SDDL-2014智能(neng)電(dian)纜故(gu)障檢測(ce)儀(yi)

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• 更新時間：2024-04-27
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SDDL-2014智能(neng)電(dian)纜故(gu)障檢測(ce)儀(yi)的詳細(xi)介(jie)紹

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SDDL-2014智能(neng)電(dian)纜故(gu)障檢測(ce)儀(yi)

簡介
系統組(zu)成(cheng) 
電纜故(gu)障測試(shi)管(guan)理(li)系統由(you)測(ce)試(shi)系統、路徑(jing)信(xin)號產(chan)生(sheng)器(qi)、路徑(jing)信(xin)號接(jie)收(shou)器(qi)和定(ding)位儀器(qi)幾部(bu)分組(zu)成(cheng)，可完(wan)成(cheng)電纜故(gu)障的測試(shi)和電纜資(zi)料(liao)的管理(li)兩(liang)項任(ren)務(wu)。
筆(bi)記本電(dian)腦進(jin)行測(ce)量控制、數(shu)據(ju)處理和電纜資(zi)料(liao)管理。
故障測試(shi)系統與(yu)筆(bi)記本配(pei)合(he)可在(zai)故(gu)障電纜壹(yi)端(duan)測(ce)出故障點距(ju)測(ce)試(shi)端(duan)的距離(li)，也(ye)可用來測量電纜的長度(du)和電波(bo)在(zai)電(dian)纜中(zhong)的傳播(bo)速度(du)。
路徑(jing)信(xin)號產(chan)生(sheng)器(qi)可產(chan)生(sheng)15KHZ、zui大(da)幅度(du)30V的斷續正弦(xian)波(bo)信(xin)號，用(yong)於(yu)尋測(ce)電(dian)纜路徑(jing)。
路徑(jing)信(xin)號接(jie)收(shou)器(qi)用來接(jie)收(shou)路徑(jing)信(xin)號，查(zha)找(zhao)電纜走向和估測電纜埋設(she)深度(du)。
定(ding)位儀用(yong)於故(gu)障點的定(ding)位。

技術性(xing)能(neng)
●可測試(shi)各種電力電纜的各類故障及(ji)通(tong)信(xin)電纜和市話電纜的開路、短路故障。 
●可測量長度(du)已(yi)知(zhi)的任(ren)何電(dian)纜中(zhong)電波(bo)傳(chuan)播(bo)的速度(du)。
●測(ce)試(shi)距(ju)離(li)：不(bu)小於40千米 
●系統誤差：小於0.5米 
●采樣(yang)頻(pin)率：25MHz 
●測(ce)試(shi)盲(mang)區(qu)：小於5米 
●電源：交(jiao)流(liu)220V±10％
2、路徑(jing)儀信(xin)號產(chan)生(sheng)器(qi)。
●信(xin)號頻(pin)率：15KHz 
●振(zhen)蕩方(fang)式(shi)：斷續
●輸出功率：30W
●電源：220V±10％ 
定(ding)位儀
測(ce)試(shi)靈(ling)敏度(du)：50Ω內(nei)阻(zu)的信(xin)號源輸(shu)出300Hz信(xin)號，定(ding)點儀(yi)在(zai)維持(chi)輸(shu)出為2V、信(xin)雜(za)比優於20：1的情(qing)況下輸(shu)入(ru)信(xin)號不(bu)大(da)於10 μV。 
●輸(shu)入(ru)阻抗：不小於1.2KΩ。 ●使(shi)用2×2000Ω耳(er)機。 
●工(gong)作電壓(ya)：9V±10％。 ●使(shi)用環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)：-10℃～40℃ 

按下控(kong)制面(mian)板(ban)上(shang)的控制開關(guan)，啟(qi)動(dong)工控(kong)機。後(hou)打開電(dian)源開關(guan)，啟(qi)動(dong)WindowsXP後(hou)，雙(shuang)擊(ji)桌面上(shang)的測試(shi)管(guan)理(li)系統，屏幕(mu)顯(xian)示(shi)主(zhu)控界面(mian)如右圖。（如(ru)使(shi)用外(wai)接(jie)筆記本則(ze)不要(yao)打開控(kong)制開關(guan)，將USB線插入下側USB接(jie)口，則(ze)可控測(ce)試(shi)系統。）上(shang)側USB是內(nei)置工(gong)控機數(shu)據(ju)輸入輸(shu)出接(jie)口<按“測試(shi)”按鈕進入(ru)測試(shi)方(fang)式(shi)；按“管理”按鈕進入(ru)電纜資(zi)料(liao)和測試(shi)資(zi)料(liao)的日常(chang)管(guan)理；按“幫(bang)助”進入(ru)幫(bang)助系統；按“結(jie)束”退(tui)出測試(shi)管(guan)理(li)系統。



*部(bu)分 電(dian)纜故(gu)障測試(shi)
測(ce)試(shi)原(yuan)理(li) 
本(ben)儀(yi)器(qi)采用(yong)時域反(fan)射(she)（TDR）原(yuan)理，對(dui)被測電(dian)纜發(fa)射(she)壹系列電脈(mai)沖，並接(jie)收(shou)電纜中(zhong)因阻(zu)抗變化(hua)引起的反射(she)脈(mai)沖，再根據(ju)電波(bo)在(zai)電(dian)纜中(zhong)的傳播(bo)速度(du)和兩次(ci)反(fan)射(she)波(bo)的特征(zheng)拐(guai)點代(dai)表(biao)的時間，可測出故障點到(dao)測(ce)試(shi)端(duan)的距離(li)為：
S=VT/2
式(shi)中(zhong)：S代(dai)表(biao)故障點到(dao)測(ce)試(shi)端(duan)的距離(li)
V代(dai)表(biao)電波(bo)在(zai)電(dian)纜中(zhong)的傳播(bo)速度(du)
T代(dai)表(biao)電波(bo)在(zai)電(dian)纜中(zhong)來回(hui)傳(chuan)播(bo)所(suo)需(xu)要的時間
這(zhe)樣(yang)，在(zai)V已(yi)知(zhi)和T已(yi)經(jing)測(ce)出的情(qing)況下，就(jiu)可計(ji)算(suan)出故障點距(ju)測(ce)試(shi)。端(duan)的距離(li)S 。這(zhe)壹切只需(xu)稍加(jia)人工(gong)幹(gan)預(yu)，就(jiu)可由(you)計(ji)算(suan)機自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)，測試(shi)故(gu)障迅速準(zhun)確。
二、測試(shi)系統控制面(mian)板(ban)介紹
測(ce)試(shi)面(mian)板(ban)可分為四部(bu)分：菜(cai)單(dan)欄(lan)、狀(zhuang)態(tai)欄(lan)、圖形顯(xian)示(shi)區、功能(neng)鍵區。
１、菜(cai)單(dan)欄(lan) 
菜(cai)單(dan)欄(lan)包括：“數(shu)據(ju)管理”和“測試(shi)幫(bang)助”兩個(ge)菜(cai)單(dan)項(xiang)。
“數(shu)據(ju)管理”菜(cai)單(dan)：包括“打印”，“讀盤”，“存(cun)盤”，“結(jie)束”四個(ge)菜(cai)單(dan)項(xiang)。
選擇“打印”可將屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)內容用(yong)打印機打印出來；選“存(cun)盤”可將測(ce)試(shi)的波(bo)形和數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電腦的硬盤或者軟盤中(zhong)，作為資料保(bao)存(cun)；選“讀盤”可調出以(yi)前(qian)測試(shi)時存(cun)在(zai)磁(ci)盤內的波(bo)形；選(xuan)“結(jie)束”可退(tui)出該(gai)控(kong)制面(mian)板(ban)。
“測試(shi)幫(bang)助”：點擊(ji)該(gai)菜(cai)單(dan)，可顯示(shi)測試(shi)管(guan)理(li)系統的使(shi)用說(shuo)明書，可打印輸出。
2、狀(zhuang)態(tai)欄(lan)
狀(zhuang)態(tai)欄(lan)裏顯(xian)示(shi)四個方(fang)面(mian)的信(xin)息，zui左(zuo)邊(bian)是測試(shi)方(fang)式(shi)；第二個是(shi)選(xuan)擇的電纜介(jie)質所(suo)對應(ying)電波(bo)速度(du)（若(ruo)是(shi)測速度(du)，則(ze)不(bu)顯(xian)示(shi)介質信(xin)息）第三個(ge)是(shi)故障距離(li)（或(huo)電纜長(chang)度(du)），右邊顯示(shi)測試(shi)日(ri)期(qi)。3、圖形顯(xian)示(shi)區
圖形顯(xian)示(shi)區用來顯示(shi)采樣(yang)所(suo)得(de)的波(bo)形，對(dui)波(bo)形進(jin)行分(fen)析(xi)處(chu)理和顯示(shi)處理結(jie)果。
4、功能鍵區
功(gong)能(neng)鍵區由(you)14個(ge)按鍵組(zu)成(cheng)，可分為三類。
初始(shi)化(hua)數(shu)據(ju)：包括測試(shi)方(fang)法(fa)和介質選(xuan)擇(ze)兩個(ge)鍵。
測試(shi)方(fang)法(fa)：有(you)兩(liang)種選擇，“測(ce)故障”和“測速度(du)”。
基本(ben)的測試(shi)方(fang)法(fa)有(you)三(san)種， “低壓(ya)脈(mai)沖”，“沖閃”，“直(zhi)閃”。
“低壓(ya)脈(mai)沖”包括有“2μs”和“0.2μs”兩種脈寬可選擇(ze)；“沖閃”包括“電感電壓(ya)取(qu)樣(yang)”，“電阻(zu)電壓(ya)取(qu)樣(yang)”，“電流(liu)取樣(yang)”三個(ge)菜單(dan)項(xiang)；“直(zhi)閃”包括“電壓(ya)取(qu)樣(yang)”“電流(liu)取樣(yang)”兩個(ge)菜單(dan)項(xiang)。
介質選(xuan)擇(ze)：
程(cheng)序(xu)初始(shi)化(hua)時設(she)置為：“油(you)浸紙(zhi)型(xing)”，如(ru)果是其他介(jie)質的電纜，可根據(ju)電纜的介質選(xuan)擇(ze)。共有(you)五(wu)選(xuan)項(xiang)：“油(you)浸紙(zhi)型(xing)”，“不(bu)滴(di)流(liu)型(xing)”，“交(jiao)聯乙(yi)烯(xi)”，“聚(ju)氯乙(yi)烯(xi)”，“自(zi)選介質”五(wu)個(ge)菜單(dan)項(xiang) 。


選擇其中(zhong)壹個(ge)菜(cai)單(dan)項(xiang)就(jiu)等於選(xuan)擇(ze)壹種速度(du)，即(ji)電(dian)波(bo)在(zai)該(gai)電(dian)纜中(zhong)的傳播(bo)速度(du)。
數(shu)據(ju)采樣(yang)與(yu)測(ce)試(shi)：共(gong)有(you)八個按鍵。

“采樣(yang)”鍵：在(zai)系統測試(shi)時采用(yong)。每(mei)按動(dong)壹次(ci)“采樣(yang)”鍵，系統便采集壹(yi)次(ci)數(shu)據(ju)，並可以(yi)在(zai)圖形顯(xian)示(shi)區繪(hui)出波(bo)形圖來。
“擴(kuo)展”鍵：為了計(ji)算(suan)故障距離(li)，按此鍵可將顯(xian)示(shi)的波(bo)形擴(kuo)展後(hou)再計(ji)算(suan)。每按壹次(ci)波(bo)形擴(kuo)展壹倍，按四次(ci)為壹個循環(huan)。
“卷(juan)動(dong)”鍵：波(bo)形擴(kuo)展後(hou)，故障點特(te)征(zheng)波(bo)形可能會出於*屏以(yi)外(wai)的其它(ta)屏(ping)內，按此鍵可將顯(xian)示(shi)內容壹(yi)屏(ping)壹(yi)屏地(di)向左(zuo)移(yi)動(dong)，直(zhi)到(dao)故障波(bo)形在(zai)屏(ping)顯示(shi)出來，便在(zai)光(guang)標定(ding)位。
“歸(gui)位(wei)”鍵：需(xu)要光(guang)標快(kuai)速回(hui)到(dao)屏(ping)幕(mu)zui左(zuo)端(duan)時按此鍵。
“定(ding)位”鍵：計(ji)算(suan)距離(li)起點鍵。在(zai)光(guang)標移動(dong)到特(te)征(zheng)波(bo)形的起始(shi)拐(guai)點處(chu)按此鍵。
“左(zuo)移(yi)”鍵和“右移”鍵：這兩(liang)個(ge)鍵用於(yu)控(kong)制光(guang)標(biao)的左(zuo)右移動(dong)。當按動(dong)它們(men)時，遊標移(yi)動(dong)，每按壹次(ci)移(yi)動(dong)壹個(ge)單(dan)位(wei)。此外，為了快(kuai)速移(yi)動(dong)遊標，可以(yi)用(yong)鼠標拖動(dong)遊標，到(dao)合(he)適的位置(zhi)松(song)開即(ji)可。
“復位”鍵：系統復位鍵。無論(lun)系統處於何(he)種狀(zhuang)態(tai)，按此鍵均(jun)可進入(ru)系統主(zhu)界面。
波(bo)形比較：有(you)四個(ge)鍵。
“儲(chu)存(cun)”鍵：按此鍵可將測(ce)試(shi)的波(bo)形和數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電腦中(zhong)。（“存(cun)儲(chu)”與(yu)“存(cun)盤”不同(tong)。“存(cun)盤”是將數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)在(zai)磁(ci)盤上(shang)，可長期(qi)保(bao)存(cun)，而(er)“存(cun)儲(chu)”只是(shi)將數(shu)據(ju)存(cun)儲(chu)在(zai)電(dian)腦內存(cun)中(zhong)，關(guan)機後(hou)數(shu)據(ju)會丟(diu)失。）
“調用”鍵：與(yu)“存(cun)儲(chu)”鍵配合(he)使(shi)用。按此鍵可在(zai)屏(ping)幕(mu)上(shang)顯(xian)示(shi)上(shang)次(ci)存(cun)儲(chu)的內容(rong)，以(yi)便分析(xi)與(yu)計(ji)算(suan)。
“比較”鍵：按此鍵可將現(xian)測(ce)的波(bo)形和儀器(qi)內存(cun)儲(chu)的波(bo)形同(tong)時顯(xian)示(shi)在(zai)屏(ping)幕(mu)上(shang)，用(yong)戶(hu)可對這(zhe)兩(liang)幅波(bo)形進(jin)行比較分(fen)析。
“平移(yi)”鍵：按此鍵進入(ru)圖形左(zuo)右移動(dong)功能(neng)，點“左(zuo)移(yi)”鍵可將兩(liang)個(ge)波(bo)形的起點對(dui)齊(qi)。