，此(ci)參(can)數(shu)可(ke)以(yi)改(gai)變圖形(xing)的Y軸(zhou)縮放比例
數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)
點(dian)擊(ji)啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)後(hou)，示(shi)波窗口(kou)中(zhong)會出現(xian)1條(tiao)定(ding)位線，通(tong)過(guo)定(ding)位線的移動(dong)可(ke)以(yi)讀取對應(ying)X軸(zhou)位(wei)置的Y坐標值(zhi)。可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)“左(zuo)移"，“右移"或者鼠(shu)標點(dian)擊(ji)改(gai)變定(ding)位線的位置
4 誤差曲線數據(ju)與誤差曲線
當(dang)選(xuan)擇(ze)互(hu)感(gan)器是(shi)IEC60044-1的(de)保護類(lei)型(xing)時，CT分(fen)析(xi)試驗(yan)還會繪制互(hu)感(gan)器的(de)誤差曲線，並列出誤差曲線數據(ju)，誤差展(zhan)示(shi)方式如圖5.4. 誤差曲線數據(ju)展(zhan)示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)示(shi)誤差曲線數據(ju)時(shi)沒(mei)有(you)拐(guai)點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)項目顯示(shi)，誤差曲線窗口(kou)中(zhong)的曲線對比功(gong)能和(he)磁化(hua)曲(qu)線窗口(kou)中(zhong)的曲線對比功(gong)能*，詳(xiang)細(xi)說(shuo)明(ming)見磁化(hua)曲(qu)線的曲線對比說(shuo)明(ming)。
5 比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)
在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)，互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)，角差，匝(za)數(shu)比，匝(za)數(shu)比誤差，極性也(ye)會被(bei)顯(xian)示(shi)，點擊(ji)“比(bi)差(cha)與角差"，則(ze)比(bi)差(cha)與角差的(de)試驗(yan)結果(guo)顯示(shi)如圖5.5所示(shi)。
比(bi)差(cha)角差結(jie)果(guo)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)中(zhong)，各參(can)數(shu)定(ding)義如表5.9所示(shi)。
表(biao)5.9 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)比差(cha)與角差展(zhan)示(shi)
參(can)數(shu) | 參(can)數(shu)說明(ming) |
額定(ding)壹次電(dian)流(liu) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於匝(za)數(shu)比誤差計算 |
額定(ding)二次電(dian)流(liu) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於匝(za)數(shu)比誤差計算 |
標準(zhun) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，比差角差檢(jian)測(ce)是(shi)按(an)照(zhao)此標準(zhun)進(jin)行的(de) |
頻(pin)率 | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，比差角差結(jie)果(guo)在此(ci)頻(pin)率下(xia)檢測(ce)得(de)到(dao) |
匝(za)數(shu)比 | 實(shi)測(ce)的(de)互(hu)感(gan)器匝(za)數(shu)比 |
匝(za)數(shu)比誤差 | 實(shi)測(ce)的(de)匝(za)數(shu)比與額定(ding)電(dian)流(liu)比之(zhi)間的(de)誤差，計算公式(shi)為(wei)：（實(shi)測(ce)匝(za)數(shu)比-額定(ding)電(dian)流(liu)比）/額定(ding)電(dian)流(liu)比。其(qi)中(zhong)額定(ding)電(dian)流(liu)比為(wei)：（額定(ding)壹次電(dian)流(liu)/額定(ding)二次電(dian)流(liu)） |
極(ji)性 | 實(shi)測(ce)的(de)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器當(dang)前接(jie)線極性，顯示(shi)為(wei)同(tong)極(ji)性（即-極(ji)性）或反(fan)極性（即+極(ji)性） |
額定(ding)負(fu)荷(he) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
額定(ding)功率因數 | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
額定(ding)負(fu)荷(he)比(bi)差角差 | 當(dang)互(hu)感(gan)器連(lian)接負(fu)荷(he)為(wei)額定(ding)負(fu)荷(he)時(shi)的比差(cha)和(he)角度差(cha)數(shu)據(ju) |
操(cao)作負(fu)荷(he) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
操(cao)作功率因數 | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
操(cao)作負(fu)荷(he)比(bi)差角差 | 當(dang)互(hu)感(gan)器連(lian)接負(fu)荷(he)為(wei)操(cao)作負(fu)荷(he)時(shi)的比差(cha)和(he)角度差(cha)數(shu)據(ju) |
6 線圈電(dian)阻
CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)，點擊(ji)線圈電(dian)阻按(an)鈕則(ze)圖(tu)5.6所示(shi)的線圈電(dian)阻實(shi)測(ce)參(can)數(shu)窗體會被(bei)加載。
7 誤差曲線數據(ju)與誤差曲線
當(dang)選(xuan)擇(ze)互(hu)感(gan)器是(shi)IEC60044-1的(de)保護類(lei)型(xing)時，CT分(fen)析(xi)試驗(yan)還會繪制互(hu)感(gan)器的(de)誤差曲線，並列出誤差曲線數據(ju)，誤差曲線展(zhan)示(shi)方式如圖5.4. 誤差曲線數據(ju)展(zhan)示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)示(shi)誤差曲線數據(ju)時(shi)沒(mei)有(you)拐(guai)點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)項目顯示(shi)。
8 比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)
在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)，互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)，角差，匝(za)數(shu)比，匝(za)數(shu)比誤差，極性也(ye)會被(bei)顯(xian)示(shi)，點擊(ji)“比(bi)差(cha)與角差"，則(ze)比(bi)差(cha)與角差的(de)試驗(yan)結果(guo)顯示(shi)如圖5.5所示(shi)。
在線圈電(dian)阻實(shi)測(ce)參(can)數(shu)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)中(zhong)各個項(xiang)目的定(ding)義如表5.10所示(shi)。
圖(tu)5.10 線圈電(dian)阻界(jie)面(mian)參(can)數(shu)說明(ming)
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
測(ce)試電(dian)流(liu) | 測(ce)試時(shi)加載到(dao)二次繞組上(shang)的實(shi)際電(dian)流(liu)值(zhi) |
測(ce)試溫(wen)度 | 測(ce)試時(shi)的實(shi)際(ji)環境(jing)溫(wen)度值(zhi) |
測(ce)試電(dian)壓 | 測(ce)試時(shi)二次繞組上(shang)所檢測(ce)到(dao)的(de)電(dian)壓值(zhi) |
線圈電(dian)阻 | 當(dang)前(qian)環境(jing)溫(wen)度所檢測(ce)到(dao)的(de)線圈電(dian)阻值(zhi) |
參(can)考溫(wen)度(du) | 按(an)照(zhao)標準(zhun)需要換算到(dao)的(de)溫(wen)度(du) |
線圈電(dian)阻 | 按(an)照(zhao)公式(shi) |
9 勵磁參(can)數(shu)與測(ce)試評(ping)估
在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)中(zhong)點擊(ji)“勵磁參(can)數(shu)與測(ce)試評(ping)估"結(jie)果(guo)按(an)鈕，則(ze)根(gen)據(ju)勵磁特性所測(ce)量(liang)得(de)到(dao)的(de)勵磁參(can)數(shu)和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)將會以(yi)圖5.7的(de)形(xing)式展(zhan)示(shi)。勵磁參(can)數(shu)計算項目根據(ju)所選互(hu)感(gan)器等(deng)級不同而不同，詳細(xi)的(de)參(can)數(shu)說明(ming)參(can)見第(di)6章(zhang)自動(dong)評估與銘牌(pai)推(tui)測(ce)。
圖(tu)5.7界(jie)面(mian)的(de)下(xia)方是自動(dong)評估結(jie)果(guo)，自動(dong)評估結(jie)果(guo)包(bao)括單(dan)項評(ping)估項(xiang)目，評估標準(zhun)和(he)zui終評估結(jie)果(guo)。如果單(dan)項評(ping)估通(tong)過(guo)則(ze)列(lie)表(biao)的zui後壹列(lie)顯(xian)示(shi)合格(ge)，否則(ze)顯(xian)示(shi)不合格(ge)並且該項的顏(yan)色(se)會變成紅(hong)色(se)。詳(xiang)細(xi)的(de)評估說(shuo)明(ming)和(he)評估條(tiao)件(jian)請(qing)參(can)見“第(di)6章(zhang)自動(dong)評估與銘牌(pai)推(tui)測(ce)"。
5.3 CT比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)
5.3.1 比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)與CT分(fen)析(xi)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)和(he)設置項目*，詳情請參(can)見5.2.1CT分(fen)析(xi)參(can)數(shu)設置章(zhang)節
5.3.2比(bi)差(cha)角差試驗(yan)流(liu)程
進(jin)行比(bi)差角差測(ce)量(liang)試驗(yan)時，試驗(yan)的步(bu)驟與CT分(fen)析(xi)*，詳(xiang)情(qing)請(qing)參(can)照(zhao)5.2.2CT分(fen)析(xi)試驗(yan)流(liu)程章(zhang)節。CT比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)時(shi)典(dian)型(xing)的(de)試驗(yan)流(liu)程如下“
線圈電(dian)阻檢(jian)測(ce)->壹(yi)次消磁->二次消磁->精(jing)細(xi)調(tiao)壓測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差->粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差
1）如果用戶選(xuan)擇(ze)的(de)工(gong)作模(mo)式(shi)是(shi)非自動(dong)獲取飽(bao)和(he)電(dian)壓則(ze)壹(yi)次消磁過程(cheng)將被跳(tiao)過
2）如果互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓較(jiao)低(di)，則(ze)粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差的(de)流(liu)程將被跳(tiao)過
在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)，左下角會提(ti)示(shi)當前(qian)儀(yi)器(qi)的(de)功(gong)率輸出和(he)試驗(yan)運行狀(zhuang)態。
5.3.3 比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)
比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)與CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)中(zhong)的“比差(cha)角差"結(jie)果(guo)展(zhan)示(shi)部(bu)分是(shi)**的(de)，詳(xiang)情請參(can)見5.2.3 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)
5.4 CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)
CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)試驗(yan)只(zhi)需設置互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)。選(xuan)擇(ze)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)後(hou)，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)。啟(qi)動(dong)試驗(yan)，儀(yi)器(qi)輸出0.5A直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)對線圈進(jin)行充電(dian)，當(dang)線圈電(dian)阻值(zhi)穩定(ding)以(yi)後試驗(yan)自動(dong)停止(zhi)，並記錄停止時(shi)刻的(de)線圈電(dian)阻值(zhi)和(he)環境(jing)溫(wen)度值(zhi)（儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)部(bu)位帶(dai)有(you)溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器，用於測(ce)量(liang)當(dang)前(qian)的(de)環境(jing)溫(wen)度）。
試驗(yan)結束(shu)後儀(yi)器(qi)還(hai)會自動(dong)計算溫度(du)為(wei)75攝氏度時(shi)的(de)參(can)考電(dian)阻值(zhi)。
試驗(yan)完成後(hou)結果展(zhan)示(shi)方式與5.2.3章(zhang)節中(zhong)的線圈電(dian)阻展(zhan)示(shi)頁面(mian)**。
5.5 CT極(ji)性檢查(zha)
CT極(ji)性試驗(yan)只(zhi)需設置互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)。選(xuan)擇(ze)極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)。啟(qi)動(dong)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)輸出交流(liu)正(zheng)弦電(dian)壓至CT二次繞組，並測(ce)量(liang)CT壹(yi)次側(ce)繞組的(de)電(dian)壓，當CT壹(yi)次繞組電(dian)壓超過(guo)測(ce)量(liang)閾(yu)值(zhi)或(huo)CT二次電(dian)壓輸出至zui大(da)電(dian)壓時，儀(yi)器(qi)計算此時(shi)的CT極(ji)性。儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下標準(zhun)來(lai)判定(ding)被測(ce)CT的(de)極(ji)性：
90度(du)>當(dang)壹(yi)次電(dian)壓與二次電(dian)壓相角差>-90度(du) 時(shi)計算結果(guo)為(wei)同(tong)極(ji)性（-極(ji)性），否則(ze)為(wei)反(fan)極(ji)性（+極(ji)性）
極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)完成後(hou)，試驗(yan)結果(guo)如圖5.8所示(shi)。
5.6 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
5.6.1 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)參(can)數(shu)設置
二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)的(de)試驗(yan)參(can)數(shu)設置項目包(bao)括互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)，測(ce)試電(dian)流(liu)，測(ce)試頻(pin)率，選(xuan)擇(ze)二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)後(hou)圖(tu)5.9所示(shi)的參(can)數(shu)設置窗體將會被(bei)加載。啟(qi)動(dong)二次負(fu)荷(he)試驗(yan)後儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)所選擇(ze)的(de)參(can)數(shu)輸出壹個恒(heng)定(ding)的正(zheng)弦電(dian)流(liu)至CT二次負(fu)荷(he)回(hui)路。
圖(tu)5.9所示(shi)的二次負(fu)荷(he)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)中(zhong)，3個試驗(yan)參(can)數(shu)的意(yi)義為(wei)：
1> CT額定(ding)二次電(dian)流(liu)
此(ci)參(can)數(shu)不影響(xiang)試驗(yan)流(liu)程，僅(jin)用於計算二次回路的(de)負(fu)荷(he)值(zhi)，例如測(ce)得(de)二次回路的(de)阻抗為(wei)2ohm，如果選(xuan)擇(ze)額定(ding)二次電(dian)流(liu)為(wei)1A，則(ze)對(dui)應(ying)的(de)二次負(fu)荷(he)為(wei)2VA，如果選(xuan)擇(ze)的(de)額定(ding)二次電(dian)流(liu)為(wei)5A，則(ze)對(dui)應(ying)的(de)二次負(fu)荷(he)為(wei)50VA
2> 額定(ding)頻(pin)率
此(ci)參(can)數(shu)用於控(kong)制輸出電(dian)流(liu)的頻(pin)率值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)50Hz，則(ze)輸出電(dian)流(liu)的頻(pin)率為(wei)50Hz，否(fou)則(ze)輸出電(dian)流(liu)頻(pin)率為(wei)60Hz
3> 互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)：組(zu)成(cheng)保存(cun)試驗(yan)文(wen)件(jian)的名(ming)稱
5.6.2 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)流(liu)程
儀(yi)器(qi)的(de)二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)分(fen)為(wei)兩(liang)檔(dang)，兩(liang)檔(dang)的輸出電(dian)流(liu)值(zhi)（RMS）和(he)對應(ying)的(de)量(liang)程為(wei):
1) 測(ce)試電(dian)流(liu)為(wei)0.5A（RMS），測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)為(wei)0~80ohm
2）測(ce)試電(dian)流(liu)為(wei)0.25A（RMS），測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)為(wei)0~160ohm
試驗(yan)啟(qi)動(dong)後儀(yi)器(qi)首(shou)先輸出0.5A(RMS)測(ce)試電(dian)流(liu)，如果發(fa)現(xian)被測(ce)負(fu)載(zai)超(chao)過(guo)了(le)量(liang)程(cheng)範圍，則(ze)儀(yi)器(qi)自動(dong)調(tiao)整輸出電(dian)流(liu)值(zhi)至0.25A（RMS），再(zai)次進(jin)行測(ce)量(liang)
5.6.3 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)結果(guo)
CT二次負(fu)荷(he)的(de)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)如圖5.10所示(shi)。
二次負(fu)荷(he)試驗(yan)結果(guo)頁面(mian)中(zhong)的各個參(can)數(shu)定(ding)義如表5.11所示(shi)。
表(biao) 5.11 二次負(fu)荷(he)試驗(yan)結果(guo)參(can)數(shu)
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
額定(ding)二次負(fu)荷(he) | 以(yi)VA形(xing)式或(huo)阻抗形(xing)式表(biao)示(shi)的儀(yi)器(qi)額定(ding)二次負(fu)荷(he)值(zhi) |
額定(ding)功率因數 | 額定(ding)二次負(fu)荷(he)的(de)功率因數值(zhi) |
測(ce)試電(dian)流(liu) | 以(yi)有(you)效值(zhi)表(biao)示(shi)的實(shi)際測(ce)試電(dian)流(liu)值(zhi) |
測(ce)試電(dian)壓 | 加載在二次回路上(shang)的電(dian)壓有(you)效值(zhi) |
測(ce)試頻(pin)率 | 加載在二次回路上(shang)的電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi) |
二次負(fu)荷(he) | 實(shi)測(ce)的(de)二次負(fu)荷(he)值(zhi)以(yi)VA形(xing)式表(biao)示(shi)，其值(zhi)為(wei)：額定(ding)二次電(dian)流(liu)*額定(ding)二次電(dian)流(liu)*實(shi)測(ce)二次阻抗 |
功(gong)率因數 | 實(shi)測(ce)二次回路的(de)功(gong)率因數值(zhi) |
二次阻抗 | 實(shi)測(ce)二次回路的(de)阻抗值(zhi) |
5.7 PT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)
選(xuan)擇(ze)PT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)後(hou)，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)和(he)測(ce)試電(dian)流(liu)選擇(ze)界(jie)面(mian)如圖5.11。
啟(qi)動(dong)試驗(yan)，儀(yi)器(qi)輸出0.5A(或(huo)0.05A,0.005A)直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)對線圈進(jin)行充電(dian)，當(dang)線圈電(dian)阻值(zhi)穩定(ding)以(yi)後試驗(yan)自動(dong)停止(zhi)，並記錄停止時(shi)刻的(de)線圈電(dian)阻值(zhi)和(he)環境(jing)溫(wen)度值(zhi)（儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)部(bu)位帶(dai)有(you)溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器，用於測(ce)量(liang)當(dang)前(qian)的(de)環境(jing)溫(wen)度）。試驗(yan)完成後(hou)結果展(zhan)示(shi)方式與5.2.3章(zhang)節中(zhong)的線圈電(dian)阻展(zhan)示(shi)頁面(mian)*但是PT線圈電(dian)阻試驗(yan)沒(mei)有(you)計算75攝氏度參(can)考電(dian)阻值(zhi)。
對(dui)於(yu)電(dian)磁式PT，壹(yi)次側(ce)和(he)二次側(ce)線圈電(dian)阻都可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)該(gai)項(xiang)目檢測(ce)，對(dui)於(yu)CVT式(shi)的(de)電(dian)壓互(hu)感(gan)器只(zhi)能(neng)檢測(ce)二次線圈的電(dian)阻值(zhi)。
5.8 PT極(ji)性檢查(zha)
PT極(ji)性試驗(yan)只(zhi)需設置互(hu)感(gan)器的(de)編號(hao)即(ji)可(ke)。選(xuan)擇(ze)極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)。啟(qi)動(dong)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)輸出交流(liu)正(zheng)弦電(dian)壓至PT壹(yi)次繞組，並測(ce)量(liang)PT二次側(ce)繞組的(de)電(dian)壓，當PT二次繞組電(dian)壓超過(guo)測(ce)量(liang)閾(yu)值(zhi)或(huo)PT壹(yi)次電(dian)壓輸出至zui大(da)電(dian)壓時，儀(yi)器(qi)計算此時(shi)的PT極(ji)性。儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下標準(zhun)來(lai)判定(ding)被測(ce)PT的(de)極(ji)性：
90度(du)>當(dang)壹(yi)次電(dian)壓與二次電(dian)壓相角差>-90度(du) 時(shi)計算結果(guo)為(wei)同(tong)極(ji)性（-極(ji)性），否則(ze)為(wei)反(fan)極(ji)性（+極(ji)性）
極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)完成後(hou)，試驗(yan)結果(guo)與圖5.8*。
5.9 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
5.9.1 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)參(can)數(shu)設置
PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)的(de)試驗(yan)參(can)數(shu)設置項目包(bao)括互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)，測(ce)試電(dian)壓，測(ce)試頻(pin)率，選(xuan)擇(ze)二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)後(hou)圖(tu)5.12所示(shi)的參(can)數(shu)設置窗體將會被(bei)加載。啟(qi)動(dong)二次負(fu)荷(he)試驗(yan)後儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)所選擇(ze)的(de)參(can)數(shu)輸出壹個恒(heng)定(ding)的正(zheng)弦電(dian)壓至PT二次負(fu)荷(he)回(hui)路。
圖(tu)5.12所示(shi)的二次負(fu)荷(he)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)中(zhong)，3個試驗(yan)參(can)數(shu)的意(yi)義為(wei)：
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)
用於組(zu)成(cheng)保存(cun)試驗(yan)時的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱
2> 額定(ding)頻(pin)率
此(ci)參(can)數(shu)用於控(kong)制輸出電(dian)壓的頻(pin)率值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)50Hz，則(ze)輸出電(dian)壓的頻(pin)率為(wei)50Hz，否(fou)則(ze)輸出電(dian)壓頻(pin)率為(wei)60Hz
PT額定(ding)二次電(dian)壓
儀(yi)器(qi)以(yi)此參(can)數(shu)來(lai)計算zui大輸出電(dian)壓值(zhi)，試驗(yan)被啟(qi)動(dong)後儀(yi)器(qi)輸出幅(fu)值(zhi)為(wei)互(hu)感(gan)器二次額定(ding)值(zhi)大(da)小(xiao)的(de)電(dian)壓至二次回路，並在此(ci)電(dian)壓下測(ce)量(liang)二次回路的(de)阻抗，並依據(ju)二次額定(ding)電(dian)壓計算負(fu)荷(he)值(zhi)。
二次負(fu)荷(he)=（二次額定(ding)電(dian)壓×二次額定(ding)電(dian)壓）/二次回路阻抗
5.9.2 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)流(liu)程
試驗(yan)啟(qi)動(dong)後儀(yi)器(qi)首(shou)先輸出很小(xiao)的(de)測(ce)試電(dian)壓至二次回路，並逐步升壓，同時(shi)檢測(ce)是(shi)否(fou)過(guo)載(zai)，如果發(fa)現(xian)輸出電(dian)流(liu)過載(zai)，則(ze)儀(yi)器(qi)停(ting)止(zhi)升壓，否則(ze)壹(yi)直(zhi)升至二次額定(ding)電(dian)壓值(zhi)。在zui高(gao)輸出電(dian)壓處(chu)測(ce)量(liang)二次回路的(de)阻抗值(zhi)，並依據(ju)額定(ding)二次電(dian)壓計算二次負(fu)荷(he)。
5.9.3 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)結果(guo)
PT二次負(fu)荷(he)的(de)展(zhan)示(shi)頁面(mian)與CT二次展(zhan)示(shi)頁面(mian)*，只(zhi)是(shi)在PT二次負(fu)荷(he)展(zhan)示(shi)頁面(mian)並沒(mei)有(you)額定(ding)負(fu)荷(he)的(de)顯示(shi)，其參(can)數(shu)含(han)義也(ye)是(shi)壹(yi)樣的(de)，詳情(qing)參(can)見5.6.3節
5.10 PT變比
5.10.1 PT變比試驗(yan)參(can)數(shu)設置
PT變比試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)如圖5.13，其(qi)中(zhong)需要設(she)置的參(can)數(shu)定(ding)義如表5.12
圖(tu)5.12 PT變比參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
生(sheng)產(chan)廠(chang)家 | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器型(xing)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)壹次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)壹次電(dian)壓值(zhi)，用於計算額定(ding)變比 |
額定(ding)二次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)二次電(dian)壓值(zhi)，用於計算額定(ding)變比，互(hu)感(gan)器額定(ding)二次電(dian)壓由兩(liang)部(bu)分組(zu)成(cheng)，實(shi)際電(dian)壓是2部(bu)分相(xiang)乘(cheng) |
5.10.2PT變比試驗(yan)流(liu)程
進(jin)行PT變比試驗(yan)時，試驗(yan)流(liu)程如下：
反(fan)接(jie)判(pan)斷->匝(za)數(shu)比和(he)極性測(ce)量(liang)
5.10.3 PT變比結果展(zhan)示(shi)
PT變比試驗(yan)結果(guo)顯示(shi)檢測(ce)得(de)到(dao)的(de)壹(yi)次線圈電(dian)阻值(zhi)，匝(za)數(shu)比和(he)連接極(ji)性。
5.11 PT勵磁試驗(yan)
5.11.1 PT勵磁試驗(yan)參(can)數(shu)設置
PT勵磁試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)如圖5.14，其(qi)中(zhong)需要設(she)置的參(can)數(shu)定(ding)義如表5.13
圖(tu)5.13 PT變比參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)壹次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)壹次電(dian)壓值(zhi)，此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)二次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)二次電(dian)壓值(zhi)，用於控(kong)制互(hu)感(gan)器升壓過程(cheng)，試驗(yan)過程(cheng)儀(yi)器(qi)升壓不會超(chao)過(guo)互(hu)感(gan)器額定(ding)二次電(dian)壓的1.2倍，試驗(yan)完成後(hou)儀(yi)器(qi)根(gen)據(ju)此(ci)數(shu)值(zhi)計算各點(dian)的勵磁損耗(hao)。額定(ding)二次電(dian)壓由輸入(ru)文(wen)本(ben)框和(he)倍數(shu)復選(xuan)框2部(bu)分組(zu)成(cheng)。 |
測(ce)試頻(pin)率 | 選(xuan)擇(ze)互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)工(gong)作頻(pin)率 |
壹(yi)次直(zhi)流(liu)電(dian)阻 | PT壹(yi)次繞組直(zhi)流(liu)電(dian)阻的(de)實(shi)測(ce)值(zhi)，用於推(tui)算PT比(bi)差(cha)和(he)角差值(zhi) |
二次負(fu)荷(he) | PT所連接二次負(fu)荷(he)的(de)阻抗和(he)功率因素，用於推(tui)算PT比(bi)差(cha)和(he)角差值(zhi) |
PT匝(za)數(shu)比 | PT匝(za)數(shu)比，PT變比試驗(yan)的實(shi)測(ce)值(zhi)，用於推(tui)算PT比(bi)差(cha)和(he)角差值(zhi) |
5.11.2 PT勵磁試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)
PT勵磁試驗(yan)結果(guo)包(bao)括PT勵磁曲線，PT勵磁曲線數據(ju)，PT二次線圈電(dian)阻，20%，50%，80%，100%和(he)120%額定(ding)二次電(dian)壓位置所對應(ying)的(de)PT二次勵磁電(dian)流(liu)，80%，100%和(he)120%額定(ding)電(dian)壓位置處(chu)的(de)比差和(he)角差值(zhi)
5.12生(sheng)成(cheng)試驗(yan)報(bao)告
使(shi)用C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)軟(ruan)件(jian)可(ke)以(yi)自動(dong)生(sheng)成(cheng)WORD格(ge)式的試驗(yan)報(bao)告，試驗(yan)報(bao)告以(yi)MS WORD2003的(de)"*.DOC"格(ge)式保存(cun)。試驗(yan)完成後(hou)在“查(zha)看結果(guo)"或查(zha)看歷史結果(guo)界(jie)面(mian)點(dian)擊(ji)生(sheng)成(cheng)按(an)鈕，則(ze)儀(yi)器(qi)會自動(dong)制作對應(ying)試驗(yan)項目的試驗(yan)報(bao)，圖5.15展(zhan)示(shi)了(le)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)報(bao)告的(de)首(shou)頁。
圖(tu)5.15 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)報(bao)告首(shou)頁
第(di)六章(zhang) 自動(dong)評估與銘牌(pai)推(tui)測(ce)
6.1 自動(dong)評估
6.1.1 自動(dong)評估定(ding)義
自動(dong)評估是(shi)指(zhi)將實測(ce)的(de)參(can)數(shu)與當前(qian)所選標準(zhun)規(gui)定(ding)值(zhi)進(jin)行對(dui)比，如果實(shi)測(ce)參(can)數(shu)全部(bu)符(fu)合標準(zhun)的(de)規(gui)定(ding)則(ze)互(hu)感(gan)器檢(jian)測(ce)是(shi)合格(ge)的，否則(ze)互(hu)感(gan)器檢(jian)測(ce)不合格(ge)。由於互(hu)感(gan)器的(de)很多(duo)參(can)數(shu)與互(hu)感(gan)器所連接的負(fu)載(zai)有(you)關，因此儀(yi)器(qi)的(de)自動(dong)評估選(xuan)項(xiang)有(you)“僅(jin)對操作負(fu)荷(he)評(ping)估"和(he)“對額定(ding)和(he)操作負(fu)荷(he)評(ping)估"評(ping)估兩(liang)種(zhong)選(xuan)擇(ze)。
選(xuan)擇(ze)“僅(jin)對操作負(fu)荷(he)評(ping)估"時(shi)，儀(yi)器(qi)僅(jin)僅(jin)將操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下計算的參(can)數(shu)與標準(zhun)規(gui)定(ding)的值(zhi)進(jin)行對(dui)比。如果選(xuan)擇(ze)了(le)“對(dui)額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)評(ping)估"，則(ze)儀(yi)器(qi)將額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)兩(liang)種(zhong)條(tiao)件(jian)下(xia)計算得到(dao)參(can)數(shu)都與標準(zhun)規(gui)定(ding)值(zhi)進(jin)行對(dui)比，只(zhi)有(you)兩(liang)種(zhong)條(tiao)件(jian)下(xia)計算所得的參(can)數(shu)都合格(ge)時，互(hu)感(gan)器檢(jian)測(ce)才(cai)顯(xian)示(shi)為(wei)合格(ge)
註(zhu)意(yi)：自動(dong)評估和(he)銘牌推(tui)測(ce)僅(jin)僅(jin)是針對與CT分(fen)析(xi)項(xiang)目進(jin)行，對(dui)於其他(ta)的(de)試驗(yan)項目無(wu)效
6.1.2 自動(dong)評估項(xiang)目和(he)合格(ge)條件
對(dui)於(yu)不同等(deng)級的(de)互(hu)感(gan)器，自動(dong)評估的(de)項(xiang)目是不壹樣的(de)，詳細(xi)的(de)評估項(xiang)目和(he)評估合格(ge)條件見表(biao)6.1，~表(biao)6.5
表(biao)6.1 IEC60044-1計量類電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)評估項(xiang)目和(he)合格(ge)條件
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 評(ping)估項(xiang)目 | 評(ping)估合格(ge)條件 |
0.1級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.4% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.2% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.1% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=15分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=8分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5分(fen) |
0.2級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.35% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.2% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=30分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=15分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=10分(fen) |
0.2S級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.35% 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.2% 1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=30分(fen) 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=15分(fen) 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=10分(fen) |
0.5級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.5% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.5% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=90分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=45分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=30分(fen) |
0.5S級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.5% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.5% 1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=90分(fen) 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<45分(fen) 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<30分(fen) |
1.0級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.5% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.0% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=180分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=90分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=60分(fen) |
3.0級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 50%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)50%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）50%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% 120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% |
5.0級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 50%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)50%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）50%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5% 120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5% |
表(biao)6.2 IEC60044-1 保護類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器等(deng)評估項(xiang)目和(he)評估合格(ge)條件
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 評(ping)估項(xiang)目 | 評(ping)估合格(ge)條件 |
5P | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 | 實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1% 100%額定(ding)電(dian)流(liu)角差<=60分(fen) |
10P | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 | 實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% |
5PR | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 3）100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 4）剩(sheng)磁系數(shu)Kr | 1）實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1% 3）100%額定(ding)電(dian)流(liu)角差<=60分(fen) 4）Kr<=10% |
10PR | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 3）剩(sheng)磁系數(shu)Kr | 1）實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% 3）Kr<=10% |
PX | 匝(za)數(shu)比 準(zhun)確(que)限制電(dian)壓Ek 準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)Ie 面(mian)積(ji)系數Kx 75攝氏度線圈電(dian)阻 | 1）匝(za)數(shu)比誤差<=0.25% 2）Ek實(shi)測(ce)值(zhi)>=Ek額定(ding)值(zhi) 3）Ie實(shi)測(ce)值(zhi)>=Ie額定(ding)值(zhi) 4）Kx實(shi)測(ce)值(zhi)>=額定(ding)Kx值(zhi) 5）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
表(biao)6.3 IEC60044-6 暫(zan)態(tai)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器評(ping)估項(xiang)目和(he)評估合格(ge)條件
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 評(ping)估項(xiang)目 | 評(ping)估合格(ge)條件 |
S | 匝(za)數(shu)比 準(zhun)確(que)限制電(dian)壓Val 準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)Ial 對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc 75攝氏度線圈電(dian)阻 | 匝(za)數(shu)比誤差<=0.25% Val實(shi)測(ce)值(zhi)>=Val額定(ding)值(zhi) Ial實(shi)測(ce)值(zhi)<=Ial額定(ding)值(zhi) K*Kssc測(ce)量(liang)>=K*Kssc額定(ding)值(zhi) 5）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
X | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 額定(ding)Kssc和(he)實測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差 Kssc*Ktd額定(ding)值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 75攝氏度線圈電(dian)阻 | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差<=0.5% 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差<=30分(fen) 額定(ding)Kssc*實(shi)測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值(zhi) 75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
Y | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 額定(ding)Kssc和(he)實測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差 Kssc*Ktd額定(ding)值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 二次時間常數(shu)Ts 剩(sheng)磁系數(shu)Kr 7）75攝氏度線圈電(dian)阻 | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差<=1.0% 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差<=60分(fen) 額定(ding)Kssc*實(shi)測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值(zhi) Ts實(shi)測(ce)<=30%Ts額定(ding) Kr<=10% 7）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
Z | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 Kssc*Ktd額定(ding)值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 二次時間常數(shu)Ts 5）75攝氏度線圈電(dian)阻 | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差<=1.0% 2）額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差<=180分(fen) 3）(Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值(zhi) 4）Ts實(shi)測(ce)<=30%Ts額定(ding) 5）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
表(biao)6.4 C57.13計量類互(hu)感(gan)器自動(dong)評估項(xiang)目和(he)自動(dong)評估條(tiao)件(jian)
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 自動(dong)評估項(xiang)目 | 自動(dong)評估合格(ge)條件 |
0.3級(ji) | 額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流(liu)處(chu)的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 10%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.6% 100,100*RF%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.3% |
0.6級(ji) | 額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流(liu)處(chu)的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 10%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.2% 100,100*RF%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.6% |
1.2級(ji) | 額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流(liu)處(chu)的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 10%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=2.4% 100,100*RF%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.2% |
表(biao)6.5 C57.13保護類(lei)互(hu)感(gan)器自動(dong)評估項(xiang)目和(he)自動(dong)評估條(tiao)件(jian)
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 自動(dong)評估項(xiang)目 | 自動(dong)評估合格(ge)條件 |
C | 1）Vbmax與VB額定(ding)值(zhi)比(bi)較(jiao) 2）Vbmax處(chu)的(de)二次電(dian)流(liu)Isec 3）20*Isn處(chu)的(de)比差 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)的(de)比差 | 1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi)(如未輸入(ru)Vb額定(ding)值(zhi)，則(ze)自動(dong)設置Vb額定(ding)值(zhi)為(wei)20Isec額定(ding)值(zhi)，額定(ding)負(fu)荷(he)下(xia)的二次端(duan)電(dian)壓Vb) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）20*Isn額定(ding)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% |
K | 1）Vbmax與VB額定(ding)值(zhi)比(bi)較(jiao) 2）Vbmax處(chu)的(de)二次電(dian)流(liu)Isec 3）拐(guai)點(dian)電(dian)壓 4）20*Isn處(chu)的(de)比差 5）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)的(de)比差 | 1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）拐(guai)點(dian)電(dian)壓>=70%Vb額定(ding)值(zhi) 4）20*Isn額定(ding)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% 5）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% |
T | 1）Vbmax與VB額定(ding)值(zhi)比(bi)較(jiao) 2）Vbmax處(chu)的(de)二次電(dian)流(liu)Isec 3）20*Isn處(chu)的(de)比差 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)的(de)比差 | 1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）20*Isn額定(ding)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% |
6.2 勵磁參(can)數(shu)計算
在CT分(fen)析(xi)的(de)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)，有(you)壹(yi)頁為(wei)勵磁參(can)數(shu)和(he)自動(dong)評估，其(qi)中(zhong)的勵磁參(can)數(shu)計算項目是由所選擇(ze)的(de)測(ce)試標準(zhun)和(he)互(hu)感(gan)器等(deng)級決(jue)定(ding)，其對(dui)應(ying)關系(xi)如表6.6，表(biao)6.7和(he)表6.8所示(shi)。
表(biao)6.6 IEC60044-1 勵磁參(can)數(shu)計算項目
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) | IEC60044-1計量類 | IEC60044-1保護類(lei) |
V-kn | 電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ |
I-kn | 電(dian)流(liu)拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ |
Ek | PX級(ji)互(hu)感(gan)器準(zhun)確(que)限制電(dian)壓 |
| √ |
Ie | PX級(ji)互(hu)感(gan)器準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu) |
| √ |
FS | 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu) | √ |
|
ALF | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu) |
| √ |
Kx | PX級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)面(mian)積(ji)系數 |
| √ |
Ls | 飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Lu | 不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Ts | 二次時間常數(shu) | √ | √ |
Kr | 剩(sheng)磁系數(shu) | √ | √ |
Ktd | 暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 |
| √ |
其(qi)中(zhong)部(bu)分參(can)數(shu)的含(han)義如下：
1）Ek 為(wei)IEC60041曲(qu)線拐點位(wei)置處(chu)的(de)電(dian)動(dong)勢(shi)
2）Ie 為(wei)IEC60041曲(qu)線拐點位(wei)置處(chu)的(de)勵磁電(dian)流(liu)
3）FS儀(yi)器(qi)保安系(xi)數是(shi)CT誤差達(da)到(dao)10%時(shi)壹(yi)次電(dian)流(liu)對額定(ding)電(dian)流(liu)的倍數(shu)，此參(can)數(shu)僅(jin)對測(ce)量(liang)類(lei)互(hu)感(gan)器有(you)效
4）準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)是(shi)指CT誤差達(da)到(dao)5%或(huo)10%時(shi)壹(yi)次電(dian)流(liu)對額定(ding)電(dian)流(liu)的倍數(shu)
5）Kx面(mian)積(ji)系數是指實測(ce)準(zhun)確(que)限制系數(shu)對額定(ding)準確(que)限制系數(shu)的比(bi)值(zhi)
6）Ls飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)是指(zhi)互(hu)感(gan)器在飽(bao)和(he)狀(zhuang)態下(xia)二次線圈的等(deng)效電(dian)感(gan)，用於推(tui)算二次回路在飽(bao)和(he)狀(zhuang)態下(xia)的(de)時間常(chang)數(shu)
7）Lu不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)是指(zhi)互(hu)感(gan)器在非(fei)飽(bao)和(he)情況(kuang)下的(de)二次線圈等(deng)效電(dian)感(gan)，用於推(tui)算二次回路在非(fei)飽(bao)和(he)狀(zhuang)態下(xia)的(de)時間常(chang)數(shu)
8）Kr是(shi)指(zhi)互(hu)感(gan)器線圈勵磁電(dian)流(liu)過零時(shi)，鐵(tie)芯(xin)中(zhong)剩余(yu)的(de)磁通(tong)量(liang)
表(biao) 6.7 IEC60044-6 勵磁參(can)數(shu)計算項目
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) | S | X/Y | Z |
V-Kn | 電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ | √ |
I-Kn | 電(dian)流(liu)拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ | √ |
V-al | S級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)準確(que)限制電(dian)壓 | √ |
|
|
I-al | S級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)準確(que)限制電(dian)流(liu) | √ |
|
|
Kssc | 實(shi)測(ce)的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu) |
|
|
|
Eerror | 電(dian)壓Emax處(chu)的(de)峰瞬誤差 |
| √ |
|
Emax | zui大(da)電(dian)動(dong)勢(shi) |
| √ |
|
Ls | 飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ | √ |
Lu | 不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ | √ |
Ts | 二次回路時(shi)間(jian)常(chang)數 | √ | √ | √ |
Kr | 剩(sheng)磁系數(shu) | √ | √ | √ |
Ktd | 實(shi)際(ji)計算得到(dao)的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 |
| √ | √ |
其(qi)中(zhong)部(bu)分參(can)數(shu)的含(han)義如下：
1）V-al 按(an)照(zhao)IEC60046定(ding)義的(de)曲線拐點位(wei)置處(chu)的(de)電(dian)動(dong)勢(shi)
2）I-al 按(an)照(zhao)IEC60046定(ding)義的(de)曲線拐點位(wei)置處(chu)的(de)勵磁電(dian)流(liu)
3）Kssc 互(hu)感(gan)器壹(yi)次回路中(zhong)zui大短(duan)路電(dian)流(liu)對額定(ding)壹次電(dian)流(liu)的倍數(shu)
4）Emax互(hu)感(gan)器額定(ding)極限(xian)電(dian)動(dong)勢(shi)，此數(shu)值(zhi)有(you)壹(yi)次zui大短(duan)路電(dian)流(liu)，線圈內阻和(he)二次負(fu)荷(he)共(gong)同(tong)決(jue)定(ding)
5）Eerror 額定(ding)極限(xian)電(dian)動(dong)勢(shi)處(chu)對(dui)應(ying)的(de)互(hu)感(gan)器瞬時值(zhi)測(ce)量(liang)誤差
表(biao)6.8 C57.13的(de)勵磁參(can)數(shu)計算項目
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) | C57.13計量類 | C57.13保護類(lei) |
V-kn | 電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.10 | √ | √ |
I-kn | 電(dian)流(liu)拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表(biao)6.10 | √ | √ |
FS | 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu) | √ |
|
ALF | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu) |
| √ |
Kx | PX級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)面(mian)積(ji)系數 |
| √ |
Ls | 飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Lu | 不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Ts | 二次時間常數(shu) | √ | √ |
Kr | 剩(sheng)磁系數(shu) | √ | √ |
6.3 拐(guai)點(dian)和(he)磁化(hua)曲(qu)線定(ding)義
不同測(ce)試標準(zhun)的(de)磁化(hua)曲(qu)線，拐點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)的定(ding)義是(shi)不壹樣的(de)，詳細(xi)的(de)定(ding)義說(shuo)明(ming)如表6.9和(he)表6.10所示(shi)。
表(biao)6.9 三種(zhong)測(ce)試標準(zhun)的(de)磁化(hua)曲(qu)線定(ding)義
標準(zhun)名(ming)稱 | 磁化(hua)曲(qu)線橫坐標 | 磁化(hua)曲(qu)線縱(zong)坐標 |
IEC60044-1 | 二次端(duan)電(dian)壓有(you)效值(zhi) | 勵磁電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi) |
IEC60044-6 | 電(dian)動(dong)勢(shi)電(dian)壓有(you)效值(zhi) | 勵磁電(dian)流(liu)峰值(zhi) |
C57.13 | 電(dian)動(dong)勢(shi)電(dian)壓有(you)效值(zhi) | 勵磁電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi) |
表(biao)6.10 拐(guai)點(dian)定(ding)義
標準(zhun)名(ming)稱 | 拐(guai)點(dian)定(ding)義 |
IEC60044-1 | 勵磁曲線上(shang)二次端(duan)電(dian)壓上(shang)升10%，導致勵磁電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi)上(shang)升超過50%的(de)那個點(dian) |
IEC60044-6 | 電(dian)動(dong)勢(shi)電(dian)壓上(shang)升10%，導致勵磁電(dian)流(liu)峰值(zhi)上(shang)升超過50%的(de)那個點(dian) |
C57.13 | 對(dui)於(yu)C57.13的(de)ANSI45拐(guai)點(dian)是(shi)指對於(yu)橫(heng)坐標正(zheng)切為(wei)45度(du)角的那個點(dian)，對(dui)於(yu)C57.13的(de)ANSI30拐(guai)點(dian)是(shi)指對於(yu)橫(heng)坐標正(zheng)切為(wei)30度(du)角的那個點(dian) |
6.4 銘(ming)牌(pai)推(tui)測(ce)邏(luo)輯
CT分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)功(gong)能(neng)用於在銘(ming)牌(pai)部(bu)分信(xin)息(xi)未(wei)知時猜測(ce)銘(ming)牌(pai)的(de)部(bu)分信(xin)息(xi)，推(tui)測(ce)的(de)參(can)數(shu)包(bao)括額定(ding)壹次電(dian)流(liu)，額定(ding)二次電(dian)流(liu)和(he)互(hu)感(gan)器等(deng)級。銘(ming)牌推(tui)測(ce)的(de)所使用的順序和(he)判斷條件如下：
1） 如果額定(ding)二次電(dian)流(liu)未知(zhi)，則(ze)根(gen)據(ju)當(dang)前(qian)所測(ce)得(de)的(de)線圈電(dian)阻大(da)小(xiao)與1A/5A判(pan)斷閾值(zhi)進(jin)行比(bi)較(jiao)（見系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置章(zhang)節），如果小(xiao)於(yu)閾值(zhi)則(ze)將額定(ding)二次電(dian)流(liu)設為(wei)5A，否(fou)則(ze)設(she)為(wei)1A
2）根(gen)據(ju)實(shi)際(ji)測(ce)量(liang)獲(huo)得(de)的(de)匝(za)數(shu)比和(he)額定(ding)二次電(dian)流(liu)值(zhi)，對(dui)照(zhao)當前(qian)所選擇(ze)標準(zhun)對(dui)壹次電(dian)流(liu)取值(zhi)規(gui)則(ze)的(de)規(gui)定(ding)，猜測(ce)額定(ding)壹次電(dian)流(liu)值(zhi)。
3）互(hu)感(gan)器等(deng)級的(de)猜測(ce)
為(wei)了(le)猜(cai)測(ce)互(hu)感(gan)器的(de)等(deng)級首(shou)先需要判(pan)斷互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯的(de)類型(xing)，根據(ju)1A或(huo)5A鐵(tie)芯(xin)判(pan)定(ding)閾值(zhi)（見系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置章(zhang)節）獲取當前鐵芯(xin)類型(xing)，如果飽(bao)和(he)電(dian)壓小(xiao)於(yu)閾值(zhi)則(ze)為(wei)測(ce)量(liang)鐵(tie)芯(xin)否(fou)則(ze)為(wei)保護鐵(tie)芯(xin)。
如果猜(cai)測(ce)的(de)互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯為(wei)測(ce)量(liang)鐵(tie)芯(xin)，則(ze)儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下規(gui)則(ze)推(tui)測(ce)互(hu)感(gan)器等(deng)級。
1）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)IEC60044-1則(ze)分(fen)別(bie)對如下精(jing)度等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5->1.0->3.0->5.0
2）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)C57.13則(ze)分(fen)別(bie)對如下精(jing)度等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
0.3->0.6->1.2
如果猜(cai)測(ce)的(de)鐵(tie)芯(xin)為(wei)保護鐵(tie)芯(xin)，則(ze)儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下規(gui)則(ze)推(tui)測(ce)互(hu)感(gan)器等(deng)級
1）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)IEC60044-1，則(ze)分(fen)別(bie)對如下等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
5PR->10PR->PX->5P->10P
2）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)IEC60044-6，則(ze)分(fen)別(bie)對如下等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
Y-> X-> Z-> S
3）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)C57.13，則(ze)分(fen)別(bie)對如下等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
K->C->T
第(di)七(qi)章(zhang) PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)
7.1 概(gai)述(shu)
分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)產(chan)品(pin)光盤中(zhong)包(bao)含(han)2個PC應(ying)用程序(xu),數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)“C T ANALYZER FOR PC"和(he)批量(liang)報(bao)告制作工(gong)具(ju)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，這(zhe)2個應(ying)用程序(xu)都是免安(an)裝的(de)綠(lv)色(se)軟(ruan)件(jian)，使(shi)用時將2個應(ying)用程序(xu)對(dui)應(ying)的(de)文(wen)件(jian)夾(jia)復制到(dao)計算機硬盤即可(ke)。
7.2 數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)
在分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)中(zhong)雙(shuang)擊(ji)“C T ANALYZER FOR PC"，出現(xian)如圖7.1所示(shi)數據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)主(zhu)界(jie)面(mian)。
分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)操(cao)作與界(jie)面(mian)和(he)儀(yi)器(qi)應(ying)用軟件(jian)基本(ben)*，其不同之(zhi)處(chu)如下：
讀取文(wen)件(jian)時PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)需要用戶文(wen)件(jian)所在位(wei)置如圖7.2
保存(cun)文(wen)件(jian)時PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置如圖7.2
曲(qu)線對比窗口(kou)中(zhong)讀取參(can)考曲(qu)線時需要用戶參(can)考文(wen)件(jian)所在位(wei)置如圖7.2
曲(qu)線對比中(zhong)復制圖片(pian)時需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置如圖7.2
生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置如圖7.2
除以(yi)上(shang)所列不同之(zhi)處(chu)外,數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)所有(you)的(de)操作方法與儀(yi)器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)軟件**，詳(xiang)細(xi)說(shuo)明(ming)請參(can)照(zhao)儀(yi)器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)軟件說(shuo)明(ming)
7.3 批量(liang)報(bao)告制作工(gong)具(ju)
在儀(yi)器(qi)版(ban)本(ben)為(wei)V1.27.129以(yi)上(shang)的機型中(zhong)，分析(xi)儀(yi)的(de)產(chan)品(pin)光盤提(ti)供(gong)WORD報(bao)告批處(chu)理(li)應(ying)用程序(xu)，此(ci)程序可(ke)以(yi)實現(xian)壹次性生(sheng)成(cheng)多(duo)個WORD報(bao)告文(wen)檔(dang)，在儀(yi)器(qi)產(chan)品(pin)光盤中(zhong)雙(shuang)擊(ji)C T分(fen)析(xi)儀(yi)批量(liang)報(bao)告制作工(gong)具(ju)文(wen)件(jian)夾(jia)下的(de)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，出現(xian)圖7.3所示(shi)窗口(kou)。
窗口(kou)中(zhong)各個按(an)鈕和(he)控件定(ding)義如下：
WORD報(bao)告批量(liang)生(sheng)成(cheng)
點(dian)擊(ji)WORD報(bao)告批量(liang)生(sheng)成(cheng)時(shi)，進(jin)入(ru)報(bao)告配置窗口(kou)如圖7.4所示(shi)，在該(gai)窗口(kou)中(zhong)可(ke)以(yi)添加，移除需要制作報(bao)告的(de)試驗(yan)文(wen)件(jian)。圖7.4窗口(kou)中(zhong)各個按(an)鈕的(de)定(ding)義如下：
添(tian)加文(wen)件(jian)
點(dian)擊(ji)“添(tian)加文(wen)件(jian)"出現(xian)圖7.5所示(shi)的試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)添加窗口(kou)，可(ke)以(yi)將試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)添加到(dao)WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)。
註(zhu)意(yi)：圖7.5所示(shi)窗口(kou)中(zhong)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)鼠(shu)標同(tong)時(shi)選擇(ze)多(duo)個文(wen)件(jian)
移除文(wen)件(jian)
點(dian)擊(ji)移除文(wen)件(jian)，將WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)選中(zhong)的試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除
註(zhu)意(yi)：此項(xiang)功能(neng)僅(jin)僅(jin)將試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除，並不會刪(shan)除計算機中(zhong)對應(ying)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)
移除所有(you)文(wen)件(jian)
點(dian)擊(ji)移除所有(you)文(wen)件(jian)，清(qing)空(kong)WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)所有(you)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)
註(zhu)意(yi)：此項(xiang)功能(neng)僅(jin)僅(jin)將試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除，並不會刪(shan)除計算機中(zhong)對應(ying)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)批量(liang)生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告壹(yi)次性生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)所有(you)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)
註(zhu)意(yi)：當待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)文(wen)件(jian)的數量很(hen)多(duo)時(shi)，生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)會耗(hao)費很長(chang)的時(shi)間(jian)，在此(ci)過(guo)程中(zhong)應(ying)用軟件(jian)不能響(xiang)應(ying)其(qi)他(ta)控(kong)制命令，如果此(ci)時需要終(zhong)止(zhi)生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)Ctrl+ALT+DEL關閉(bi)此(ci)應(ying)用程序(xu)的(de)進(jin)程。
取消
退(tui)出WORD報(bao)告批量(liang)生(sheng)成(cheng)配置窗口(kou)
試驗(yan)報(bao)告生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)控(kong)制
生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)包(bao)含(han)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線，此項被(bei)選中(zhong)時，在所有(you)的(de)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)的WORD報(bao)告中(zhong)會包(bao)含(han)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線及數據(ju)，這(zhe)樣的(de)配置會消(xiao)耗(hao)較(jiao)長的(de)生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)間，否則(ze)這(zhe)些(xie)曲線和(he)數據(ju)不會出現(xian)在這(zhe)些(xie)生(sheng)成(cheng)的(de)WORD報(bao)告中(zhong)並且生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)間較(jiao)短(duan)
誤差曲線中(zhong)使用整數(shu)壹次電(dian)流(liu)倍數(shu)，此項(xiang)被選(xuan)中(zhong)時，在所有(you)的(de)IEC60044-1保護類(lei)CT的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)中(zhong)，誤差曲線數據(ju)會顯(xian)示(shi)整數(shu)壹次電(dian)流(liu)倍數(shu)的數(shu)值(zhi)
顯(xian)示(shi)簡化(hua)的(de)勵磁數據(ju)，此(ci)項(xiang)被(bei)選中(zhong)時，在所有(you)的(de)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)的WORD報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的磁化(hua)曲(qu)線為(wei)30個點(dian)，這(zhe)樣可(ke)以(yi)縮短(duan)生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告的(de)時間，否則(ze)顯(xian)示(shi)點數(shu)為(wei)實(shi)測(ce)點(dian)並且生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告的(de)時間較(jiao)長。
語(yu)言(yan)選(xuan)擇(ze)
選(xuan)擇(ze)此(ci)應(ying)用程序(xu)的(de)語(yu)言(yan)環境(jing)，目前版(ban)本(ben)支(zhi)持的(de)語(yu)言(yan)為(wei)中(zhong)文(wen)和(he)英(ying)文(wen)
進(jin)度條(tiao)
應(ying)用程序(xu)主(zhu)界(jie)面(mian)包(bao)含(han)2個進(jin)度條(tiao)指示(shi)生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)的(de)狀(zhuang)態，位(wei)於(yu)主程序(xu)上(shang)部(bu)的進(jin)度條(tiao)是所有(you)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)WORD報(bao)告生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)的(de)總進(jin)度指(zhi)示(shi)，位於(yu)主程(cheng)序下部(bu)的進(jin)度條(tiao)是單(dan)個試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)WORD報(bao)告生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)的(de)進(jin)度指(zhi)示(shi)。
第(di)八章(zhang) 附(fu)件(jian)清(qing)單(dan)
8.1 C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)標準(zhun)配置
C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)標準(zhun)配置如表7.1所示(shi)：
名(ming)稱 | 數(shu)量(liang) | 說(shuo)明(ming) |
C T分(fen)析(xi)儀(yi)主(zhu)機 | 1 |
|
3M雙(shuang)芯帶(dai)屏(ping)蔽(bi)測(ce)試電(dian)纜(lan) | 2 | CT二次和(he)功率輸出連接(jie)線，每根電(dian)纜(lan)的(de)兩(liang)頭都帶有(you)紅(hong)色(se)和(he)黑色(se)香(xiang)蕉(jiao)頭，線徑大於(yu)1.5MM |
10M雙(shuang)芯帶(dai)屏(ping)蔽(bi)測(ce)試電(dian)纜(lan) | 1 | CT壹(yi)次連接線，每根電(dian)纜(lan)的(de)兩(liang)頭都帶有(you)紅(hong)色(se)和(he)黑色(se)香(xiang)蕉(jiao)頭，線徑大於(yu)1.5MM |
接(jie)地(di)線 | 1 |
|
大(da)號(hao)測(ce)試鉗(qian) | 2 | 紅(hong)黑(hei)各2個 |
測(ce)試冷(leng)壓片 | 4 | 紅(hong)黑(hei)各2個 |
測(ce)試針(zhen) | 4 | 紅(hong)黑(hei)各2個 |
鱷魚(yu)夾(jia) | 6 | 紅(hong)黑(hei)各3個 |
測(ce)試短(duan)接線 | 1 | 含(han)6個連(lian)接(jie)頭，用於短(duan)接CT二次的剩余(yu)非(fei)測(ce)試繞(rao)組 |
PT勵磁試驗(yan)模(mo)塊(kuai) | 1 | 用於PT勵磁試驗(yan) |
5A電(dian)源(yuan)保險 | 3 |
|
供(gong)電(dian)電(dian)纜(lan) | 1 |
|
附(fu)件(jian)包(bao) | 1 | 放置測(ce)試的(de)各種(zhong)附(fu)件(jian) |
產(chan)品(pin)光(guang)盤 | 1 | 包(bao)含(han)產品說(shuo)明(ming)書和(he)數據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian) |
產(chan)品(pin)使(shi)用說明(ming)書 | 1 |
|
產(chan)品(pin)出廠(chang)檢(jian)測(ce)報(bao)告 | 1 |
|
合格(ge)證(zheng) | 1 |
|
附(fu)錄(lu)A. 低(di)頻(pin)法測(ce)試原理(li)
IEC60044-6 標準(zhun)（對(dui)應(ying)國(guo)家標準(zhun)GB16847-1997）聲(sheng)稱(cheng)，CT 的(de)測(ce)試可(ke)以(yi)在比(bi)額定(ding)頻(pin)率低(di)的(de)情況(kuang)下進(jin)行，避(bi)免繞(rao)組(zu)和(he)二次端(duan)子(zi)承受(shou)不能容(rong)許(xu)的(de)電(dian)壓。的要(yao)求就是，在鐵(tie)心(xin)上(shang)產生(sheng)同(tong)樣大(da)小(xiao)的(de)磁通(tong)。
IEC60044-6 標準(zhun)中(zhong)給出的磁通(tong)計算公式(shi)：
其(qi)中(zhong)，
R CT ：二次繞組電(dian)阻
U CT ：二次繞組端(duan)電(dian)壓
I CT ：二次電(dian)流(liu)
Ψ0 ：初(chu)始交鏈(lian)磁通(tong)
Ψ(t)：t 時(shi)刻的(de)交(jiao)鏈(lian)磁通(tong)
定(ding)義鐵(tie)心電(dian)壓：
當(dang)鐵(tie)心(xin)電(dian)壓U C (t) 為(wei)正(zheng)弦信(xin)號(hao)時(shi)，有(you)：
其(qi)中(zhong)：
f ：為(wei)正(zheng)弦信(xin)號(hao)頻(pin)率
可(ke)以(yi)看出，在相(xiang)同(tong)的zui大(da)交鏈(lian)磁通(tong)Ψm 下(xia)，鐵(tie)心(xin)電(dian)壓與頻(pin)率成(cheng)正(zheng)比。因此，只(zhi)要(yao)在鐵(tie)心(xin)上(shang)產生(sheng)同(tong)樣大(da)小(xiao)的(de)磁通(tong)，那麽(me)CT的(de)測(ce)試便可(ke)以(yi)在比(bi)額定(ding)頻(pin)率低(di)的(de)情況(kuang)下進(jin)行，此(ci)時所需的鐵(tie)心(xin)電(dian)壓幅(fu)值(zhi)要(yao)求(qiu)也(ye)降(jiang)低(di)，二次繞組測(ce)試所需的端(duan)電(dian)壓也(ye)相(xiang)應(ying)降(jiang)低(di)。對(dui)低(di)頻(pin)測(ce)試結(jie)果進(jin)行頻(pin)率折(zhe)算(suan)後可(ke)以(yi)得到(dao)額定(ding)頻(pin)率下(xia)的CT測(ce)試結(jie)果。
附(fu)錄(lu)B.10%誤差曲線計算
電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)誤差主要是(shi)由於勵磁電(dian)流(liu)I0的(de)存(cun)在，它(ta)使(shi)二次電(dian)流(liu)I2與換算到(dao)二次側(ce)後的壹(yi)次電(dian)流(liu)I1′不但在數(shu)值(zhi)上(shang)不相等(deng)，而且相位也(ye)不相同，這(zhe)就造成了(le)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)誤差。
繼(ji)電(dian)保護要(yao)求(qiu)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)壹次電(dian)流(liu)I1等(deng)於zui大(da)短(duan)路電(dian)流(liu)時，其(qi)比(bi)值(zhi)差(cha)小(xiao)於(yu)或等(deng)於10％。在比(bi)值(zhi)差(cha)等(deng)於10％時(shi)，二次電(dian)流(liu)I2 與換算到(dao)二次側(ce)後的壹(yi)次電(dian)流(liu)I1′以(yi)及勵磁電(dian)流(liu)I0 之(zhi)間滿(man)足(zu)下(xia)述(shu)關系(xi)：
定(ding)義M 為(wei)壹(yi)次側(ce)zui大短(duan)路電(dian)流(liu)倍數(shu)，K 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)變比，則(ze)有(you)
其(qi)中(zhong)：
Z2 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器二次繞組阻抗
E0 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器二次繞組感(gan)應(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)E0和(he)I0的(de)關系(xi)由勵磁特性曲線描述。
根(gen)據(ju)上(shang)述算(suan)式，zui後可(ke)以(yi)得到(dao)用zui大短(duan)路電(dian)流(liu)倍數(shu)M 和(he)允(yun)許(xu)的(de)zui大(da)負(fu)荷(he)阻抗ZB描述的10％誤差曲
5%誤差曲線的計算方式與10%誤差曲線計算方式*，只(zhi)是(shi)誤差點從10%變成了(le)5%。對(dui)於(yu)5P/5PR的(de)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器通(tong)常(chang)計算5%誤差曲線，對於10P/10PR的(de)保護類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器通(tong)常(chang)計算10%誤差曲線。
的(de)使(shi)用範圍與技術指標
1.1 C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)功(gong)能(neng)與使用場合
C T分(fen)析(xi)儀(yi)用於電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)以(yi)下試驗(yan)：
1）勵磁特性試驗(yan)
2）匝(za)數(shu)比檢測(ce)
3）比(bi)差(cha)與角差校(xiao)驗(yan)
4）極(ji)性校(xiao)驗(yan)
5）二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)
6）二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
7）5%和(he)10%誤差曲線測(ce)量(liang)
8）CT暫(zan)態(tai)特(te)性測(ce)試與分析(xi)
9）CT銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)斷
10）拐(guai)點(dian)電(dian)壓/電(dian)流(liu)、準確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)、儀(yi)表(biao)保安系(xi)數、二次時間常數(shu)、剩(sheng)磁系數(shu)、準確(que)級、飽(bao)和(he)與不飽(bao)及電(dian)感(gan)，拐點(dian)電(dian)動(dong)勢(shi)，極限(xian)電(dian)動(dong)勢(shi)和(he)面(mian)積(ji)系數等(deng)CT 參(can)數(shu)的測(ce)量(liang)
11）電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯磁滯(zhi)回(hui)線測(ce)量(liang)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)還(hai)可(ke)用於電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)以(yi)下試驗(yan)：
1）PT匝(za)數(shu)比檢測(ce)
2）PT極(ji)性校(xiao)驗(yan)
3）PT二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)
4）PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
5) PT勵磁特性測(ce)量(liang)
裝置的應(ying)用場合主要(yao)有(you)：
1） CT銘(ming)牌(pai)的(de)參(can)數(shu)校(xiao)驗(yan)
2） CT接(jie)入(ru)當(dang)前負(fu)荷(he)時(shi)參(can)數(shu)校(xiao)驗(yan)
3） 分(fen)析(xi)CT的(de)暫(zan)態(tai)特(te)性對繼(ji)電(dian)保護裝置的影(ying)響(xiang)。
4） PT的(de)銘(ming)牌(pai)參(can)數(shu)校(xiao)驗(yan)
5） PT二次負(fu)荷(he)校(xiao)驗(yan)
1.2 C T分(fen)析(xi)儀(yi)技術指標
1 測(ce)試標準(zhun)依(yi)據(ju)：
IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,
GB16847, GBT4703, C57.13
2 輸入(ru)電(dian)源(yuan)電(dian)壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%
3 輸出電(dian)壓： 0.1~180V(AC)
4 輸出電(dian)流(liu)： 0.001~5A(RMS)
5 輸出功率：500VA
6 zui高(gao)等(deng)效拐點電(dian)壓：45KV
7 電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)： 範圍：0~10A (自動(dong)量程(cheng)0.1/0.4/2/10A)
誤差<±0.1%+0.01%FS
8 電(dian)壓測(ce)量(liang)： 範圍：0~200 V (自動(dong)量程(cheng)1/10/70/200V)
誤差< ±0.1%+0.01%FS
9 匝(za)數(shu)比測(ce)量(liang)： 範圍：1~35000，
1~2000 誤差<0.05%
2000~5000 誤差<0.1%
5000~35000 誤差<0.2%
10 相(xiang)位(wei)測(ce)量(liang)： 精(jing)度(du)：±2min，分(fen)辨(bian)率：0.01min
11 二次繞組電(dian)阻測(ce)量(liang)範圍： 範圍：0~8KΩ(自動(dong)量程(cheng)2/20/80Ω/800Ω/8kΩ)
誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， zui大(da)分(fen)辨(bian)率：0.1mΩ
12 溫(wen)度(du)測(ce)量(liang)：-50~100度(du)， 誤差<3度(du)
13 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)
誤差0.2%RDG+0.02%FSzui大(da)分(fen)辨(bian)率0.001ohm
14 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)
誤差0.2%RDG+0.02%FSzui大(da)分(fen)辨(bian)率0.1ohm
15 PT匝(za)數(shu)比測(ce)量(liang)： 範圍：1~30000，
1~5000 誤差<0.2%
5000~30000 誤差<0.5%
16 能(neng)夠(gou)按(an)照(zhao)所選擇(ze)的(de)標準(zhun)，對(dui)測(ce)試結(jie)果進(jin)行自動(dong)評估，判(pan)斷互(hu)感(gan)器是(shi)否合格(ge)
17 能(neng)夠(gou)同(tong)時檢測(ce)額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)的比(bi)差與角差
18 具(ju)有(you)自動(dong)生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告功(gong)能
19 具(ju)備(bei)批量(liang)制作WORD試驗(yan)報(bao)告功(gong)能，壹次可(ke)以(yi)將選擇(ze)的(de)所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)制作成格(ge)式規(gui)範的WORD報(bao)告
20 能(neng)夠(gou)將勵磁曲線與存(cun)儲的(de)歷(li)史曲線進(jin)行自動(dong)對比(bi)
21 數(shu)據(ju)存(cun)儲組(zu)數(shu)：大(da)於1000組(zu)
22 工(gong)作條件(jian)： 溫(wen)度(du)：-10℃～50℃， 濕度(du)：≤90%
23 尺(chi)寸(cun)： 485mm×356mm×183mm
24 重(zhong)量：15Kg
第(di)二章(zhang) 硬(ying)件(jian)裝置
2.1 概(gai)述(shu)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)外形(xing)和(he)各部(bu)分的(de)描述如圖2.1所示(shi)
2.2電(dian)源(yuan)連接(jie)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)電(dian)源(yuan)輸入(ru)插(cha)座(zuo)在儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)的(de)右側(ce)，如圖2.2所示(shi)。電(dian)源(yuan)輸入(ru)範圍是(shi)AC220±10% ，50/60Hz±10%，電(dian)源(yuan)插(cha)座(zuo)內部(bu)安裝有(you)5A保險。
2.3輸入(ru)與輸出
CT/PT分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)測(ce)試接(jie)口(kou)有(you)3組(zu)：功(gong)率輸出，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)輸入(ru)，CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)輸入(ru)。
功(gong)率輸出端(duan)子(zi)：功(gong)率輸出接口(kou)，輸出電(dian)壓範圍是(shi)AC 0~180V，輸出電(dian)流(liu)AC0~5A
CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)輸入(ru)端(duan)子(zi)：
CT二次繞組/PT壹(yi)次繞組電(dian)壓測(ce)量(liang)輸入(ru)接(jie)口(kou)，輸入(ru)信(xin)號(hao)的(de)電(dian)壓範圍是(shi)AC0~180V
CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)輸入(ru)端(duan)子(zi)：CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)繞組電(dian)壓測(ce)量(liang)輸入(ru)接(jie)口(kou)，輸入(ru)信(xin)號(hao)的(de)電(dian)壓範圍是(shi)AC0~5V
2.4硬(ying)件(jian)部(bu)分原理(li)框圖
C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)結(jie)構(gou)原理(li)如圖2.3所示(shi)，其中(zhong)的恒壓恒流(liu)變頻(pin)電(dian)源(yuan)模(mo)塊(kuai)與AC220V電(dian)源(yuan)輸入(ru)是(shi)*隔離的(de)。通(tong)過(guo)DSP數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)系(xi)統完成對(dui)恒壓恒流(liu)模(mo)塊(kuai)的控(kong)制，可(ke)以(yi)使電(dian)源(yuan)輸出AC0~180V正(zheng)弦電(dian)壓信(xin)號(hao)或(huo)者AC0~1A的(de)正(zheng)弦電(dian)流(liu)信(xin)號(hao)。
DSP數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)系(xi)統的主要功能是(shi)完成對(dui)變頻(pin)電(dian)源(yuan)控制和(he)試驗(yan)過程(cheng)的數(shu)據(ju)采(cai)集(ji)。所有(you)的(de)數據(ju)分(fen)析(xi)，存(cun)儲和(he)界(jie)面(mian)顯(xian)示(shi)都由工(gong)控(kong)機系統完成，工(gong)控(kong)機內置了(le)嵌(qian)入(ru)式(shi)XPE系(xi)統(tong)，並對系統的C盤進(jin)行的(de)自恢(hui)復保護，這(zhe)樣可(ke)以(yi)有(you)效的避免軟(ruan)件(jian)系(xi)統故障和(he)病毒(du)攻(gong)擊(ji)。儀(yi)器(qi)內部(bu)存(cun)儲空(kong)間>6G，zui大(da)存(cun)儲數(shu)據(ju)>1000組(zu)。
2.5鍵(jian)盤
C T分(fen)析(xi)儀(yi)面(mian)板(ban)帶(dai)有(you)壹(yi)個16鍵(jian)的(de)小(xiao)鍵(jian)盤用於數(shu)據(ju)輸入(ru)，鍵(jian)盤的外形(xing)如圖2.4所示(shi)，其中(zhong)各個按(an)鍵(jian)的(de)定(ding)義如下：
1）0~9 數(shu)字輸入(ru)鍵(jian)
2）∧向(xiang)上(shang)選擇(ze)方向鍵(jian)
3) ∨向(xiang)下(xia)選(xuan)擇(ze)方向鍵(jian)
4）＜刪(shan)除數據(ju)鍵(jian)
5）. 小(xiao)數(shu)點輸入(ru)鍵(jian)
6）ESC 取消選擇(ze)鍵(jian)
7）確(que)定(ding)選擇(ze)或(huo)輸入(ru)鍵(jian)
第(di)三章(zhang) 試驗(yan)連線
3.1 CT二次負(fu)荷(he)
在進(jin)行CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)請(qing)按(an)照(zhao)圖3.1連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)CT
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）將按照(zhao)圖3.1所示(shi)，斷開CT二次側(ce)和(he)二次回路的(de)連(lian)接(jie)
3）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)壹(yi)側(ce)，參(can)見圖(tu)3.1
4）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)的(de)另(ling)壹側(ce)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)CT分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.2。
註(zhu)意(yi)：在進(jin)行CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)，必須要斷開被測(ce)CT二次側(ce)與負(fu)載(zai)的(de)連(lian)接(jie)，否則(ze)測(ce)量(liang)的(de)結(jie)果(guo)將是CT二次側(ce)與二次負(fu)荷(he)的(de)並聯阻抗，這(zhe)將導致儀(yi)器(qi)獲(huo)得(de)錯誤的試驗(yan)結果(guo)。並且在進(jin)行二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)儀(yi)器(qi)不進(jin)行退(tui)磁處(chu)理(li)，因此如果CT二次側(ce)未斷開將會導致CT進(jin)入(ru)飽(bao)和(he)狀(zhuang)態。
3.2 CT分(fen)析(xi)，變比，極性試驗(yan)接線圖
在進(jin)行CT分(fen)析(xi)，變比或極性試驗(yan)時請(qing)按照(zhao)圖3.3連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)CT，這(zhe)三個試驗(yan)項目的接線方式是(shi)*的(de)
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）斷開電(dian)力(li)線與CT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)，未接地的(de)電(dian)力(li)線較(jiao)長，會給(gei)CT壹(yi)次側(ce)的測(ce)量(liang)引入(ru)較(jiao)大幹擾(rao)，參(can)見圖(tu)3.4。
3）將CT壹(yi)次側(ce)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)黑色(se)端(duan)子(zi)
4）將CT壹(yi)次側(ce)另(ling)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)
5）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
6）將按照(zhao)圖3.3所示(shi)，斷開被測(ce)CT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
7）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)的壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.3
8）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)
9）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
註(zhu)意(yi)：在對(dui)變比值(zhi)相(xiang)同(tong)的(de)多繞組(zu)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器進(jin)行CT分(fen)析(xi)或(huo)CT比(bi)差(cha)角差測(ce)試時(shi)，沒(mei)有(you)測(ce)試的(de)二次繞組應(ying)全(quan)部(bu)短(duan)接，否(fou)則(ze)測(ce)試誤差將會偏大
例如同時(shi)含(han)有(you)測(ce)量(liang)0.5級(ji)，保護10P10，暫(zan)態(tai) Y三個繞(rao)組(zu)的(de)2000/1的(de)CT，進(jin)行0.5級(ji)繞(rao)組(zu)的比差(cha)角差測(ce)量(liang)時(shi)應(ying)按(an)照(zhao)圖3.4.1進(jin)行接(jie)線
3.3 CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)接(jie)線圖
在測(ce)量(liang)CT線圈的直(zhi)流(liu)電(dian)阻時(shi)，請(qing)按照(zhao)圖3.5連(lian)接(jie)儀(yi)器(qi)和(he)被測(ce)CT。
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）按(an)照(zhao)圖3.5所示(shi)，斷開被測(ce)CT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
3）將CPTT分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)的壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.5
4）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至CT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
3.4 PT二次負(fu)荷(he)
在進(jin)行PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)時(shi)請(qing)按(an)照(zhao)圖3.6連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)PT
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）將按照(zhao)圖3.6所示(shi)，斷開PT二次側(ce)和(he)二次回路的(de)連(lian)接(jie)
3）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)的(de)壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.6
4）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至二次負(fu)荷(he)的(de)另(ling)壹端(duan)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.2。
3.5 PT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)接(jie)線圖
在測(ce)量(liang)PT線圈的直(zhi)流(liu)電(dian)阻時(shi)，請(qing)按照(zhao)圖3.7連(lian)接(jie)儀(yi)器(qi)和(he)被測(ce)PT。
1）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
2）按(an)照(zhao)圖3.7所示(shi)，斷開被測(ce)PT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接，或(huo)是(shi)斷開PT壹(yi)次側(ce)與PT壹(yi)次線路的(de)連(lian)接(jie)
3）將CPTT分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT二次側(ce)(或(huo)PT壹(yi)次側(ce))的(de)壹(yi)端(duan)，參(can)見圖(tu)3.7
4）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT二次側(ce)（或PT壹(yi)次側(ce)）另(ling)壹端(duan)
5）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
3.6 PT匝(za)數(shu)比，極性試驗(yan)接線圖
在進(jin)行PT變比或極性試驗(yan)時請(qing)按照(zhao)圖3.9連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)PT，這(zhe)兩(liang)個試驗(yan)項目的接線方式是(shi)*的(de)
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將PT二次側(ce)的壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)黑色(se)端(duan)子(zi)
2）將PT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT壹(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)
3）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
4）將按照(zhao)圖3.9所示(shi)，斷開被測(ce)PT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
5）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的黑色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT壹(yi)次側(ce)的壹端(duan)，參(can)見圖(tu)3.9
6）將C T分(fen)析(xi)功(gong)率輸出和(he)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)連(lian)接(jie)至PT壹(yi)次側(ce)另(ling)壹端(duan)
7）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
3.7 PT勵磁試驗(yan)接線圖
在進(jin)行PT勵磁試驗(yan)時請(qing)按照(zhao)圖3.10連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)和(he)被測(ce)PT。
執(zhi)行(xing)PT勵磁試驗(yan)時，需要外接(jie)PT勵磁試驗(yan)模(mo)塊(kuai)，以(yi)防止(zhi)發(fa)生(sheng)高(gao)頻(pin)振蕩(dang)，造成測(ce)試結(jie)果的(de)電(dian)流(liu)過大(da)
具(ju)體接(jie)線步驟和(he)說明(ming)如下：
1）將PT二次側(ce)的壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)黑色(se)端(duan)子(zi)
2）將PT二次側(ce)另(ling)壹端(duan)連(lian)接(jie)至C T分(fen)析(xi)儀(yi)CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)紅(hong)色(se)端(duan)子(zi)
3）將PT勵磁模(mo)塊(kuai)的黃(huang)色(se)/黑(hei)色(se)線連接至分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)功(gong)率輸出
4）將PT二次側(ce)的壹端(duan)連(lian)接(jie)至PT勵磁模(mo)塊(kuai)的紅(hong)色(se)插(cha)座(zuo)
5）將PT二次側(ce)的另(ling)外壹(yi)端(duan)連(lian)接(jie)至PT勵磁模(mo)塊(kuai)的黑(hei)色(se)插(cha)座(zuo)
6）將C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)接(jie)地(di)柱連接(jie)到(dao)保護地(di)PE
7）將按照(zhao)圖3.10所示(shi)，斷開被測(ce)PT二次側(ce)和(he)二次負(fu)荷(he)的(de)連接
8）為(wei)了(le)消(xiao)除接觸(chu)電(dian)阻對(dui)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)的(de)影(ying)響(xiang)，在連(lian)接(jie)C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時(shi)，CT二次側(ce)/PT壹(yi)次側(ce)的連接(jie)端(duan)子(zi)應(ying)保持在功(gong)率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.4。
註(zhu)意(yi)：PT勵磁試驗(yan)完成後(hou)，PT壹(yi)次側(ce)可(ke)能(neng)有(you)高(gao)壓殘留(liu)，壹定(ding)要對(dui)PT壹(yi)次側(ce)進(jin)行放電(dian)，否(fou)則(ze)將壹次側(ce)再(zai)連(lian)接到(dao)儀(yi)器(qi)時(shi)，可(ke)能(neng)造成儀(yi)器(qi)損(sun)耗(hao)
第(di)四章(zhang) 用戶界(jie)面(mian)
4.1 儀(yi)器(qi)運行界(jie)面(mian)
C T分(fen)析(xi)儀(yi)軟(ruan)件(jian)系(xi)統定(ding)義了(le)6種(zhong)運行狀(zhuang)態，這(zhe)6種(zhong)運行狀(zhuang)態分(fen)別(bie)為(wei)“等(deng)待新建試驗(yan)"，“等(deng)待查(zha)看歷史結果(guo)"，“等(deng)待試驗(yan)"，“運行"，“查(zha)看結果(guo)"和(he)“查(zha)看歷史結果(guo)"。不同的狀(zhuang)態下(xia)軟(ruan)件顯示(shi)界(jie)面(mian)是(shi)不壹樣的(de)，但是整個軟(ruan)件(jian)界(jie)面(mian)都是被(bei)劃(hua)分為(wei)5個區(qu)域(yu)，其(qi)劃(hua)分方式如圖4.1所示(shi)，5個區(qu)域(yu)分(fen)別為(wei)工(gong)具(ju)欄(lan)，儀(yi)器(qi)主(zhu)工(gong)作區（在等(deng)待試驗(yan)界(jie)面(mian)顯(xian)示(shi)為(wei)試驗(yan)項目選擇(ze)和(he)操作命令選擇(ze)，如圖4.1），儀(yi)器(qi)狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)，當(dang)前(qian)試驗(yan)參(can)數(shu)欄(lan)和(he)試驗(yan)控制欄(lan)。儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)不同的運行狀(zhuang)態時(shi)，僅(jin)僅(jin)是在主(zhu)工(gong)作區對(dui)顯示(shi)界(jie)面(mian)進(jin)行切(qie)換。
4.2 儀(yi)器(qi)軟(ruan)件(jian)工(gong)具(ju)欄(lan)
工(gong)具(ju)欄(lan)包(bao)含(han)了(le)對(dui)儀(yi)器(qi)操(cao)作的各(ge)個命令按鈕，其(qi)中(zhong)包(bao)括“新建試驗(yan)"，“保存(cun)"，“讀取"，“儀(yi)器(qi)設(she)置"，“語(yu)言(yan)選(xuan)擇(ze)"，“互(hu)感(gan)器設(she)置"，“數據(ju)導出"和(he)“使用幫助(zhu)"等(deng)，各個儀(yi)器(qi)控(kong)制命令的詳細(xi)解(jie)釋(shi)如下。
4.2.1新建試驗(yan)
新建試驗(yan)是指(zhi)結束(shu)當前(qian)的(de)試驗(yan)窗口(kou)，軟(ruan)件返回至“等(deng)待新建試驗(yan)狀(zhuang)態"，在該(gai)狀(zhuang)態下(xia)圖(tu)4.1所示(shi)界(jie)面(mian)被(bei)加載，可(ke)以(yi)在該(gai)窗體中(zhong)選擇(ze)將要進(jin)行的(de)試驗(yan)項目，該窗體中(zhong)的試驗(yan)項目包(bao)括“CT分(fen)析(xi)"，“CT比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)"，“CT二次負(fu)荷(he)"，“CT極(ji)性檢查(zha)"，“CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)"， “PT變比"，“PT二次負(fu)荷(he)"，“PT極(ji)性檢查(zha)"和(he)“PT線圈電(dian)阻"，也(ye)可(ke)以(yi)在該(gai)狀(zhuang)態下(xia)重(zhong)新啟(qi)動(dong)軟件(jian)或(huo)是(shi)關閉(bi)系(xi)統(tong)。
4.2.2 保存(cun)
保存(cun)按(an)鈕是(shi)在完成試驗(yan)以(yi)後，保存(cun)儀(yi)器(qi)試驗(yan)結果(guo)和(he)數據(ju)。在查(zha)看歷史結果(guo)時(shi)，如果用戶修(xiu)改(gai)當前(qian)的(de)顯(xian)示(shi)模(mo)式(shi)（標準(zhun)或(huo)互(hu)感(gan)器等(deng)級改(gai)變），可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)此(ci)按(an)鈕保存(cun)修(xiu)改(gai)後的(de)結(jie)果(guo)。
儀(yi)器(qi)在保存(cun)試驗(yan)結果(guo)時文(wen)件(jian)的名(ming)稱是(shi)按(an)照(zhao)如下格(ge)式進(jin)行組(zu)織的：
年-月(yue)-日 時(shi)：分(fen)：秒(miao) 互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) 試驗(yan)名(ming)稱.cta
例如 2011-04-08 11：12：30 CT分(fen)析(xi).cta
其(qi)中(zhong)時間部(bu)分是(shi)取自試驗(yan)啟(qi)動(dong)瞬間的(de)系(xi)統時間(jian)，因此在查(zha)看歷史結果(guo)狀(zhuang)態修(xiu)改(gai)試驗(yan)顯示(shi)模(mo)式(shi)後(hou)保存(cun)試驗(yan)結果(guo)，此時(shi)儀(yi)器(qi)將自動(dong)覆(fu)蓋原來(lai)的文(wen)件(jian)，而不會重(zhong)新為(wei)此(ci)文(wen)件(jian)創建壹(yi)個副(fu)本(ben)。
4.2.3讀取
讀取按鈕的(de)功能(neng)是重(zhong)新導入(ru)已保存(cun)的(de)歷史數據(ju)，當(dang)用戶點(dian)擊(ji)讀取按鈕以(yi)後圖(tu)4.2所示(shi)窗體將會被(bei)加載。
在試驗(yan)讀取界(jie)面(mian)，窗體的(de)左(zuo)邊(bian)列出了(le)當(dang)前(qian)儀(yi)器(qi)所保存(cun)的(de)所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)名(ming)稱；右邊(bian)是(shi)對保存(cun)文(wen)件(jian)的操作命令選擇(ze)；右上(shang)角是儀(yi)器(qi)當(dang)前(qian)存(cun)儲的(de)文(wen)件(jian)計數，其內容(rong)包(bao)括當(dang)前(qian)選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)索(suo)引和(he)當前存(cun)儲的(de)文(wen)件(jian)總數(shu)。
文(wen)件(jian)讀取窗體中(zhong)的命令按鈕包(bao)括
1)“上(shang)壹頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)上(shang)翻頁
2)“下(xia)壹(yi)頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)下翻頁
3)“刪(shan)除所有(you)文(wen)件(jian)"刪(shan)除當前(qian)存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)的所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)
4)“刪(shan)除文(wen)件(jian)"刪(shan)除當前(qian)所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)
5)“取消"退出文(wen)件(jian)讀取窗體
6)讀取當前所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“查(zha)看歷史結果(guo)界(jie)面(mian)"，
4.2.4 儀(yi)器(qi)設(she)置
儀(yi)器(qi)設(she)置按鈕用於設(she)置儀(yi)器(qi)的(de)運行參(can)數(shu)，點擊(ji)儀(yi)器(qi)設(she)置按鈕圖(tu)4.3所示(shi)的窗體會被(bei)加載。
儀(yi)器(qi)設(she)置界(jie)面(mian)中(zhong)的系統(tong)運行參(can)數(shu)只(zhi)會反(fan)映在儀(yi)器(qi)生(sheng)成(cheng)的(de)試驗(yan)報(bao)告中(zhong)，與試驗(yan)的流(liu)程控(kong)制無(wu)關，其(qi)中(zhong)的各個參(can)數(shu)詳細(xi)定(ding)義如表4.1
表(biao)4.1 系(xi)統(tong)運行參(can)數(shu)
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 含(han)義 |
儀(yi)器(qi)ID | 儀(yi)器(qi)的(de)出廠(chang)識(shi)別(bie)號(hao)，所有(you)的(de)儀(yi)器(qi)都具有(you)的(de)ID |
軟(ruan)件(jian)ID | 儀(yi)器(qi)的(de)DSP軟(ruan)件(jian)系(xi)統版(ban)本(ben)號(hao) |
操(cao)作人員(yuan) | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的操(cao)作人員(yuan)名(ming)字 |
試驗(yan)單(dan)位 | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的試驗(yan)單(dan)位 |
試驗(yan)地點(dian) | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的試驗(yan)地點(dian) |
報(bao)告頁眉 | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告頁眉部(bu)分的(de)內容(rong) |
報(bao)告頁腳 | 生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)，報(bao)告頁腳部(bu)分的(de)內容(rong) |
生(sheng)成(cheng) 報(bao)告時(shi)含(han)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線 | 在完成CT分(fen)析(xi)試驗(yan)後，將磁滯(zhi)回(hui)線包(bao)含(han)在所生(sheng)成(cheng)的(de)WORD報(bao)告中(zhong) |
在誤差曲線中(zhong)使用整數(shu)壹次電(dian)流(liu)倍數(shu) | 在生(sheng)成(cheng)誤差曲線數據(ju)時(shi)只(zhi)顯(xian)示(shi)壹次電(dian)流(liu)整數(shu)倍數(shu)的數(shu)值(zhi) |
其(qi)余(yu)參(can)數(shu)均(jun)與試驗(yan)過程(cheng)的控(kong)制有(you)關，但是只(zhi)涉(she)及CT測(ce)試時(shi)的試驗(yan)流(liu)程，與PT試驗(yan)沒(mei)有(you)關系(xi)，其詳(xiang)細(xi)含(han)義如表4.2所示(shi)
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 含(han)義 |
自動(dong)評估設(she)置 | 如果設(she)為(wei)“關閉(bi)自動(dong)評估"，在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結束(shu)後，儀(yi)器(qi)給(gei)出各個參(can)數(shu)數值(zhi)，不會自動(dong)判定(ding)當前(qian)的試驗(yan)結果(guo)是否(fou)符(fu)合所選標準(zhun)的(de)要求。 如果設(she)置僅(jin)對操作負(fu)荷(he)進(jin)行評(ping)估，在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結束(shu)後，儀(yi)器(qi)除給出試驗(yan)各參(can)數(shu)的數值(zhi)外，還(hai)會依(yi)據(ju)CT所連接負(fu)荷(he)為(wei)當(dang)前(qian)操(cao)作負(fu)荷(he)時(shi)，自動(dong)判斷各項指(zhi)標是(shi)否(fou)符(fu)合所選標準(zhun)要(yao)求 如果設(she)置對額定(ding)和(he)操作負(fu)荷(he)進(jin)行評(ping)估，在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結束(shu)後，儀(yi)器(qi)除給出試驗(yan)各參(can)數(shu)的數值(zhi)外，還(hai)會分(fen)別(bie)對CT所連接負(fu)荷(he)為(wei)操(cao)作負(fu)荷(he)和(he)額定(ding)負(fu)荷(he)時(shi)，自動(dong)判斷各項指(zhi)標是(shi)否(fou)符(fu)合所選標準(zhun)要(yao)求 |
勵磁試驗(yan)控制 | 默(mo)認(ren)情(qing)況(kuang)下，系(xi)統設置為(wei)自動(dong)獲取系統的飽(bao)和(he)電(dian)壓點，此(ci)參(can)數(shu)用於對(dui)CT進(jin)行勵磁試驗(yan)時的(de)流(liu)程控(kong)制，儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)獲(huo)取的飽(bao)和(he)電(dian)壓自動(dong)選取合適的(de)試驗(yan)頻(pin)率。如果選(xuan)擇(ze)“自動(dong)獲取"則(ze)儀(yi)器(qi)在進(jin)行勵磁試驗(yan)之(zhi)前會自動(dong)測(ce)量(liang)所連接CT的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓，否則(ze)儀(yi)器(qi)以(yi)設定(ding)的飽(bao)和(he)電(dian)壓為(wei)準(zhun)進(jin)行勵磁試驗(yan)。 註(zhu)意(yi)：只(zhi)有(you)在“自動(dong)獲取"無(wu)法正(zheng)確(que)獲得儀(yi)器(qi)的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓或者互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓大於(yu)8KV時(shi)才(cai)將儀(yi)器(qi)設(she)為(wei)人(ren)工(gong)設(she)定(ding)模(mo)式(shi)，因為(wei)人(ren)工(gong)設(she)定(ding)模(mo)式(shi)可(ke)能(neng)會導致不能獲得(de)精細(xi)的(de)勵磁曲線 |
顯(xian)示(shi)簡化(hua)的(de)勵磁數據(ju) | 選(xuan)中(zhong)時勵磁曲線數據(ju)欄(lan)目將顯示(shi)zui多30個數(shu)據(ju)點(dian)，分(fen)別(bie)為(wei)拐(guai)點(dian)前(qian)15個數(shu)據(ju)點(dian)和(he)拐點後(hou)15個數(shu)據(ju)點(dian)，這(zhe)些(xie)數據(ju)點(dian)都是從(cong)勵磁曲線上(shang)等(deng)步長(chang)截取獲得的，顯(xian)示(shi)簡化(hua)數(shu)據(ju)時(shi)可(ke)以(yi)加快(kuai)生(sheng)成(cheng)WORD文(wen)檔(dang)的速(su)度 未(wei)選(xuan)中(zhong)時儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)實際(ji)獲取的勵磁數據(ju)點(dian)數(shu)，通(tong)常(chang)會大(da)於(yu)100個點(dian) |
1A/5A類(lei)型(xing)互(hu)感(gan)器判(pan)斷閾值(zhi) | 此(ci)參(can)數(shu)適用於銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用戶選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)，並且互(hu)感(gan)器二次額定(ding)電(dian)流(liu)未知(zhi)時(shi)，儀(yi)器(qi)以(yi)此閾(yu)值(zhi)來(lai)判斷互(hu)感(gan)器類(lei)型，線圈電(dian)阻小(xiao)於(yu)此閾值(zhi)則(ze)認(ren)為(wei)是(shi)5A互(hu)感(gan)器，否(fou)則(ze)為(wei)1A互(hu)感(gan)器 |
1A互(hu)感(gan)器測(ce)量(liang)和(he)保護類(lei)型(xing)判斷閾值(zhi) | 此(ci)參(can)數(shu)適用於銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用戶選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)，並且互(hu)感(gan)器等(deng)級未(wei)知時，儀(yi)器(qi)以(yi)此閾(yu)值(zhi)來(lai)判斷1A的(de)互(hu)感(gan)器保護和(he)測(ce)量(liang)類(lei)型(xing)，飽(bao)和(he)電(dian)壓小(xiao)於(yu)此閾值(zhi)則(ze)認(ren)為(wei)是(shi)測(ce)量(liang)1A互(hu)感(gan)器，否(fou)則(ze)為(wei)保護1A互(hu)感(gan)器 |
5A互(hu)感(gan)器測(ce)量(liang)和(he)保護類(lei)型(xing)判斷閾值(zhi) | 此(ci)參(can)數(shu)適用於銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)工(gong)作模(mo)式(shi)，當(dang)用戶選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)，並且互(hu)感(gan)器等(deng)級未(wei)知時，儀(yi)器(qi)以(yi)此閾(yu)值(zhi)來(lai)判斷5A的(de)互(hu)感(gan)器保護和(he)測(ce)量(liang)類(lei)型(xing)，飽(bao)和(he)電(dian)壓小(xiao)於(yu)此閾值(zhi)則(ze)認(ren)為(wei)是(shi)測(ce)量(liang)5A互(hu)感(gan)器，否(fou)則(ze)為(wei)保護5A互(hu)感(gan)器 |
勵磁數據(ju)查(zha)找條件 | 設(she)置為(wei)通(tong)過(guo)電(dian)壓查(zha)找電(dian)流(liu)時 在勵磁曲線數據(ju)欄(lan)目中(zhong)，輸入(ru)勵磁電(dian)壓數值(zhi)儀(yi)器(qi)自動(dong)查(zha)找對應(ying)的(de)勵磁電(dian)流(liu)數值(zhi) 位(wei)置為(wei)通(tong)過(guo)電(dian)流(liu)查(zha)找電(dian)壓時 在勵磁曲線數據(ju)欄(lan)目中(zhong)，輸入(ru)勵磁電(dian)流(liu)數值(zhi)儀(yi)器(qi)自動(dong)查(zha)找對應(ying)的(de)勵磁電(dian)壓數值(zhi) |
4.2.5 語(yu)言(yan)選(xuan)擇(ze)
CT分(fen)析(xi)儀(yi)支(zhi)持漢語(yu)和(he)英(ying)文(wen)兩(liang)種(zhong)語(yu)言(yan)，此(ci)按(an)鈕用於系(xi)統(tong)語(yu)言(yan)的(de)選(xuan)擇(ze)和(he)切換。點擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)圖4.4所示(shi)窗體被(bei)加載。選擇(ze)簡(jian)體中(zhong)文(wen)後(hou)儀(yi)器(qi)的(de)工(gong)作語(yu)言(yan)為(wei)中(zhong)文(wen)，選(xuan)擇(ze)English則(ze)儀(yi)器(qi)的(de)工(gong)作語(yu)言(yan)變成英(ying)文(wen)
4.2.6 CT參(can)數(shu)設置
互(hu)感(gan)器設(she)置按鈕用於設(she)置被測(ce)CT銘(ming)牌(pai)參(can)數(shu)和(he)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)，變比試驗(yan)的流(liu)程控(kong)制參(can)數(shu)。點擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)圖4.5所示(shi)窗體被(bei)加載。此窗體中(zhong)各參(can)數(shu)的詳細(xi)定(ding)義請(qing)參(can)見第(di)5.2節參(can)數(shu)設置
4.2.7 數(shu)據(ju)導出
數(shu)據(ju)導出按鈕用於導出已保存(cun)在儀(yi)器(qi)上(shang)的試驗(yan)數據(ju)，WORD報(bao)告等(deng)文(wen)件(jian)。點擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)圖4.6所示(shi)的窗體被(bei)加載。
左(zuo)邊(bian)的(de)列表框(kuang)展(zhan)示(shi)的是(shi)當前(qian)存(cun)儲在儀(yi)器(qi)上(shang)文(wen)件(jian)列表，在文(wen)件(jian)類型選擇(ze)下(xia)拉(la)框(kuang)中(zhong)選擇(ze)不同的文(wen)件(jian)類型，則(ze)在左(zuo)邊(bian)列表(biao)框中(zhong)將展(zhan)示(shi)相應(ying)的(de)文(wen)件(jian)，文(wen)件(jian)類型包(bao)括“*.Cta“格(ge)式數據(ju)文(wen)件(jian)，WORD試驗(yan)報(bao)告文(wen)件(jian)和(he)Jpg圖(tu)片(pian)文(wen)件(jian)。文(wen)件(jian)索(suo)引和(he)文(wen)件(jian)總數(shu)計數器展(zhan)示(shi)儀(yi)器(qi)中(zhong)存(cun)儲的(de)當(dang)前(qian)類型文(wen)件(jian)總數(shu)和(he)現(xian)在所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)索(suo)引，通(tong)過(guo)鼠(shu)標點(dian)擊(ji)可(ke)以(yi)同時(shi)選擇(ze)多(duo)個文(wen)件(jian)，文(wen)件(jian)被選擇(ze)時(shi)顯(xian)示(shi)為(wei)藍色(se)底色(se)。
數(shu)據(ju)導出窗體中(zhong)的操作命令按鈕包(bao)括：
1)“上(shang)壹頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)上(shang)翻頁
2)“下(xia)壹(yi)頁" 對(dui)文(wen)件(jian)顯示(shi)列表(biao)中(zhong)的內容(rong)進(jin)行向(xiang)下翻頁
3)“清(qing)空(kong)存(cun)儲器(qi)"，指(zhi)刪(shan)除插(cha)入(ru)儀(yi)器(qi)的(de)U盤中(zhong)“試驗(yan)數據(ju)"目錄下的所有(you)文(wen)件(jian)
4)“刪(shan)除所有(you)文(wen)件(jian)"刪(shan)除當前(qian)存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)的所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)
5)“刪(shan)除文(wen)件(jian)"刪(shan)除存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)當前所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)
6)“導出所有(you)文(wen)件(jian)"，將當前左邊(bian)窗體中(zhong)的所有(you)試驗(yan)文(wen)件(jian)導出至U盤中(zhong)。如果當(dang)前選擇(ze)的(de)是(shi)“*.Cta"，則(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)的所有(you)“*.Cta"文(wen)件(jian)都會被(bei)導出至U盤的“試驗(yan)數據(ju)\儀(yi)器(qi)試驗(yan)數據(ju)"文(wen)件(jian)目錄下，如果當(dang)前選擇(ze)的(de)是(shi)“.Doc"文(wen)件(jian)，則(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)的所有(you)“*.Doc"文(wen)件(jian)都會被(bei)導出至U盤的“試驗(yan)數據(ju)\WORD試驗(yan)報(bao)告"目錄下。如果當(dang)前選擇(ze)的(de)是(shi)“.Jpg"文(wen)件(jian)，則(ze)左(zuo)邊(bian)列表框中(zhong)的所有(you)“*.Jpg"文(wen)件(jian)都會被(bei)導出至U盤的“試驗(yan)數據(ju)\Jpg圖(tu)形(xing)文(wen)件(jian)"目錄下
7)“導出文(wen)件(jian)"，將當前所選擇(ze)的(de)文(wen)件(jian)導出至U盤對應(ying)的(de)目錄下。
8)“取消"退出文(wen)件(jian)導出窗體
4.2.8 使(shi)用幫助(zhu)
此(ci)按(an)鈕可(ke)以(yi)打開(kai)儀(yi)器(qi)的(de)使(shi)用幫助(zhu)文(wen)檔(dang)，使用幫助(zhu)文(wen)檔(dang)以(yi)“*.Pdf"的(de)文(wen)件(jian)格(ge)式存(cun)儲在儀(yi)器(qi)中(zhong)，當用戶點(dian)擊(ji)此(ci)按(an)鈕後(hou)使用幫助(zhu)文(wen)檔(dang)會被(bei)打(da)開。
4.3 主(zhu)工(gong)作區
位(wei)於(yu)軟(ruan)件中(zhong)部(bu)的所有(you)區(qu)域是(shi)軟(ruan)件(jian)的主(zhu)工(gong)作區，儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)不同試驗(yan)狀(zhuang)態時(shi)主(zhu)工(gong)作區的(de)內容(rong)會被(bei)切(qie)換，例如當儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)“等(deng)待新建試驗(yan)狀(zhuang)態"時(shi)儀(yi)器(qi)主(zhu)工(gong)作區顯(xian)示(shi)試驗(yan)選擇(ze)按(an)鈕等(deng)如圖4.1. 當(dang)儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)“查(zha)看結果(guo)"或“查(zha)看歷史結果(guo)"時(shi)，並且選擇(ze)了(le)當(dang)前(qian)展(zhan)示(shi)模(mo)式(shi)為(wei)勵磁曲線時，儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)如圖4.7所示(shi)
4.4 儀(yi)器(qi)運行狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)
儀(yi)器(qi)狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)展(zhan)示(shi)的信(xin)息(xi)有(you)：
1）儀(yi)器(qi)的(de)當(dang)前運行狀(zhuang)態，如“等(deng)待新建試驗(yan)"，“等(deng)待試驗(yan)"，“查(zha)看結果(guo)"，“查(zha)看歷史結果(guo)"，“運行"，“等(deng)待查(zha)看歷史結果(guo)"等(deng)。
2）除了(le)儀(yi)器(qi)的(de)運行狀(zhuang)態外還(hai)有(you)對(dui)儀(yi)器(qi)內部(bu)的工(gong)控(kong)機與DSP之(zhi)間通(tong)信(xin)的(de)標識(shi)，如果DSP與工(gong)控(kong)機之(zhi)間通(tong)信(xin)成(cheng)功則(ze)儀(yi)器(qi)在狀(zhuang)態信(xin)息(xi)欄(lan)顯(xian)示(shi)聯機，否則(ze)儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)為(wei)脫(tuo)機狀(zhuang)態。
3）當(dang)前(qian)試驗(yan)項目，其內容(rong)為(wei)當(dang)前(qian)所選擇(ze)的(de)試驗(yan)項目名(ming)稱，如“CT分(fen)析(xi)"，“比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)"等(deng)
4）系(xi)統(tong)日期(qi)和(he)時間，當(dang)儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)聯機非運行狀(zhuang)態時(shi)，此(ci)欄(lan)目會顯(xian)示(shi)當前(qian)的系(xi)統日期(qi)，系統時(shi)間(jian)和(he)當前面(mian)板(ban)處(chu)的(de)環境(jing)溫(wen)度
5）環境(jing)溫(wen)度。儀(yi)器(qi)每(mei)隔(ge)2分(fen)鐘(zhong)會更(geng)新壹次環境(jing)溫(wen)度測(ce)量(liang)，所測(ce)得(de)的(de)環境(jing)溫(wen)度將會被(bei)用於計算75攝氏度的(de)參(can)考線圈電(dian)阻
4.5 試驗(yan)控制欄(lan)
試驗(yan)控制欄(lan)裏(li)具(ju)有(you)“試驗(yan)參(can)數(shu)設置"和(he)“開始試驗(yan)"按鈕，當(dang)儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)等(deng)待試驗(yan)狀(zhuang)態時(shi)點(dian)擊(ji)“試驗(yan)參(can)數(shu)設置"按鈕，儀(yi)器(qi)將會顯(xian)示(shi)對應(ying)的(de)試驗(yan)參(can)數(shu)設置窗體，在這(zhe)些(xie)窗體中(zhong)用戶可(ke)以(yi)設置當前(qian)試驗(yan)的控(kong)制參(can)數(shu)。
“開(kai)始試驗(yan)"按鈕用於啟(qi)動(dong)和(he)停止當(dang)前的(de)試驗(yan)，當用戶從(cong)“等(deng)待試驗(yan)"或“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態點(dian)擊(ji)“開(kai)始試驗(yan)"按鈕後(hou)，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“運行"狀(zhuang)態，對(dui)應(ying)的(de)試驗(yan)會被(bei)啟(qi)動(dong)，該按(an)鈕的(de)標識(shi)變成“停止試驗(yan)"，再(zai)次點擊(ji)該(gai)按(an)鈕或(huo)試驗(yan)自動(dong)完成後(hou)，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態，對(dui)應(ying)的(de)結(jie)果參(can)數(shu)被自動(dong)計算並展(zhan)示(shi)。
註(zhu)意(yi)：當儀(yi)器(qi)處(chu)於(yu)“查(zha)看歷史結果(guo)"時(shi)，如果需要運行試驗(yan)必須首(shou)先點(dian)擊(ji)新建試驗(yan)，讓儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)到(dao)“等(deng)待試驗(yan)界(jie)面(mian)"，然(ran)後(hou)按照(zhao)“等(deng)待新建試驗(yan)"->“等(deng)待試驗(yan)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"的流(liu)程完成試驗(yan)項目。
4.6 儀(yi)器(qi)的(de)啟(qi)動(dong)與關閉(bi)
打(da)開(kai)儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)的(de)電(dian)源(yuan)後，儀(yi)器(qi)的(de)軟(ruan)件系統被自動(dong)加載，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"狀(zhuang)態，開(kai)機過程完成。
如果要(yao)關閉(bi)儀(yi)器(qi)，請(qing)首(shou)先通(tong)過(guo)軟(ruan)件(jian)界(jie)面(mian)的(de)“關閉(bi)系(xi)統(tong)"按(an)鈕關閉(bi)儀(yi)器(qi)。等(deng)待儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)屏上(shang)提(ti)示(shi)“It is safe to shutdown now"時(shi)再(zai)切(qie)斷儀(yi)器(qi)的(de)電(dian)源(yuan)。
註(zhu)意(yi)：緊急(ji)情況(kuang)時，請(qing)直(zhi)接(jie)切(qie)斷儀(yi)器(qi)的(de)供(gong)電(dian)電(dian)源(yuan)
第(di)五章(zhang) 試驗(yan)操作
5.1 試驗(yan)運行的(de)壹(yi)般(ban)流(liu)程
如第(di)四章(zhang)中(zhong)的描述儀(yi)器(qi)的(de)軟(ruan)件運行可(ke)以(yi)分為(wei)“等(deng)待新建試驗(yan)"，“等(deng)待試驗(yan)"，“查(zha)看結果(guo)"，“運行"，“查(zha)看歷史結果(guo)"和(he)“等(deng)待查(zha)看歷史結果(guo)"6種(zhong)狀(zhuang)態。軟(ruan)件(jian)運行的(de)幾(ji)種(zhong)常(chang)見的(de)流(liu)程如下：
1） 儀(yi)器(qi)開(kai)機以(yi)後進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"
“等(deng)待新建試驗(yan)"->“等(deng)待試驗(yan)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"
此(ci)流(liu)程的(de)描述為(wei)儀(yi)器(qi)首(shou)先進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)"狀(zhuang)態，用戶在此(ci)狀(zhuang)態選(xuan)擇(ze)要(yao)進(jin)行的(de)試驗(yan)，如CT分(fen)析(xi)，然(ran)後(hou)設(she)置CT分(fen)析(xi)試驗(yan)的各(ge)個參(can)數(shu)，儀(yi)器(qi)轉(zhuan)而(er)進(jin)入(ru)“等(deng)待試驗(yan)"狀(zhuang)態，用戶再(zai)點(dian)擊(ji)“開(kai)始試驗(yan)按鈕"，試驗(yan)被啟(qi)動(dong)，等(deng)待試驗(yan)完成後(hou)自動(dong)停止(zhi)，儀(yi)器(qi)自動(dong)計算各個參(can)數(shu)，並進(jin)入(ru)“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態。
2）從(cong)“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態開(kai)始另(ling)壹項(xiang)試驗(yan)
“查(zha)看結果(guo)"->“等(deng)待新建試驗(yan)"->“等(deng)待試驗(yan)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"
儀(yi)器(qi)在完成壹(yi)項試驗(yan)後需要進(jin)行另(ling)外壹(yi)個試驗(yan)項目，則(ze)此(ci)流(liu)按照(zhao)此流(liu)程進(jin)行。在“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態點(dian)擊(ji)“新建試驗(yan)"按鈕，儀(yi)器(qi)進(jin)入(ru)“等(deng)待新建試驗(yan)狀(zhuang)態"，後(hou)面(mian)的(de)過(guo)程同第(di)1項(xiang)描述*
重(zhong)復當前(qian)的試驗(yan)
“查(zha)看結果(guo)"->“運行"->“查(zha)看結果(guo)"
完成壹(yi)項試驗(yan)後，以(yi)相同(tong)的參(can)數(shu)重(zhong)復這壹(yi)試驗(yan)項目，則(ze)在“查(zha)看結果(guo)"狀(zhuang)態直(zhi)接(jie)點(dian)擊(ji)“開(kai)始試驗(yan)"按鈕即(ji)可(ke)。
5.2 CT分(fen)析(xi)
5.2.1 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
CT分(fen)析(xi)試驗(yan)項目的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)如圖5.1所示(shi)。CT分(fen)析(xi)試驗(yan)和(he)比差角差試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)是(shi)*的(de)，比差角差試驗(yan)所有(you)需設置的參(can)數(shu)項目在CT分(fen)析(xi)中(zhong)也(ye)需要設(she)置。
CT分(fen)析(xi)的(de)參(can)數(shu)設置分為(wei)2部(bu)分：與互(hu)感(gan)器等(deng)級相(xiang)關的(de)參(can)數(shu)和(he)與互(hu)感(gan)器等(deng)級無(wu)關的(de)參(can)數(shu)。其中(zhong)表5.1描述了(le)與互(hu)感(gan)器等(deng)級無(wu)關的(de)各參(can)數(shu)。表5.2至表(biao)5.8所列出的試驗(yan)參(can)數(shu)，是針對於不同等(deng)級的(de)互(hu)感(gan)器需要額外配置的參(can)數(shu)。
註(zhu)意(yi)：當互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓大於(yu)8KV時(shi)，請(qing)在系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)選(xuan)擇(ze)人(ren)工(gong)設(she)定(ding)勵磁試驗(yan)飽(bao)和(he)電(dian)壓，詳情(qing)見系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置
5.2.2 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)流(liu)程
進(jin)行CT分(fen)析(xi)試驗(yan)時，用戶需要按(an)照(zhao)如下步(bu)驟進(jin)行：
1)在遵循安全(quan)規(gui)則(ze)的(de)前(qian)提(ti)下(xia)，按(an)照(zhao)CT分(fen)析(xi)的(de)接(jie)線圖，完成儀(yi)器(qi)和(he)互(hu)感(gan)器的(de)連接(jie)
2)在軟(ruan)件(jian)上(shang)選擇(ze)“CT分(fen)析(xi)"試驗(yan)項目
3)完成互(hu)感(gan)器的(de)各種(zhong)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
4)啟(qi)動(dong)試驗(yan)，等(deng)待試驗(yan)完成
5)查(zha)看結果(guo)
註(zhu)意(yi)：對於(yu)飽(bao)和(he)電(dian)壓很高(gao)的互(hu)感(gan)器，儀(yi)器(qi)將會以(yi)很低(di)的(de)頻(pin)率檢(jian)測(ce)互(hu)感(gan)器的(de)勵磁特性（可(ke)能(neng)低(di)至0.25Hz），因此此(ci)時(shi)完成整個試驗(yan)所需的時(shi)間(jian)可(ke)能(neng)較(jiao)長（zui長(chang)會達(da)到(dao)半(ban)個小(xiao)時(shi)），請耐心等(deng)待。嚴禁在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)斷開測(ce)試線的連接(jie)
在執(zhi)行(xing)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)時，儀(yi)器(qi)會按(an)照(zhao)如下過(guo)程完成整個試驗(yan)：
線圈電(dian)阻檢(jian)測(ce)->壹(yi)次消磁->二次消磁->精(jing)細(xi)調(tiao)壓測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差->粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差->測(ce)量(liang)互(hu)感(gan)器勵磁曲線
1)如果用戶選(xuan)擇(ze)的(de)工(gong)作模(mo)式(shi)是(shi)非自動(dong)獲取飽(bao)和(he)電(dian)壓則(ze)壹(yi)次消磁過程(cheng)將被跳(tiao)過
2)如果互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓較(jiao)低(di)，則(ze)粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差的(de)流(liu)程將被跳(tiao)過
在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)，左下角會提(ti)示(shi)當前(qian)儀(yi)器(qi)的(de)功(gong)率輸出和(he)試驗(yan)運行狀(zhuang)態。
在參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)，如果選(xuan)擇(ze)“快(kuai)速(su)試驗(yan)"，儀(yi)器(qi)的(de)記(ji)錄點數較(jiao)少(shao)且升壓過程(cheng)中(zhong)電(dian)壓步進(jin)值(zhi)較(jiao)大，因此對(dui)於(yu)剩磁系數(shu)高(gao)，且飽(bao)和(he)電(dian)壓低(di)（<250V）的(de)互(hu)感(gan)器勵磁曲線會出現(xian)不平滑現(xian)象，此(ci)時因選擇(ze)標準(zhun)試驗(yan)。
選(xuan)擇(ze)標準(zhun)試驗(yan)時儀(yi)器(qi)記(ji)錄(lu)的數據(ju)點(dian)多(duo)，勵磁曲線以(yi)及計算參(can)數(shu)更(geng)，但是選(xuan)擇(ze)標準(zhun)試驗(yan)時，試驗(yan)時長(chang)是快(kuai)速(su)試驗(yan)的2倍以(yi)上(shang)。
圖(tu)5.1 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
是(shi)否(fou)推(tui)測(ce)信(xin)息(xi) | 用於CT分(fen)析(xi)和(he)變比試驗(yan)項目控制，如果選(xuan)擇(ze)為(wei)輸入(ru)已知(zhi)銘牌(pai)，則(ze)儀(yi)器(qi)不會自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)信(xin)息(xi)，如果選(xuan)擇(ze)為(wei)自動(dong)猜測(ce)銘(ming)牌(pai)則(ze)儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)缺(que)損(sun)的(de)信(xin)息(xi)自動(dong)推(tui)測(ce)“額定(ding)壹次電(dian)流(liu)"，“額定(ding)二次電(dian)流(liu)"和(he)“互(hu)感(gan)器等(deng)級" |
生(sheng)產(chan)廠(chang)家 | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器型(xing)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)壹次電(dian)流(liu) | 設(she)置互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)壹次電(dian)流(liu)值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)且額定(ding)壹次電(dian)流(liu)設為(wei)未(wei)知(zhi)，儀(yi)器(qi)將自動(dong)猜測(ce)額定(ding)壹次電(dian)流(liu)值(zhi) |
額定(ding)二次電(dian)流(liu) | 設(she)置互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)二次電(dian)流(liu)值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)了(le)自動(dong)推(tui)測(ce)銘(ming)牌(pai)且額定(ding)二次電(dian)流(liu)設為(wei)未(wei)知(zhi)，儀(yi)器(qi)將自動(dong)猜測(ce)額定(ding)二次電(dian)流(liu)值(zhi) |
額定(ding)頻(pin)率 | 額定(ding)頻(pin)率選(xuan)項用於比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)試驗(yan)項目的控制，如果選(xuan)擇(ze)了(le)50Hz，儀(yi)器(qi)將以(yi)50Hz的(de)頻(pin)率測(ce)量(liang)互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)角差，如果選(xuan)擇(ze)60Hz則(ze)儀(yi)器(qi)以(yi)60Hz頻(pin)率測(ce)量(liang)互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)和(he)角差 |
誤差曲線計算點 | 對(dui)於(yu)IEC60044-1的(de)保護類(lei)型(xing)互(hu)感(gan)器，儀(yi)器(qi)將計算此點(dian)處(chu)的(de)誤差曲線 |
測(ce)試標準(zhun)選(xuan)擇(ze) | 選(xuan)擇(ze)不同的測(ce)試標準(zhun)，儀(yi)器(qi)將獲得不同的測(ce)試結(jie)果參(can)數(shu)，對於相同的結(jie)果(guo)參(can)數(shu)其定(ding)義也(ye)可(ke)能(neng)不壹樣，例如拐點(dian)電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu) |
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 在選(xuan)擇(ze)了(le)測(ce)試標準(zhun)後(hou)，選擇(ze)互(hu)感(gan)器在此(ci)標準(zhun)下(xia)的等(deng)級定(ding)義。 |
二次負(fu)荷(he) | CT分(fen)析(xi)和(he)比差角差試驗(yan)的計算參(can)數(shu)與所接負(fu)荷(he)有(you)關，所以(yi)不同的負(fu)荷(he)值(zhi)會得(de)到(dao)不同的測(ce)試參(can)數(shu)，因此儀(yi)器(qi)的(de)計算結果(guo)會給(gei)出互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)負(fu)荷(he)條(tiao)件和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下的(de)兩(liang)種(zhong)結(jie)果(guo)。 額定(ding)負(fu)荷(he)：是(shi)指互(hu)感(gan)器銘(ming)牌上(shang)所標識(shi)的(de)zui大允(yun)許(xu)負(fu)荷(he)值(zhi) 操(cao)作負(fu)荷(he)：是(shi)互(hu)感(gan)器當(dang)前所接負(fu)荷(he)的(de)實測(ce)值(zhi) 負(fu)荷(he)範圍：0~100.00，功(gong)率因數範圍：0~1.00 |
75攝氏度線圈電(dian)阻 | 銘(ming)牌(pai)上(shang)所標識(shi)的(de)互(hu)感(gan)器在75攝氏度時(shi)線圈電(dian)阻值(zhi)，電(dian)阻範圍0~100.000 |
圖(tu)5.2 IEC60044-1/GB1208計量類電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)參(can)數(shu)定(ding)義
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
儀(yi)器(qi)保安系(xi)數FS | 的(de)儀(yi)器(qi)保護系(xi)數(shu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍1~300 |
擴(kuo)展(zhan)電(dian)流(liu)計算點Ext | 需要額外計算比差(cha)角差的(de)電(dian)流(liu)點，此(ci)計算結果(guo)在比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)中(zhong)展(zhan)示(shi)，參(can)數(shu)範圍0%~400% |
圖(tu)5.3 IEC60044-1/GB1208 的(de)5P/10P/5PR/10PR類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)參(can)數(shu)定(ding)義
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
zui大(da)短(duan)路電(dian)流(liu) | 互(hu)感(gan)器壹(yi)次側(ce)所在回(hui)路可(ke)能(neng)發(fa)生(sheng)的(de)zui大(da)短(duan)路電(dian)流(liu) |
圖(tu)5.4 IEC60044-1/GB1208 的(de)PX類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)參(can)數(shu)定(ding)義
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
面(mian)積(ji)系數 | 的(de)面(mian)積(ji)增(zeng)大系數，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
準(zhun)確(que)限制電(dian)壓 | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)準確(que)限制電(dian)壓，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍0~10000.00 |
準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu) | 準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍0~9.9999A |
圖(tu)5.5 IEC60044-6 S互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc | 的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd | 的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
壹(yi)次時間常數(shu)Tp | 的(de)壹(yi)次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000ms |
準(zhun)確(que)限制電(dian)壓Val | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)準確(que)限制電(dian)壓，此參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000V |
準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)Ial | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)準確(que)限制電(dian)流(liu)，此參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~9.9999A |
圖(tu)5.6 IEC60044-6 X/ Y互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc | 的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 Ktd | 的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
壹(yi)次時間常數(shu) Tp | 的(de)壹(yi)次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000ms |
二次時間常數(shu)Ts | 的(de)二次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~100000ms |
工(gong)作循環選(xuan)擇(ze) | 選(xuan)擇(ze)工(gong)作循環C-O或(huo)C-O-C-O，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
*次電(dian)流(liu)時限(xian) t1 | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)在t-al1 時(shi)間(jian)內不能達(da)到(dao)，範圍：0～10000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
第(di)二次電(dian)流(liu)時限(xian) t2 | 的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)在t-al2 時(shi)間(jian)內不能達(da)到(dao)，範圍：0～10000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
*次工(gong)作循環的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)的(de)允(yun)許(xu)時(shi)間(jian) t-al1 | 範圍：0～10000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
第(di)二次工(gong)作循環的(de)準(zhun)確(que)限值(zhi)的(de)允(yun)許(xu)時(shi)間(jian)t-al2 | 範圍：0～5000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
*次打開和(he)重(zhong)合閘(zha)的延時 tfr | 範圍：0～5000ms，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo) |
圖(tu)5.7 IEC60044-6 Z互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc | 的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 Ktd | 的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數Ktd，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：1~300 |
壹(yi)次時間常數(shu) Tp | 的(de)壹(yi)次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~10000ms |
二次時間常數(shu)Ts | 的(de)二次時間常數(shu)，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)自動(dong)評估的(de)結(jie)果(guo)，參(can)數(shu)範圍：0~100000ms |
圖(tu)5.8 C57.13 互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
額定(ding)熱(re)電(dian)流(liu)系數(shu)RF | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)額定(ding)二次熱(re)電(dian)流(liu)系數(shu)，如果此(ci)參(can)數(shu)不為(wei)0，將計算額定(ding)電(dian)流(liu)乘(cheng)以(yi)此系(xi)數後所得測(ce)量(liang)點(dian)的(de)比(bi)差和(he)角差，此(ci)參(can)數(shu)影響(xiang)結果計算和(he)自動(dong)評估。參(can)數(shu)範圍：0~10.00 |
額定(ding)二次端(duan)電(dian)壓VB | 銘(ming)牌(pai)標識(shi)的(de)額定(ding)二次端(duan)電(dian)壓，此參(can)數(shu)影響(xiang)參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)。參(can)數(shu)範圍：0~10000.0V |
5.2.3 CT分(fen)析(xi)試試驗(yan)結果(guo)
當(dang)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)圖4.7所示(shi)的勵磁曲線將會被(bei)首(shou)先顯(xian)示(shi)，通(tong)過(guo)圖(tu)中(zhong)的試驗(yan)結果(guo)項目切換按鈕，可(ke)以(yi)更(geng)換當前(qian)的(de)試驗(yan)結果(guo)內容(rong)，各(ge)個按(an)鈕的(de)說明(ming)如下：
1 磁滯(zhi)回(hui)線與數據(ju)
點(dian)擊(ji)磁滯(zhi)回(hui)線按鈕後(hou)，被測(ce)互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯的(de)飽(bao)和(he)磁滯(zhi)回(hui)線將會顯(xian)示(shi)在屏(ping)幕(mu)上(shang)如圖5.2.1所示(shi)，該曲(qu)線為(wei)被(bei)測(ce)互(hu)感(gan)器在某(mou)測(ce)試頻(pin)率下(xia)所獲得的飽(bao)和(he)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線，測(ce)試頻(pin)率顯(xian)示(shi)在界(jie)面(mian)的(de)左(zuo)側(ce)，曲線的橫軸(zhou)為(wei)瞬時電(dian)流(liu)，縱(zong)軸(zhou)為(wei)該(gai)電(dian)流(liu)下對(dui)應(ying)的(de)磁通(tong)量(liang)（單(dan)位是(shi)韋(wei)伯(bo)），磁滯(zhi)回(hui)線由上(shang)升曲線和(he)下降(jiang)曲線組成，點(dian)擊(ji)“啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)"可(ke)以(yi)獲取曲線上(shang)某壹(yi)電(dian)流(liu)點對(dui)應(ying)的(de)上(shang)升曲線數據(ju)和(he)下降(jiang)曲線數據(ju)，點(dian)擊(ji)磁滯(zhi)回(hui)線數據(ju)可(ke)以(yi)查(zha)看所有(you)測(ce)量(liang)點(dian)的(de)電(dian)流(liu)值(zhi)和(he)磁通(tong)量(liang)數(shu)值(zhi)
2 磁化(hua)曲(qu)線數據(ju)
點(dian)擊(ji)磁化(hua)曲(qu)線數據(ju)後(hou)，圖(tu)5.2所示(shi)的界(jie)面(mian)將會被(bei)加載。磁化(hua)曲(qu)線所對應(ying)的(de)磁化(hua)數(shu)據(ju)點(dian)將在本(ben)窗體中(zhong)展(zhan)現(xian)，拖(tuo)動(dong)列表(biao)框(kuang)的(de)滑動(dong)條或(huo)按(an)鍵(jian)盤的方向鍵(jian)，可(ke)以(yi)瀏覽所有(you)的(de)磁化(hua)曲(qu)線數據(ju)。在界(jie)面(mian)的(de)下(xia)方是自動(dong)計算得到(dao)的(de)磁化(hua)曲(qu)線的拐點(dian)電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)。磁化(hua)曲(qu)線數顯示(shi)界(jie)面(mian)還(hai)支(zhi)持勵磁電(dian)流(liu)查(zha)詢(xun)功能(neng)，只(zhi)要(yao)輸入(ru)不超過zui大(da)勵磁電(dian)壓的壹(yi)個數(shu)值(zhi)在勵磁電(dian)壓文(wen)本(ben)框中(zhong)，分析(xi)儀(yi)自動(dong)計算並顯示(shi)其對(dui)應(ying)的(de)勵磁電(dian)流(liu)值(zhi)。
3 磁化(hua)曲(qu)線
磁化(hua)曲(qu)線的界(jie)面(mian)如圖4.7所示(shi)，展(zhan)示(shi)的內容(rong)包(bao)括，自動(dong)計算的拐(guai)點電(dian)壓，拐點(dian)電(dian)流(liu)，磁化(hua)曲(qu)線圖，通(tong)過(guo)“拐(guai)點(dian)顯(xian)示(shi)"復選(xuan)框，可(ke)以(yi)顯示(shi)和(he)隱藏(zang)拐(guai)點(dian)在磁化(hua)曲(qu)線上(shang)的位(wei)置。
在磁化(hua)曲(qu)線展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)選(xuan)擇(ze)“啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)"後(hou)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)定(ding)位線獲取當前位置對應(ying)的(de)磁化(hua)電(dian)流(liu)和(he)磁化(hua)電(dian)壓值(zhi)，通(tong)過(guo)“<<左(zuo)移"，“>>右移"和(he)“鼠標點(dian)擊(ji)"可(ke)以(yi)改(gai)變定(ding)位線的位置。“鼠標點(dian)擊(ji)"是(shi)指(zhi)在“啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)"後(hou)通(tong)過(guo)鼠(shu)標或(huo)者觸(chu)摸屏點擊(ji)磁化(hua)曲(qu)線展(zhan)示(shi)區域(yu)，則(ze)定(ding)位線會移動(dong)至點(dian)擊(ji)處(chu)的(de)X坐標。
點(dian)擊(ji)曲(qu)線對比，還(hai)可(ke)以(yi)實現(xian)當前(qian)曲線和(he)存(cun)儲的(de)歷(li)史曲線對比，顯(xian)示(shi)界(jie)面(mian)如圖5.3所示(shi)。曲線比較(jiao)功能(neng)可(ke)以(yi)用來(lai)對同(tong)壹互(hu)感(gan)器不同時期(qi)的測(ce)量(liang)曲(qu)線進(jin)行對(dui)比，也(ye)可(ke)以(yi)用來(lai)對三相互(hu)感(gan)器的(de)勵磁特性曲線進(jin)行對(dui)比。曲線對比窗口(kou)各(ge)按鈕的(de)定(ding)義如下：
讀取參(can)考曲(qu)線1
從(cong)存(cun)儲的(de)歷(li)史數據(ju)中(zhong)讀取1條(tiao)參(can)考勵磁曲線與當前(qian)曲線進(jin)行對(dui)比
讀取參(can)考曲(qu)線2
從(cong)存(cun)儲的(de)歷(li)史數據(ju)中(zhong)讀取1條(tiao)參(can)考勵磁曲線與當前(qian)曲線進(jin)行對(dui)比
清(qing)除參(can)考曲(qu)線
清(qing)除當前(qian)對比窗口(kou)中(zhong)所有(you)的(de)參(can)考曲(qu)線
復(fu)制圖像
將當前對比(bi)曲(qu)線圖形(xing)窗口(kou)復(fu)制成為(wei)JPG文(wen)件(jian)並保存(cun)，保存(cun)的(de)Jpg文(wen)件(jian)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)U盤導出
退(tui)出
關閉(bi)曲(qu)線對比窗口(kou)
X坐標設(she)置
調(tiao)整曲(qu)線對比圖(tu)形(xing)窗口(kou)的(de)X坐標範圍，此(ci)參(can)數(shu)可(ke)以(yi)改(gai)變圖形(xing)的X軸(zhou)縮放比例
Y坐標設(she)置
調(tiao)整曲(qu)線對比圖(tu)形(xing)窗口(kou)的(de)Y坐標範圍，此(ci)參(can)數(shu)可(ke)以(yi)改(gai)變圖形(xing)的Y軸(zhou)縮放比例
數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)
點(dian)擊(ji)啟(qi)動(dong)數據(ju)分(fen)析(xi)後(hou)，示(shi)波窗口(kou)中(zhong)會出現(xian)1條(tiao)定(ding)位線，通(tong)過(guo)定(ding)位線的移動(dong)可(ke)以(yi)讀取對應(ying)X軸(zhou)位(wei)置的Y坐標值(zhi)。可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)“左(zuo)移"，“右移"或者鼠(shu)標點(dian)擊(ji)改(gai)變定(ding)位線的位置
4 誤差曲線數據(ju)與誤差曲線
當(dang)選(xuan)擇(ze)互(hu)感(gan)器是(shi)IEC60044-1的(de)保護類(lei)型(xing)時，CT分(fen)析(xi)試驗(yan)還會繪制互(hu)感(gan)器的(de)誤差曲線，並列出誤差曲線數據(ju)，誤差展(zhan)示(shi)方式如圖5.4. 誤差曲線數據(ju)展(zhan)示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)示(shi)誤差曲線數據(ju)時(shi)沒(mei)有(you)拐(guai)點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)項目顯示(shi)，誤差曲線窗口(kou)中(zhong)的曲線對比功(gong)能和(he)磁化(hua)曲(qu)線窗口(kou)中(zhong)的曲線對比功(gong)能*，詳(xiang)細(xi)說(shuo)明(ming)見磁化(hua)曲(qu)線的曲線對比說(shuo)明(ming)。
5 比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)
在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)，互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)，角差，匝(za)數(shu)比，匝(za)數(shu)比誤差，極性也(ye)會被(bei)顯(xian)示(shi)，點擊(ji)“比(bi)差(cha)與角差"，則(ze)比(bi)差(cha)與角差的(de)試驗(yan)結果(guo)顯示(shi)如圖5.5所示(shi)。
比(bi)差(cha)角差結(jie)果(guo)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)中(zhong)，各參(can)數(shu)定(ding)義如表5.9所示(shi)。
表(biao)5.9 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)比差(cha)與角差展(zhan)示(shi)
參(can)數(shu) | 參(can)數(shu)說明(ming) |
額定(ding)壹次電(dian)流(liu) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於匝(za)數(shu)比誤差計算 |
額定(ding)二次電(dian)流(liu) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於匝(za)數(shu)比誤差計算 |
標準(zhun) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，比差角差檢(jian)測(ce)是(shi)按(an)照(zhao)此標準(zhun)進(jin)行的(de) |
頻(pin)率 | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，比差角差結(jie)果(guo)在此(ci)頻(pin)率下(xia)檢測(ce)得(de)到(dao) |
匝(za)數(shu)比 | 實(shi)測(ce)的(de)互(hu)感(gan)器匝(za)數(shu)比 |
匝(za)數(shu)比誤差 | 實(shi)測(ce)的(de)匝(za)數(shu)比與額定(ding)電(dian)流(liu)比之(zhi)間的(de)誤差，計算公式(shi)為(wei)：（實(shi)測(ce)匝(za)數(shu)比-額定(ding)電(dian)流(liu)比）/額定(ding)電(dian)流(liu)比。其(qi)中(zhong)額定(ding)電(dian)流(liu)比為(wei)：（額定(ding)壹次電(dian)流(liu)/額定(ding)二次電(dian)流(liu)） |
極(ji)性 | 實(shi)測(ce)的(de)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器當(dang)前接(jie)線極性，顯示(shi)為(wei)同(tong)極(ji)性（即-極(ji)性）或反(fan)極性（即+極(ji)性） |
額定(ding)負(fu)荷(he) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
額定(ding)功率因數 | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
額定(ding)負(fu)荷(he)比(bi)差角差 | 當(dang)互(hu)感(gan)器連(lian)接負(fu)荷(he)為(wei)額定(ding)負(fu)荷(he)時(shi)的比差(cha)和(he)角度差(cha)數(shu)據(ju) |
操(cao)作負(fu)荷(he) | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
操(cao)作功率因數 | 啟(qi)動(dong)試驗(yan)前所設置的互(hu)感(gan)器參(can)數(shu)，用於比(bi)差(cha)角差計算 |
操(cao)作負(fu)荷(he)比(bi)差角差 | 當(dang)互(hu)感(gan)器連(lian)接負(fu)荷(he)為(wei)操(cao)作負(fu)荷(he)時(shi)的比差(cha)和(he)角度差(cha)數(shu)據(ju) |
6 線圈電(dian)阻
CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)，點擊(ji)線圈電(dian)阻按(an)鈕則(ze)圖(tu)5.6所示(shi)的線圈電(dian)阻實(shi)測(ce)參(can)數(shu)窗體會被(bei)加載。
7 誤差曲線數據(ju)與誤差曲線
當(dang)選(xuan)擇(ze)互(hu)感(gan)器是(shi)IEC60044-1的(de)保護類(lei)型(xing)時，CT分(fen)析(xi)試驗(yan)還會繪制互(hu)感(gan)器的(de)誤差曲線，並列出誤差曲線數據(ju)，誤差曲線展(zhan)示(shi)方式如圖5.4. 誤差曲線數據(ju)展(zhan)示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)示(shi)誤差曲線數據(ju)時(shi)沒(mei)有(you)拐(guai)點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)項目顯示(shi)。
8 比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)
在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)完成後(hou)，互(hu)感(gan)器的(de)比差(cha)，角差，匝(za)數(shu)比，匝(za)數(shu)比誤差，極性也(ye)會被(bei)顯(xian)示(shi)，點擊(ji)“比(bi)差(cha)與角差"，則(ze)比(bi)差(cha)與角差的(de)試驗(yan)結果(guo)顯示(shi)如圖5.5所示(shi)。
在線圈電(dian)阻實(shi)測(ce)參(can)數(shu)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)中(zhong)各個項(xiang)目的定(ding)義如表5.10所示(shi)。
圖(tu)5.10 線圈電(dian)阻界(jie)面(mian)參(can)數(shu)說明(ming)
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
測(ce)試電(dian)流(liu) | 測(ce)試時(shi)加載到(dao)二次繞組上(shang)的實(shi)際電(dian)流(liu)值(zhi) |
測(ce)試溫(wen)度 | 測(ce)試時(shi)的實(shi)際(ji)環境(jing)溫(wen)度值(zhi) |
測(ce)試電(dian)壓 | 測(ce)試時(shi)二次繞組上(shang)所檢測(ce)到(dao)的(de)電(dian)壓值(zhi) |
線圈電(dian)阻 | 當(dang)前(qian)環境(jing)溫(wen)度所檢測(ce)到(dao)的(de)線圈電(dian)阻值(zhi) |
參(can)考溫(wen)度(du) | 按(an)照(zhao)標準(zhun)需要換算到(dao)的(de)溫(wen)度(du) |
線圈電(dian)阻 | 按(an)照(zhao)公式(shi) |
9 勵磁參(can)數(shu)與測(ce)試評(ping)估
在CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)中(zhong)點擊(ji)“勵磁參(can)數(shu)與測(ce)試評(ping)估"結(jie)果(guo)按(an)鈕，則(ze)根(gen)據(ju)勵磁特性所測(ce)量(liang)得(de)到(dao)的(de)勵磁參(can)數(shu)和(he)自動(dong)評估結(jie)果(guo)將會以(yi)圖5.7的(de)形(xing)式展(zhan)示(shi)。勵磁參(can)數(shu)計算項目根據(ju)所選互(hu)感(gan)器等(deng)級不同而不同，詳細(xi)的(de)參(can)數(shu)說明(ming)參(can)見第(di)6章(zhang)自動(dong)評估與銘牌(pai)推(tui)測(ce)。
圖(tu)5.7界(jie)面(mian)的(de)下(xia)方是自動(dong)評估結(jie)果(guo)，自動(dong)評估結(jie)果(guo)包(bao)括單(dan)項評(ping)估項(xiang)目，評估標準(zhun)和(he)zui終評估結(jie)果(guo)。如果單(dan)項評(ping)估通(tong)過(guo)則(ze)列(lie)表(biao)的zui後壹列(lie)顯(xian)示(shi)合格(ge)，否則(ze)顯(xian)示(shi)不合格(ge)並且該項的顏(yan)色(se)會變成紅(hong)色(se)。詳(xiang)細(xi)的(de)評估說(shuo)明(ming)和(he)評估條(tiao)件(jian)請(qing)參(can)見“第(di)6章(zhang)自動(dong)評估與銘牌(pai)推(tui)測(ce)"。
5.3 CT比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)
5.3.1 比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)試驗(yan)參(can)數(shu)設置
比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)與CT分(fen)析(xi)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)和(he)設置項目*，詳情請參(can)見5.2.1CT分(fen)析(xi)參(can)數(shu)設置章(zhang)節
5.3.2比(bi)差(cha)角差試驗(yan)流(liu)程
進(jin)行比(bi)差角差測(ce)量(liang)試驗(yan)時，試驗(yan)的步(bu)驟與CT分(fen)析(xi)*，詳(xiang)情(qing)請(qing)參(can)照(zhao)5.2.2CT分(fen)析(xi)試驗(yan)流(liu)程章(zhang)節。CT比(bi)差(cha)角差測(ce)量(liang)時(shi)典(dian)型(xing)的(de)試驗(yan)流(liu)程如下“
線圈電(dian)阻檢(jian)測(ce)->壹(yi)次消磁->二次消磁->精(jing)細(xi)調(tiao)壓測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差->粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差
1）如果用戶選(xuan)擇(ze)的(de)工(gong)作模(mo)式(shi)是(shi)非自動(dong)獲取飽(bao)和(he)電(dian)壓則(ze)壹(yi)次消磁過程(cheng)將被跳(tiao)過
2）如果互(hu)感(gan)器的(de)飽(bao)和(he)電(dian)壓較(jiao)低(di)，則(ze)粗(cu)調(tiao)測(ce)量(liang)比(bi)差(cha)角差的(de)流(liu)程將被跳(tiao)過
在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)，左下角會提(ti)示(shi)當前(qian)儀(yi)器(qi)的(de)功(gong)率輸出和(he)試驗(yan)運行狀(zhuang)態。
5.3.3 比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)
比(bi)差(cha)角差試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)與CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)中(zhong)的“比差(cha)角差"結(jie)果(guo)展(zhan)示(shi)部(bu)分是(shi)**的(de)，詳(xiang)情請參(can)見5.2.3 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)
5.4 CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)
CT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)試驗(yan)只(zhi)需設置互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)。選(xuan)擇(ze)線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)後(hou)，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)。啟(qi)動(dong)試驗(yan)，儀(yi)器(qi)輸出0.5A直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)對線圈進(jin)行充電(dian)，當(dang)線圈電(dian)阻值(zhi)穩定(ding)以(yi)後試驗(yan)自動(dong)停止(zhi)，並記錄停止時(shi)刻的(de)線圈電(dian)阻值(zhi)和(he)環境(jing)溫(wen)度值(zhi)（儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)部(bu)位帶(dai)有(you)溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器，用於測(ce)量(liang)當(dang)前(qian)的(de)環境(jing)溫(wen)度）。
試驗(yan)結束(shu)後儀(yi)器(qi)還(hai)會自動(dong)計算溫度(du)為(wei)75攝氏度時(shi)的(de)參(can)考電(dian)阻值(zhi)。
試驗(yan)完成後(hou)結果展(zhan)示(shi)方式與5.2.3章(zhang)節中(zhong)的線圈電(dian)阻展(zhan)示(shi)頁面(mian)**。
5.5 CT極(ji)性檢查(zha)
CT極(ji)性試驗(yan)只(zhi)需設置互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)。選(xuan)擇(ze)極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)。啟(qi)動(dong)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)輸出交流(liu)正(zheng)弦電(dian)壓至CT二次繞組，並測(ce)量(liang)CT壹(yi)次側(ce)繞組的(de)電(dian)壓，當CT壹(yi)次繞組電(dian)壓超過(guo)測(ce)量(liang)閾(yu)值(zhi)或(huo)CT二次電(dian)壓輸出至zui大(da)電(dian)壓時，儀(yi)器(qi)計算此時(shi)的CT極(ji)性。儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下標準(zhun)來(lai)判定(ding)被測(ce)CT的(de)極(ji)性：
90度(du)>當(dang)壹(yi)次電(dian)壓與二次電(dian)壓相角差>-90度(du) 時(shi)計算結果(guo)為(wei)同(tong)極(ji)性（-極(ji)性），否則(ze)為(wei)反(fan)極(ji)性（+極(ji)性）
極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)完成後(hou)，試驗(yan)結果(guo)如圖5.8所示(shi)。
5.6 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
5.6.1 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)參(can)數(shu)設置
二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)的(de)試驗(yan)參(can)數(shu)設置項目包(bao)括互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)，測(ce)試電(dian)流(liu)，測(ce)試頻(pin)率，選(xuan)擇(ze)二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)後(hou)圖(tu)5.9所示(shi)的參(can)數(shu)設置窗體將會被(bei)加載。啟(qi)動(dong)二次負(fu)荷(he)試驗(yan)後儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)所選擇(ze)的(de)參(can)數(shu)輸出壹個恒(heng)定(ding)的正(zheng)弦電(dian)流(liu)至CT二次負(fu)荷(he)回(hui)路。
圖(tu)5.9所示(shi)的二次負(fu)荷(he)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)中(zhong)，3個試驗(yan)參(can)數(shu)的意(yi)義為(wei)：
1> CT額定(ding)二次電(dian)流(liu)
此(ci)參(can)數(shu)不影響(xiang)試驗(yan)流(liu)程，僅(jin)用於計算二次回路的(de)負(fu)荷(he)值(zhi)，例如測(ce)得(de)二次回路的(de)阻抗為(wei)2ohm，如果選(xuan)擇(ze)額定(ding)二次電(dian)流(liu)為(wei)1A，則(ze)對(dui)應(ying)的(de)二次負(fu)荷(he)為(wei)2VA，如果選(xuan)擇(ze)的(de)額定(ding)二次電(dian)流(liu)為(wei)5A，則(ze)對(dui)應(ying)的(de)二次負(fu)荷(he)為(wei)50VA
2> 額定(ding)頻(pin)率
此(ci)參(can)數(shu)用於控(kong)制輸出電(dian)流(liu)的頻(pin)率值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)50Hz，則(ze)輸出電(dian)流(liu)的頻(pin)率為(wei)50Hz，否(fou)則(ze)輸出電(dian)流(liu)頻(pin)率為(wei)60Hz
3> 互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)：組(zu)成(cheng)保存(cun)試驗(yan)文(wen)件(jian)的名(ming)稱
5.6.2 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)流(liu)程
儀(yi)器(qi)的(de)二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)分(fen)為(wei)兩(liang)檔(dang)，兩(liang)檔(dang)的輸出電(dian)流(liu)值(zhi)（RMS）和(he)對應(ying)的(de)量(liang)程為(wei):
1) 測(ce)試電(dian)流(liu)為(wei)0.5A（RMS），測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)為(wei)0~80ohm
2）測(ce)試電(dian)流(liu)為(wei)0.25A（RMS），測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)為(wei)0~160ohm
試驗(yan)啟(qi)動(dong)後儀(yi)器(qi)首(shou)先輸出0.5A(RMS)測(ce)試電(dian)流(liu)，如果發(fa)現(xian)被測(ce)負(fu)載(zai)超(chao)過(guo)了(le)量(liang)程(cheng)範圍，則(ze)儀(yi)器(qi)自動(dong)調(tiao)整輸出電(dian)流(liu)值(zhi)至0.25A（RMS），再(zai)次進(jin)行測(ce)量(liang)
5.6.3 CT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)結果(guo)
CT二次負(fu)荷(he)的(de)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)如圖5.10所示(shi)。
二次負(fu)荷(he)試驗(yan)結果(guo)頁面(mian)中(zhong)的各個參(can)數(shu)定(ding)義如表5.11所示(shi)。
表(biao) 5.11 二次負(fu)荷(he)試驗(yan)結果(guo)參(can)數(shu)
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
額定(ding)二次負(fu)荷(he) | 以(yi)VA形(xing)式或(huo)阻抗形(xing)式表(biao)示(shi)的儀(yi)器(qi)額定(ding)二次負(fu)荷(he)值(zhi) |
額定(ding)功率因數 | 額定(ding)二次負(fu)荷(he)的(de)功率因數值(zhi) |
測(ce)試電(dian)流(liu) | 以(yi)有(you)效值(zhi)表(biao)示(shi)的實(shi)際測(ce)試電(dian)流(liu)值(zhi) |
測(ce)試電(dian)壓 | 加載在二次回路上(shang)的電(dian)壓有(you)效值(zhi) |
測(ce)試頻(pin)率 | 加載在二次回路上(shang)的電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi) |
二次負(fu)荷(he) | 實(shi)測(ce)的(de)二次負(fu)荷(he)值(zhi)以(yi)VA形(xing)式表(biao)示(shi)，其值(zhi)為(wei)：額定(ding)二次電(dian)流(liu)*額定(ding)二次電(dian)流(liu)*實(shi)測(ce)二次阻抗 |
功(gong)率因數 | 實(shi)測(ce)二次回路的(de)功(gong)率因數值(zhi) |
二次阻抗 | 實(shi)測(ce)二次回路的(de)阻抗值(zhi) |
5.7 PT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)
選(xuan)擇(ze)PT線圈電(dian)阻測(ce)量(liang)後(hou)，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)和(he)測(ce)試電(dian)流(liu)選擇(ze)界(jie)面(mian)如圖5.11。
啟(qi)動(dong)試驗(yan)，儀(yi)器(qi)輸出0.5A(或(huo)0.05A,0.005A)直(zhi)流(liu)電(dian)流(liu)對線圈進(jin)行充電(dian)，當(dang)線圈電(dian)阻值(zhi)穩定(ding)以(yi)後試驗(yan)自動(dong)停止(zhi)，並記錄停止時(shi)刻的(de)線圈電(dian)阻值(zhi)和(he)環境(jing)溫(wen)度值(zhi)（儀(yi)器(qi)面(mian)板(ban)部(bu)位帶(dai)有(you)溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器，用於測(ce)量(liang)當(dang)前(qian)的(de)環境(jing)溫(wen)度）。試驗(yan)完成後(hou)結果展(zhan)示(shi)方式與5.2.3章(zhang)節中(zhong)的線圈電(dian)阻展(zhan)示(shi)頁面(mian)*但是PT線圈電(dian)阻試驗(yan)沒(mei)有(you)計算75攝氏度參(can)考電(dian)阻值(zhi)。
對(dui)於(yu)電(dian)磁式PT，壹(yi)次側(ce)和(he)二次側(ce)線圈電(dian)阻都可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)該(gai)項(xiang)目檢測(ce)，對(dui)於(yu)CVT式(shi)的(de)電(dian)壓互(hu)感(gan)器只(zhi)能(neng)檢測(ce)二次線圈的電(dian)阻值(zhi)。
5.8 PT極(ji)性檢查(zha)
PT極(ji)性試驗(yan)只(zhi)需設置互(hu)感(gan)器的(de)編號(hao)即(ji)可(ke)。選(xuan)擇(ze)極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)給(gei)出試驗(yan)的連(lian)線參(can)考圖(tu)。啟(qi)動(dong)試驗(yan)後，儀(yi)器(qi)輸出交流(liu)正(zheng)弦電(dian)壓至PT壹(yi)次繞組，並測(ce)量(liang)PT二次側(ce)繞組的(de)電(dian)壓，當PT二次繞組電(dian)壓超過(guo)測(ce)量(liang)閾(yu)值(zhi)或(huo)PT壹(yi)次電(dian)壓輸出至zui大(da)電(dian)壓時，儀(yi)器(qi)計算此時(shi)的PT極(ji)性。儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下標準(zhun)來(lai)判定(ding)被測(ce)PT的(de)極(ji)性：
90度(du)>當(dang)壹(yi)次電(dian)壓與二次電(dian)壓相角差>-90度(du) 時(shi)計算結果(guo)為(wei)同(tong)極(ji)性（-極(ji)性），否則(ze)為(wei)反(fan)極(ji)性（+極(ji)性）
極(ji)性檢查(zha)試驗(yan)完成後(hou)，試驗(yan)結果(guo)與圖5.8*。
5.9 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)
5.9.1 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)參(can)數(shu)設置
PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)的(de)試驗(yan)參(can)數(shu)設置項目包(bao)括互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)，測(ce)試電(dian)壓，測(ce)試頻(pin)率，選(xuan)擇(ze)二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)後(hou)圖(tu)5.12所示(shi)的參(can)數(shu)設置窗體將會被(bei)加載。啟(qi)動(dong)二次負(fu)荷(he)試驗(yan)後儀(yi)器(qi)會根(gen)據(ju)所選擇(ze)的(de)參(can)數(shu)輸出壹個恒(heng)定(ding)的正(zheng)弦電(dian)壓至PT二次負(fu)荷(he)回(hui)路。
圖(tu)5.12所示(shi)的二次負(fu)荷(he)參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)中(zhong)，3個試驗(yan)參(can)數(shu)的意(yi)義為(wei)：
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao)
用於組(zu)成(cheng)保存(cun)試驗(yan)時的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱
2> 額定(ding)頻(pin)率
此(ci)參(can)數(shu)用於控(kong)制輸出電(dian)壓的頻(pin)率值(zhi)，如果選(xuan)擇(ze)50Hz，則(ze)輸出電(dian)壓的頻(pin)率為(wei)50Hz，否(fou)則(ze)輸出電(dian)壓頻(pin)率為(wei)60Hz
PT額定(ding)二次電(dian)壓
儀(yi)器(qi)以(yi)此參(can)數(shu)來(lai)計算zui大輸出電(dian)壓值(zhi)，試驗(yan)被啟(qi)動(dong)後儀(yi)器(qi)輸出幅(fu)值(zhi)為(wei)互(hu)感(gan)器二次額定(ding)值(zhi)大(da)小(xiao)的(de)電(dian)壓至二次回路，並在此(ci)電(dian)壓下測(ce)量(liang)二次回路的(de)阻抗，並依據(ju)二次額定(ding)電(dian)壓計算負(fu)荷(he)值(zhi)。
二次負(fu)荷(he)=（二次額定(ding)電(dian)壓×二次額定(ding)電(dian)壓）/二次回路阻抗
5.9.2 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)流(liu)程
試驗(yan)啟(qi)動(dong)後儀(yi)器(qi)首(shou)先輸出很小(xiao)的(de)測(ce)試電(dian)壓至二次回路，並逐步升壓，同時(shi)檢測(ce)是(shi)否(fou)過(guo)載(zai)，如果發(fa)現(xian)輸出電(dian)流(liu)過載(zai)，則(ze)儀(yi)器(qi)停(ting)止(zhi)升壓，否則(ze)壹(yi)直(zhi)升至二次額定(ding)電(dian)壓值(zhi)。在zui高(gao)輸出電(dian)壓處(chu)測(ce)量(liang)二次回路的(de)阻抗值(zhi)，並依據(ju)額定(ding)二次電(dian)壓計算二次負(fu)荷(he)。
5.9.3 PT二次負(fu)荷(he)測(ce)量(liang)試驗(yan)結果(guo)
PT二次負(fu)荷(he)的(de)展(zhan)示(shi)頁面(mian)與CT二次展(zhan)示(shi)頁面(mian)*，只(zhi)是(shi)在PT二次負(fu)荷(he)展(zhan)示(shi)頁面(mian)並沒(mei)有(you)額定(ding)負(fu)荷(he)的(de)顯示(shi)，其參(can)數(shu)含(han)義也(ye)是(shi)壹(yi)樣的(de)，詳情(qing)參(can)見5.6.3節
5.10 PT變比
5.10.1 PT變比試驗(yan)參(can)數(shu)設置
PT變比試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)如圖5.13，其(qi)中(zhong)需要設(she)置的參(can)數(shu)定(ding)義如表5.12
圖(tu)5.12 PT變比參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
生(sheng)產(chan)廠(chang)家 | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器型(xing)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)壹次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)壹次電(dian)壓值(zhi)，用於計算額定(ding)變比 |
額定(ding)二次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)二次電(dian)壓值(zhi)，用於計算額定(ding)變比，互(hu)感(gan)器額定(ding)二次電(dian)壓由兩(liang)部(bu)分組(zu)成(cheng)，實(shi)際電(dian)壓是2部(bu)分相(xiang)乘(cheng) |
5.10.2PT變比試驗(yan)流(liu)程
進(jin)行PT變比試驗(yan)時，試驗(yan)流(liu)程如下：
反(fan)接(jie)判(pan)斷->匝(za)數(shu)比和(he)極性測(ce)量(liang)
5.10.3 PT變比結果展(zhan)示(shi)
PT變比試驗(yan)結果(guo)顯示(shi)檢測(ce)得(de)到(dao)的(de)壹(yi)次線圈電(dian)阻值(zhi)，匝(za)數(shu)比和(he)連接極(ji)性。
5.11 PT勵磁試驗(yan)
5.11.1 PT勵磁試驗(yan)參(can)數(shu)設置
PT勵磁試驗(yan)的參(can)數(shu)設置界(jie)面(mian)如圖5.14，其(qi)中(zhong)需要設(she)置的參(can)數(shu)定(ding)義如表5.13
圖(tu)5.13 PT變比參(can)數(shu)設置
名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) |
互(hu)感(gan)器編(bian)號(hao) | 此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)壹次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)壹次電(dian)壓值(zhi)，此(ci)項(xiang)目僅(jin)用於生(sheng)成(cheng)WORD試驗(yan)報(bao)告時(shi)對互(hu)感(gan)器進(jin)行標識(shi)和(he)保存(cun)試驗(yan)時組(zu)成保存(cun)的(de)文(wen)件(jian)名(ming)稱，與試驗(yan)流(liu)程無(wu)關 |
額定(ding)二次電(dian)壓 | 設(she)置電(dian)壓互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)二次電(dian)壓值(zhi)，用於控(kong)制互(hu)感(gan)器升壓過程(cheng)，試驗(yan)過程(cheng)儀(yi)器(qi)升壓不會超(chao)過(guo)互(hu)感(gan)器額定(ding)二次電(dian)壓的1.2倍，試驗(yan)完成後(hou)儀(yi)器(qi)根(gen)據(ju)此(ci)數(shu)值(zhi)計算各點(dian)的勵磁損耗(hao)。額定(ding)二次電(dian)壓由輸入(ru)文(wen)本(ben)框和(he)倍數(shu)復選(xuan)框2部(bu)分組(zu)成(cheng)。 |
測(ce)試頻(pin)率 | 選(xuan)擇(ze)互(hu)感(gan)器的(de)額定(ding)工(gong)作頻(pin)率 |
壹(yi)次直(zhi)流(liu)電(dian)阻 | PT壹(yi)次繞組直(zhi)流(liu)電(dian)阻的(de)實(shi)測(ce)值(zhi)，用於推(tui)算PT比(bi)差(cha)和(he)角差值(zhi) |
二次負(fu)荷(he) | PT所連接二次負(fu)荷(he)的(de)阻抗和(he)功率因素，用於推(tui)算PT比(bi)差(cha)和(he)角差值(zhi) |
PT匝(za)數(shu)比 | PT匝(za)數(shu)比，PT變比試驗(yan)的實(shi)測(ce)值(zhi)，用於推(tui)算PT比(bi)差(cha)和(he)角差值(zhi) |
5.11.2 PT勵磁試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)
PT勵磁試驗(yan)結果(guo)包(bao)括PT勵磁曲線，PT勵磁曲線數據(ju)，PT二次線圈電(dian)阻，20%，50%，80%，100%和(he)120%額定(ding)二次電(dian)壓位置所對應(ying)的(de)PT二次勵磁電(dian)流(liu)，80%，100%和(he)120%額定(ding)電(dian)壓位置處(chu)的(de)比差和(he)角差值(zhi)
5.12生(sheng)成(cheng)試驗(yan)報(bao)告
使(shi)用C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)軟(ruan)件(jian)可(ke)以(yi)自動(dong)生(sheng)成(cheng)WORD格(ge)式的試驗(yan)報(bao)告，試驗(yan)報(bao)告以(yi)MS WORD2003的(de)"*.DOC"格(ge)式保存(cun)。試驗(yan)完成後(hou)在“查(zha)看結果(guo)"或查(zha)看歷史結果(guo)界(jie)面(mian)點(dian)擊(ji)生(sheng)成(cheng)按(an)鈕，則(ze)儀(yi)器(qi)會自動(dong)制作對應(ying)試驗(yan)項目的試驗(yan)報(bao)，圖5.15展(zhan)示(shi)了(le)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)報(bao)告的(de)首(shou)頁。
圖(tu)5.15 CT分(fen)析(xi)試驗(yan)報(bao)告首(shou)頁
第(di)六章(zhang) 自動(dong)評估與銘牌(pai)推(tui)測(ce)
6.1 自動(dong)評估
6.1.1 自動(dong)評估定(ding)義
自動(dong)評估是(shi)指(zhi)將實測(ce)的(de)參(can)數(shu)與當前(qian)所選標準(zhun)規(gui)定(ding)值(zhi)進(jin)行對(dui)比，如果實(shi)測(ce)參(can)數(shu)全部(bu)符(fu)合標準(zhun)的(de)規(gui)定(ding)則(ze)互(hu)感(gan)器檢(jian)測(ce)是(shi)合格(ge)的，否則(ze)互(hu)感(gan)器檢(jian)測(ce)不合格(ge)。由於互(hu)感(gan)器的(de)很多(duo)參(can)數(shu)與互(hu)感(gan)器所連接的負(fu)載(zai)有(you)關，因此儀(yi)器(qi)的(de)自動(dong)評估選(xuan)項(xiang)有(you)“僅(jin)對操作負(fu)荷(he)評(ping)估"和(he)“對額定(ding)和(he)操作負(fu)荷(he)評(ping)估"評(ping)估兩(liang)種(zhong)選(xuan)擇(ze)。
選(xuan)擇(ze)“僅(jin)對操作負(fu)荷(he)評(ping)估"時(shi)，儀(yi)器(qi)僅(jin)僅(jin)將操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下計算的參(can)數(shu)與標準(zhun)規(gui)定(ding)的值(zhi)進(jin)行對(dui)比。如果選(xuan)擇(ze)了(le)“對(dui)額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)評(ping)估"，則(ze)儀(yi)器(qi)將額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)兩(liang)種(zhong)條(tiao)件(jian)下(xia)計算得到(dao)參(can)數(shu)都與標準(zhun)規(gui)定(ding)值(zhi)進(jin)行對(dui)比，只(zhi)有(you)兩(liang)種(zhong)條(tiao)件(jian)下(xia)計算所得的參(can)數(shu)都合格(ge)時，互(hu)感(gan)器檢(jian)測(ce)才(cai)顯(xian)示(shi)為(wei)合格(ge)
註(zhu)意(yi)：自動(dong)評估和(he)銘牌推(tui)測(ce)僅(jin)僅(jin)是針對與CT分(fen)析(xi)項(xiang)目進(jin)行，對(dui)於其他(ta)的(de)試驗(yan)項目無(wu)效
6.1.2 自動(dong)評估項(xiang)目和(he)合格(ge)條件
對(dui)於(yu)不同等(deng)級的(de)互(hu)感(gan)器，自動(dong)評估的(de)項(xiang)目是不壹樣的(de)，詳細(xi)的(de)評估項(xiang)目和(he)評估合格(ge)條件見表(biao)6.1，~表(biao)6.5
表(biao)6.1 IEC60044-1計量類電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)評估項(xiang)目和(he)合格(ge)條件
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 評(ping)估項(xiang)目 | 評(ping)估合格(ge)條件 |
0.1級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.4% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.2% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.1% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=15分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=8分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5分(fen) |
0.2級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.35% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.2% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=30分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=15分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=10分(fen) |
0.2S級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.35% 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.2% 1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=30分(fen) 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=15分(fen) 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=10分(fen) |
0.5級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.5% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.5% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=90分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=45分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=30分(fen) |
0.5S級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.5% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.75% 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.5% 1%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=90分(fen) 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<45分(fen) 20，100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<30分(fen) |
1.0級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 25%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha)和(he)角差 | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.5% 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.0% 5%額定(ding)二次電(dian)流(liu)角差<=180分(fen) 20%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=90分(fen) 100，120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=60分(fen) |
3.0級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 50%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)50%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）50%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% 120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% |
5.0級(ji) | 1） 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu)FS 2） 50%，100%額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)條(tiao)件下二次電(dian)流(liu)為(wei)50%，120%額定(ding)電(dian)流(liu)時的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定(ding) 2）50%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5% 120%額定(ding)二次電(dian)流(liu)比差(cha)<=5% |
表(biao)6.2 IEC60044-1 保護類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器等(deng)評估項(xiang)目和(he)評估合格(ge)條件
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 評(ping)估項(xiang)目 | 評(ping)估合格(ge)條件 |
5P | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 | 實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1% 100%額定(ding)電(dian)流(liu)角差<=60分(fen) |
10P | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 | 實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% |
5PR | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 3）100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 4）剩(sheng)磁系數(shu)Kr | 1）實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1% 3）100%額定(ding)電(dian)流(liu)角差<=60分(fen) 4）Kr<=10% |
10PR | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 3）剩(sheng)磁系數(shu)Kr | 1）實(shi)測(ce)ALF>=額定(ding)ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=3% 3）Kr<=10% |
PX | 匝(za)數(shu)比 準(zhun)確(que)限制電(dian)壓Ek 準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)Ie 面(mian)積(ji)系數Kx 75攝氏度線圈電(dian)阻 | 1）匝(za)數(shu)比誤差<=0.25% 2）Ek實(shi)測(ce)值(zhi)>=Ek額定(ding)值(zhi) 3）Ie實(shi)測(ce)值(zhi)>=Ie額定(ding)值(zhi) 4）Kx實(shi)測(ce)值(zhi)>=額定(ding)Kx值(zhi) 5）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
表(biao)6.3 IEC60044-6 暫(zan)態(tai)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器評(ping)估項(xiang)目和(he)評估合格(ge)條件
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 評(ping)估項(xiang)目 | 評(ping)估合格(ge)條件 |
S | 匝(za)數(shu)比 準(zhun)確(que)限制電(dian)壓Val 準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu)Ial 對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu)Kssc 75攝氏度線圈電(dian)阻 | 匝(za)數(shu)比誤差<=0.25% Val實(shi)測(ce)值(zhi)>=Val額定(ding)值(zhi) Ial實(shi)測(ce)值(zhi)<=Ial額定(ding)值(zhi) K*Kssc測(ce)量(liang)>=K*Kssc額定(ding)值(zhi) 5）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
X | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 額定(ding)Kssc和(he)實測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差 Kssc*Ktd額定(ding)值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 75攝氏度線圈電(dian)阻 | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差<=0.5% 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差<=30分(fen) 額定(ding)Kssc*實(shi)測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值(zhi) 75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
Y | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 額定(ding)Kssc和(he)實測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差 Kssc*Ktd額定(ding)值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 二次時間常數(shu)Ts 剩(sheng)磁系數(shu)Kr 7）75攝氏度線圈電(dian)阻 | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差<=1.0% 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差<=60分(fen) 額定(ding)Kssc*實(shi)測(ce)Ktd處(chu)峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值(zhi) Ts實(shi)測(ce)<=30%Ts額定(ding) Kr<=10% 7）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
Z | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差 Kssc*Ktd額定(ding)值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 二次時間常數(shu)Ts 5）75攝氏度線圈電(dian)阻 | 額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)比(bi)差<=1.0% 2）額定(ding)電(dian)流(liu)處(chu)角差<=180分(fen) 3）(Kssc*Ktd)實(shi)測(ce)值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定(ding)值(zhi) 4）Ts實(shi)測(ce)<=30%Ts額定(ding) 5）75攝氏度實(shi)測(ce)線圈電(dian)阻<=額定(ding)值(zhi) |
表(biao)6.4 C57.13計量類互(hu)感(gan)器自動(dong)評估項(xiang)目和(he)自動(dong)評估條(tiao)件(jian)
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 自動(dong)評估項(xiang)目 | 自動(dong)評估合格(ge)條件 |
0.3級(ji) | 額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流(liu)處(chu)的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 10%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.6% 100,100*RF%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.3% |
0.6級(ji) | 額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流(liu)處(chu)的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 10%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.2% 100,100*RF%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=0.6% |
1.2級(ji) | 額定(ding)負(fu)荷(he)和(he)操作負(fu)荷(he)下(xia)10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流(liu)處(chu)的(de)電(dian)流(liu)比差(cha) | 10%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=2.4% 100,100*RF%額定(ding)電(dian)流(liu)比差(cha)<=1.2% |
表(biao)6.5 C57.13保護類(lei)互(hu)感(gan)器自動(dong)評估項(xiang)目和(he)自動(dong)評估條(tiao)件(jian)
互(hu)感(gan)器等(deng)級 | 自動(dong)評估項(xiang)目 | 自動(dong)評估合格(ge)條件 |
C | 1）Vbmax與VB額定(ding)值(zhi)比(bi)較(jiao) 2）Vbmax處(chu)的(de)二次電(dian)流(liu)Isec 3）20*Isn處(chu)的(de)比差 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)的(de)比差 | 1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi)(如未輸入(ru)Vb額定(ding)值(zhi)，則(ze)自動(dong)設置Vb額定(ding)值(zhi)為(wei)20Isec額定(ding)值(zhi)，額定(ding)負(fu)荷(he)下(xia)的二次端(duan)電(dian)壓Vb) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）20*Isn額定(ding)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% |
K | 1）Vbmax與VB額定(ding)值(zhi)比(bi)較(jiao) 2）Vbmax處(chu)的(de)二次電(dian)流(liu)Isec 3）拐(guai)點(dian)電(dian)壓 4）20*Isn處(chu)的(de)比差 5）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)的(de)比差 | 1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）拐(guai)點(dian)電(dian)壓>=70%Vb額定(ding)值(zhi) 4）20*Isn額定(ding)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% 5）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% |
T | 1）Vbmax與VB額定(ding)值(zhi)比(bi)較(jiao) 2）Vbmax處(chu)的(de)二次電(dian)流(liu)Isec 3）20*Isn處(chu)的(de)比差 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)的(de)比差 | 1）Vbmax>=Vb額定(ding)值(zhi) 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定(ding) 3）20*Isn額定(ding)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% 4）Vb額定(ding)值(zhi)處(chu)電(dian)流(liu)比差(cha)<=10% |
6.2 勵磁參(can)數(shu)計算
在CT分(fen)析(xi)的(de)試驗(yan)結果(guo)展(zhan)示(shi)界(jie)面(mian)，有(you)壹(yi)頁為(wei)勵磁參(can)數(shu)和(he)自動(dong)評估，其(qi)中(zhong)的勵磁參(can)數(shu)計算項目是由所選擇(ze)的(de)測(ce)試標準(zhun)和(he)互(hu)感(gan)器等(deng)級決(jue)定(ding)，其對(dui)應(ying)關系(xi)如表6.6，表(biao)6.7和(he)表6.8所示(shi)。
表(biao)6.6 IEC60044-1 勵磁參(can)數(shu)計算項目
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) | IEC60044-1計量類 | IEC60044-1保護類(lei) |
V-kn | 電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ |
I-kn | 電(dian)流(liu)拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ |
Ek | PX級(ji)互(hu)感(gan)器準(zhun)確(que)限制電(dian)壓 |
| √ |
Ie | PX級(ji)互(hu)感(gan)器準(zhun)確(que)限制電(dian)流(liu) |
| √ |
FS | 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu) | √ |
|
ALF | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu) |
| √ |
Kx | PX級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)面(mian)積(ji)系數 |
| √ |
Ls | 飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Lu | 不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Ts | 二次時間常數(shu) | √ | √ |
Kr | 剩(sheng)磁系數(shu) | √ | √ |
Ktd | 暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 |
| √ |
其(qi)中(zhong)部(bu)分參(can)數(shu)的含(han)義如下：
1）Ek 為(wei)IEC60041曲(qu)線拐點位(wei)置處(chu)的(de)電(dian)動(dong)勢(shi)
2）Ie 為(wei)IEC60041曲(qu)線拐點位(wei)置處(chu)的(de)勵磁電(dian)流(liu)
3）FS儀(yi)器(qi)保安系(xi)數是(shi)CT誤差達(da)到(dao)10%時(shi)壹(yi)次電(dian)流(liu)對額定(ding)電(dian)流(liu)的倍數(shu)，此參(can)數(shu)僅(jin)對測(ce)量(liang)類(lei)互(hu)感(gan)器有(you)效
4）準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu)是(shi)指CT誤差達(da)到(dao)5%或(huo)10%時(shi)壹(yi)次電(dian)流(liu)對額定(ding)電(dian)流(liu)的倍數(shu)
5）Kx面(mian)積(ji)系數是指實測(ce)準(zhun)確(que)限制系數(shu)對額定(ding)準確(que)限制系數(shu)的比(bi)值(zhi)
6）Ls飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)是指(zhi)互(hu)感(gan)器在飽(bao)和(he)狀(zhuang)態下(xia)二次線圈的等(deng)效電(dian)感(gan)，用於推(tui)算二次回路在飽(bao)和(he)狀(zhuang)態下(xia)的(de)時間常(chang)數(shu)
7）Lu不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)是指(zhi)互(hu)感(gan)器在非(fei)飽(bao)和(he)情況(kuang)下的(de)二次線圈等(deng)效電(dian)感(gan)，用於推(tui)算二次回路在非(fei)飽(bao)和(he)狀(zhuang)態下(xia)的(de)時間常(chang)數(shu)
8）Kr是(shi)指(zhi)互(hu)感(gan)器線圈勵磁電(dian)流(liu)過零時(shi)，鐵(tie)芯(xin)中(zhong)剩余(yu)的(de)磁通(tong)量(liang)
表(biao) 6.7 IEC60044-6 勵磁參(can)數(shu)計算項目
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) | S | X/Y | Z |
V-Kn | 電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ | √ |
I-Kn | 電(dian)流(liu)拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表(biao)6.9 | √ | √ | √ |
V-al | S級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)準確(que)限制電(dian)壓 | √ |
|
|
I-al | S級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)準確(que)限制電(dian)流(liu) | √ |
|
|
Kssc | 實(shi)測(ce)的(de)對(dui)稱(cheng)短(duan)路電(dian)流(liu)系數(shu) |
|
|
|
Eerror | 電(dian)壓Emax處(chu)的(de)峰瞬誤差 |
| √ |
|
Emax | zui大(da)電(dian)動(dong)勢(shi) |
| √ |
|
Ls | 飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ | √ |
Lu | 不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ | √ |
Ts | 二次回路時(shi)間(jian)常(chang)數 | √ | √ | √ |
Kr | 剩(sheng)磁系數(shu) | √ | √ | √ |
Ktd | 實(shi)際(ji)計算得到(dao)的(de)暫(zan)態(tai)面(mian)積(ji)系數 |
| √ | √ |
其(qi)中(zhong)部(bu)分參(can)數(shu)的含(han)義如下：
1）V-al 按(an)照(zhao)IEC60046定(ding)義的(de)曲線拐點位(wei)置處(chu)的(de)電(dian)動(dong)勢(shi)
2）I-al 按(an)照(zhao)IEC60046定(ding)義的(de)曲線拐點位(wei)置處(chu)的(de)勵磁電(dian)流(liu)
3）Kssc 互(hu)感(gan)器壹(yi)次回路中(zhong)zui大短(duan)路電(dian)流(liu)對額定(ding)壹次電(dian)流(liu)的倍數(shu)
4）Emax互(hu)感(gan)器額定(ding)極限(xian)電(dian)動(dong)勢(shi)，此數(shu)值(zhi)有(you)壹(yi)次zui大短(duan)路電(dian)流(liu)，線圈內阻和(he)二次負(fu)荷(he)共(gong)同(tong)決(jue)定(ding)
5）Eerror 額定(ding)極限(xian)電(dian)動(dong)勢(shi)處(chu)對(dui)應(ying)的(de)互(hu)感(gan)器瞬時值(zhi)測(ce)量(liang)誤差
表(biao)6.8 C57.13的(de)勵磁參(can)數(shu)計算項目
參(can)數(shu)名(ming)稱 | 參(can)數(shu)說明(ming) | C57.13計量類 | C57.13保護類(lei) |
V-kn | 電(dian)壓拐點(dian)，詳細(xi)定(ding)義見表(biao)6.10 | √ | √ |
I-kn | 電(dian)流(liu)拐點(dian)，詳(xiang)細(xi)定(ding)義見表(biao)6.10 | √ | √ |
FS | 儀(yi)表(biao)安(an)保系數(shu) | √ |
|
ALF | 準(zhun)確(que)限值(zhi)系(xi)數(shu) |
| √ |
Kx | PX級(ji)互(hu)感(gan)器定(ding)義的(de)面(mian)積(ji)系數 |
| √ |
Ls | 飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Lu | 不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan) | √ | √ |
Ts | 二次時間常數(shu) | √ | √ |
Kr | 剩(sheng)磁系數(shu) | √ | √ |
6.3 拐(guai)點(dian)和(he)磁化(hua)曲(qu)線定(ding)義
不同測(ce)試標準(zhun)的(de)磁化(hua)曲(qu)線，拐點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流(liu)的定(ding)義是(shi)不壹樣的(de)，詳細(xi)的(de)定(ding)義說(shuo)明(ming)如表6.9和(he)表6.10所示(shi)。
表(biao)6.9 三種(zhong)測(ce)試標準(zhun)的(de)磁化(hua)曲(qu)線定(ding)義
標準(zhun)名(ming)稱 | 磁化(hua)曲(qu)線橫坐標 | 磁化(hua)曲(qu)線縱(zong)坐標 |
IEC60044-1 | 二次端(duan)電(dian)壓有(you)效值(zhi) | 勵磁電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi) |
IEC60044-6 | 電(dian)動(dong)勢(shi)電(dian)壓有(you)效值(zhi) | 勵磁電(dian)流(liu)峰值(zhi) |
C57.13 | 電(dian)動(dong)勢(shi)電(dian)壓有(you)效值(zhi) | 勵磁電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi) |
表(biao)6.10 拐(guai)點(dian)定(ding)義
標準(zhun)名(ming)稱 | 拐(guai)點(dian)定(ding)義 |
IEC60044-1 | 勵磁曲線上(shang)二次端(duan)電(dian)壓上(shang)升10%，導致勵磁電(dian)流(liu)有(you)效值(zhi)上(shang)升超過50%的(de)那個點(dian) |
IEC60044-6 | 電(dian)動(dong)勢(shi)電(dian)壓上(shang)升10%，導致勵磁電(dian)流(liu)峰值(zhi)上(shang)升超過50%的(de)那個點(dian) |
C57.13 | 對(dui)於(yu)C57.13的(de)ANSI45拐(guai)點(dian)是(shi)指對於(yu)橫(heng)坐標正(zheng)切為(wei)45度(du)角的那個點(dian)，對(dui)於(yu)C57.13的(de)ANSI30拐(guai)點(dian)是(shi)指對於(yu)橫(heng)坐標正(zheng)切為(wei)30度(du)角的那個點(dian) |
6.4 銘(ming)牌(pai)推(tui)測(ce)邏(luo)輯
CT分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)銘(ming)牌(pai)自動(dong)推(tui)測(ce)功(gong)能(neng)用於在銘(ming)牌(pai)部(bu)分信(xin)息(xi)未(wei)知時猜測(ce)銘(ming)牌(pai)的(de)部(bu)分信(xin)息(xi)，推(tui)測(ce)的(de)參(can)數(shu)包(bao)括額定(ding)壹次電(dian)流(liu)，額定(ding)二次電(dian)流(liu)和(he)互(hu)感(gan)器等(deng)級。銘(ming)牌推(tui)測(ce)的(de)所使用的順序和(he)判斷條件如下：
1） 如果額定(ding)二次電(dian)流(liu)未知(zhi)，則(ze)根(gen)據(ju)當(dang)前(qian)所測(ce)得(de)的(de)線圈電(dian)阻大(da)小(xiao)與1A/5A判(pan)斷閾值(zhi)進(jin)行比(bi)較(jiao)（見系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置章(zhang)節），如果小(xiao)於(yu)閾值(zhi)則(ze)將額定(ding)二次電(dian)流(liu)設為(wei)5A，否(fou)則(ze)設(she)為(wei)1A
2）根(gen)據(ju)實(shi)際(ji)測(ce)量(liang)獲(huo)得(de)的(de)匝(za)數(shu)比和(he)額定(ding)二次電(dian)流(liu)值(zhi)，對(dui)照(zhao)當前(qian)所選擇(ze)標準(zhun)對(dui)壹次電(dian)流(liu)取值(zhi)規(gui)則(ze)的(de)規(gui)定(ding)，猜測(ce)額定(ding)壹次電(dian)流(liu)值(zhi)。
3）互(hu)感(gan)器等(deng)級的(de)猜測(ce)
為(wei)了(le)猜(cai)測(ce)互(hu)感(gan)器的(de)等(deng)級首(shou)先需要判(pan)斷互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯的(de)類型(xing)，根據(ju)1A或(huo)5A鐵(tie)芯(xin)判(pan)定(ding)閾值(zhi)（見系(xi)統(tong)參(can)數(shu)設置章(zhang)節）獲取當前鐵芯(xin)類型(xing)，如果飽(bao)和(he)電(dian)壓小(xiao)於(yu)閾值(zhi)則(ze)為(wei)測(ce)量(liang)鐵(tie)芯(xin)否(fou)則(ze)為(wei)保護鐵(tie)芯(xin)。
如果猜(cai)測(ce)的(de)互(hu)感(gan)器鐵(tie)芯為(wei)測(ce)量(liang)鐵(tie)芯(xin)，則(ze)儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下規(gui)則(ze)推(tui)測(ce)互(hu)感(gan)器等(deng)級。
1）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)IEC60044-1則(ze)分(fen)別(bie)對如下精(jing)度等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5->1.0->3.0->5.0
2）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)C57.13則(ze)分(fen)別(bie)對如下精(jing)度等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
0.3->0.6->1.2
如果猜(cai)測(ce)的(de)鐵(tie)芯(xin)為(wei)保護鐵(tie)芯(xin)，則(ze)儀(yi)器(qi)按(an)照(zhao)如下規(gui)則(ze)推(tui)測(ce)互(hu)感(gan)器等(deng)級
1）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)IEC60044-1，則(ze)分(fen)別(bie)對如下等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
5PR->10PR->PX->5P->10P
2）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)IEC60044-6，則(ze)分(fen)別(bie)對如下等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
Y-> X-> Z-> S
3）如果選(xuan)擇(ze)的(de)是(shi)C57.13，則(ze)分(fen)別(bie)對如下等(deng)級順序分進(jin)行自動(dong)評估，直(zhi)至評(ping)估合格(ge)則(ze)為(wei)止(zhi)，*個評(ping)估合格(ge)的等(deng)級就是互(hu)感(gan)器的(de)精度(du)等(deng)級
K->C->T
第(di)七(qi)章(zhang) PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)
7.1 概(gai)述(shu)
分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)產(chan)品(pin)光盤中(zhong)包(bao)含(han)2個PC應(ying)用程序(xu),數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)“C T ANALYZER FOR PC"和(he)批量(liang)報(bao)告制作工(gong)具(ju)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，這(zhe)2個應(ying)用程序(xu)都是免安(an)裝的(de)綠(lv)色(se)軟(ruan)件(jian)，使(shi)用時將2個應(ying)用程序(xu)對(dui)應(ying)的(de)文(wen)件(jian)夾(jia)復制到(dao)計算機硬盤即可(ke)。
7.2 數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)
在分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)中(zhong)雙(shuang)擊(ji)“C T ANALYZER FOR PC"，出現(xian)如圖7.1所示(shi)數據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)主(zhu)界(jie)面(mian)。
分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)操(cao)作與界(jie)面(mian)和(he)儀(yi)器(qi)應(ying)用軟件(jian)基本(ben)*，其不同之(zhi)處(chu)如下：
讀取文(wen)件(jian)時PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)需要用戶文(wen)件(jian)所在位(wei)置如圖7.2
保存(cun)文(wen)件(jian)時PC數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置如圖7.2
曲(qu)線對比窗口(kou)中(zhong)讀取參(can)考曲(qu)線時需要用戶參(can)考文(wen)件(jian)所在位(wei)置如圖7.2
曲(qu)線對比中(zhong)復制圖片(pian)時需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置如圖7.2
生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)需要用戶文(wen)件(jian)存(cun)儲位(wei)置如圖7.2
除以(yi)上(shang)所列不同之(zhi)處(chu)外,數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)所有(you)的(de)操作方法與儀(yi)器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)軟件**，詳(xiang)細(xi)說(shuo)明(ming)請參(can)照(zhao)儀(yi)器(qi)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)軟件說(shuo)明(ming)
7.3 批量(liang)報(bao)告制作工(gong)具(ju)
在儀(yi)器(qi)版(ban)本(ben)為(wei)V1.27.129以(yi)上(shang)的機型中(zhong)，分析(xi)儀(yi)的(de)產(chan)品(pin)光盤提(ti)供(gong)WORD報(bao)告批處(chu)理(li)應(ying)用程序(xu)，此(ci)程序可(ke)以(yi)實現(xian)壹次性生(sheng)成(cheng)多(duo)個WORD報(bao)告文(wen)檔(dang)，在儀(yi)器(qi)產(chan)品(pin)光盤中(zhong)雙(shuang)擊(ji)C T分(fen)析(xi)儀(yi)批量(liang)報(bao)告制作工(gong)具(ju)文(wen)件(jian)夾(jia)下的(de)“C T ANALYZER BULK REPORTS"，出現(xian)圖7.3所示(shi)窗口(kou)。
窗口(kou)中(zhong)各個按(an)鈕和(he)控件定(ding)義如下：
WORD報(bao)告批量(liang)生(sheng)成(cheng)
點(dian)擊(ji)WORD報(bao)告批量(liang)生(sheng)成(cheng)時(shi)，進(jin)入(ru)報(bao)告配置窗口(kou)如圖7.4所示(shi)，在該(gai)窗口(kou)中(zhong)可(ke)以(yi)添加，移除需要制作報(bao)告的(de)試驗(yan)文(wen)件(jian)。圖7.4窗口(kou)中(zhong)各個按(an)鈕的(de)定(ding)義如下：
添(tian)加文(wen)件(jian)
點(dian)擊(ji)“添(tian)加文(wen)件(jian)"出現(xian)圖7.5所示(shi)的試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)添加窗口(kou)，可(ke)以(yi)將試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)添加到(dao)WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)。
註(zhu)意(yi)：圖7.5所示(shi)窗口(kou)中(zhong)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)鼠(shu)標同(tong)時(shi)選擇(ze)多(duo)個文(wen)件(jian)
移除文(wen)件(jian)
點(dian)擊(ji)移除文(wen)件(jian)，將WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)選中(zhong)的試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除
註(zhu)意(yi)：此項(xiang)功能(neng)僅(jin)僅(jin)將試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除，並不會刪(shan)除計算機中(zhong)對應(ying)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)
移除所有(you)文(wen)件(jian)
點(dian)擊(ji)移除所有(you)文(wen)件(jian)，清(qing)空(kong)WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)所有(you)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)
註(zhu)意(yi)：此項(xiang)功能(neng)僅(jin)僅(jin)將試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)從隊列中(zhong)移除，並不會刪(shan)除計算機中(zhong)對應(ying)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)批量(liang)生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告壹(yi)次性生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)所有(you)的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)
註(zhu)意(yi)：當待(dai)生(sheng)成(cheng)隊(dui)列(lie)中(zhong)文(wen)件(jian)的數量很(hen)多(duo)時(shi)，生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)會耗(hao)費很長(chang)的時(shi)間(jian)，在此(ci)過(guo)程中(zhong)應(ying)用軟件(jian)不能響(xiang)應(ying)其(qi)他(ta)控(kong)制命令，如果此(ci)時需要終(zhong)止(zhi)生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)Ctrl+ALT+DEL關閉(bi)此(ci)應(ying)用程序(xu)的(de)進(jin)程。
取消
退(tui)出WORD報(bao)告批量(liang)生(sheng)成(cheng)配置窗口(kou)
試驗(yan)報(bao)告生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)控(kong)制
生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)包(bao)含(han)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線，此項被(bei)選中(zhong)時，在所有(you)的(de)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)的WORD報(bao)告中(zhong)會包(bao)含(han)磁滯(zhi)回(hui)路曲(qu)線及數據(ju)，這(zhe)樣的(de)配置會消(xiao)耗(hao)較(jiao)長的(de)生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)間，否則(ze)這(zhe)些(xie)曲線和(he)數據(ju)不會出現(xian)在這(zhe)些(xie)生(sheng)成(cheng)的(de)WORD報(bao)告中(zhong)並且生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告時(shi)間較(jiao)短(duan)
誤差曲線中(zhong)使用整數(shu)壹次電(dian)流(liu)倍數(shu)，此項(xiang)被選(xuan)中(zhong)時，在所有(you)的(de)IEC60044-1保護類(lei)CT的(de)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)中(zhong)，誤差曲線數據(ju)會顯(xian)示(shi)整數(shu)壹次電(dian)流(liu)倍數(shu)的數(shu)值(zhi)
顯(xian)示(shi)簡化(hua)的(de)勵磁數據(ju)，此(ci)項(xiang)被(bei)選中(zhong)時，在所有(you)的(de)CT分(fen)析(xi)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)的WORD報(bao)告中(zhong)顯示(shi)的磁化(hua)曲(qu)線為(wei)30個點(dian)，這(zhe)樣可(ke)以(yi)縮短(duan)生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告的(de)時間，否則(ze)顯(xian)示(shi)點數(shu)為(wei)實(shi)測(ce)點(dian)並且生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告的(de)時間較(jiao)長。
語(yu)言(yan)選(xuan)擇(ze)
選(xuan)擇(ze)此(ci)應(ying)用程序(xu)的(de)語(yu)言(yan)環境(jing)，目前版(ban)本(ben)支(zhi)持的(de)語(yu)言(yan)為(wei)中(zhong)文(wen)和(he)英(ying)文(wen)
進(jin)度條(tiao)
應(ying)用程序(xu)主(zhu)界(jie)面(mian)包(bao)含(han)2個進(jin)度條(tiao)指示(shi)生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)的(de)狀(zhuang)態，位(wei)於(yu)主程序(xu)上(shang)部(bu)的進(jin)度條(tiao)是所有(you)試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)WORD報(bao)告生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)的(de)總進(jin)度指(zhi)示(shi)，位於(yu)主程(cheng)序下部(bu)的進(jin)度條(tiao)是單(dan)個試驗(yan)結果(guo)文(wen)件(jian)WORD報(bao)告生(sheng)成(cheng)過(guo)程(cheng)的(de)進(jin)度指(zhi)示(shi)。
第(di)八章(zhang) 附(fu)件(jian)清(qing)單(dan)
8.1 C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)標準(zhun)配置
C T分(fen)析(xi)儀(yi)的(de)標準(zhun)配置如表7.1所示(shi)：
名(ming)稱 | 數(shu)量(liang) | 說(shuo)明(ming) |
C T分(fen)析(xi)儀(yi)主(zhu)機 | 1 |
|
3M雙(shuang)芯帶(dai)屏(ping)蔽(bi)測(ce)試電(dian)纜(lan) | 2 | CT二次和(he)功率輸出連接(jie)線，每根電(dian)纜(lan)的(de)兩(liang)頭都帶有(you)紅(hong)色(se)和(he)黑色(se)香(xiang)蕉(jiao)頭，線徑大於(yu)1.5MM |
10M雙(shuang)芯帶(dai)屏(ping)蔽(bi)測(ce)試電(dian)纜(lan) | 1 | CT壹(yi)次連接線，每根電(dian)纜(lan)的(de)兩(liang)頭都帶有(you)紅(hong)色(se)和(he)黑色(se)香(xiang)蕉(jiao)頭，線徑大於(yu)1.5MM |
接(jie)地(di)線 | 1 |
|
大(da)號(hao)測(ce)試鉗(qian) | 2 | 紅(hong)黑(hei)各2個 |
測(ce)試冷(leng)壓片 | 4 | 紅(hong)黑(hei)各2個 |
測(ce)試針(zhen) | 4 | 紅(hong)黑(hei)各2個 |
鱷魚(yu)夾(jia) | 6 | 紅(hong)黑(hei)各3個 |
測(ce)試短(duan)接線 | 1 | 含(han)6個連(lian)接(jie)頭，用於短(duan)接CT二次的剩余(yu)非(fei)測(ce)試繞(rao)組 |
PT勵磁試驗(yan)模(mo)塊(kuai) | 1 | 用於PT勵磁試驗(yan) |
5A電(dian)源(yuan)保險 | 3 |
|
供(gong)電(dian)電(dian)纜(lan) | 1 |
|
附(fu)件(jian)包(bao) | 1 | 放置測(ce)試的(de)各種(zhong)附(fu)件(jian) |
產(chan)品(pin)光(guang)盤 | 1 | 包(bao)含(han)產品說(shuo)明(ming)書和(he)數據(ju)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian) |
產(chan)品(pin)使(shi)用說明(ming)書 | 1 |
|
產(chan)品(pin)出廠(chang)檢(jian)測(ce)報(bao)告 | 1 |
|
合格(ge)證(zheng) | 1 |
|
附(fu)錄(lu)A. 低(di)頻(pin)法測(ce)試原理(li)
IEC60044-6 標準(zhun)（對(dui)應(ying)國(guo)家標準(zhun)GB16847-1997）聲(sheng)稱(cheng)，CT 的(de)測(ce)試可(ke)以(yi)在比(bi)額定(ding)頻(pin)率低(di)的(de)情況(kuang)下進(jin)行，避(bi)免繞(rao)組(zu)和(he)二次端(duan)子(zi)承受(shou)不能容(rong)許(xu)的(de)電(dian)壓。的要(yao)求就是，在鐵(tie)心(xin)上(shang)產生(sheng)同(tong)樣大(da)小(xiao)的(de)磁通(tong)。
IEC60044-6 標準(zhun)中(zhong)給出的磁通(tong)計算公式(shi)：
其(qi)中(zhong)，
R CT ：二次繞組電(dian)阻
U CT ：二次繞組端(duan)電(dian)壓
I CT ：二次電(dian)流(liu)
Ψ0 ：初(chu)始交鏈(lian)磁通(tong)
Ψ(t)：t 時(shi)刻的(de)交(jiao)鏈(lian)磁通(tong)
定(ding)義鐵(tie)心電(dian)壓：
當(dang)鐵(tie)心(xin)電(dian)壓U C (t) 為(wei)正(zheng)弦信(xin)號(hao)時(shi)，有(you)：
其(qi)中(zhong)：
f ：為(wei)正(zheng)弦信(xin)號(hao)頻(pin)率
可(ke)以(yi)看出，在相(xiang)同(tong)的zui大(da)交鏈(lian)磁通(tong)Ψm 下(xia)，鐵(tie)心(xin)電(dian)壓與頻(pin)率成(cheng)正(zheng)比。因此，只(zhi)要(yao)在鐵(tie)心(xin)上(shang)產生(sheng)同(tong)樣大(da)小(xiao)的(de)磁通(tong)，那麽(me)CT的(de)測(ce)試便可(ke)以(yi)在比(bi)額定(ding)頻(pin)率低(di)的(de)情況(kuang)下進(jin)行，此(ci)時所需的鐵(tie)心(xin)電(dian)壓幅(fu)值(zhi)要(yao)求(qiu)也(ye)降(jiang)低(di)，二次繞組測(ce)試所需的端(duan)電(dian)壓也(ye)相(xiang)應(ying)降(jiang)低(di)。對(dui)低(di)頻(pin)測(ce)試結(jie)果進(jin)行頻(pin)率折(zhe)算(suan)後可(ke)以(yi)得到(dao)額定(ding)頻(pin)率下(xia)的CT測(ce)試結(jie)果。
附(fu)錄(lu)B.10%誤差曲線計算
電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)誤差主要是(shi)由於勵磁電(dian)流(liu)I0的(de)存(cun)在，它(ta)使(shi)二次電(dian)流(liu)I2與換算到(dao)二次側(ce)後的壹(yi)次電(dian)流(liu)I1′不但在數(shu)值(zhi)上(shang)不相等(deng)，而且相位也(ye)不相同，這(zhe)就造成了(le)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)誤差。
繼(ji)電(dian)保護要(yao)求(qiu)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)壹次電(dian)流(liu)I1等(deng)於zui大(da)短(duan)路電(dian)流(liu)時，其(qi)比(bi)值(zhi)差(cha)小(xiao)於(yu)或等(deng)於10％。在比(bi)值(zhi)差(cha)等(deng)於10％時(shi)，二次電(dian)流(liu)I2 與換算到(dao)二次側(ce)後的壹(yi)次電(dian)流(liu)I1′以(yi)及勵磁電(dian)流(liu)I0 之(zhi)間滿(man)足(zu)下(xia)述(shu)關系(xi)：
定(ding)義M 為(wei)壹(yi)次側(ce)zui大短(duan)路電(dian)流(liu)倍數(shu)，K 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器的(de)變比，則(ze)有(you)
其(qi)中(zhong)：
Z2 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器二次繞組阻抗
E0 為(wei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器二次繞組感(gan)應(ying)電(dian)動(dong)勢(shi)E0和(he)I0的(de)關系(xi)由勵磁特性曲線描述。
根(gen)據(ju)上(shang)述算(suan)式，zui後可(ke)以(yi)得到(dao)用zui大短(duan)路電(dian)流(liu)倍數(shu)M 和(he)允(yun)許(xu)的(de)zui大(da)負(fu)荷(he)阻抗ZB描述的10％誤差曲
5%誤差曲線的計算方式與10%誤差曲線計算方式*，只(zhi)是(shi)誤差點從10%變成了(le)5%。對(dui)於(yu)5P/5PR的(de)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器通(tong)常(chang)計算5%誤差曲線，對於10P/10PR的(de)保護類(lei)電(dian)流(liu)互(hu)感(gan)器通(tong)常(chang)計算10%誤差曲線。
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