LY-809D變頻(pin)便(bian)攜(xie)式(shi)CT/PT參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi)

本(ben)公司(si)開(kai)發的(de)LY-809D變(bian)頻(pin)CT/PT參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi)是在傳(chuan)統基(ji)於(yu)調(tiao)壓(ya)器(qi)、升壓器(qi)、升流(liu)器(qi)的(de)互(hu)感器(qi)伏安特(te)性變(bian)比(bi)極(ji)性(xing)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)基(ji)礎(chu)上，廣(guang)泛(fan)聽(ting)取(qu)用戶(hu)意(yi)見(jian)、經過大(da)量的(de)市(shi)場(chang)調研、深(shen)入(ru)進行(xing)理(li)論(lun)研究(jiu)之(zhi)後(hou)研發的(de)新(xin)壹代革(ge)新型(xing)CT、PT測(ce)試儀(yi)器(qi)。裝(zhuang)置(zhi)采用(yong)高性(xing)能DSP和FPGA、*制造(zao)工藝，保證(zheng)了(le)產(chan)品(pin)性能穩(wen)定(ding)可(ke)靠(kao)、功能完(wan)備(bei)、自動(dong)化(hua)程度高(gao)、測(ce)試(shi)效(xiao)率(lv)高、在國內(nei)處於(yu)*水平，是電力行(xing)業用(yong)於(yu)互(hu)感器(qi)的(de)專(zhuan)業測(ce)試(shi)儀(yi)器(qi)。

• 更新時(shi)間(jian)：2024-05-07
• 瀏(liu)覽(lan)次(ci)數(shu)：1261
• 廠商(shang)性質(zhi)：生(sheng)產廠(chang)家
• 產   地(di)：上(shang)海寶山(shan)

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LY-809D變(bian)頻(pin)便(bian)攜(xie)式(shi)CT/PT參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀(yi) 主要技術(shu)特(te)點(dian):
>功能全(quan)面(mian)，既(ji)滿(man)足(zu)各類(lei)CT（如(ru)：保護類(lei)、計量類(lei)、 類(lei)）的(de)勵(li)磁(ci)特(te)性（即(ji)伏安特(te)性）、變(bian)比(bi)、極(ji)性(xing)、二次(ci)繞(rao)組(zu)電(dian)阻、二次(ci)負(fu)荷(he)、比(bi)差(cha)以(yi)及(ji)角(jiao)差(cha)等(deng)測試(shi)要求，又(you)可(ke)用(yong)於(yu)各(ge)類(lei)PT電磁(ci)單(dan)元(yuan)的(de)勵(li)磁(ci)特(te)性、變(bian)比(bi)、極(ji)性(xing)、二次(ci)繞(rao)組(zu)電(dian)阻、比差(cha)等(deng)測試(shi)。
>自動(dong)給出拐(guai)點(dian)電壓(ya)/電流(liu)、10%(5%)誤(wu)差(cha)曲線(xian)、準確限值(zhi)系(xi)數(shu)（ALF）、儀(yi)表(biao)保安系(xi)數(shu)（FS）、二次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數(shu)(Ts)、剩磁(ci)系(xi)數(shu)(Kr)、飽和及不(bu)飽和電感等(deng)CT、PT參數(shu)。
>測試(shi)滿(man)足(zu)GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等(deng)各類(lei)互(hu)感器(qi)標準，並(bing)依照(zhao)互(hu)感器(qi)類型(xing)和級別自動(dong)選(xuan)擇何(he)種(zhong)標準進(jin)行(xing)測(ce)試。
>基(ji)於(yu)*低(di)頻(pin)法(fa)測試原(yuan)理(li)，能應(ying)對(dui)拐(guai)點(dian)高達(da)60KV的(de)CT測(ce)試(shi)。
>界(jie)面(mian)友(you)好美觀(guan)，全(quan)中(zhong)文(wen)圖(tu)形(xing)界(jie)面(mian)。
>裝(zhuang)置(zhi)可(ke)存(cun)儲(chu)1000組(zu)測(ce)試數(shu)據，掉(diao)電(dian)不(bu)丟失。
>測試(shi)簡單(dan)方(fang)便(bian)，壹鍵完(wan)成(cheng)CT直(zhi)阻(zu)、勵(li)磁(ci)、變(bian)比和極(ji)性(xing)測(ce)試，而且除(chu)了(le)負(fu)荷測試外，CT其(qi)他各項(xiang)測(ce)試(shi)都(dou)是采用同(tong)壹種接線(xian)方(fang)式。
>易(yi)於(yu)攜(xie)帶(dai)，裝(zhuang)置(zhi)重(zhong)量<9Kg。。
功能與(yu)用(yong)途:

裝(zhuang)置(zhi)設計(ji)用於(yu)CT、PT的(de)以(yi)下(xia)試(shi)驗(yan)：

>勵(li)磁(ci)特(te)性試(shi)驗(yan)

>變比(bi)試驗

>相位和極(ji)性(xing)試(shi)驗

>CT各(ge)種壹次(ci)電(dian)流(liu)及(ji)各(ge)種(zhong)負荷時的(de)比(bi)差(cha)、角(jiao)差(cha)測(ce)量(liang)

>CT二次(ci)繞(rao)組(zu)電(dian)阻測量

>CT二次(ci)回(hui)路(lu)負荷測量(liang)

>CT暫(zan)態特(te)性測(ce)試(shi)與分(fen)析(xi)

> 測量校核(he)各種(zhong)型(xing)號(hao)的(de)CT、PT，包括(kuo)保護CT、計(ji)量CT、 級暫態CT、勵(li)磁(ci)飽(bao)和電壓(ya)達(da)到(dao)30KV的(de)CT、變(bian)壓(ya)器(qi)套(tao)管(guan)CT、各電壓(ya)級PT等(deng)

> 拐(guai)點(dian)電壓(ya)/電流(liu)、10%(5%)誤(wu)差(cha)曲線(xian)、準確限值(zhi)系(xi)數(shu)、儀(yi)表(biao)保安系(xi)數(shu)、二次(ci)時(shi)間(jian)常(chang)數(shu)、剩磁(ci)系(xi)數(shu)、準確(que)級、飽和和不(bu)飽和電感等(deng)CT、PT參數(shu)的(de)測(ce)量(liang)
主要技術(shu)參(can)數(shu):