SDDL-2014高(gao)壓電纜(lan)故(gu)障檢(jian)測(ce)儀(yi)

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SDDL-2014高(gao)壓電纜(lan)故(gu)障檢(jian)測(ce)儀(yi)的(de)詳(xiang)細介(jie)紹(shao)

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SDDL-2014高(gao)壓電纜(lan)故(gu)障檢(jian)測(ce)儀(yi)

簡介(jie)
系(xi)統(tong)組成 
電纜(lan)故(gu)障測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)由(you)測試(shi)系統(tong)、路徑信號(hao)產生器、路徑信號(hao)接(jie)收器和(he)定位(wei)儀(yi)器幾部(bu)分組(zu)成，可完(wan)成電纜(lan)故(gu)障的(de)測(ce)試(shi)和電纜(lan)資料的(de)管(guan)理(li)兩(liang)項(xiang)任務。
筆記本(ben)電腦(nao)進(jin)行測(ce)量(liang)控(kong)制、數(shu)據(ju)處理(li)和(he)電纜(lan)資料管(guan)理(li)。
故(gu)障測試(shi)系(xi)統(tong)與筆記本(ben)配合可在(zai)故障電纜(lan)壹端測出故障點(dian)距測(ce)試(shi)端的(de)距離(li)，也(ye)可用(yong)來測量(liang)電纜(lan)的(de)長(chang)度(du)和(he)電波在(zai)電纜(lan)中的(de)傳(chuan)播速(su)度(du)。
路徑信號(hao)產生器可產生15KHZ、zui大幅(fu)度(du)30V的(de)斷(duan)續(xu)正(zheng)弦波信號(hao)，用(yong)於(yu)尋測(ce)電纜(lan)路徑。
路徑信號(hao)接(jie)收器用(yong)來接(jie)收路徑信號(hao)，查找(zhao)電纜(lan)走向和估(gu)測電纜(lan)埋(mai)設(she)深(shen)度(du)。
定(ding)位(wei)儀(yi)用(yong)於(yu)故(gu)障點(dian)的(de)定(ding)位(wei)。

技術性(xing)能(neng)
●可測試(shi)各(ge)種(zhong)電力電纜(lan)的(de)各(ge)類(lei)故障及(ji)通(tong)信電纜(lan)和(he)市(shi)話(hua)電纜(lan)的(de)開(kai)路、短(duan)路故障。 
●可測量(liang)長(chang)度(du)已知的(de)任何電纜(lan)中電波傳(chuan)播的(de)速(su)度(du)。
●測(ce)試距離(li)：不(bu)小於(yu)40千(qian)米(mi) 
●系(xi)統(tong)誤差：小於(yu)0.5米(mi) 
●采(cai)樣頻(pin)率：25MHz 
●測試盲(mang)區：小於(yu)5米(mi) 
●電源(yuan)：交流(liu)220V±10％
2、路徑儀(yi)信號(hao)產生器。
●信號(hao)頻(pin)率：15KHz 
●振(zhen)蕩方式(shi)：斷(duan)續(xu)
●輸(shu)出(chu)功(gong)率：30W
●電源(yuan)：220V±10％ 
定(ding)位(wei)儀(yi)
測試(shi)靈敏度(du)：50Ω內(nei)阻(zu)的(de)信(xin)號(hao)源輸(shu)出(chu)300Hz信號(hao)，定點(dian)儀(yi)在(zai)維持(chi)輸(shu)出(chu)為(wei)2V、信雜比(bi)優(you)於(yu)20：1的(de)情況下輸(shu)入(ru)信號(hao)不大於(yu)10 μV。 
●輸(shu)入(ru)阻(zu)抗：不小於(yu)1.2KΩ。 ●使(shi)用(yong)2×2000Ω耳機(ji)。 
●工作(zuo)電壓：9V±10％。 ●使(shi)用(yong)環境溫(wen)度(du)：-10℃～40℃ 

按下控(kong)制面(mian)板上的(de)控(kong)制開(kai)關，啟動工控(kong)機(ji)。後打(da)開(kai)電源(yuan)開(kai)關，啟動WindowsXP後(hou)，雙擊(ji)桌(zhuo)面(mian)上的(de)測(ce)試(shi)管理(li)系(xi)統(tong)，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)主(zhu)控(kong)界面(mian)如右(you)圖。（如使用(yong)外(wai)接(jie)筆(bi)記本(ben)則(ze)不要(yao)打開(kai)控(kong)制開(kai)關，將(jiang)USB線插(cha)入(ru)下側USB接(jie)口，則(ze)可控(kong)測試(shi)系統(tong)。）上側USB是(shi)內(nei)置工控(kong)機(ji)數據(ju)輸(shu)入(ru)輸(shu)出(chu)接(jie)口<按“測試(shi)”按鈕進(jin)入測(ce)試(shi)方式(shi)；按“管理(li)”按鈕進(jin)入電纜(lan)資料和(he)測(ce)試資料的(de)日(ri)常管理(li)；按“幫(bang)助”進(jin)入幫(bang)助系統(tong)；按“結(jie)束(shu)”退(tui)出(chu)測(ce)試管理(li)系(xi)統(tong)。



*部(bu)分 電纜(lan)故(gu)障測試(shi)
測(ce)試原(yuan)理(li) 
本(ben)儀(yi)器采(cai)用(yong)時(shi)域反(fan)射（TDR）原(yuan)理(li)，對(dui)被測電纜(lan)發(fa)射壹系列電脈(mai)沖(chong)，並接(jie)收電纜(lan)中因(yin)阻(zu)抗變(bian)化引(yin)起的(de)反(fan)射脈沖，再根(gen)據(ju)電波在(zai)電纜(lan)中的(de)傳(chuan)播速(su)度(du)和(he)兩(liang)次反(fan)射波的(de)特征拐(guai)點(dian)代表的(de)時(shi)間(jian)，可測出(chu)故(gu)障點(dian)到測(ce)試端的(de)距離(li)為(wei)：
S=VT/2
式(shi)中：S代表故障點(dian)到測(ce)試端的(de)距離(li)
V代表電波在(zai)電纜(lan)中的(de)傳(chuan)播速(su)度(du)
T代表電波在(zai)電纜(lan)中來(lai)回(hui)傳(chuan)播所(suo)需(xu)要(yao)的(de)時(shi)間(jian)
這樣，在(zai)V已知和T已經(jing)測出(chu)的(de)情況下，就可計(ji)算(suan)出故障點(dian)距測(ce)試(shi)。端的(de)距離(li)S 。這(zhe)壹切只需(xu)稍(shao)加人(ren)工幹(gan)預，就可由(you)計(ji)算(suan)機(ji)自動完(wan)成，測試故(gu)障迅速準(zhun)確。
二(er)、測試系統(tong)控(kong)制面(mian)板介(jie)紹(shao)
測(ce)試(shi)面(mian)板可分為(wei)四(si)部(bu)分：菜單(dan)欄、狀(zhuang)態(tai)欄、圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)、功(gong)能(neng)鍵區(qu)。
１、菜單(dan)欄 
菜單(dan)欄包括：“數據(ju)管理(li)”和(he)“測試幫(bang)助”兩(liang)個(ge)菜單(dan)項(xiang)。
“數據(ju)管理(li)”菜單(dan)：包括“打印(yin)”，“讀(du)盤”，“存盤”，“結(jie)束(shu)”四(si)個(ge)菜單(dan)項(xiang)。
選擇“打印(yin)”可將(jiang)屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)內(nei)容用(yong)打印(yin)機(ji)打印(yin)出(chu)來；選“存盤(pan)”可將(jiang)測(ce)試(shi)的(de)波形和(he)數據(ju)存儲於(yu)電腦(nao)的(de)硬(ying)盤或(huo)者(zhe)軟(ruan)盤中，作(zuo)為(wei)資料保(bao)存(cun)；選“讀盤(pan)”可調出(chu)以(yi)前測試時(shi)存(cun)在(zai)磁(ci)盤內(nei)的(de)波形；選(xuan)“結(jie)束(shu)”可退出(chu)該(gai)控(kong)制面(mian)板。
“測試幫(bang)助”：點(dian)擊(ji)該(gai)菜單(dan)，可顯(xian)示(shi)測(ce)試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)的(de)使(shi)用(yong)說明書，可打印(yin)輸(shu)出(chu)。
2、狀(zhuang)態(tai)欄
狀(zhuang)態(tai)欄裏(li)顯(xian)示(shi)四(si)個(ge)方面的(de)信(xin)息(xi)，zui左邊是(shi)測(ce)試方式(shi)；第二(er)個(ge)是(shi)選(xuan)擇的(de)電纜(lan)介(jie)質(zhi)所(suo)對(dui)應電波速度(du)（若是測速度(du)，則(ze)不顯(xian)示(shi)介(jie)質(zhi)信(xin)息(xi)）第三個(ge)是(shi)故(gu)障距離(li)（或(huo)電纜(lan)長(chang)度(du)），右(you)邊顯(xian)示(shi)測(ce)試(shi)日(ri)期。3、圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)
圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)用(yong)來顯(xian)示(shi)采(cai)樣所(suo)得的(de)波形，對(dui)波形進(jin)行分析(xi)處理(li)和(he)顯(xian)示(shi)處理(li)結(jie)果。
4、功(gong)能(neng)鍵區(qu)
功(gong)能(neng)鍵區(qu)由(you)14個(ge)按鍵組(zu)成，可分為(wei)三類(lei)。
初始(shi)化數據(ju)：包括(kuo)測試方法(fa)和(he)介(jie)質(zhi)選(xuan)擇兩(liang)個(ge)鍵。
測(ce)試(shi)方法(fa)：有兩(liang)種(zhong)選(xuan)擇，“測故(gu)障”和“測(ce)速(su)度(du)”。
基本(ben)的(de)測(ce)試(shi)方法(fa)有三種(zhong)， “低(di)壓脈(mai)沖”，“沖閃”，“直閃”。
“低壓脈(mai)沖”包括(kuo)有“2μs”和(he)“0.2μs”兩(liang)種(zhong)脈(mai)寬可選擇；“沖閃”包括“電感(gan)電壓取(qu)樣”，“電阻(zu)電壓取(qu)樣”，“電流(liu)取(qu)樣”三個(ge)菜單(dan)項(xiang)；“直閃”包括“電壓取(qu)樣”“電流(liu)取(qu)樣”兩(liang)個(ge)菜單(dan)項(xiang)。
介(jie)質(zhi)選(xuan)擇：
程(cheng)序初始(shi)化時(shi)設(she)置為(wei)：“油浸紙型(xing)”，如果是其(qi)他介(jie)質(zhi)的(de)電纜(lan)，可根(gen)據(ju)電纜(lan)的(de)介(jie)質(zhi)選(xuan)擇。共有五(wu)選(xuan)項(xiang)：“油浸(jin)紙型”，“不(bu)滴(di)流(liu)型”，“交聯(lian)乙烯(xi)”，“聚(ju)氯乙烯(xi)”，“自選介(jie)質(zhi)”五(wu)個(ge)菜單(dan)項(xiang) 。


選擇其中壹個(ge)菜單(dan)項(xiang)就等(deng)於(yu)選(xuan)擇壹種(zhong)速(su)度(du)，即電波在(zai)該(gai)電纜(lan)中的(de)傳(chuan)播速(su)度(du)。
數(shu)據(ju)采(cai)樣與(yu)測(ce)試：共有八個(ge)按鍵。

“采(cai)樣”鍵：在(zai)系統(tong)測試時(shi)采(cai)用(yong)。每按動壹次“采(cai)樣”鍵，系(xi)統(tong)便(bian)采(cai)集壹次數(shu)據(ju)，並可以在(zai)圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)繪(hui)出(chu)波形圖來(lai)。
“擴展(zhan)”鍵：為(wei)了計(ji)算(suan)故障距離(li)，按此鍵可將(jiang)顯(xian)示(shi)的(de)波形擴展(zhan)後再計(ji)算(suan)。每按壹次波形擴展(zhan)壹倍(bei)，按四(si)次為(wei)壹個(ge)循(xun)環。
“卷(juan)動(dong)”鍵：波形擴展(zhan)後，故(gu)障點(dian)特征波形可能(neng)會出(chu)於(yu)*屏(ping)以(yi)外(wai)的(de)其(qi)它(ta)屏(ping)內(nei)，按此鍵可將(jiang)顯(xian)示(shi)內(nei)容壹屏(ping)壹屏(ping)地(di)向左(zuo)移(yi)動，直到(dao)故障波形在(zai)屏(ping)顯(xian)示(shi)出(chu)來(lai)，便(bian)在(zai)光標定位(wei)。
“歸位(wei)”鍵：需(xu)要(yao)光標快(kuai)速(su)回(hui)到屏(ping)幕(mu)zui左(zuo)端時(shi)按此鍵。
“定(ding)位(wei)”鍵：計(ji)算(suan)距離(li)起(qi)點(dian)鍵。在(zai)光標移(yi)動到(dao)特征波形的(de)起(qi)始(shi)拐(guai)點(dian)處按此鍵。
“左(zuo)移(yi)”鍵和(he)“右(you)移(yi)”鍵：這(zhe)兩(liang)個(ge)鍵用(yong)於(yu)控(kong)制光標的(de)左(zuo)右(you)移(yi)動。當(dang)按動它(ta)們(men)時(shi)，遊標移(yi)動，每(mei)按壹次移(yi)動壹個(ge)單(dan)位(wei)。此外(wai)，為(wei)了快(kuai)速(su)移(yi)動遊標，可以用(yong)鼠(shu)標拖動遊標，到合(he)適的(de)位(wei)置松開(kai)即可。
“復位(wei)”鍵：系(xi)統(tong)復位(wei)鍵。無論(lun)系統(tong)處於(yu)何(he)種(zhong)狀(zhuang)態(tai)，按此鍵均可進(jin)入系(xi)統(tong)主(zhu)界(jie)面。
波形比(bi)較：有四(si)個(ge)鍵。
“儲存(cun)”鍵：按此鍵可將(jiang)測(ce)試(shi)的(de)波形和(he)數據(ju)存儲於(yu)電腦(nao)中。（“存(cun)儲”與(yu)“存(cun)盤”不(bu)同(tong)。“存(cun)盤(pan)”是(shi)將(jiang)數(shu)據(ju)存儲在(zai)磁(ci)盤上，可長期保(bao)存，而(er)“存儲”只(zhi)是(shi)將(jiang)數(shu)據(ju)存儲在(zai)電腦(nao)內(nei)存中，關(guan)機(ji)後數(shu)據(ju)會丟失(shi)。）
“調(tiao)用(yong)”鍵：與(yu)“存(cun)儲”鍵配合使(shi)用(yong)。按此鍵可在(zai)屏(ping)幕(mu)上顯(xian)示(shi)上次存(cun)儲的(de)內(nei)容，以(yi)便(bian)分析(xi)與(yu)計(ji)算(suan)。
“比(bi)較”鍵：按此鍵可將(jiang)現測的(de)波形和(he)儀(yi)器內(nei)存儲的(de)波形同(tong)時(shi)顯(xian)示(shi)在(zai)屏(ping)幕(mu)上，用(yong)戶可對這(zhe)兩(liang)幅波形進(jin)行比(bi)較分析(xi)。
“平(ping)移(yi)”鍵：按此鍵進(jin)入圖形(xing)左右(you)移(yi)動功(gong)能(neng)，點(dian)“左移(yi)”鍵可將(jiang)兩(liang)個(ge)波形的(de)起(qi)點(dian)對齊。