SDDL-2014電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)儀

簡(jian)單(dan)介(jie)紹 本(ben)目(mu)錄是(shi)上海(hai)徐吉(ji)電(dian)氣(qi)有(you)限(xian)公司(si)為(wei)您精選(xuan)的SDDL-2014電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)儀產(chan)品(pin)，歡(huan)迎您該產(chan)品(pin)的詳(xiang)細信(xin)息(xi)！的種(zhong)類(lei)有(you)很(hen)多(duo)，不同(tong)的(de)應(ying)用也(ye)會(hui)有(you)細(xi)微(wei)的差別，本(ben)公司(si)為(wei)您提(ti)供*的(de)解決方案。

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SDDL-2014電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)儀的(de)詳(xiang)細介(jie)紹

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SDDL-2014電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)儀

簡(jian)介(jie)
系(xi)統(tong)組(zu)成(cheng) 
電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)管理(li)系(xi)統(tong)由測試(shi)系(xi)統(tong)、路(lu)徑信(xin)號(hao)產(chan)生(sheng)器(qi)、路(lu)徑信(xin)號(hao)接(jie)收(shou)器(qi)和(he)定(ding)位(wei)儀器(qi)幾(ji)部(bu)分組成(cheng)，可完(wan)成(cheng)電(dian)纜(lan)故(gu)障的(de)測試(shi)和電(dian)纜(lan)資料的(de)管(guan)理(li)兩項任(ren)務。
筆(bi)記(ji)本(ben)電(dian)腦(nao)進行(xing)測量(liang)控(kong)制、數據處理和(he)電(dian)纜(lan)資料管(guan)理(li)。
故(gu)障測試(shi)系(xi)統(tong)與(yu)筆(bi)記(ji)本(ben)配合可在(zai)故(gu)障電(dian)纜(lan)壹端(duan)測出(chu)故(gu)障點(dian)距測試(shi)端(duan)的(de)距(ju)離(li)，也(ye)可用來測量(liang)電(dian)纜(lan)的長度(du)和(he)電(dian)波在電(dian)纜(lan)中的傳播速(su)度。
路(lu)徑信(xin)號(hao)產(chan)生(sheng)器(qi)可產(chan)生(sheng)15KHZ、zui大幅(fu)度(du)30V的(de)斷(duan)續(xu)正弦波信(xin)號(hao)，用於尋測電(dian)纜(lan)路(lu)徑。
路(lu)徑信(xin)號(hao)接(jie)收(shou)器(qi)用來接收(shou)路(lu)徑信(xin)號(hao)，查找電(dian)纜(lan)走(zou)向(xiang)和(he)估(gu)測電(dian)纜(lan)埋設深(shen)度(du)。
定(ding)位(wei)儀用於故(gu)障點(dian)的定位(wei)。

SDDL-2014電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)儀技術性(xing)能
●可測試(shi)各種(zhong)電(dian)力(li)電(dian)纜(lan)的各類(lei)故(gu)障及(ji)通信(xin)電(dian)纜(lan)和市話(hua)電(dian)纜(lan)的開路(lu)、短路(lu)故(gu)障。 
●可測量(liang)長(chang)度已(yi)知(zhi)的(de)任(ren)何(he)電(dian)纜(lan)中電(dian)波傳播的(de)速度(du)。
●測試(shi)距離(li)：不小(xiao)於40千米(mi) 
●系(xi)統(tong)誤差：小於(yu)0.5米(mi) 
●采樣頻(pin)率：25MHz 
●測試(shi)盲區(qu)：小於(yu)5米 
●電(dian)源(yuan)：交流(liu)220V±10％
2、路(lu)徑儀信(xin)號(hao)產(chan)生(sheng)器(qi)。
●信(xin)號(hao)頻(pin)率：15KHz 
●振蕩方式：斷(duan)續(xu)
●輸(shu)出功率：30W
●電(dian)源(yuan)：220V±10％ 
定位(wei)儀
測試(shi)靈敏(min)度(du)：50Ω內(nei)阻(zu)的(de)信(xin)號(hao)源(yuan)輸(shu)出300Hz信(xin)號(hao)，定(ding)點儀在(zai)維持(chi)輸(shu)出為(wei)2V、信(xin)雜比優(you)於(yu)20：1的情況下輸(shu)入(ru)信(xin)號(hao)不(bu)大於(yu)10 μV。 
●輸(shu)入(ru)阻(zu)抗(kang)：不(bu)小於(yu)1.2KΩ。  ●使(shi)用2×2000Ω耳(er)機(ji)。 
●工作電(dian)壓(ya)：9V±10％。  ●使(shi)用環境(jing)溫度(du)：-10℃～40℃ 

按(an)下控(kong)制面(mian)板(ban)上的(de)控(kong)制開關(guan)，啟(qi)動工控(kong)機。後(hou)打開電(dian)源(yuan)開關(guan)，啟(qi)動WindowsXP後，雙擊桌面(mian)上(shang)的測試(shi)管理(li)系(xi)統(tong)，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)主(zhu)控(kong)界面(mian)如右圖(tu)。（如使(shi)用外接筆(bi)記(ji)本(ben)則不要打開控(kong)制開關(guan)，將(jiang)USB線插(cha)入(ru)下側(ce)USB接口(kou)，則可控(kong)測試(shi)系(xi)統(tong)。）上(shang)側(ce)USB是(shi)內置(zhi)工控(kong)機數據輸(shu)入(ru)輸(shu)出接(jie)口(kou)<按(an)“測試(shi)”按(an)鈕進入(ru)測試(shi)方式；按(an)“管理”按(an)鈕進入(ru)電(dian)纜(lan)資料和(he)測試(shi)資料(liao)的(de)日(ri)常(chang)管理(li)；按(an)“幫助(zhu)”進入(ru)幫助(zhu)系(xi)統(tong)；按(an)“結束”退出(chu)測試(shi)管理(li)系(xi)統(tong)。



*部(bu)分 電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)
壹、測試(shi)原(yuan)理 
本(ben)儀器(qi)采用時(shi)域(yu)反射(she)（TDR）原(yuan)理，對被測電(dian)纜(lan)發射壹系(xi)列電(dian)脈沖，並接(jie)收(shou)電(dian)纜(lan)中因(yin)阻(zu)抗(kang)變(bian)化(hua)引起(qi)的反(fan)射脈沖，再根(gen)據電(dian)波在電(dian)纜(lan)中的傳播速(su)度和(he)兩次反(fan)射波的特征拐點代(dai)表的(de)時(shi)間(jian)，可測出(chu)故(gu)障點(dian)到測試(shi)端(duan)的(de)距(ju)離(li)為(wei)：
S=VT/2
式中(zhong)：S代(dai)表故(gu)障點(dian)到測試(shi)端(duan)的(de)距(ju)離(li)
V代(dai)表電(dian)波在電(dian)纜(lan)中的傳播速(su)度
T代(dai)表電(dian)波在電(dian)纜(lan)中來回(hui)傳播所(suo)需要(yao)的(de)時(shi)間(jian)
這樣，在(zai)V已(yi)知(zhi)和(he)T已(yi)經(jing)測出(chu)的情況下，就(jiu)可計算出(chu)故(gu)障點(dian)距測試(shi)。端(duan)的(de)距(ju)離(li)S 。這壹切(qie)只(zhi)需稍加(jia)人工幹(gan)預，就(jiu)可由計算機(ji)自動完成(cheng)，測試(shi)故(gu)障迅(xun)速準確。
二、測試(shi)系(xi)統(tong)控(kong)制面(mian)板(ban)介(jie)紹
測試(shi)面(mian)板(ban)可分(fen)為(wei)四部(bu)分(fen)：菜單(dan)欄(lan)、狀態欄(lan)、圖(tu)形顯示區(qu)、功能(neng)鍵(jian)區(qu)。
１、菜單(dan)欄(lan) 
菜單(dan)欄(lan)包(bao)括(kuo)：“數據管理”和(he)“測試(shi)幫助(zhu)”兩個菜單(dan)項(xiang)。
“數據管理”菜單(dan)：包(bao)括(kuo)“打印”，“讀(du)盤”，“存(cun)盤(pan)”，“結束”四個(ge)菜單(dan)項(xiang)。
    選(xuan)擇“打印(yin)”可將(jiang)屏幕(mu)顯(xian)示(shi)內容用打印機打(da)印(yin)出(chu)來；選(xuan)“存(cun)盤(pan)”可將(jiang)測試(shi)的波形和數據存(cun)儲(chu)於電(dian)腦(nao)的硬盤(pan)或者軟盤(pan)中(zhong)，作為(wei)資料(liao)保存(cun)；選(xuan)“讀(du)盤”可調出以(yi)前測試(shi)時(shi)存(cun)在(zai)磁(ci)盤(pan)內(nei)的波形；選(xuan)“結束”可退(tui)出(chu)該控(kong)制面(mian)板(ban)。
“測試(shi)幫助(zhu)”：點(dian)擊該菜單(dan)，可顯(xian)示(shi)測試(shi)管理(li)系(xi)統(tong)的(de)使(shi)用說明書，可打(da)印(yin)輸(shu)出。
2、狀態欄(lan)
狀態欄(lan)裏顯示(shi)四個(ge)方面(mian)的(de)信(xin)息(xi)，zui左邊(bian)是(shi)測試(shi)方式；第(di)二個(ge)是(shi)選(xuan)擇的電(dian)纜(lan)介(jie)質(zhi)所(suo)對應電(dian)波速度(du)（若(ruo)是(shi)測速(su)度，則不顯示介(jie)質(zhi)信(xin)息(xi)）第三(san)個是(shi)故(gu)障距(ju)離(li)（或電(dian)纜(lan)長度），右邊(bian)顯(xian)示(shi)測試(shi)日(ri)期。3、圖(tu)形顯示區(qu)
圖形顯示區(qu)用來顯示采樣所(suo)得(de)的(de)波形，對波形進行(xing)分(fen)析處理和(he)顯(xian)示處理結果。
4、功能(neng)鍵(jian)區(qu)
功能(neng)鍵(jian)區(qu)由14個(ge)按(an)鍵(jian)組成(cheng)，可分(fen)為(wei)三類(lei)。
初(chu)始(shi)化(hua)數據：包(bao)括(kuo)測試(shi)方法(fa)和介(jie)質(zhi)選(xuan)擇兩個鍵(jian)。
測試(shi)方法(fa)：有兩種(zhong)選(xuan)擇，“測故(gu)障”和(he)“測速(su)度”。
基本的(de)測試(shi)方法(fa)有三(san)種(zhong)， “低壓脈沖”，“沖閃(shan)”，“直(zhi)閃(shan)”。
“低壓脈沖”包(bao)括(kuo)有“2μs”和“0.2μs”兩種(zhong)脈寬可選(xuan)擇；“沖閃(shan)”包(bao)括(kuo)“電(dian)感(gan)電(dian)壓(ya)取(qu)樣”，“電(dian)阻(zu)電(dian)壓(ya)取(qu)樣”，“電(dian)流(liu)取(qu)樣”三(san)個(ge)菜單(dan)項(xiang)；“直(zhi)閃(shan)”包(bao)括(kuo)“電(dian)壓(ya)取(qu)樣”“電(dian)流(liu)取(qu)樣”兩個菜單(dan)項(xiang)。
介(jie)質(zhi)選(xuan)擇：
程序(xu)初(chu)始(shi)化(hua)時(shi)設置(zhi)為(wei)：“油浸(jin)紙(zhi)型(xing)”，如果(guo)是(shi)其他介(jie)質(zhi)的(de)電(dian)纜(lan)，可根(gen)據電(dian)纜(lan)的介(jie)質(zhi)選(xuan)擇。共(gong)有(you)五(wu)選(xuan)項：“油(you)浸紙(zhi)型(xing)”，“不(bu)滴(di)流(liu)型(xing)”，“交(jiao)聯乙(yi)烯”，“聚(ju)氯乙(yi)烯”，“自(zi)選(xuan)介(jie)質(zhi)”五(wu)個(ge)菜單(dan)項(xiang) 。


選(xuan)擇其中壹個(ge)菜單(dan)項(xiang)就(jiu)等(deng)於(yu)選(xuan)擇壹種(zhong)速度(du)，即(ji)電(dian)波在該電(dian)纜(lan)中的傳播速(su)度。
數據采樣與(yu)測試(shi)：共(gong)有(you)八(ba)個(ge)按(an)鍵(jian)。

“采樣”鍵(jian)：在系(xi)統(tong)測試(shi)時(shi)采用。每按(an)動壹次(ci)“采樣”鍵(jian)，系(xi)統(tong)便(bian)采集壹(yi)次(ci)數據，並可以(yi)在圖(tu)形顯示區(qu)繪出(chu)波形圖來。
“擴(kuo)展(zhan)”鍵(jian)：為(wei)了(le)計算故(gu)障距(ju)離(li)，按(an)此鍵(jian)可將(jiang)顯示(shi)的(de)波形擴展(zhan)後再計算。每(mei)按(an)壹次波形擴展(zhan)壹倍(bei)，按(an)四次(ci)為(wei)壹個(ge)循環。
“卷動”鍵(jian)：波形擴展(zhan)後，故(gu)障點(dian)特征波形可能(neng)會(hui)出於(yu)*屏以(yi)外的(de)其它屏內，按(an)此鍵(jian)可將(jiang)顯示(shi)內(nei)容壹(yi)屏壹屏地(di)向(xiang)左移動，直(zhi)到(dao)故(gu)障波形在屏顯示出來，便(bian)在光標定位(wei)。
“歸(gui)位(wei)”鍵(jian)：需要光標快速(su)回(hui)到(dao)屏幕(mu)zui左端(duan)時(shi)按(an)此鍵(jian)。
“定位(wei)”鍵(jian)：計算距(ju)離(li)起(qi)點鍵(jian)。在光標移動到(dao)特征波形的起(qi)始(shi)拐點處按(an)此鍵(jian)。
“左移”鍵(jian)和“右移”鍵(jian)：這兩個鍵(jian)用於控(kong)制光(guang)標的左右移動。當(dang)按(an)動它們(men)時(shi)，遊(you)標移動，每(mei)按(an)壹次移動壹(yi)個單(dan)位(wei)。此外(wai)，為(wei)了(le)快(kuai)速(su)移動遊(you)標，可以(yi)用鼠標拖動遊(you)標，到合(he)適的位(wei)置松開即(ji)可。
“復位(wei)”鍵(jian)：系(xi)統(tong)復位(wei)鍵(jian)。無論系(xi)統(tong)處於何(he)種(zhong)狀態，按(an)此鍵(jian)均可進入(ru)系(xi)統(tong)主(zhu)界面(mian)。
波形比較(jiao)：有(you)四個(ge)鍵(jian)。
“儲(chu)存(cun)”鍵(jian)：按(an)此鍵(jian)可將(jiang)測試(shi)的波形和數據存(cun)儲(chu)於電(dian)腦(nao)中。（“存(cun)儲(chu)”與“存(cun)盤(pan)”不同。“存(cun)盤(pan)”是(shi)將(jiang)數據存(cun)儲(chu)在磁(ci)盤(pan)上(shang)，可長(chang)期保存(cun)，而“存(cun)儲(chu)”只是(shi)將(jiang)數據存(cun)儲(chu)在電(dian)腦(nao)內存(cun)中(zhong)，關機後數據會丟失(shi)。）
“調用”鍵(jian)：與“存(cun)儲(chu)”鍵(jian)配合使(shi)用。按(an)此鍵(jian)可在(zai)屏幕(mu)上(shang)顯(xian)示上次存(cun)儲(chu)的內(nei)容，以(yi)便分(fen)析(xi)與(yu)計算。
“比較(jiao)”鍵(jian)：按(an)此鍵(jian)可將(jiang)現(xian)測的(de)波形和儀器(qi)內(nei)存(cun)儲(chu)的波形同時(shi)顯示在(zai)屏幕(mu)上(shang)，用戶可對這兩幅波形進行(xing)比較(jiao)分(fen)析。
“平移”鍵(jian)：按(an)此鍵(jian)進入(ru)圖形左右移動功能(neng)，點“左移”鍵(jian)可將(jiang)兩個波形的起(qi)點對齊(qi)。