SDDL-2014電(dian)纜(lan)故障(zhang)探測儀(yi)

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• 更新時(shi)間(jian)：2024-04-27
• 瀏(liu)覽次(ci)數：1227
• 廠商(shang)性質(zhi)：生(sheng)產廠家(jia)
• 產(chan)   地：上海(hai)寶山

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SDDL-2014電(dian)纜(lan)故障(zhang)探測儀(yi)的(de)詳細(xi)介(jie)紹(shao)

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SDDL-2014電(dian)纜(lan)故障(zhang)探測儀(yi)

簡(jian)介(jie)
系統(tong)組(zu)成 
電(dian)纜(lan)故障(zhang)測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)由(you)測試(shi)系統(tong)、路徑(jing)信(xin)號產生(sheng)器、路徑(jing)信(xin)號接(jie)收器和(he)定位(wei)儀(yi)器(qi)幾(ji)部分組(zu)成，可完(wan)成電(dian)纜(lan)故障(zhang)的(de)測試(shi)和(he)電(dian)纜(lan)資料的(de)管(guan)理(li)兩項任務。
筆(bi)記本電(dian)腦進(jin)行測量(liang)控制(zhi)、數據處理(li)和(he)電(dian)纜(lan)資料管(guan)理(li)。
故障(zhang)測試(shi)系統(tong)與(yu)筆(bi)記(ji)本配合(he)可(ke)在(zai)故障(zhang)電(dian)纜(lan)壹(yi)端(duan)測出(chu)故障(zhang)點(dian)距測試(shi)端(duan)的(de)距(ju)離(li)，也可(ke)用來(lai)測量(liang)電(dian)纜(lan)的(de)長度和(he)電(dian)波在(zai)電(dian)纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播速(su)度。
路徑(jing)信(xin)號產生(sheng)器可產(chan)生(sheng)15KHZ、zui大幅度30V的(de)斷續(xu)正(zheng)弦(xian)波信(xin)號，用於(yu)尋測電(dian)纜(lan)路徑(jing)。
路徑(jing)信(xin)號接(jie)收器用來(lai)接(jie)收路徑(jing)信(xin)號，查(zha)找(zhao)電(dian)纜(lan)走(zou)向和(he)估(gu)測電(dian)纜(lan)埋(mai)設深度(du)。
定位(wei)儀(yi)用於(yu)故障(zhang)點(dian)的(de)定(ding)位(wei)。

技(ji)術性能
●可(ke)測試(shi)各(ge)種(zhong)電(dian)力電(dian)纜(lan)的(de)各(ge)類(lei)故障(zhang)及(ji)通(tong)信(xin)電(dian)纜(lan)和(he)市話(hua)電(dian)纜(lan)的(de)開路、短路故障(zhang)。 
●可(ke)測量(liang)長度已知的(de)任何(he)電(dian)纜(lan)中(zhong)電(dian)波傳播的(de)速(su)度。
●測試(shi)距離(li)：不(bu)小(xiao)於40千米(mi) 
●系統(tong)誤(wu)差：小(xiao)於0.5米(mi) 
●采樣頻率：25MHz 
●測試(shi)盲(mang)區：小(xiao)於5米(mi) 
●電(dian)源(yuan)：交流(liu)220V±10％
2、路徑(jing)儀(yi)信(xin)號產生(sheng)器。
●信(xin)號頻率：15KHz 
●振(zhen)蕩(dang)方式：斷續(xu)
●輸出(chu)功率：30W
●電(dian)源(yuan)：220V±10％ 
定位(wei)儀(yi)
測試(shi)靈(ling)敏度(du)：50Ω內阻(zu)的(de)信(xin)號源(yuan)輸出300Hz信(xin)號，定點(dian)儀(yi)在(zai)維持(chi)輸出(chu)為2V、信(xin)雜比(bi)優於20：1的(de)情(qing)況下(xia)輸入信(xin)號不(bu)大於(yu)10 μV。 
●輸入阻抗(kang)：不(bu)小(xiao)於1.2KΩ。 ●使(shi)用2×2000Ω耳(er)機。 
●工作電(dian)壓：9V±10％。 ●使(shi)用環(huan)境溫(wen)度(du)：-10℃～40℃ 

按(an)下控制(zhi)面(mian)板上的(de)控制(zhi)開關(guan)，啟動工控機。後(hou)打(da)開電(dian)源(yuan)開關(guan)，啟動WindowsXP後(hou)，雙(shuang)擊桌(zhuo)面(mian)上的(de)測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示主控界面如(ru)右(you)圖。（如(ru)使(shi)用外接(jie)筆(bi)記(ji)本則不(bu)要(yao)打(da)開控制(zhi)開關(guan)，將USB線(xian)插(cha)入(ru)下(xia)側USB接(jie)口(kou)，則(ze)可(ke)控測試(shi)系統(tong)。）上側USB是(shi)內(nei)置工控機數據輸(shu)入輸(shu)出(chu)接(jie)口(kou)<按(an)“測試(shi)”按(an)鈕進(jin)入測試(shi)方式；按(an)“管(guan)理(li)”按(an)鈕進(jin)入電(dian)纜(lan)資料和(he)測試(shi)資料的(de)日(ri)常(chang)管(guan)理(li)；按(an)“幫助”進(jin)入幫助系(xi)統(tong)；按(an)“結束”退出測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)。



*部分 電(dian)纜(lan)故障(zhang)測試(shi)
測試(shi)原理(li) 
本儀(yi)器(qi)采(cai)用時(shi)域(yu)反射（TDR）原(yuan)理(li)，對(dui)被(bei)測電(dian)纜(lan)發(fa)射壹(yi)系列(lie)電(dian)脈沖，並接(jie)收電(dian)纜(lan)中(zhong)因(yin)阻(zu)抗(kang)變化(hua)引起的(de)反(fan)射脈沖，再根(gen)據(ju)電(dian)波在(zai)電(dian)纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播速(su)度和(he)兩次(ci)反(fan)射波的(de)特征拐(guai)點代表的(de)時(shi)間(jian)，可測出(chu)故障(zhang)點(dian)到測試(shi)端(duan)的(de)距(ju)離(li)為(wei)：
S=VT/2
式(shi)中(zhong)：S代表(biao)故障(zhang)點(dian)到測試(shi)端(duan)的(de)距(ju)離(li)
V代(dai)表(biao)電(dian)波在(zai)電(dian)纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播速(su)度
T代(dai)表(biao)電(dian)波在(zai)電(dian)纜(lan)中(zhong)來回傳播所(suo)需(xu)要(yao)的(de)時(shi)間(jian)
這(zhe)樣，在(zai)V已知和(he)T已經(jing)測出(chu)的(de)情(qing)況下(xia)，就(jiu)可(ke)計算出故障(zhang)點(dian)距測試(shi)。端(duan)的(de)距(ju)離(li)S 。這(zhe)壹(yi)切只(zhi)需(xu)稍加人工幹(gan)預，就(jiu)可(ke)由(you)計算機自(zi)動完(wan)成，測試(shi)故障(zhang)迅(xun)速準(zhun)確(que)。
二(er)、測試(shi)系統(tong)控制(zhi)面(mian)板介(jie)紹(shao)
測試(shi)面板(ban)可分為四部分：菜(cai)單(dan)欄(lan)、狀態欄(lan)、圖形(xing)顯示區、功能鍵區。
１、菜(cai)單(dan)欄(lan) 
菜(cai)單(dan)欄(lan)包(bao)括(kuo)：“數據管(guan)理(li)”和(he)“測試(shi)幫助(zhu)”兩個菜(cai)單(dan)項。
“數據管(guan)理(li)”菜(cai)單(dan)：包括“打(da)印(yin)”，“讀(du)盤(pan)”，“存(cun)盤”，“結(jie)束”四個菜(cai)單(dan)項。
選擇(ze)“打(da)印(yin)”可將(jiang)屏幕(mu)顯示內容(rong)用打(da)印(yin)機打(da)印(yin)出來(lai)；選“存盤(pan)”可(ke)將測試(shi)的(de)波形和(he)數據存(cun)儲(chu)於(yu)電(dian)腦的(de)硬盤或者(zhe)軟盤中(zhong)，作為(wei)資料保存(cun)；選“讀(du)盤(pan)”可(ke)調(tiao)出(chu)以(yi)前(qian)測試(shi)時(shi)存(cun)在(zai)磁盤內的(de)波形；選“結束(shu)”可(ke)退出該(gai)控制(zhi)面(mian)板。
“測試(shi)幫助(zhu)”：點擊該(gai)菜(cai)單(dan)，可顯示測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)的(de)使(shi)用說明(ming)書，可打印(yin)輸出(chu)。
2、狀態欄(lan)
狀態欄(lan)裏(li)顯(xian)示四個方面的(de)信(xin)息(xi)，zui左邊是測試(shi)方式；第二(er)個是選擇(ze)的(de)電(dian)纜(lan)介(jie)質所(suo)對(dui)應電(dian)波速度（若是(shi)測速(su)度，則(ze)不(bu)顯示介(jie)質信(xin)息(xi)）第三(san)個(ge)是(shi)故障(zhang)距(ju)離(li)（或電(dian)纜(lan)長度），右(you)邊顯示測試(shi)日(ri)期(qi)。3、圖形(xing)顯示區
圖形(xing)顯示區用來(lai)顯示采樣所得(de)的(de)波形，對(dui)波形進(jin)行分析(xi)處理(li)和(he)顯示處理(li)結(jie)果(guo)。
4、功能鍵區
功能鍵區由(you)14個(ge)按(an)鍵組(zu)成，可分為三(san)類(lei)。
初(chu)始化(hua)數據：包(bao)括測試(shi)方法和(he)介(jie)質選擇(ze)兩個鍵。
測試(shi)方法：有兩種(zhong)選擇(ze)，“測故障(zhang)”和(he)“測速(su)度”。
基(ji)本的(de)測試(shi)方法有三種(zhong)， “低壓脈沖”，“沖閃(shan)”，“直閃(shan)”。
“低(di)壓脈沖”包括(kuo)有“2μs”和(he)“0.2μs”兩種(zhong)脈寬可選擇(ze)；“沖閃(shan)”包(bao)括“電(dian)感電(dian)壓取樣”，“電(dian)阻電(dian)壓取樣”，“電(dian)流(liu)取樣”三個(ge)菜(cai)單(dan)項；“直閃(shan)”包(bao)括“電(dian)壓取樣”“電(dian)流(liu)取樣”兩個菜(cai)單(dan)項。
介(jie)質選擇(ze)：
程(cheng)序(xu)初(chu)始化(hua)時(shi)設(she)置為：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型”，如(ru)果(guo)是(shi)其(qi)他(ta)介(jie)質的(de)電(dian)纜(lan)，可(ke)根(gen)據(ju)電(dian)纜(lan)的(de)介(jie)質選擇(ze)。共(gong)有五選項：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型”，“不(bu)滴(di)流(liu)型”，“交(jiao)聯乙烯(xi)”，“聚氯乙烯”，“自選介(jie)質”五(wu)個菜(cai)單(dan)項 。


選擇(ze)其(qi)中(zhong)壹(yi)個菜(cai)單(dan)項就(jiu)等(deng)於(yu)選擇(ze)壹(yi)種(zhong)速度，即(ji)電(dian)波在(zai)該電(dian)纜(lan)中(zhong)的(de)傳(chuan)播速(su)度。
數據采(cai)樣與測試(shi)：共有八個按(an)鍵。

“采樣”鍵：在(zai)系統(tong)測試(shi)時(shi)采(cai)用。每(mei)按(an)動壹(yi)次(ci)“采(cai)樣”鍵，系統(tong)便(bian)采(cai)集(ji)壹(yi)次(ci)數據，並(bing)可以(yi)在(zai)圖形(xing)顯示區繪出波形圖來(lai)。
“擴展(zhan)”鍵：為了計算故障(zhang)距(ju)離(li)，按(an)此鍵可將(jiang)顯示的(de)波形擴展後(hou)再計算。每按(an)壹(yi)次(ci)波形擴展壹(yi)倍，按(an)四次(ci)為(wei)壹(yi)個循(xun)環(huan)。
“卷動”鍵：波形擴展後(hou)，故障(zhang)點(dian)特征波形可能會(hui)出於(yu)*屏以(yi)外的(de)其(qi)它(ta)屏(ping)內，按(an)此鍵可將(jiang)顯示內容(rong)壹(yi)屏壹(yi)屏地向左移(yi)動，直到故障(zhang)波形在(zai)屏顯示出來(lai)，便(bian)在(zai)光標定位(wei)。
“歸(gui)位(wei)”鍵：需(xu)要(yao)光(guang)標快(kuai)速(su)回到屏(ping)幕zui左端(duan)時(shi)按(an)此鍵。
“定位(wei)”鍵：計算距離(li)起(qi)點(dian)鍵。在(zai)光標移(yi)動到特征波形的(de)起(qi)始拐(guai)點處按(an)此鍵。
“左移(yi)”鍵和(he)“右(you)移(yi)”鍵：這(zhe)兩個鍵用於(yu)控制(zhi)光(guang)標的(de)左右(you)移(yi)動。當(dang)按(an)動它(ta)們(men)時(shi)，遊標(biao)移(yi)動，每(mei)按(an)壹(yi)次(ci)移(yi)動壹(yi)個單(dan)位(wei)。此外，為(wei)了快(kuai)速(su)移(yi)動遊標(biao)，可(ke)以(yi)用鼠(shu)標拖(tuo)動遊標(biao)，到合(he)適的(de)位(wei)置(zhi)松(song)開即(ji)可。
“復(fu)位(wei)”鍵：系統(tong)復(fu)位(wei)鍵。無論(lun)系(xi)統(tong)處於(yu)何(he)種(zhong)狀態，按(an)此鍵均(jun)可進(jin)入系統(tong)主(zhu)界面。
波形比(bi)較(jiao)：有四個鍵。
“儲(chu)存(cun)”鍵：按(an)此鍵可將(jiang)測試(shi)的(de)波形和(he)數據存(cun)儲(chu)於(yu)電(dian)腦中(zhong)。（“存儲(chu)”與(yu)“存(cun)盤”不(bu)同。“存(cun)盤”是將數據存(cun)儲(chu)在(zai)磁盤上，可長期(qi)保存(cun)，而(er)“存(cun)儲(chu)”只(zhi)是(shi)將(jiang)數據存(cun)儲(chu)在(zai)電(dian)腦內存中(zhong)，關(guan)機後數據會(hui)丟失(shi)。）
“調(tiao)用”鍵：與“存(cun)儲(chu)”鍵配合(he)使(shi)用。按(an)此鍵可在(zai)屏幕上顯示上次(ci)存(cun)儲(chu)的(de)內(nei)容，以(yi)便(bian)分析(xi)與(yu)計算。
“比(bi)較(jiao)”鍵：按(an)此鍵可將(jiang)現測的(de)波形和(he)儀(yi)器(qi)內(nei)存儲(chu)的(de)波形同時(shi)顯(xian)示在(zai)屏幕上，用戶(hu)可對(dui)這(zhe)兩幅波形進(jin)行比(bi)較(jiao)分析(xi)。
“平移(yi)”鍵：按(an)此鍵進(jin)入圖形(xing)左右(you)移(yi)動功能，點(dian)“左移(yi)”鍵可將(jiang)兩個波形的(de)起(qi)點對(dui)齊。