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簡單介(jie)紹 本目(mu)錄(lu)是(shi)上(shang)海(hai)徐(xu)吉(ji)電(dian)氣有(you)限公(gong)司為(wei)您(nin)精(jing)選(xuan)的SDDL-2014電(dian)纜故障定(ding)位儀(yi)產(chan)品(pin)，歡迎您(nin)該產品(pin)的詳(xiang)細信息(xi)！的(de)種(zhong)類有很多，不同的(de)應(ying)用也(ye)會(hui)有(you)細微(wei)的(de)差別，本公(gong)司為(wei)您(nin)提供*的解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。
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SDDL-2014電(dian)纜故障定(ding)位儀(yi)
簡介
系(xi)統組(zu)成
電(dian)纜故障測試管理系統由測試系統、路徑(jing)信號(hao)產(chan)生器(qi)、路(lu)徑(jing)信號(hao)接(jie)收(shou)器(qi)和(he)定(ding)位儀(yi)器(qi)幾(ji)部分(fen)組(zu)成，可(ke)完(wan)成電(dian)纜故障的測試和(he)電(dian)纜資料的(de)管理兩項任務。
筆(bi)記(ji)本電(dian)腦進(jin)行測量控(kong)制(zhi)、數(shu)據(ju)處(chu)理(li)和(he)電(dian)纜資料管理。
故障測試系統與(yu)筆(bi)記(ji)本配合可(ke)在(zai)故(gu)障電(dian)纜壹端測出(chu)故障點距(ju)測試端的距(ju)離，也(ye)可(ke)用來測量電(dian)纜的長度和(he)電(dian)波在(zai)電(dian)纜中的傳(chuan)播(bo)速(su)度。
路(lu)徑(jing)信號(hao)產(chan)生器(qi)可(ke)產生15KHZ、zui大(da)幅(fu)度30V的(de)斷(duan)續正弦波信號(hao)，用於(yu)尋(xun)測電(dian)纜路徑(jing)。
路(lu)徑(jing)信號(hao)接(jie)收(shou)器(qi)用來接收(shou)路(lu)徑(jing)信號(hao)，查找(zhao)電(dian)纜走向和(he)估(gu)測電(dian)纜埋設(she)深(shen)度。
定(ding)位儀(yi)用於(yu)故(gu)障點的(de)定(ding)位。
技(ji)術(shu)性能
●可(ke)測試各種(zhong)電(dian)力(li)電(dian)纜的各類故(gu)障及(ji)通(tong)信電(dian)纜和(he)市(shi)話電(dian)纜的開路(lu)、短路(lu)故障。
●可(ke)測量長度已(yi)知的(de)任何(he)電(dian)纜中電(dian)波傳(chuan)播(bo)的(de)速(su)度。
●測試距(ju)離：不小於(yu)40千(qian)米
●系統(tong)誤差：小於(yu)0.5米(mi)
●采樣頻率：25MHz
●測試盲區：小於(yu)5米(mi)
●電(dian)源：交流220V±10％
2、路徑(jing)儀(yi)信號(hao)產(chan)生器(qi)。
●信號(hao)頻率：15KHz
●振蕩(dang)方(fang)式(shi)：斷(duan)續
●輸出(chu)功(gong)率：30W
●電(dian)源：220V±10％
定(ding)位儀(yi)
測試靈敏度：50Ω內(nei)阻(zu)的信號(hao)源(yuan)輸出(chu)300Hz信號(hao)，定(ding)點儀(yi)在(zai)維(wei)持(chi)輸出(chu)為(wei)2V、信雜(za)比(bi)優於(yu)20：1的(de)情況(kuang)下(xia)輸(shu)入(ru)信號(hao)不大(da)於(yu)10 μV。
●輸(shu)入阻(zu)抗(kang)：不小於(yu)1.2KΩ。 ●使(shi)用2×2000Ω耳(er)機(ji)。
●工(gong)作電(dian)壓：9V±10％。 ●使用環境(jing)溫(wen)度：-10℃～40℃
按(an)下控(kong)制面(mian)板(ban)上(shang)的(de)控(kong)制開(kai)關，啟(qi)動工(gong)控機(ji)。後打開電(dian)源開(kai)關，啟動WindowsXP後(hou)，雙擊(ji)桌(zhuo)面(mian)上(shang)的(de)測試管理系統，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)主(zhu)控界(jie)面(mian)如右圖(tu)。（如使用外接筆(bi)記(ji)本則不要(yao)打開控(kong)制開(kai)關(guan)，將USB線(xian)插(cha)入下(xia)側(ce)USB接(jie)口，則可(ke)控測試系統。）上側(ce)USB是(shi)內(nei)置(zhi)工(gong)控機(ji)數據(ju)輸(shu)入(ru)輸(shu)出(chu)接口<按(an)“測試”按(an)鈕進(jin)入(ru)測試方(fang)式(shi)；按(an)“管理”按(an)鈕進(jin)入(ru)電(dian)纜資料和(he)測試資料的日(ri)常管理；按(an)“幫助”進入幫助系統；按(an)“結束(shu)”退(tui)出(chu)測試管理系統。
*部分(fen) 電(dian)纜故障測試
測試原理
本儀(yi)器(qi)采用時域反射（TDR）原理(li)，對被測電(dian)纜發(fa)射壹系(xi)列(lie)電(dian)脈(mai)沖，並接收(shou)電(dian)纜中因阻(zu)抗(kang)變(bian)化引(yin)起的(de)反射脈(mai)沖，再(zai)根據(ju)電(dian)波在(zai)電(dian)纜中的傳(chuan)播(bo)速(su)度和(he)兩(liang)次(ci)反射波的(de)特征拐點代(dai)表(biao)的時間，可(ke)測出(chu)故障點到(dao)測試端的距(ju)離為(wei)：
S=VT/2
式(shi)中：S代(dai)表(biao)故障點到(dao)測試端的距(ju)離
V代(dai)表(biao)電(dian)波在(zai)電(dian)纜中的傳(chuan)播(bo)速(su)度
T代(dai)表(biao)電(dian)波在(zai)電(dian)纜中來回傳(chuan)播(bo)所需(xu)要(yao)的時(shi)間(jian)
這(zhe)樣，在(zai)V已(yi)知和(he)T已(yi)經(jing)測出(chu)的情況(kuang)下(xia)，就可(ke)計算(suan)出(chu)故障點距(ju)測試。端的距(ju)離S 。這(zhe)壹切(qie)只需(xu)稍(shao)加人(ren)工(gong)幹預(yu)，就可(ke)由計(ji)算(suan)機自(zi)動完(wan)成，測試故障迅(xun)速準(zhun)確。
二、測試系統控制(zhi)面(mian)板(ban)介(jie)紹
測試面(mian)板(ban)可(ke)分(fen)為(wei)四(si)部分(fen)：菜(cai)單(dan)欄(lan)、狀(zhuang)態(tai)欄(lan)、圖(tu)形(xing)顯(xian)示(shi)區、功(gong)能鍵(jian)區。
１、菜(cai)單(dan)欄(lan)
菜(cai)單(dan)欄(lan)包括：“數(shu)據(ju)管理”和(he)“測試幫助”兩個(ge)菜(cai)單(dan)項。
“數據(ju)管理”菜(cai)單(dan)：包括“打印(yin)”，“讀(du)盤”，“存盤”，“結(jie)束(shu)”四(si)個(ge)菜(cai)單(dan)項。
選(xuan)擇“打印(yin)”可(ke)將屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)內(nei)容(rong)用打印(yin)機(ji)打印(yin)出(chu)來；選(xuan)“存盤”可(ke)將測試的波形(xing)和(he)數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電(dian)腦的(de)硬(ying)盤(pan)或者軟盤中，作為(wei)資(zi)料保(bao)存；選(xuan)“讀(du)盤”可(ke)調出(chu)以前(qian)測試時存在(zai)磁盤內(nei)的(de)波形(xing)；選(xuan)“結束(shu)”可(ke)退(tui)出(chu)該控制(zhi)面(mian)板(ban)。
“測試幫助”：點擊該菜(cai)單(dan)，可(ke)顯(xian)示(shi)測試管理系統的使用說明(ming)書(shu)，可(ke)打印(yin)輸(shu)出(chu)。
2、狀(zhuang)態(tai)欄(lan)
狀(zhuang)態(tai)欄(lan)裏(li)顯(xian)示(shi)四個(ge)方(fang)面(mian)的(de)信息(xi)，zui左(zuo)邊是(shi)測試方(fang)式(shi)；第二個(ge)是(shi)選(xuan)擇的電(dian)纜介質(zhi)所對應(ying)電(dian)波速(su)度（若是(shi)測速度，則(ze)不顯(xian)示(shi)介質(zhi)信息(xi)）第三個(ge)是(shi)故(gu)障距(ju)離（或電(dian)纜長度），右(you)邊顯(xian)示(shi)測試日(ri)期(qi)。3、圖(tu)形(xing)顯(xian)示(shi)區
圖(tu)形(xing)顯(xian)示(shi)區用來顯(xian)示(shi)采樣所得(de)的(de)波形(xing)，對波形(xing)進行分(fen)析處(chu)理(li)和(he)顯(xian)示(shi)處(chu)理(li)結果。
4、功(gong)能鍵(jian)區
功(gong)能鍵(jian)區由(you)14個(ge)按(an)鍵(jian)組(zu)成，可(ke)分(fen)為(wei)三(san)類。
初(chu)始化數(shu)據(ju)：包括測試方(fang)法(fa)和(he)介(jie)質(zhi)選(xuan)擇兩個(ge)鍵(jian)。
測試方(fang)法(fa)：有(you)兩(liang)種(zhong)選(xuan)擇，“測故障”和(he)“測速度”。
基(ji)本的測試方(fang)法(fa)有(you)三(san)種(zhong)， “低壓脈(mai)沖”，“沖閃(shan)”，“直(zhi)閃(shan)”。
“低壓脈(mai)沖”包括有(you)“2μs”和(he)“0.2μs”兩(liang)種(zhong)脈(mai)寬可(ke)選(xuan)擇；“沖閃(shan)”包括“電(dian)感(gan)電(dian)壓取樣”，“電(dian)阻(zu)電(dian)壓取樣”，“電(dian)流取樣(yang)”三(san)個(ge)菜(cai)單(dan)項；“直(zhi)閃(shan)”包括“電(dian)壓取樣”“電(dian)流取樣(yang)”兩(liang)個(ge)菜(cai)單(dan)項。
介質(zhi)選(xuan)擇：
程序(xu)初(chu)始化時(shi)設(she)置為(wei)：“油(you)浸紙(zhi)型(xing)”，如果是(shi)其(qi)他(ta)介(jie)質(zhi)的電(dian)纜，可(ke)根據(ju)電(dian)纜的介質(zhi)選(xuan)擇。共(gong)有五(wu)選(xuan)項：“油浸紙(zhi)型(xing)”，“不滴流型(xing)”，“交聯乙烯(xi)”，“聚氯乙烯(xi)”，“自選(xuan)介質(zhi)”五(wu)個(ge)菜(cai)單(dan)項 。
選(xuan)擇其(qi)中(zhong)壹(yi)個(ge)菜(cai)單(dan)項就等於(yu)選(xuan)擇壹種(zhong)速度，即電(dian)波在(zai)該電(dian)纜中的傳(chuan)播(bo)速(su)度。
數(shu)據(ju)采樣與(yu)測試：共(gong)有八(ba)個(ge)按(an)鍵(jian)。
“采樣”鍵(jian)：在(zai)系(xi)統(tong)測試時采用。每按(an)動壹(yi)次(ci)“采樣”鍵(jian)，系統(tong)便采集壹(yi)次(ci)數(shu)據(ju)，並可(ke)以在(zai)圖(tu)形(xing)顯(xian)示(shi)區繪出(chu)波形(xing)圖(tu)來(lai)。
“擴展(zhan)”鍵(jian)：為(wei)了(le)計算(suan)故障距(ju)離，按(an)此鍵(jian)可(ke)將顯(xian)示(shi)的波形(xing)擴展(zhan)後(hou)再(zai)計算(suan)。每按(an)壹次(ci)波形(xing)擴展(zhan)壹(yi)倍(bei)，按(an)四次(ci)為(wei)壹(yi)個(ge)循(xun)環。
“卷(juan)動”鍵(jian)：波形(xing)擴展(zhan)後(hou)，故(gu)障點特(te)征波形(xing)可(ke)能會(hui)出(chu)於(yu)*屏(ping)以外(wai)的(de)其(qi)它屏(ping)內(nei)，按(an)此鍵(jian)可(ke)將顯(xian)示(shi)內(nei)容(rong)壹(yi)屏(ping)壹屏(ping)地向左(zuo)移動，直(zhi)到(dao)故障波形(xing)在(zai)屏(ping)顯(xian)示(shi)出(chu)來，便在(zai)光(guang)標定(ding)位。
“歸位”鍵(jian)：需(xu)要(yao)光(guang)標快(kuai)速回到(dao)屏(ping)幕(mu)zui左端(duan)時(shi)按(an)此鍵(jian)。
“定(ding)位”鍵(jian)：計算(suan)距(ju)離起點(dian)鍵(jian)。在(zai)光(guang)標移動到(dao)特征波形(xing)的起始拐(guai)點處(chu)按(an)此鍵(jian)。
“左移”鍵(jian)和(he)“右(you)移”鍵(jian)：這(zhe)兩個(ge)鍵(jian)用於(yu)控(kong)制光(guang)標的(de)左右(you)移動。當按(an)動它們時(shi)，遊(you)標移動，每(mei)按(an)壹次(ci)移動壹(yi)個(ge)單(dan)位(wei)。此外，為(wei)了(le)快速移動遊(you)標，可(ke)以用鼠標拖(tuo)動遊(you)標，到(dao)合適(shi)的位(wei)置松(song)開(kai)即可(ke)。
“復位(wei)”鍵(jian)：系統(tong)復位(wei)鍵(jian)。無(wu)論系統處(chu)於(yu)何(he)種(zhong)狀(zhuang)態(tai)，按(an)此鍵(jian)均可(ke)進入(ru)系(xi)統(tong)主(zhu)界(jie)面(mian)。
波形(xing)比較(jiao)：有四(si)個(ge)鍵(jian)。
“儲(chu)存”鍵(jian)：按(an)此鍵(jian)可(ke)將測試的波形(xing)和(he)數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電(dian)腦中(zhong)。（“存(cun)儲(chu)”與(yu)“存盤”不同。“存(cun)盤(pan)”是(shi)將數據(ju)存(cun)儲(chu)在(zai)磁盤上，可(ke)長期保(bao)存，而(er)“存(cun)儲(chu)”只是(shi)將數據(ju)存(cun)儲(chu)在(zai)電(dian)腦內(nei)存(cun)中(zhong)，關(guan)機(ji)後數據(ju)會(hui)丟(diu)失。）
“調用”鍵(jian)：與(yu)“存儲(chu)”鍵(jian)配合使用。按(an)此鍵(jian)可(ke)在(zai)屏(ping)幕(mu)上顯(xian)示(shi)上次(ci)存(cun)儲(chu)的內(nei)容(rong)，以便分(fen)析與(yu)計算(suan)。
“比較(jiao)”鍵(jian)：按(an)此鍵(jian)可(ke)將現(xian)測的波形(xing)和(he)儀(yi)器(qi)內(nei)存(cun)儲(chu)的波形(xing)同時顯(xian)示(shi)在(zai)屏(ping)幕(mu)上，用戶可(ke)對這(zhe)兩幅(fu)波形(xing)進行比(bi)較(jiao)分(fen)析。
“平移”鍵(jian)：按(an)此鍵(jian)進入(ru)圖(tu)形(xing)左右移動功(gong)能，點(dian)“左(zuo)移”鍵(jian)可(ke)將兩個(ge)波形(xing)的起點(dian)對齊。
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