回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀_第(di)(2)頁-上(shang)海徐(xu)吉電氣有限(xian)公司

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回(hui)路測試(shi)儀

回(hui)路測試(shi)儀本(ben)機內置(zhi)100A開關電(dian)源(yuan)，使之達(da)到(dao)恒流100A兩套(tao)回(hui)路實(shi)時(shi)跟(gen)蹤(zong)測(ce)試(shi)。保(bao)證(zheng)測試(shi)結(jie)果正確(que)。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
HLY-III回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀廠(chang)家(jia)

HLY-III回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀儀器(qi)輸(shu)出(chu)電流大、調節範(fan)圍寬(kuan)、信(xin)號(hao)穩(wen)定、結(jie)構(gou)緊湊(cou)、操(cao)作(zuo)簡(jian)單、讀數直(zhi)觀(guan)、且能(neng)作(zuo)為大(da)電流源(yuan)單獨使用。采(cai)用開關電(dian)源(yuan)輸(shu)出(chu)，精度(du)高(gao)，體積(ji)小，重(zhong)量(liang)輕。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀儀器(qi)輸(shu)出(chu)電流大、調節範(fan)圍寬(kuan)、信(xin)號(hao)穩(wen)定、結(jie)構(gou)緊湊(cou)、操(cao)作(zuo)簡(jian)單、讀數直(zhi)觀(guan)、且能(neng)作(zuo)為大(da)電流源(yuan)單獨使用。采(cai)用開關電(dian)源(yuan)輸(shu)出(chu)，精度(du)高(gao)，體積(ji)小，重(zhong)量(liang)輕。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD智(zhi)能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

智(zhi)能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀測(ce)量電流：＞100A/DC　　測量(liang)精度(du)：0.5級　　顯(xian)示(shi)方式：液(ye)晶顯(xian)示(shi)、結(jie)果打(da)印(yin) 　　工(gong)作溫(wen)度：-10℃~50℃

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
抗(kang)幹擾回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

抗(kang)幹擾回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀⒈ 按(an)四(si)端子(zi)接(jie)法接(jie)線。　　⒉ 打(da)開電源(yuan)。　　⒊ 按測(ce)量/打(da)印(yin)鍵即可（如(ru)電流顯(xian)示(shi)A值小於(yu)100A後(hou)，可通(tong)過(guo)面(mian)板電流微調進行(xing)校正）。　　⒋ 測(ce)量(liang)顯(xian)示(shi)值後(hou)，需保(bao)存(cun)數(shu)據，可按測(ce)量(liang)/打(da)印(yin)鍵三秒(miao)種後(hou)即可打(da)印(yin)數據。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD回(hui)路電阻(zu)自(zi)動測(ce)試(shi)儀

回(hui)路電阻(zu)自(zi)動測(ce)試(shi)儀技(ji)術指(zhi)標測(ce)量範(fan)圍(wei)：0-1999μΩ 分(fen)辨(bian)率(lv)：1μΩ　　測量(liang)電流：＞100A/DC　　測量(liang)精度(du)：0.5級　　顯(xian)示(shi)方式：液(ye)晶顯(xian)示(shi)、結(jie)果打(da)印(yin)

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
可調回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

可調回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀對(dui)此我廠(chang)按(an)新(xin)規(gui)程要(yao)求(qiu)設計開發(fa)出(chu)新(xin)壹(yi)代智能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀產品(pin)，適用於(yu)測(ce)試(shi)高(gao)低壓(ya)開關的主觸頭(tou)接(jie)觸電(dian)阻(zu)值，高(gao)低壓(ya)電(dian)纜(lan)線路的直(zhi)流電阻(zu)值等

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
回(hui)路電阻(zu)自(zi)動測(ce)試(shi)儀

回(hui)路電阻(zu)自(zi)動測(ce)試(shi)儀各(ge)種開關設備導(dao)電(dian)回路電阻(zu)的測量(liang)，其(qi)測試(shi)電(dian)流不(bu)得小於(yu)100A。對(dui)此我廠(chang)按(an)新(xin)規(gui)程要(yao)求(qiu)設計開發(fa)出(chu)新(xin)壹(yi)代智能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀產品(pin)，適用於(yu)測(ce)試(shi)高(gao)低壓(ya)開關的主觸頭(tou)接(jie)觸電(dian)阻(zu)值

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
智(zhi)能(neng)型(xing)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

智(zhi)能(neng)型(xing)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀　測(ce)量電流：＞100A/DC　　測量(liang)精度(du)：0.5級　　顯(xian)示(shi)方式：液(ye)晶顯(xian)示(shi)、結(jie)果打(da)印(yin) 　　工(gong)作溫(wen)度：-10℃~50℃

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀廠(chang)家(jia)

高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀　　測(ce)量電流：＞100A/DC　　測量(liang)精度(du)：0.5級　　顯(xian)示(shi)方式：液(ye)晶顯(xian)示(shi)、結(jie)果打(da)印(yin) 　　工(gong)作溫(wen)度：-10℃~50℃

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀-JD－100A/200

回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀-JD－100A/200JD產品(pin)采用GB763－90所推(tui)薦的直(zhi)流100A測試(shi)電(dian)流，符合(he)IEC694—84、IEC56對(dui)測試(shi)回(hui)路電阻(zu)的要(yao)求(qiu)。Ⅱ型(xing)屬(shu)改(gai)進(jin)型(xing)。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD-100A/200A回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

JD-100 A回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀是(shi)我廠(chang)生(sheng)產的數字化(hua)微歐(ou)級工(gong)業(ye)儀表(biao)，是(shi)電力(li)、電(dian)器(qi)等生(sheng)產部(bu)門迫(po)切(qie)需要(yao)的測試(shi)儀器(qi)，產品(pin)設計新(xin)穎，使於室(shi)內和(he)經(jing)常(chang)流動的測試(shi)場(chang)合。JD產品(pin)采用GB763－90所推(tui)薦的直(zhi)流100A測試(shi)電(dian)流，符合(he)IEC694—84、IEC56對(dui)測試(shi)回(hui)路電阻(zu)的要(yao)求(qiu)。Ⅱ型(xing)屬(shu)改(gai)進(jin)型(xing)。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD-100A高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

JD-100A高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀大(da)大減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD-100A回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

JD-100智(zhi)能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀采(cai)用100A恒(heng)流輸(shu)出(chu)。Z高(gao)輸(shu)出(chu)電壓(ya)達(da)10V（常(chang)規(gui)儀器(qi)的2-3倍）可采用載(zai)面(mian)細(xi)的測試(shi)線，大大(da)減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD-100/200A高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

JD-100/200A高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀可采用載(zai)面(mian)細(xi)的測試(shi)線，大大(da)減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)，結(jie)果打(da)印(yin)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD100/200A回(hui)路測試(shi)儀

JD-100/200A回(hui)路測試(shi)儀技(ji)術指(zhi)標測(ce)量範(fan)圍(wei)： 0-1999 μΩ 分(fen)辨(bian)率(lv)： 1 μΩ 測量(liang)電流：＞ 100A/DC 測量(liang)精度(du)： 0.5 級顯(xian)示(shi)方式：液(ye)晶顯(xian)示(shi)、結(jie)果打(da)印(yin) 工(gong)作溫(wen)度： -10 ℃ ~50 ℃ 工(gong)作電(dian)流： AC220V ± 10%

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD-100/200A回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

JD-100A 智(zhi)能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀采(cai)用 100A 恒(heng)流輸(shu)出(chu)。Z高(gao)輸(shu)出(chu)電壓(ya)達(da) 10V （常(chang)規(gui)儀器(qi)的 2-3 倍）可采用載(zai)面(mian)細(xi)的測試(shi)線，大大(da)減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)，結(jie)果打(da)印(yin)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
JD-100/200A回(hui)路測試(shi)儀

JD-100A 智(zhi)能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀采(cai)用 100A 恒(heng)流輸(shu)出(chu)。Z高(gao)輸(shu)出(chu)電壓(ya)達(da) 10V （常(chang)規(gui)儀器(qi)的 2-3 倍）可采用載(zai)面(mian)細(xi)的測試(shi)線，大大(da)減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)，結(jie)果打(da)印(yin)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

更新(xin)時(shi)間：2024-05-07
高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

JD-200A高(gao)壓(ya)開關回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀可采用載(zai)面(mian)細(xi)的測試(shi)線，大大(da)減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)，結(jie)果打(da)印(yin)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

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回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀廠(chang)家(jia)

JD-100A 智(zhi)能(neng)回(hui)路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀采(cai)用 100A 恒(heng)流輸(shu)出(chu)。Z高(gao)輸(shu)出(chu)電壓(ya)達(da) 10V （常(chang)規(gui)儀器(qi)的 2-3 倍）可采用載(zai)面(mian)細(xi)的測試(shi)線，大大(da)減(jian)輕了現場(chang)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)的勞(lao)動強度。測(ce)試(shi)過(guo)程全部(bu)由單片(pian)控(kong)制(zhi)自(zi)動實(shi)施，精度(du)高(gao)，復測(ce)性(xing)好(hao)，單按鍵操(cao)作，簡(jian)單易(yi)行(xing)，測試(shi)數(shu)據液(ye)晶顯(xian)示(shi)，結(jie)果打(da)印(yin)。適用於(yu)不(bu)同(tong)的工(gong)作環境。

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