SDDL-2014電纜故(gu)障(zhang)綜合測試儀

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• 更新時間：2024-04-27
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• 廠商性質(zhi)：生(sheng)產(chan)廠家
• 產(chan)   地：上海寶山

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SDDL-2014電(dian)纜(lan)故(gu)障(zhang)綜合測試儀的(de)詳細介(jie)紹

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SDDL-2014電纜故(gu)障(zhang)綜合測試儀
簡介
系(xi)統(tong)組(zu)成(cheng) 
電(dian)纜故(gu)障(zhang)測(ce)試管(guan)理(li)系(xi)統(tong)由測試系統(tong)、路(lu)徑信號產(chan)生(sheng)器、路(lu)徑信號接(jie)收(shou)器和(he)定位儀(yi)器幾部(bu)分組(zu)成(cheng)，可(ke)完成(cheng)電(dian)纜故(gu)障(zhang)的(de)測試和電纜資(zi)料(liao)的(de)管(guan)理(li)兩項任(ren)務。
筆記(ji)本(ben)電(dian)腦進行測(ce)量控制、數據(ju)處理(li)和(he)電(dian)纜(lan)資(zi)料(liao)管(guan)理(li)。
故(gu)障(zhang)測(ce)試系統(tong)與(yu)筆記(ji)本(ben)配合可(ke)在故(gu)障(zhang)電(dian)纜壹端測(ce)出(chu)故(gu)障(zhang)點(dian)距(ju)測(ce)試端的(de)距(ju)離(li)，也(ye)可(ke)用(yong)來(lai)測量(liang)電(dian)纜(lan)的(de)長(chang)度和電(dian)波(bo)在電(dian)纜中的(de)傳(chuan)播速(su)度。
路(lu)徑信號產(chan)生(sheng)器可(ke)產(chan)生(sheng)15KHZ、zui大幅(fu)度30V的(de)斷(duan)續(xu)正(zheng)弦(xian)波(bo)信號，用(yong)於尋(xun)測(ce)電纜(lan)路(lu)徑。
路(lu)徑信號接(jie)收(shou)器用(yong)來(lai)接(jie)收(shou)路(lu)徑信號，查找(zhao)電纜走(zou)向(xiang)和估(gu)測(ce)電(dian)纜(lan)埋(mai)設深度。
定位儀(yi)用於故(gu)障(zhang)點(dian)的(de)定位。

技(ji)術性能(neng)
●可測試各種(zhong)電(dian)力(li)電(dian)纜(lan)的(de)各類(lei)故(gu)障(zhang)及(ji)通信電(dian)纜(lan)和市話電(dian)纜的(de)開(kai)路(lu)、短路(lu)故(gu)障(zhang)。 
●可(ke)測量長(chang)度已知(zhi)的(de)任何電(dian)纜中電(dian)波(bo)傳(chuan)播的(de)速度。
●測試距(ju)離(li)：不(bu)小(xiao)於40千米(mi) 
●系(xi)統(tong)誤(wu)差：小(xiao)於0.5米(mi) 
●采(cai)樣(yang)頻(pin)率：25MHz 
●測試盲區(qu)：小於5米(mi) 
●電(dian)源(yuan)：交(jiao)流(liu)220V±10％
2、路(lu)徑儀信號產(chan)生(sheng)器。
●信號頻(pin)率：15KHz 
●振蕩方(fang)式(shi)：斷(duan)續(xu)
●輸出(chu)功(gong)率：30W
●電源：220V±10％ 
定位儀(yi)
測試靈(ling)敏度：50Ω內阻(zu)的(de)信號源(yuan)輸(shu)出(chu)300Hz信號，定(ding)點(dian)儀在維(wei)持輸出(chu)為2V、信雜比優(you)於20：1的(de)情(qing)況下輸(shu)入(ru)信號不(bu)大(da)於10 μV。 
●輸入(ru)阻(zu)抗：不(bu)小(xiao)於1.2KΩ。 ●使用(yong)2×2000Ω耳(er)機。 
●工(gong)作(zuo)電(dian)壓(ya)：9V±10％。 ●使用(yong)環(huan)境溫(wen)度：-10℃～40℃ 

按下控制面板上的(de)控制開(kai)關(guan)，啟動工(gong)控機(ji)。後打開(kai)電(dian)源開(kai)關(guan)，啟動WindowsXP後，雙擊桌(zhuo)面上(shang)的(de)測試管(guan)理(li)系(xi)統(tong)，屏幕顯示主(zhu)控界(jie)面(mian)如右圖。（如使用(yong)外接(jie)筆記(ji)本(ben)則(ze)不要(yao)打(da)開(kai)控制開(kai)關(guan)，將(jiang)USB線插入(ru)下(xia)側(ce)USB接(jie)口(kou)，則(ze)可(ke)控測(ce)試系統(tong)。）上側(ce)USB是內置(zhi)工控機(ji)數(shu)據(ju)輸入(ru)輸(shu)出(chu)接(jie)口(kou)<按“測試”按鈕(niu)進入(ru)測(ce)試方(fang)式(shi)；按“管(guan)理(li)”按鈕(niu)進入(ru)電(dian)纜資(zi)料和測試資料的(de)日常管(guan)理(li)；按“幫助”進(jin)入(ru)幫(bang)助系(xi)統(tong)；按“結束(shu)”退出(chu)測試管(guan)理(li)系(xi)統(tong)。



*部分 電(dian)纜故(gu)障(zhang)測(ce)試
測試原(yuan)理(li) 
本(ben)儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)時(shi)域反射(she)（TDR）原(yuan)理(li)，對被(bei)測(ce)電(dian)纜(lan)發射(she)壹(yi)系列電脈沖(chong)，並(bing)接(jie)收(shou)電纜(lan)中因阻(zu)抗變(bian)化(hua)引起的(de)反射(she)脈(mai)沖(chong)，再(zai)根(gen)據(ju)電波(bo)在電(dian)纜中的(de)傳(chuan)播速(su)度和兩次反(fan)射(she)波(bo)的(de)特征拐點(dian)代(dai)表(biao)的(de)時間，可(ke)測出(chu)故(gu)障(zhang)點(dian)到測(ce)試端的(de)距(ju)離(li)為：
S=VT/2
式(shi)中：S代(dai)表(biao)故(gu)障(zhang)點(dian)到測(ce)試端的(de)距(ju)離(li)
V代(dai)表(biao)電(dian)波(bo)在電(dian)纜中的(de)傳(chuan)播速(su)度
T代(dai)表(biao)電(dian)波(bo)在電(dian)纜中來(lai)回傳(chuan)播所需要(yao)的(de)時間
這(zhe)樣(yang)，在V已知(zhi)和T已經測出(chu)的(de)情(qing)況下，就(jiu)可計算出(chu)故(gu)障(zhang)點(dian)距(ju)測(ce)試。端的(de)距(ju)離(li)S 。這(zhe)壹(yi)切(qie)只需稍(shao)加(jia)人工(gong)幹(gan)預，就(jiu)可由計算機(ji)自動完成(cheng)，測(ce)試故(gu)障(zhang)迅(xun)速(su)準確(que)。
二(er)、測(ce)試系統(tong)控制面板介紹
測(ce)試面板可分為四(si)部分(fen)：菜(cai)單(dan)欄(lan)、狀(zhuang)態(tai)欄(lan)、圖形顯示區(qu)、功(gong)能鍵(jian)區(qu)。
１、菜(cai)單(dan)欄(lan) 
菜(cai)單(dan)欄(lan)包(bao)括(kuo)：“數(shu)據(ju)管(guan)理(li)”和(he)“測(ce)試幫助”兩個(ge)菜(cai)單(dan)項。
“數(shu)據(ju)管(guan)理(li)”菜(cai)單(dan)：包(bao)括(kuo)“打(da)印”，“讀(du)盤(pan)”，“存盤”，“結束(shu)”四(si)個(ge)菜(cai)單(dan)項。
選(xuan)擇“打(da)印(yin)”可將(jiang)屏幕顯示內(nei)容(rong)用(yong)打印機(ji)打印出(chu)來(lai)；選(xuan)“存(cun)盤(pan)”可將(jiang)測試的(de)波(bo)形和(he)數據(ju)存儲(chu)於電腦的(de)硬(ying)盤(pan)或者軟(ruan)盤中，作(zuo)為資(zi)料保(bao)存；選(xuan)“讀(du)盤(pan)”可調出(chu)以前測(ce)試時存在磁(ci)盤內的(de)波(bo)形；選(xuan)“結(jie)束(shu)”可退出(chu)該控制面板。
“測試幫助”：點(dian)擊該(gai)菜(cai)單(dan)，可顯示測(ce)試管(guan)理(li)系(xi)統(tong)的(de)使用(yong)說(shuo)明(ming)書(shu)，可打(da)印輸(shu)出(chu)。
2、狀(zhuang)態(tai)欄(lan)
狀(zhuang)態(tai)欄(lan)裏(li)顯示四(si)個(ge)方(fang)面(mian)的(de)信息(xi)，zui左邊是測(ce)試方(fang)式(shi)；第(di)二(er)個(ge)是選(xuan)擇的(de)電纜介(jie)質(zhi)所對應電波(bo)速(su)度（若是(shi)測(ce)速度，則不(bu)顯示介(jie)質(zhi)信息(xi)）第(di)三個(ge)是故(gu)障(zhang)距(ju)離(li)（或電纜長(chang)度），右邊顯示測(ce)試日期。3、圖形顯示區(qu)
圖形顯示區(qu)用來(lai)顯示采(cai)樣(yang)所得的(de)波(bo)形，對波(bo)形進(jin)行分(fen)析處理(li)和(he)顯示處理(li)結(jie)果(guo)。
4、功(gong)能鍵(jian)區(qu)
功(gong)能鍵(jian)區(qu)由14個(ge)按鍵(jian)組(zu)成(cheng)，可(ke)分為三類(lei)。
初(chu)始(shi)化(hua)數(shu)據(ju)：包(bao)括(kuo)測(ce)試方(fang)法和介(jie)質(zhi)選(xuan)擇兩個(ge)鍵(jian)。
測(ce)試方(fang)法：有兩種選(xuan)擇，“測(ce)故(gu)障(zhang)”和(he)“測速度”。
基本(ben)的(de)測試方(fang)法有三種(zhong)， “低壓(ya)脈沖(chong)”，“沖(chong)閃(shan)”，“直(zhi)閃(shan)”。
“低壓(ya)脈沖(chong)”包(bao)括(kuo)有(you)“2μs”和“0.2μs”兩種脈(mai)寬可(ke)選(xuan)擇；“沖(chong)閃(shan)”包(bao)括(kuo)“電(dian)感電壓(ya)取(qu)樣(yang)”，“電阻(zu)電壓(ya)取(qu)樣(yang)”，“電流(liu)取(qu)樣(yang)”三個(ge)菜(cai)單(dan)項；“直(zhi)閃(shan)”包(bao)括(kuo)“電(dian)壓(ya)取(qu)樣(yang)”“電流(liu)取(qu)樣(yang)”兩個(ge)菜(cai)單(dan)項。
介(jie)質(zhi)選(xuan)擇：
程序初(chu)始(shi)化(hua)時(shi)設置為：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型(xing)”，如果是(shi)其(qi)他(ta)介質(zhi)的(de)電纜，可(ke)根據(ju)電纜(lan)的(de)介質(zhi)選(xuan)擇。共有五(wu)選(xuan)項(xiang)：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型(xing)”，“不(bu)滴(di)流(liu)型(xing)”，“交(jiao)聯(lian)乙(yi)烯”，“聚(ju)氯乙烯”，“自選(xuan)介(jie)質(zhi)”五(wu)個(ge)菜(cai)單(dan)項 。


選(xuan)擇其(qi)中(zhong)壹個(ge)菜(cai)單(dan)項就(jiu)等(deng)於選(xuan)擇壹(yi)種(zhong)速度，即電(dian)波(bo)在該(gai)電纜中的(de)傳(chuan)播速(su)度。
數據(ju)采樣(yang)與(yu)測(ce)試：共有八個(ge)按鍵(jian)。

“采(cai)樣(yang)”鍵(jian)：在系(xi)統(tong)測試時采用。每(mei)按動壹(yi)次“采(cai)樣(yang)”鍵(jian)，系(xi)統(tong)便采集(ji)壹次(ci)數據(ju)，並可(ke)以在圖(tu)形顯示區(qu)繪(hui)出(chu)波(bo)形圖(tu)來(lai)。
“擴(kuo)展(zhan)”鍵(jian)：為了計算故(gu)障(zhang)距(ju)離(li)，按此鍵(jian)可(ke)將(jiang)顯示的(de)波(bo)形擴(kuo)展(zhan)後再計(ji)算。每(mei)按壹次(ci)波(bo)形擴(kuo)展(zhan)壹倍(bei)，按四次(ci)為壹(yi)個(ge)循(xun)環(huan)。
“卷(juan)動(dong)”鍵(jian)：波(bo)形擴(kuo)展(zhan)後，故(gu)障(zhang)點(dian)特征波(bo)形可(ke)能會出(chu)於*屏以外的(de)其它屏(ping)內(nei)，按此鍵(jian)可(ke)將(jiang)顯示內(nei)容(rong)壹(yi)屏壹屏(ping)地向左移動(dong)，直(zhi)到故(gu)障(zhang)波(bo)形在屏(ping)顯示出(chu)來(lai)，便在光(guang)標(biao)定(ding)位。
“歸(gui)位”鍵(jian)：需要(yao)光(guang)標(biao)快(kuai)速(su)回(hui)到屏(ping)幕zui左端(duan)時(shi)按此鍵(jian)。
“定(ding)位”鍵(jian)：計(ji)算距(ju)離(li)起點鍵(jian)。在光(guang)標(biao)移動(dong)到特(te)征波(bo)形的(de)起始拐點(dian)處按此鍵(jian)。
“左移”鍵(jian)和(he)“右移”鍵(jian)：這(zhe)兩個(ge)鍵(jian)用(yong)於控制光標(biao)的(de)左右移動(dong)。當(dang)按動它們(men)時(shi)，遊標(biao)移動(dong)，每(mei)按壹次(ci)移動(dong)壹(yi)個(ge)單(dan)位。此(ci)外，為了快(kuai)速(su)移動(dong)遊(you)標(biao)，可(ke)以用鼠(shu)標(biao)拖(tuo)動(dong)遊(you)標(biao)，到合(he)適(shi)的(de)位置(zhi)松開(kai)即(ji)可。
“復(fu)位”鍵(jian)：系(xi)統(tong)復(fu)位鍵(jian)。無(wu)論系統(tong)處於何種狀(zhuang)態(tai)，按此鍵(jian)均(jun)可進(jin)入(ru)系(xi)統(tong)主界面(mian)。
波(bo)形比(bi)較(jiao)：有四(si)個(ge)鍵(jian)。
“儲(chu)存”鍵(jian)：按此鍵(jian)可(ke)將(jiang)測試的(de)波(bo)形和(he)數據(ju)存儲(chu)於電腦中(zhong)。（“存(cun)儲(chu)”與(yu)“存(cun)盤”不(bu)同(tong)。“存盤(pan)”是(shi)將(jiang)數據(ju)存儲(chu)在磁(ci)盤上，可長(chang)期保(bao)存，而“存儲(chu)”只是(shi)將(jiang)數據(ju)存儲(chu)在電(dian)腦內存中，關(guan)機後數據(ju)會丟失。）
“調用”鍵(jian)：與(yu)“存(cun)儲(chu)”鍵(jian)配合使用(yong)。按此鍵(jian)可(ke)在屏(ping)幕上顯示上(shang)次存(cun)儲(chu)的(de)內容(rong)，以便分析與(yu)計(ji)算。
“比(bi)較(jiao)”鍵(jian)：按此鍵(jian)可(ke)將(jiang)現(xian)測的(de)波(bo)形和(he)儀器內存(cun)儲(chu)的(de)波(bo)形同(tong)時顯示在屏(ping)幕上，用(yong)戶(hu)可(ke)對這(zhe)兩幅波(bo)形進(jin)行比(bi)較(jiao)分析(xi)。
“平(ping)移”鍵(jian)：按此鍵(jian)進(jin)入(ru)圖(tu)形左右移動(dong)功(gong)能，點(dian)“左移”鍵(jian)可(ke)將(jiang)兩個(ge)波(bo)形的(de)起點對齊。