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        1. 聯系(xi)我(wo)們

          SDDL-2014高(gao)壓(ya)電纜故障測試(shi)儀

          簡(jian)單介(jie)紹 本(ben)目錄(lu)是(shi)上(shang)海徐吉(ji)電氣有限公(gong)司(si)為(wei)您精選(xuan)的SDDL-2014高(gao)壓(ya)電纜故障測試(shi)儀產品(pin),歡迎您該(gai)產品(pin)的詳(xiang)細(xi)信息!的種(zhong)類(lei)有很多(duo),不(bu)同(tong)的應用也會(hui)有細(xi)微(wei)的差(cha)別(bie),本(ben)公司(si)為(wei)您提供*的解(jie)決(jue)方(fang)案。

          • 更(geng)新時(shi)間:2024-04-27
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          • 廠(chang)商(shang)性(xing)質(zhi):生產廠(chang)家(jia)
          • 產   地:上(shang)海寶山(shan)
          產品(pin)詳(xiang)細(xi)介(jie)紹

          SDDL-2014高(gao)壓(ya)電纜故障測試(shi)儀的詳(xiang)細(xi)介(jie)紹

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          SDDL-2014高(gao)壓(ya)電纜故障測試(shi)儀

          簡(jian)介(jie)
          系統(tong)組(zu)成 
          電纜故障測試(shi)管(guan)理系(xi)統(tong)由(you)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)、路徑(jing)信號產生(sheng)器、路徑(jing)信號接(jie)收器(qi)和定位儀器幾(ji)部分組(zu)成,可(ke)完(wan)成電纜故障的測試(shi)和電(dian)纜資(zi)料(liao)的管(guan)理兩(liang)項(xiang)任(ren)務(wu)。
          筆(bi)記本(ben)電腦(nao)進(jin)行測(ce)量控制、數(shu)據(ju)處(chu)理(li)和電(dian)纜資(zi)料(liao)管(guan)理。
          故(gu)障測試(shi)系(xi)統(tong)與(yu)筆(bi)記本(ben)配合(he)可(ke)在故障電纜壹(yi)端測(ce)出(chu)故(gu)障點距(ju)測試(shi)端(duan)的距(ju)離,也(ye)可(ke)用來測量電纜的長度和電(dian)波(bo)在電纜中的傳播速度。
          路徑(jing)信號產生(sheng)器可(ke)產生(sheng)15KHZ、zui大幅(fu)度30V的斷續(xu)正弦波(bo)信號,用於(yu)尋(xun)測電(dian)纜路徑(jing)。
          路徑(jing)信號接(jie)收器(qi)用來接(jie)收路徑(jing)信號,查(zha)找電纜走向和估(gu)測(ce)電(dian)纜埋(mai)設(she)深(shen)度。
          定位儀用於(yu)故(gu)障點的定位。

          SDDL-2014高(gao)壓(ya)電纜故障測試(shi)儀技(ji)術性(xing)能
          ●可(ke)測試(shi)各(ge)種(zhong)電(dian)力(li)電(dian)纜的各類(lei)故障及(ji)通(tong)信電纜和市(shi)話(hua)電纜的開(kai)路、短(duan)路故(gu)障。 
          ●可(ke)測量長度已知(zhi)的任(ren)何(he)電(dian)纜中電波(bo)傳播的速度。
          ●測試(shi)距(ju)離:不(bu)小於(yu)40千(qian)米 
          ●系(xi)統(tong)誤(wu)差(cha):小於(yu)0.5米 
          ●采(cai)樣頻(pin)率(lv):25MHz 
          ●測試(shi)盲(mang)區:小於(yu)5米 
          ●電(dian)源:交流(liu)220V±10%
          2、路徑(jing)儀信號產生(sheng)器。
          ●信號頻(pin)率(lv):15KHz 
          ●振蕩(dang)方(fang)式:斷續(xu)
          ●輸(shu)出功率:30W
          ●電源:220V±10% 
          定位儀
          測試(shi)靈(ling)敏(min)度:50Ω內阻的信號源輸(shu)出300Hz信號,定點儀在維持輸(shu)出為(wei)2V、信雜比優於(yu)20:1的情況下輸(shu)入信號不(bu)大於(yu)10 μV。 
          ●輸(shu)入阻(zu)抗:不(bu)小於(yu)1.2KΩ。 ●使(shi)用2×2000Ω耳機。 
          ●工(gong)作電壓(ya):9V±10%。 ●使用環境(jing)溫度:-10℃~40℃ 

          按下(xia)控制面板(ban)上(shang)的控制開(kai)關,啟動(dong)工(gong)控(kong)機。後打開(kai)電源開(kai)關,啟動(dong)WindowsXP後,雙(shuang)擊桌面上(shang)的測試(shi)管(guan)理系(xi)統(tong),屏(ping)幕(mu)顯(xian)示主(zhu)控界面如(ru)右圖。(如(ru)使用外接(jie)筆(bi)記本(ben)則不(bu)要(yao)打開(kai)控制開(kai)關,將USB線(xian)插入下側USB接(jie)口,則(ze)可(ke)控測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)。)上(shang)側USB是(shi)內置工(gong)控(kong)機數(shu)據(ju)輸(shu)入輸(shu)出接(jie)口<按(an)“測試(shi)”按(an)鈕進(jin)入測(ce)試(shi)方(fang)式;按“管(guan)理”按(an)鈕進(jin)入電(dian)纜資(zi)料(liao)和測(ce)試(shi)資(zi)料(liao)的日常管(guan)理;按(an)“幫(bang)助(zhu)”進(jin)入幫(bang)助(zhu)系統(tong);按“結(jie)束”退(tui)出測(ce)試(shi)管(guan)理系(xi)統(tong)。



          *部分 電(dian)纜故障測試(shi)
          測(ce)試(shi)原(yuan)理(li) 
          本(ben)儀器采(cai)用時(shi)域(yu)反(fan)射(she)(TDR)原理,對被測電(dian)纜發射(she)壹(yi)系列(lie)電(dian)脈(mai)沖(chong),並(bing)接(jie)收電(dian)纜中因阻抗變(bian)化(hua)引起的反(fan)射(she)脈(mai)沖(chong),再(zai)根(gen)據(ju)電(dian)波(bo)在電纜中的傳播速度和兩(liang)次反(fan)射(she)波(bo)的特征拐點代(dai)表的時(shi)間,可(ke)測出(chu)故(gu)障點到測(ce)試(shi)端(duan)的距(ju)離為(wei):
          S=VT/2
          式(shi)中:S代(dai)表故(gu)障點到測(ce)試(shi)端(duan)的距(ju)離
          V代(dai)表電(dian)波(bo)在電纜中的傳播速度
          T代(dai)表電(dian)波(bo)在電纜中來回傳播所需(xu)要(yao)的時(shi)間
          這樣,在V已知(zhi)和T已經(jing)測出(chu)的情況下,就(jiu)可(ke)計算(suan)出(chu)故(gu)障點距(ju)測試(shi)。端(duan)的距(ju)離S 。這壹(yi)切只(zhi)需(xu)稍加人工(gong)幹預(yu),就(jiu)可(ke)由(you)計(ji)算(suan)機自(zi)動(dong)完(wan)成,測試(shi)故(gu)障迅(xun)速準確(que)。
          二、測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)控制(zhi)面板(ban)介(jie)紹
          測試(shi)面板(ban)可(ke)分為(wei)四(si)部分:菜單欄、狀(zhuang)態欄(lan)、圖形(xing)顯(xian)示區、功能鍵區。
          1、菜單欄 
          菜單欄包(bao)括(kuo):“數(shu)據(ju)管(guan)理”和“測(ce)試(shi)幫(bang)助(zhu)”兩個菜單項(xiang)。
          “數(shu)據(ju)管(guan)理”菜單:包(bao)括(kuo)“打印”,“讀盤(pan)”,“存盤(pan)”,“結(jie)束”四(si)個菜單項(xiang)。
          選擇(ze)“打印”可(ke)將屏(ping)幕(mu)顯(xian)示內容用打印機打印出來;選“存盤(pan)”可(ke)將測(ce)試(shi)的波(bo)形(xing)和數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電(dian)腦(nao)的硬(ying)盤(pan)或者(zhe)軟(ruan)盤(pan)中,作為(wei)資(zi)料(liao)保存(cun);選“讀(du)盤(pan)”可(ke)調(tiao)出以(yi)前(qian)測(ce)試(shi)時(shi)存在磁盤(pan)內的波(bo)形(xing);選(xuan)“結(jie)束”可(ke)退出(chu)該(gai)控(kong)制面板(ban)。
          “測試(shi)幫(bang)助(zhu)”:點擊該(gai)菜單,可(ke)顯(xian)示測(ce)試(shi)管(guan)理系(xi)統(tong)的使用說明(ming)書,可(ke)打印輸(shu)出。
          2、狀(zhuang)態欄(lan)
          狀態(tai)欄(lan)裏顯(xian)示四(si)個方(fang)面的信息,zui左邊(bian)是(shi)測(ce)試(shi)方(fang)式;第二(er)個是選(xuan)擇的電纜介(jie)質所(suo)對應電波(bo)速(su)度(若是測(ce)速度,則不(bu)顯(xian)示介(jie)質信息)第三個是故(gu)障距(ju)離(或(huo)電纜長度),右邊(bian)顯(xian)示測(ce)試(shi)日(ri)期(qi)。3、圖形(xing)顯(xian)示區
          圖形(xing)顯(xian)示區用來顯(xian)示采(cai)樣所得的波(bo)形(xing),對波(bo)形(xing)進(jin)行分(fen)析處(chu)理和顯(xian)示處(chu)理結(jie)果。
          4、功能鍵區
          功能鍵區由(you)14個按鍵組(zu)成,可(ke)分為(wei)三(san)類(lei)。
          初(chu)始(shi)化數(shu)據(ju):包(bao)括(kuo)測(ce)試(shi)方(fang)法(fa)和介(jie)質選(xuan)擇兩個鍵。
          測試(shi)方(fang)法(fa):有兩種(zhong)選(xuan)擇(ze),“測(ce)故(gu)障”和“測(ce)速(su)度”。
          基本(ben)的測試(shi)方(fang)法(fa)有三種(zhong), “低壓(ya)脈(mai)沖(chong)”,“沖(chong)閃”,“直閃”。
          “低壓(ya)脈(mai)沖(chong)”包(bao)括(kuo)有“2μs”和“0.2μs”兩(liang)種(zhong)脈(mai)寬(kuan)可(ke)選擇(ze);“沖(chong)閃”包(bao)括(kuo)“電(dian)感(gan)電壓(ya)取(qu)樣”,“電阻電壓(ya)取(qu)樣”,“電流取(qu)樣”三個菜單項(xiang);“直閃”包(bao)括(kuo)“電(dian)壓(ya)取(qu)樣”“電流取(qu)樣”兩個菜單項(xiang)。
          介(jie)質選(xuan)擇:
          程序初(chu)始(shi)化時(shi)設(she)置為(wei):“油(you)浸紙型(xing)”,如(ru)果(guo)是(shi)其(qi)他介(jie)質的電纜,可(ke)根據(ju)電(dian)纜的介(jie)質選(xuan)擇。共(gong)有五(wu)選項(xiang):“油浸(jin)紙型(xing)”,“不(bu)滴(di)流(liu)型(xing)”,“交聯乙(yi)烯(xi)”,“聚氯(lv)乙(yi)烯(xi)”,“自(zi)選介(jie)質”五(wu)個菜單項(xiang) 。


          選擇(ze)其(qi)中壹(yi)個菜單項(xiang)就(jiu)等於(yu)選(xuan)擇壹(yi)種(zhong)速(su)度,即電(dian)波(bo)在該電纜中的傳播速度。
          數(shu)據(ju)采(cai)樣與(yu)測(ce)試(shi):共(gong)有八(ba)個按鍵。

          “采樣”鍵:在系統(tong)測試(shi)時(shi)采用。每按(an)動(dong)壹(yi)次“采(cai)樣”鍵,系統(tong)便(bian)采(cai)集(ji)壹(yi)次數(shu)據(ju),並(bing)可(ke)以(yi)在圖形(xing)顯(xian)示區繪出(chu)波(bo)形(xing)圖(tu)來。
          “擴展(zhan)”鍵:為(wei)了(le)計算故障距(ju)離,按(an)此鍵可(ke)將顯(xian)示的波(bo)形(xing)擴(kuo)展(zhan)後再(zai)計(ji)算。每按壹(yi)次波(bo)形(xing)擴(kuo)展(zhan)壹(yi)倍,按(an)四(si)次為(wei)壹(yi)個循環(huan)。
          “卷(juan)動(dong)”鍵:波(bo)形(xing)擴(kuo)展(zhan)後,故(gu)障點特征波(bo)形(xing)可(ke)能會出於(yu)*屏(ping)以(yi)外(wai)的其(qi)它屏(ping)內,按此鍵可(ke)將顯(xian)示內容壹(yi)屏(ping)壹(yi)屏(ping)地向左移動(dong),直到故(gu)障波(bo)形(xing)在屏(ping)顯(xian)示出(chu)來,便(bian)在光標定位。
          “歸位”鍵:需要光標快速回到屏(ping)幕(mu)zui左(zuo)端時(shi)按此鍵。
          “定位”鍵:計算距(ju)離起點鍵。在光標移動(dong)到特(te)征波(bo)形(xing)的起始(shi)拐點處按(an)此鍵。
          “左移”鍵和“右移”鍵:這兩個鍵用於(yu)控(kong)制光標的左右移動(dong)。當(dang)按動(dong)它們時(shi),遊標移動(dong),每按(an)壹(yi)次移動(dong)壹(yi)個單位。此外,為(wei)了(le)快速移動(dong)遊標,可(ke)以(yi)用鼠標拖(tuo)動(dong)遊標,到合(he)適的位置松開(kai)即可(ke)。
          “復位(wei)”鍵:系統(tong)復位(wei)鍵。無(wu)論系(xi)統(tong)處於(yu)何(he)種(zhong)狀(zhuang)態(tai),按(an)此鍵均(jun)可(ke)進(jin)入系(xi)統(tong)主界面。
          波(bo)形(xing)比(bi)較:有四(si)個鍵。
          “儲(chu)存(cun)”鍵:按此鍵可(ke)將測(ce)試(shi)的波(bo)形(xing)和數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電(dian)腦(nao)中。(“存儲(chu)”與(yu)“存(cun)盤(pan)”不(bu)同(tong)。“存(cun)盤(pan)”是將數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)在磁盤(pan)上(shang),可(ke)長期(qi)保(bao)存(cun),而“存儲(chu)”只(zhi)是將數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)在電腦(nao)內存中,關機後數(shu)據(ju)會(hui)丟(diu)失(shi)。)
          “調(tiao)用”鍵:與(yu)“存(cun)儲(chu)”鍵配合(he)使用。按此鍵可(ke)在屏(ping)幕(mu)上(shang)顯(xian)示上(shang)次存(cun)儲(chu)的內容,以(yi)便(bian)分(fen)析與(yu)計(ji)算。
          “比較”鍵:按此鍵可(ke)將現(xian)測的波(bo)形(xing)和儀器內存儲(chu)的波(bo)形(xing)同(tong)時(shi)顯(xian)示在屏(ping)幕(mu)上(shang),用戶(hu)可(ke)對這兩幅(fu)波(bo)形(xing)進(jin)行比(bi)較分(fen)析。
          “平(ping)移”鍵:按此鍵進(jin)入圖(tu)形(xing)左(zuo)右移動(dong)功能,點“左移”鍵可(ke)將兩(liang)個波(bo)形(xing)的起點對齊。


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