LY-809系(xi)列(lie)互(hu)感(gan)器(qi)綜合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)

LY-809系(xi)列(lie)互(hu)感(gan)器(qi)綜合(he)測(ce)試(shi)儀(yi) 本(ben)公司(si)開(kai)發的(de)是在(zai)傳統基於(yu)調(tiao)壓器(qi)、升壓器(qi)、升流(liu)器(qi)的(de)互(hu)感(gan)器(qi)伏安特(te)性變比極性綜合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)基(ji)礎(chu)上(shang)，廣泛聽(ting)取(qu)用(yong)戶(hu)意(yi)見、經(jing)過大量(liang)的(de)市(shi)場(chang)調(tiao)研、深入進行理論研究之(zhi)後(hou)研(yan)發的(de)新(xin)壹(yi)代(dai)革(ge)新(xin)型CT、PT測(ce)試儀(yi)器(qi)。裝(zhuang)置(zhi)采用(yong)高(gao)性能DSP和FPGA、*制(zhi)造工(gong)藝(yi)，保(bao)證了產品(pin)性能穩定(ding)可(ke)靠、功(gong)能(neng)完(wan)備(bei)、自(zi)動化(hua)程(cheng)度(du)高(gao)、測(ce)試(shi)效率高(gao)、在(zai)國(guo)內(nei)處於*水平(ping)，是電(dian)力(li)行(xing)業(ye)用(yong)於互(hu)感(gan)器(qi)的(de)

• 更(geng)新(xin)時間：2024-05-07
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• 廠(chang)商(shang)性質(zhi)：生產廠家
• 產   地：上海(hai)寶山(shan)

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LY-809系(xi)列(lie)互(hu)感(gan)器(qi)綜合(he)測(ce)試(shi)儀(yi) 主(zhu)要(yao)技(ji)術特(te)點：
>功能(neng)全面(mian)，既(ji)滿足(zu)各類CT（如：保(bao)護(hu)類、計(ji)量(liang)類、 類）的(de)勵(li)磁(ci)特(te)性（即伏安特(te)性）、變比、極性、二次繞(rao)組電阻(zu)、二(er)次負荷、比(bi)差(cha)以(yi)及(ji)角(jiao)差(cha)等(deng)測(ce)試(shi)要求，又可(ke)用(yong)於各類PT電(dian)磁(ci)單(dan)元的(de)勵(li)磁(ci)特(te)性、變比、極性、二次繞(rao)組電阻(zu)、比(bi)差(cha)等(deng)測(ce)試(shi)。

>帶升流(liu)輸(shu)出(chu)功能，帶升流(liu)器(qi)zui大電流(liu)可(ke)達(da)180A。
>自(zi)動給(gei)出(chu)拐(guai)點(dian)電壓/電(dian)流(liu)、10%(5%)誤(wu)差(cha)曲(qu)線、準(zhun)確限值系(xi)數（ALF）、儀(yi)表(biao)保安系(xi)數（FS）、二(er)次時間常數(Ts)、剩磁(ci)系(xi)數(Kr)、飽(bao)和(he)及不飽(bao)和(he)電感等CT、PT參(can)數。
>測(ce)試(shi)滿足(zu)GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各(ge)類互(hu)感(gan)器(qi)標準(zhun)，並依(yi)照互(hu)感(gan)器(qi)類型(xing)和(he)級別自(zi)動選擇(ze)何(he)種標(biao)準(zhun)進行(xing)測試(shi)。
>基於*低頻法(fa)測試(shi)原理，能應(ying)對(dui)拐(guai)點(dian)高(gao)達(da)60KV的(de)CT測(ce)試(shi)。
>界(jie)面(mian)友好(hao)美觀，全(quan)中文(wen)圖(tu)形界面(mian)。
>裝(zhuang)置(zhi)可(ke)存(cun)儲(chu)3000組測試(shi)數據(ju)，掉(diao)電不丟(diu)失。
>測試簡(jian)單(dan)方便(bian)，壹(yi)鍵完(wan)成CT直(zhi)阻(zu)、勵(li)磁(ci)、變(bian)比(bi)和極性測試，而(er)且除(chu)了負荷測(ce)試(shi)外(wai)，CT其他(ta)各項(xiang)測試都是采用(yong)同(tong)壹(yi)種接線方式。
>易於(yu)攜(xie)帶，裝(zhuang)置(zhi)重(zhong)量<9Kg。

功(gong)能與用(yong)途：

裝(zhuang)置(zhi)設(she)計(ji)用(yong)於CT、PT的(de)以(yi)下(xia)試(shi)驗(yan)：

>勵(li)磁(ci)特(te)性試驗(yan)

>變比(bi)試(shi)驗(yan)

>相位和極性試驗(yan)

>CT各種壹(yi)次電流(liu)及(ji)各種負荷時的(de)比(bi)差(cha)、角(jiao)差(cha)測(ce)量(liang)

>CT二(er)次繞(rao)組電阻(zu)測(ce)量(liang)

>CT二(er)次回(hui)路(lu)負荷測(ce)量(liang)

>CT暫態特(te)性測試與(yu)分(fen)析

>CT升流(liu)試(shi)驗(yan)

>測量(liang)校(xiao)核各種型(xing)號(hao)的(de)CT、PT，包括保(bao)護(hu)CT、計(ji)量(liang)CT、 級(ji)暫態CT、勵(li)磁(ci)飽(bao)和(he)電壓達(da)到30KV的(de)CT、變(bian)壓器(qi)套管(guan)CT、各(ge)電(dian)壓級(ji)PT等

>拐(guai)點(dian)電壓/電(dian)流(liu)、10%(5%)誤(wu)差(cha)曲(qu)線、準(zhun)確限值系(xi)數、儀(yi)表(biao)保安系(xi)數、二(er)次時間常數、剩磁(ci)系(xi)數、準(zhun)確級、飽(bao)和(he)和不飽(bao)和(he)電感等CT、PT參(can)數的(de)測(ce)量(liang)

主(zhu)要技術參(can)數：