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SDDL-2014智能電纜分析(xi)故障測試儀簡(jian)介(jie)
系統組(zu)成(cheng)
電纜故障測試管理系(xi)統由(you)測試系統、路徑信號產生(sheng)器、路徑信號接收器和定(ding)位儀器幾部(bu)分(fen)組(zu)成(cheng)，可完成(cheng)電纜故障的(de)測試和電纜資(zi)料(liao)的(de)管理兩(liang)項(xiang)任(ren)務(wu)。
筆(bi)記本電腦(nao)進(jin)行(xing)測量(liang)控制、數據(ju)處(chu)理和電纜資(zi)料(liao)管理。
故障測試系統與筆(bi)記(ji)本配(pei)合可在故障電纜壹(yi)端測出故障點(dian)距(ju)測試端的距(ju)離，也(ye)可用來測量(liang)電纜的長(chang)度(du)和電波在電纜中(zhong)的傳(chuan)播速度。
路徑信號產生(sheng)器可產生(sheng)15KHZ、zui大(da)幅度30V的(de)斷(duan)續正弦(xian)波信號，用於(yu)尋(xun)測電纜路徑。
路徑信號接收器用來接收路徑信號，查(zha)找電纜走(zou)向(xiang)和估(gu)測電纜埋設(she)深(shen)度。
定(ding)位儀用於(yu)故障點(dian)的定(ding)位。
技(ji)術(shu)性(xing)能
●可測試各種(zhong)電力電纜的各類故障及(ji)通信電纜和市(shi)話(hua)電纜的開(kai)路、短路故障。
●可測量(liang)長(chang)度(du)已知(zhi)的任(ren)何(he)電纜中(zhong)電波傳(chuan)播的速度。
●測試距(ju)離：不(bu)小(xiao)於(yu)40千(qian)米
●系統誤差(cha)：小(xiao)於(yu)0.5米
●采(cai)樣(yang)頻(pin)率(lv)：25MHz
●測試盲區(qu)：小(xiao)於(yu)5米
●電源：交(jiao)流(liu)220V±10％
2、路徑儀信號產生(sheng)器。
●信號頻(pin)率(lv)：15KHz
●振蕩方式：斷(duan)續
●輸(shu)出功率(lv)：30W
●電源：220V±10％
定位儀
測試靈敏度(du)：50Ω內阻的信號源(yuan)輸(shu)出300Hz信號，定(ding)點儀在(zai)維(wei)持(chi)輸(shu)出為(wei)2V、信雜(za)比優(you)於(yu)20：1的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)輸(shu)入信號不(bu)大於(yu)10 μV。
●輸(shu)入阻抗：不(bu)小(xiao)於(yu)1.2KΩ。 ●使(shi)用2×2000Ω耳機(ji)。
●工(gong)作電壓(ya)：9V±10％。 ●使(shi)用環境溫(wen)度：-10℃～40℃
按(an)下(xia)控制面(mian)板(ban)上的控制開關，啟動(dong)工(gong)控機。後打(da)開電源開關(guan)，啟動(dong)WindowsXP後(hou)，雙擊桌(zhuo)面(mian)上的測試管理系(xi)統，屏幕顯示主控界面(mian)如右(you)圖(tu)。（如使(shi)用外(wai)接筆記(ji)本則不(bu)要打(da)開控制開關，將(jiang)USB線(xian)插(cha)入下(xia)側(ce)USB接口，則可控測試系統。）上側(ce)USB是內置工控機數據(ju)輸(shu)入輸(shu)出接口<按(an)“測試”按(an)鈕(niu)進(jin)入測試方式；按(an)“管理”按(an)鈕(niu)進(jin)入電纜資(zi)料(liao)和測試資(zi)料(liao)的(de)日(ri)常(chang)管理；按(an)“幫(bang)助(zhu)”進(jin)入幫(bang)助(zhu)系統；按(an)“結(jie)束”退出(chu)測試管理系(xi)統。
*部(bu)分 電纜故障測試
壹(yi)、測試原理
本儀(yi)器采(cai)用時(shi)域(yu)反(fan)射(she)（TDR）原理，對被測電纜發射壹(yi)系列電脈(mai)沖(chong)，並(bing)接收電纜中(zhong)因(yin)阻抗變(bian)化(hua)引起(qi)的(de)反(fan)射(she)脈(mai)沖(chong)，再(zai)根(gen)據(ju)電波在電纜中(zhong)的傳(chuan)播速度和兩(liang)次(ci)反(fan)射(she)波的特(te)征拐(guai)點代(dai)表的(de)時(shi)間(jian)，可測出故障點(dian)到(dao)測試端的距(ju)離為(wei)：
S=VT/2
式中(zhong)：S代表(biao)故障點(dian)到(dao)測試端的距(ju)離
V代(dai)表電波在電纜中(zhong)的傳(chuan)播速度
T代表(biao)電波在電纜中(zhong)來回(hui)傳(chuan)播所需(xu)要的時(shi)間(jian)
這(zhe)樣(yang)，在V已知(zhi)和T已(yi)經測出的情(qing)況(kuang)下(xia)，就(jiu)可計算(suan)出(chu)故障點(dian)距(ju)測試。端的距(ju)離S 。這(zhe)壹(yi)切只需(xu)稍加人工幹(gan)預(yu)，就(jiu)可由計算(suan)機(ji)自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)，測試故障迅(xun)速準確。
二、測試系統控制面(mian)板(ban)介(jie)紹(shao)
測試面(mian)板(ban)可分為四(si)部(bu)分：菜單欄(lan)、狀(zhuang)態欄(lan)、圖形顯示區、功能鍵區。
１、菜單欄(lan)
菜單欄(lan)包(bao)括：“數(shu)據(ju)管理”和“測試幫(bang)助(zhu)”兩個(ge)菜單項(xiang)。
“數(shu)據(ju)管理”菜單：包(bao)括“打(da)印”，“讀(du)盤(pan)”，“存盤(pan)”，“結(jie)束”四個(ge)菜單項(xiang)。
選(xuan)擇“打(da)印”可將屏幕顯示內容(rong)用打(da)印機(ji)打(da)印出(chu)來(lai)；選(xuan)“存盤(pan)”可將測試的波形和數(shu)據(ju)存儲(chu)於(yu)電腦(nao)的硬(ying)盤或者軟盤中(zhong)，作為(wei)資(zi)料(liao)保存；選(xuan)“讀(du)盤(pan)”可調(tiao)出(chu)以(yi)前(qian)測試時(shi)存在(zai)磁盤內的波形；選(xuan)“結(jie)束”可退出該(gai)控制面(mian)板(ban)。
“測試幫(bang)助(zhu)”：點擊(ji)該菜單，可顯示測試管理系(xi)統的(de)使(shi)用說(shuo)明書，可打(da)印輸(shu)出。
2、狀(zhuang)態欄(lan)
狀態欄(lan)裏顯示四個(ge)方面(mian)的信息(xi)，zui左邊(bian)是(shi)測試方式；第(di)二個(ge)是選(xuan)擇的電纜介(jie)質(zhi)所對應電波速度（若(ruo)是(shi)測速度，則不(bu)顯示介(jie)質(zhi)信息(xi)）第(di)三個(ge)是(shi)故障距(ju)離（或(huo)電纜長度(du)），右(you)邊(bian)顯示測試日期。3、圖(tu)形(xing)顯示區
圖(tu)形顯示區用來顯示采(cai)樣(yang)所得(de)的(de)波形，對波形進(jin)行(xing)分析(xi)處(chu)理和顯示處(chu)理結(jie)果(guo)。
4、功能鍵區
功能鍵區由(you)14個按(an)鍵組(zu)成(cheng)，可分為三類(lei)。
初(chu)始(shi)化(hua)數據(ju)：包(bao)括測試方法和介(jie)質(zhi)選(xuan)擇兩個(ge)鍵。
測試方法：有(you)兩種(zhong)選(xuan)擇，“測故障”和“測速度”。
基(ji)本的(de)測試方法有(you)三種(zhong)， “低壓(ya)脈(mai)沖(chong)”，“沖(chong)閃”，“直(zhi)閃”。
“低壓(ya)脈(mai)沖(chong)”包(bao)括有(you)“2μs”和“0.2μs”兩(liang)種(zhong)脈(mai)寬(kuan)可選(xuan)擇；“沖(chong)閃”包(bao)括“電感電壓(ya)取樣(yang)”，“電阻電壓(ya)取樣(yang)”，“電流(liu)取樣(yang)”三個(ge)菜單項(xiang)；“直(zhi)閃”包(bao)括“電壓(ya)取樣(yang)”“電流(liu)取樣(yang)”兩個菜單項(xiang)。
介(jie)質(zhi)選(xuan)擇：
程(cheng)序(xu)初始(shi)化(hua)時(shi)設(she)置為：“油(you)浸(jin)紙型”，如(ru)果(guo)是其他(ta)介(jie)質(zhi)的電纜，可根據(ju)電纜的介(jie)質(zhi)選(xuan)擇。共有五選(xuan)項(xiang)：“油(you)浸(jin)紙型”，“不(bu)滴流(liu)型”，“交(jiao)聯(lian)乙(yi)烯(xi)”，“聚(ju)氯乙(yi)烯(xi)”，“自(zi)選(xuan)介(jie)質(zhi)”五個(ge)菜單項(xiang) 。
選(xuan)擇其中(zhong)壹(yi)個菜單項(xiang)就(jiu)等(deng)於(yu)選(xuan)擇壹(yi)種(zhong)速度，即電波在該(gai)電纜中(zhong)的傳(chuan)播速度。
數據(ju)采(cai)樣(yang)與測試：共有八個按(an)鍵。
“采(cai)樣(yang)”鍵：在系(xi)統測試時(shi)采(cai)用。每按(an)動(dong)壹(yi)次“采(cai)樣(yang)”鍵，系統便采(cai)集壹(yi)次數據(ju)，並(bing)可以在圖(tu)形(xing)顯示區繪(hui)出波形圖(tu)來(lai)。
“擴展”鍵：為了(le)計算(suan)故障距(ju)離，按(an)此(ci)鍵可將顯示的波形擴(kuo)展(zhan)後再(zai)計算(suan)。每(mei)按(an)壹(yi)次波形擴(kuo)展(zhan)壹(yi)倍，按(an)四(si)次為壹(yi)個循環。
“卷動(dong)”鍵：波形擴(kuo)展(zhan)後，故障點(dian)特征波形可能會出於(yu)*屏以外(wai)的(de)其它(ta)屏內，按(an)此(ci)鍵可將顯示內容(rong)壹(yi)屏壹(yi)屏地向(xiang)左移動(dong)，直(zhi)到(dao)故障波形在(zai)屏顯示出來(lai)，便在光(guang)標(biao)定位。
“歸位”鍵：需(xu)要光(guang)標(biao)快速回到(dao)屏幕zui左端時(shi)按(an)此(ci)鍵。
“定位”鍵：計算(suan)距(ju)離起(qi)點(dian)鍵。在光(guang)標(biao)移動(dong)到(dao)特征波形的(de)起(qi)始(shi)拐(guai)點處(chu)按(an)此(ci)鍵。
“左移”鍵和“右(you)移(yi)”鍵：這(zhe)兩(liang)個(ge)鍵用於(yu)控制光(guang)標(biao)的左右(you)移(yi)動(dong)。當(dang)按(an)動(dong)它(ta)們(men)時(shi)，遊(you)標(biao)移動(dong)，每(mei)按(an)壹(yi)次移動(dong)壹(yi)個單位。此外(wai)，為(wei)了(le)快速移動(dong)遊(you)標(biao)，可以用鼠(shu)標(biao)拖動(dong)遊(you)標(biao)，到(dao)合適(shi)的(de)位置松(song)開即可。
“復位”鍵：系統復(fu)位鍵。無論系統處(chu)於(yu)何(he)種(zhong)狀態，按(an)此(ci)鍵均可進(jin)入系統主(zhu)界面(mian)。
波形比(bi)較(jiao)：有四個(ge)鍵。
“儲存”鍵：按(an)此(ci)鍵可將測試的波形和數(shu)據(ju)存儲(chu)於(yu)電腦(nao)中(zhong)。（“存儲(chu)”與“存盤(pan)”不同。“存盤(pan)”是將數據(ju)存儲(chu)在磁盤上，可長期保存，而(er)“存儲(chu)”只是(shi)將(jiang)數據(ju)存儲(chu)在電腦(nao)內存中(zhong)，關機(ji)後(hou)數據(ju)會丟(diu)失。）
“調(tiao)用”鍵：與“存儲(chu)”鍵配合使(shi)用。按(an)此(ci)鍵可在屏幕上顯示上次存儲(chu)的內容(rong)，以(yi)便分析(xi)與計算(suan)。
“比(bi)較”鍵：按(an)此(ci)鍵可將現測的波形和儀(yi)器內存儲(chu)的波形同(tong)時(shi)顯示在屏幕上，用戶可對這(zhe)兩(liang)幅波形進(jin)行(xing)比較(jiao)分(fen)析(xi)。
“平(ping)移”鍵：按(an)此(ci)鍵進(jin)入圖形(xing)左右(you)移(yi)動(dong)功能，點“左移”鍵可將兩個(ge)波形的(de)起(qi)點(dian)對齊。
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