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      <small id="mL00BB"><tt id="mL00BB"></tt></small>

      1. <dl id="mL00BB"></dl>

        1. PROLIST

          聯(lian)系我們(men)
          • YJ-II二次(ci)壓(ya)降及(ji)負(fu)荷測試(shi)儀
            YJ-II二次(ci)壓(ya)降及(ji)負(fu)荷測試(shi)儀
            YJ-II二次(ci)壓(ya)降及(ji)負(fu)荷測試(shi)儀,電(dian)壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)二次(ci)回(hui)路(lu)壓(ya)降包(bao)括(kuo)電纜、端(duan)子(zi)接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)、熔(rong)線(xian)、中間(jian)繼電器(qi)接(jie)點、空氣小(xiao)開關等(deng)電壓(ya)降之總和(he)。所謂(wei)電壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)二次(ci)電(dian)壓(ya)降引(yin)起的誤(wu)差(cha),就(jiu)是指電(dian)壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)二次(ci)端(duan)子(zi)和(he)負(fu)載(zai)端子(zi)之間(jian)電壓(ya)的幅(fu)值差(cha)相對(dui)於二次(ci)實(shi)際電壓(ya)的百(bai)分(fen)數(shu),以及(ji)兩個(ge)電(dian)壓(ya)之間(jian)的相位(wei)差(cha)的總稱(cheng)。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • 3C-10A接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            3C-10A接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            3C-10A接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀是根據(ju)國家(jia)標(biao)準(zhun)的要求(qiu)生產的通用型的安(an)全參數(shu)測(ce)試(shi)儀器(qi),我廠(chang)專(zhuan)為(wei)測(ce)量(liang)電(dian)機(ji),低壓(ya)配(pei)電櫃(gui),儀(yi)器(qi)儀(yi)器(qi)外(wai)殼(ke)與接(jie)地(di)之間(jian)電阻(zu)值,是3C論證*產品。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • ETCR2000鉗形(xing)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)儀(yi)性(xing)
            ETCR2000鉗形(xing)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)儀(yi)性(xing)
            ETCR2000鉗形(xing)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)儀(yi)性(xing) *可存儲測量數據(ju):50組(zu) *電阻(zu)報(bao)警臨界值設(she)定(ding)範圍(wei):1-199Ω *電(dian)流(liu)報(bao)警臨界值設(she)定(ding)範圍(wei):1-499mA 保(bao)護(hu)等(deng)級(ji):雙重絕(jue)緣 結(jie)構特點:鉗口(kou)方式(shi)

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • JD-II 大型地(di)網(wang)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            JD-II 大型地(di)網(wang)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            JD-II大型地(di)網(wang)接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀,適(shi)用於測(ce)試(shi)各(ge)類(lei)接(jie)地(di)裝(zhuang)置的工(gong)頻(pin)接(jie)地(di)阻(zu)抗(kang)、接(jie)觸(chu)電(dian)壓(ya)、跨(kua)步(bu)電(dian)壓(ya)、轉(zhuan)移(yi)電位(wei)、場(chang)區地(di)表電位梯(ti)度等(deng)工頻(pin)特性(xing)參(can)數以及(ji)土壤(rang)電(dian)阻(zu)率(lv)。本(ben)儀(yi)器(qi)采(cai)用異(yi)頻(pin)抗幹擾(rao)技(ji)術,能在強(qiang)幹擾(rao)環(huan)境(jing)下準(zhun)確(que)測(ce)得工頻(pin)50Hz下的數(shu)據(ju)。測試(shi)電流(liu)較(jiao)小(xiao)(0~3.0A),不會引(yin)起測試(shi)時接(jie)地(di)裝(zhuang)置的電(dian)位(wei)過(guo)高(gao),同(tong)時(shi)它(ta)還(hai)具有(you)*的抗(kang)幹擾(rao)能力(li),故(gu)可以在不(bu)停(ting)電的情況下(xia)進行測(ce)量。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • 2571接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            2571接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            2571接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀適(shi)於測(ce)量(liang)各(ge)種接(jie)地(di)裝(zhuang)置的接(jie)地(di)電(dian)阻(zu)和(he)地(di)電(dian)壓(ya),還(hai)可以測(ce)量土壤電阻(zu)率(lv)及(ji)低阻(zu)導(dao)體(ti)的電(dian)阻(zu)值

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • XHZL變(bian)壓(ya)器(qi)直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            XHZL變(bian)壓(ya)器(qi)直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)是電氣測試(shi)的重要內(nei)容之壹(yi),常用的方法有(you)直(zhi)流電橋(qiao)法、電流(liu)電壓(ya)法等(deng)。我們(men)根(gen)據(ju)電氣設(she)備交接(jie)和(he)預防(fang)性(xing)試(shi)驗的要求(qiu),結(jie)合GB763-74和(he)IEE694-84的標(biao)準(zhun),研(yan)制開(kai)發(fa)了(le)XHZL變(bian)壓(ya)器(qi)直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試(shi)儀,本(ben)儀器(qi)可方便(bian)地(di)進行接(jie)點和(he)開關設(she)備的接(jie)觸(chu)電(dian)阻(zu)以(yi)及(ji)載(zai)流導(dao)體(ti)電(dian)阻(zu)的測(ce)試(shi)。本儀(yi)器(qi)操(cao)作方便(bian),準確(que)直(zhi)觀。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • KS-3000高(gao)壓(ya)開關動(dong)特性(xing)測(ce)試(shi)儀
            KS-3000高(gao)壓(ya)開關動(dong)特性(xing)測(ce)試(shi)儀
            KS-3000高(gao)壓(ya)開關動(dong)特性(xing)測(ce)試(shi)儀 1. 主(zhu)要數據(ju)、操作(zuo)命(ming)令(ling)中文(wen)界(jie)面顯示 2. 數據(ju)、曲(qu)線(xian)屏(ping)幕(mu)分(fen)時(shi)打印數據(ju)、波形(xing)。 3. 非測(ce)試(shi)數據(ju)不顯(xian)示(含數(shu)據(ju)0不顯(xian)示) 4. 金(jin)短時(shi)間(jian)數據(ju)測試(shi)功能(在合(he)000分(fen)狀(zhuang)態有(you)效!) 5. 非動(dong)桿測(ce)量(liang)比(bi)例適(shi)於V0、V1、V2、V3、V4各(ge)項速度定義(yi) 。 6. 測(ce)試(shi)數據(ju)可存儲、上傳(chuan)電(dian)腦。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • BYC-2002電力變(bian)壓(ya)器(qi)有(you)載(zai)調壓(ya)開關測(ce)試(shi)儀
            BYC-2002電(dian)力變(bian)壓(ya)器(qi)有(you)載(zai)調壓(ya)開關測(ce)試(shi)儀
            BYC-2002電(dian)力變(bian)壓(ya)器(qi)有(you)載(zai)調壓(ya)開關測(ce)試(shi)儀,是用於測(ce)量(liang)和(he)分(fen)析(xi)電力系統中電(dian)力(li)變(bian)壓(ya)器(qi)及(ji)特種(zhong)變(bian)壓(ya)器(qi)有(you)載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關電(dian)氣性(xing)能指(zhi)標(biao)的綜(zong)合測(ce)量儀(yi)器(qi)。它(ta)采(cai)用計(ji)算機(ji)控制(zhi),通過特殊(shu)設(she)計(ji)的測(ce)量(liang)電(dian)路,可實現對(dui)有(you)載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關的過(guo)渡(du)時(shi)間(jian)、過渡波形(xing)、過(guo)渡電(dian)阻(zu)、三(san)相同(tong)期(qi)性(xing)、等(deng)參數的測(ce)量(liang)。用戶可根據(ju)需要和(he)現場條(tiao)件(jian),直(zhi)接(jie)由(you)分(fen)接(jie)開(kai)關引(yin)線進行測(ce)量,也可由(you)變(bian)壓(ya)器(qi)三(san)相套(tao)管(guan)及(ji)中性(xing)點直(zhi)接(jie)接(jie)線(xian)測(ce)量(liang)。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • KC-II高(gao)低壓(ya)開關櫃(gui)通電試(shi)驗臺(tai)
            KC-II高(gao)低壓(ya)開關櫃(gui)通電試(shi)驗臺(tai)
            KC-II高(gao)低壓(ya)開關櫃(gui)通電試(shi)驗臺(tai)用於高(gao)低壓(ya)開關櫃(gui)生產廠(chang)家對(dui)所生產的高(gao)低壓(ya)開關櫃(gui)進行出(chu)廠前的各(ge)項通電試(shi)驗。它(ta)能提(ti)供各(ge)種交、直(zhi)流電源,便(bian)於對(dui)開關櫃(gui)的檢(jian)測(ce),提(ti)高(gao)工(gong)作(zuo)效率(lv)。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • XH-S電纜故(gu)障測試(shi)儀
            XH-S電(dian)纜故(gu)障測試(shi)儀
            XH-S電(dian)纜故(gu)障測試(shi)儀 使用範(fan)圍(wei):適(shi)用於測(ce)量(liang)35KV等(deng)級(ji)以下(xia)的各(ge)種不(bu)同截(jie)面、不同介(jie)質的各(ge)種電(dian)力電(dian)纜、高(gao)頻(pin)同軸(zhou)電纜(lan)、市(shi)話電(dian)纜(lan)的低阻(zu)、高(gao)阻(zu)、短(duan)路(lu)、開(kai)路(lu)、以及(ji)高(gao)阻(zu)泄(xie)漏(lou)和(he)高(gao)阻(zu)閃(shan)絡(luo)性(xing)故(gu)障;

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • KS-200A電纜故(gu)障測試(shi)儀
            KS-200A電(dian)纜故(gu)障測試(shi)儀
            KS-200A電(dian)纜故(gu)障測試(shi)儀適(shi)用於測(ce)量(liang)各(ge)種不(bu)同截(jie)面、不同介(jie)質的各(ge)種電(dian)力電(dian)纜、高(gao)頻(pin)同軸(zhou)電纜(lan),市(shi)話電(dian)纜(lan)及(ji)兩根(gen)以(yi)上均(jun)勻(yun)鋪(pu)設(she)的地(di)埋(mai)電線等(deng)電纜的高(gao)低阻(zu)、短(duan)路(lu)、開(kai)路(lu)、斷線(xian)以及(ji)高(gao)阻(zu)泄(xie)漏(lou)和(he)高(gao)阻(zu)閃(shan)絡(luo)性(xing)故(gu)障。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • JBC-702微(wei)機(ji)繼(ji)電保護(hu)測試(shi)儀
            JBC-702微(wei)機(ji)繼(ji)電保護(hu)測試(shi)儀
            JBC-702微(wei)機(ji)繼(ji)電保護(hu)測試(shi)儀采(cai)用單機(ji)獨(du)立(li)運(yun)行,亦(yi)可聯(lian)接(jie)筆(bi)記本(ben)電腦(nao)運行的*結(jie)構。主(zhu)機(ji)內(nei)置新(xin)壹(yi)代高(gao)速數(shu)字信號處(chu)理(li)器(qi)微(wei)機(ji)、真(zhen)16位(wei)DAC模塊、新(xin)型模塊式(shi)高(gao)保(bao)真(zhen)大功率(lv)功(gong)放(fang),自(zi)帶(dai)大屏幕(mu)液晶(jing)顯(xian)示器(qi)以(yi)及(ji)靈活(huo)方便(bian)的旋(xuan)轉(zhuan)鼠標(biao)控制(zhi)器(qi)。單機(ji)獨(du)立(li)操(cao)作(zuo)即(ji)已(yi)具有(you)很強(qiang)的功(gong)能,可進行大多數(shu)試(shi)驗,聯(lian)接(jie)電(dian)腦(nao)運(yun)行則(ze)具有(you)更強(qiang)大的操(cao)作(zuo)功(gong)能。體(ti)積(ji)小(xiao)、精度高(gao)。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • XH-JY絕(jue)緣用具試(shi)驗裝(zhuang)置
            XH-JY絕(jue)緣用具試(shi)驗裝(zhuang)置
            XH-JY絕(jue)緣用具試(shi)驗裝(zhuang)置該(gai)裝(zhuang)置是專(zhuan)為(wei)試(shi)驗絕(jue)緣靴(手(shou)套)的耐(nai)壓(ya)絕(jue)緣等(deng)級(ji)而設(she)計(ji)制(zhi)造(zao)的第(di)三(san)代產品,更有(you)效地(di)解(jie)決了(le)以往不(bu)規(gui)則(ze)的測(ce)試(shi)方法,簡化(hua)了(le)測試(shi)程序,提(ti)高(gao)了(le)檢測(ce)速度,減輕(qing)了(le)檢測(ce)強(qiang)度,更好(hao)地(di)保(bao)障了(le)檢測(ce)人員(yuan)的安(an)全,可靠地(di)鑒(jian)別(bie)絕(jue)緣靴(手(shou)套)的泄(xie)漏(lou)電流,絕(jue)緣老(lao)化(hua)和(he)工頻(pin)耐壓(ya)等(deng)參數,六只(zhi)絕(jue)緣靴(手(shou)套)可同時(shi)檢測。 該裝置集(ji)高(gao)壓(ya)電源(yuan)與(yu)控制(zhi)系統壹(yi)體(ti)化(hua)。

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • ZRC直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            ZRC直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
            ZRC直(zhi)流電阻(zu)測(ce)試(shi)儀是變(bian)壓(ya)器(qi)在交接(jie)、大修和(he)改變(bian)分(fen)接(jie)開(kai)關後,*的試(shi)驗項(xiang)目。在通常情況下(xia),用傳(chuan)統(tong)的方法(電橋(qiao)法和(he)壓(ya)降法)測量(liang)變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)以及(ji)大功率(lv)電(dian)感(gan)設(she)備的直(zhi)流電阻(zu)是壹(yi)項(xiang)費(fei)時費(fei)工的工(gong)作(zuo)。為(wei)了(le)改變(bian)這(zhe)種狀(zhuang)況,縮短測量時(shi)間(jian)以及(ji)減輕(qing)測試(shi)人員(yuan)的工(gong)作(zuo)負(fu)擔,本(ben)公司(si)開發(fa)了(le)直(zhi)流電阻(zu)快速測(ce)試(shi)儀。它(ta)采(cai)用全新(xin)電(dian)源(yuan)技(ji)術,具有(you)測量(liang)迅速、體(ti)積小(xiao)巧、使用方便(bian)、測量(liang)精度高(gao)等(deng)特點。是測量(liang)變(bian)壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)以及(ji)大功率(lv)電(dian)感(gan)設(she)備直(zhi)流電阻(zu)的理(li)想(xiang)設(she)備

            更新(xin)時(shi)間(jian):2024-05-06

          • XB-F調頻(pin)串聯(lian)諧(xie)振(zhen)試(shi)驗裝(zhuang)置
            XB-F調頻(pin)串聯(lian)諧(xie)振(zhen)試(shi)驗裝(zhuang)置
            XB-F調頻(pin)串聯(lian)諧(xie)振(zhen)試(shi)驗裝(zhuang)置是針對(dui)電力變(bian)壓(ya)器(qi)、電(dian)力電(dian)纜、汽輪(lun)及(ji)水(shui)輪(lun)發(fa)電機(ji)的交流耐(nai)壓(ya)試(shi)驗需(xu)要而設(she)計(ji)的。本(ben)諧(xie)振(zhen)試(shi)驗裝(zhuang)置采(cai)用調整頻(pin)率(lv)的方式(shi)來完(wan)成(cheng)諧(xie)振(zhen),可方便(bian)、準確(que)的找(zhao)到(dao)諧(xie)振(zhen)點。系統的品質因(yin)數(shu)可以達(da)到(dao)20~80,系統輕(qing)巧簡(jian)便(bian),可任(ren)意(yi)組(zu)合。XB-F調頻(pin)串聯(lian)諧(xie)振(zhen)裝(zhuang)置采(cai)用了(le)多重保(bao)護(hu)措施,使得試(shi)驗方便(bian)、安(an)全可靠。諧(xie)振(zhen)回(hui)路(lu)固(gu)有(you)的濾(lv)波效應(ying)使得系統輸出(chu)的試(shi)驗電(dian)壓(ya)波形(xing)*試(shi)驗規(gui)程的要求(qiu)。

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          • XB-L調感(gan)型諧(xie)振(zhen)裝(zhuang)置
            XB-L調感(gan)型諧(xie)振(zhen)裝(zhuang)置
            XB-L調感(gan)型諧(xie)振(zhen)裝(zhuang)置各(ge)種大型電力變(bian)壓(ya)器(qi)、電(dian)力電(dian)纜、汽輪(lun)及(ji)水(shui)輪(lun)發(fa)電機(ji)及(ji)其它(ta)容性(xing)設(she)備的交流耐(nai)壓(ya)試(shi)驗都(dou)必須(xu)嚴(yan)格按(an)試(shi)驗規(gui)程定期(qi)進行。在工(gong)頻(pin)條件(jian)下,由(you)於被試(shi)品電容量(liang)較(jiao)大,或者(zhe)試(shi)驗電(dian)壓(ya)要求(qiu)較(jiao)高(gao),對(dui)試(shi)驗裝(zhuang)置的電(dian)源(yuan)容量(liang)相應(ying)的也有(you)較(jiao)高(gao)的要求(qiu),傳(chuan)統(tong)的工(gong)頻(pin)耐壓(ya)裝置往往單件(jian)體積(ji)大,重量(liang)重,不(bu)便(bian)於現場搬(ban)運(yun),而且(qie)不便(bian)於任(ren)意(yi)組(zu)合,靈(ling)活(huo)性(xing)較(jiao)差(cha)。目(mu)前,比較(jiao)流行的手(shou)段是采(cai)用諧(xie)振(zhen)的方法進行耐(nai)壓(ya)試(shi)驗。

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              1. <dl id="mL00BB"></dl>