SDDL-2014高(gao)壓電纜(lan)故障(zhang)探(tan)測(ce)儀

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• 更新時(shi)間：2024-04-27
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SDDL-2014高壓電纜(lan)故障(zhang)探(tan)測(ce)儀的(de)詳細介(jie)紹

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SDDL-2014高壓電纜(lan)故障(zhang)探(tan)測(ce)儀
簡(jian)介
系(xi)統(tong)組(zu)成 
電纜(lan)故障(zhang)測(ce)試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)由(you)測試(shi)系(xi)統(tong)、路(lu)徑(jing)信(xin)號(hao)產生器、路徑(jing)信(xin)號(hao)接(jie)收(shou)器和定(ding)位(wei)儀(yi)器幾部(bu)分(fen)組(zu)成，可(ke)完(wan)成電纜(lan)故障(zhang)的(de)測試(shi)和電纜(lan)資料(liao)的(de)管(guan)理(li)兩項(xiang)任(ren)務(wu)。
筆(bi)記本電腦進行(xing)測量控制(zhi)、數據(ju)處(chu)理(li)和電纜(lan)資料(liao)管(guan)理(li)。
故障(zhang)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)與(yu)筆記本配合可(ke)在故(gu)障(zhang)電纜(lan)壹(yi)端測(ce)出故(gu)障(zhang)點距測(ce)試(shi)端的(de)距離，也(ye)可(ke)用(yong)來(lai)測量電纜(lan)的(de)長度和電波(bo)在電纜(lan)中的(de)傳播(bo)速度(du)。
路(lu)徑(jing)信(xin)號(hao)產生器可(ke)產生15KHZ、zui大幅(fu)度(du)30V的(de)斷(duan)續(xu)正弦(xian)波(bo)信(xin)號(hao)，用(yong)於尋測(ce)電纜(lan)路徑(jing)。
路(lu)徑(jing)信(xin)號(hao)接(jie)收(shou)器用(yong)來(lai)接收(shou)路(lu)徑(jing)信(xin)號(hao)，查找(zhao)電纜(lan)走向和估(gu)測電纜(lan)埋設(she)深度。
定(ding)位(wei)儀(yi)用(yong)於故障(zhang)點的(de)定位(wei)。

技(ji)術(shu)性(xing)能(neng)
●可(ke)測試(shi)各(ge)種(zhong)電力電纜(lan)的(de)各(ge)類(lei)故障及(ji)通信(xin)電纜(lan)和市(shi)話電纜(lan)的(de)開路、短(duan)路(lu)故障(zhang)。 
●可(ke)測量長度(du)已(yi)知的(de)任(ren)何電纜(lan)中電波(bo)傳播(bo)的(de)速度。
●測(ce)試(shi)距離：不小於(yu)40千米 
●系(xi)統(tong)誤差(cha)：小(xiao)於(yu)0.5米 
●采樣(yang)頻率(lv)：25MHz 
●測(ce)試(shi)盲區(qu)：小(xiao)於(yu)5米 
●電源：交(jiao)流(liu)220V±10％
2、路徑(jing)儀(yi)信(xin)號(hao)產生器。
●信(xin)號(hao)頻率(lv)：15KHz 
●振(zhen)蕩(dang)方(fang)式(shi)：斷(duan)續(xu)
●輸出功(gong)率(lv)：30W
●電源：220V±10％ 
定(ding)位(wei)儀(yi)
測試(shi)靈敏度：50Ω內(nei)阻(zu)的(de)信(xin)號(hao)源(yuan)輸(shu)出300Hz信(xin)號(hao)，定(ding)點儀在(zai)維持(chi)輸出為2V、信(xin)雜(za)比優(you)於20：1的(de)情(qing)況(kuang)下輸(shu)入信(xin)號(hao)不大於(yu)10 μV。 
●輸入阻(zu)抗(kang)：不小於(yu)1.2KΩ。 ●使用(yong)2×2000Ω耳(er)機(ji)。 
●工作(zuo)電壓：9V±10％。 ●使(shi)用(yong)環(huan)境溫(wen)度(du)：-10℃～40℃ 

按下控制(zhi)面板(ban)上(shang)的(de)控制(zhi)開關，啟(qi)動工控機(ji)。後打(da)開電源開關，啟(qi)動WindowsXP後，雙(shuang)擊桌(zhuo)面上(shang)的(de)測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)，屏(ping)幕顯(xian)示(shi)主控界(jie)面(mian)如右圖。（如使用(yong)外接筆(bi)記本則不要(yao)打(da)開控制(zhi)開關，將USB線插(cha)入下側(ce)USB接(jie)口，則可(ke)控測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)。）上(shang)側(ce)USB是內置(zhi)工控機(ji)數據(ju)輸(shu)入輸(shu)出接(jie)口(kou)<按“測(ce)試(shi)”按鈕(niu)進入測(ce)試(shi)方(fang)式(shi)；按“管(guan)理(li)”按鈕(niu)進入電纜(lan)資料(liao)和測(ce)試(shi)資料(liao)的(de)日(ri)常(chang)管(guan)理(li)；按“幫助(zhu)”進入幫助(zhu)系(xi)統(tong)；按“結(jie)束”退(tui)出測(ce)試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)。



*部(bu)分(fen) 電纜(lan)故障(zhang)測(ce)試(shi)
測試(shi)原理(li) 
本儀器采用(yong)時(shi)域反射（TDR）原理(li)，對被(bei)測(ce)電纜(lan)發射壹(yi)系(xi)列(lie)電脈沖，並接(jie)收(shou)電纜(lan)中因(yin)阻抗(kang)變化引(yin)起(qi)的(de)反射脈(mai)沖，再(zai)根據電波(bo)在電纜(lan)中的(de)傳播(bo)速度(du)和兩(liang)次(ci)反(fan)射波(bo)的(de)特征拐點代(dai)表的(de)時(shi)間，可(ke)測出故(gu)障(zhang)點到測(ce)試(shi)端的(de)距離為：
S=VT/2
式(shi)中：S代(dai)表故障點到測(ce)試(shi)端的(de)距離
V代(dai)表電波(bo)在電纜(lan)中的(de)傳播(bo)速度(du)
T代(dai)表電波(bo)在電纜(lan)中來(lai)回傳(chuan)播(bo)所需(xu)要(yao)的(de)時(shi)間
這(zhe)樣(yang)，在V已(yi)知和T已(yi)經(jing)測(ce)出的(de)情(qing)況(kuang)下，就可(ke)計算出故(gu)障(zhang)點距測(ce)試(shi)。端的(de)距離S 。這壹(yi)切(qie)只需(xu)稍(shao)加(jia)人(ren)工幹預(yu)，就可(ke)由計算機(ji)自動完(wan)成，測(ce)試(shi)故障(zhang)迅速(su)準確。
二、測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)控制(zhi)面板(ban)介(jie)紹
測試(shi)面板(ban)可(ke)分為四(si)部(bu)分(fen)：菜單欄(lan)、狀(zhuang)態欄(lan)、圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)、功(gong)能(neng)鍵區(qu)。
１、菜單欄(lan) 
菜單欄(lan)包(bao)括：“數據(ju)管(guan)理(li)”和“測(ce)試(shi)幫助(zhu)”兩個菜單項(xiang)。
“數據(ju)管(guan)理(li)”菜單：包(bao)括“打(da)印(yin)”，“讀(du)盤(pan)”，“存(cun)盤(pan)”，“結(jie)束”四(si)個菜單項(xiang)。
選(xuan)擇“打(da)印(yin)”可(ke)將屏幕顯(xian)示(shi)內容(rong)用(yong)打(da)印(yin)機(ji)打(da)印(yin)出來(lai)；選(xuan)“存(cun)盤(pan)”可(ke)將測試(shi)的(de)波(bo)形和數據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電腦的(de)硬盤(pan)或者(zhe)軟盤(pan)中，作為資料(liao)保(bao)存(cun)；選(xuan)“讀(du)盤(pan)”可(ke)調(tiao)出以(yi)前(qian)測試(shi)時(shi)存(cun)在(zai)磁(ci)盤(pan)內(nei)的(de)波(bo)形；選(xuan)“結(jie)束”可(ke)退(tui)出該(gai)控制(zhi)面板(ban)。
“測(ce)試(shi)幫助(zhu)”：點擊該(gai)菜單，可(ke)顯(xian)示(shi)測試(shi)管(guan)理(li)系(xi)統(tong)的(de)使用(yong)說(shuo)明(ming)書(shu)，可(ke)打(da)印(yin)輸出。
2、狀(zhuang)態欄(lan)
狀(zhuang)態欄(lan)裏(li)顯(xian)示(shi)四(si)個方(fang)面(mian)的(de)信(xin)息，zui左邊是測試(shi)方(fang)式(shi)；第二個(ge)是選(xuan)擇的(de)電纜(lan)介質(zhi)所對應電波(bo)速度(du)（若是測速(su)度，則不顯(xian)示(shi)介質(zhi)信(xin)息）第(di)三(san)個是故障(zhang)距離（或電纜(lan)長度(du)），右邊顯(xian)示(shi)測試(shi)日(ri)期(qi)。3、圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)
圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)用(yong)來(lai)顯(xian)示(shi)采樣(yang)所得(de)的(de)波(bo)形，對(dui)波(bo)形進行(xing)分析處(chu)理(li)和顯(xian)示(shi)處(chu)理(li)結果(guo)。
4、功(gong)能鍵區(qu)
功(gong)能(neng)鍵區(qu)由(you)14個(ge)按鍵組成，可(ke)分為三(san)類(lei)。
初始(shi)化(hua)數據(ju)：包(bao)括測(ce)試(shi)方(fang)法和介(jie)質選(xuan)擇兩個鍵。
測試(shi)方(fang)法：有(you)兩種(zhong)選(xuan)擇，“測故障(zhang)”和“測(ce)速度”。
基本的(de)測試(shi)方(fang)法有(you)三種(zhong)， “低(di)壓脈(mai)沖”，“沖閃”，“直閃”。
“低(di)壓脈(mai)沖”包括有(you)“2μs”和“0.2μs”兩(liang)種(zhong)脈寬可(ke)選(xuan)擇；“沖閃”包括“電感電壓取(qu)樣(yang)”，“電阻電壓取(qu)樣(yang)”，“電流(liu)取樣(yang)”三(san)個菜單項(xiang)；“直閃”包括“電壓取(qu)樣(yang)”“電流(liu)取樣(yang)”兩(liang)個菜單項(xiang)。
介質選(xuan)擇：
程序初(chu)始(shi)化(hua)時(shi)設置(zhi)為：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型”，如果(guo)是其他(ta)介質的(de)電纜(lan)，可(ke)根據(ju)電纜(lan)的(de)介質選(xuan)擇。共有五(wu)選(xuan)項(xiang)：“油(you)浸紙(zhi)型”，“不滴流(liu)型”，“交(jiao)聯乙(yi)烯”，“聚(ju)氯乙(yi)烯(xi)”，“自選(xuan)介(jie)質(zhi)”五(wu)個菜單項(xiang) 。


選(xuan)擇其中壹(yi)個菜單項(xiang)就等(deng)於選(xuan)擇壹(yi)種(zhong)速度(du)，即電波(bo)在該(gai)電纜(lan)中的(de)傳播(bo)速度(du)。
數據(ju)采(cai)樣與測(ce)試(shi)：共有(you)八個(ge)按鍵。

“采樣”鍵：在系(xi)統(tong)測(ce)試(shi)時(shi)采用(yong)。每(mei)按動壹(yi)次(ci)“采(cai)樣”鍵，系(xi)統(tong)便(bian)采集壹(yi)次(ci)數據(ju)，並可(ke)以在(zai)圖形(xing)顯(xian)示(shi)區(qu)繪出波(bo)形圖來(lai)。
“擴(kuo)展”鍵：為了(le)計算故障(zhang)距離，按此(ci)鍵可(ke)將顯(xian)示(shi)的(de)波(bo)形擴(kuo)展後再(zai)計算。每(mei)按壹(yi)次(ci)波(bo)形擴(kuo)展壹(yi)倍，按四(si)次(ci)為壹(yi)個循環(huan)。
“卷(juan)動”鍵：波(bo)形擴(kuo)展後，故(gu)障(zhang)點特征波(bo)形可(ke)能會(hui)出於(yu)*屏(ping)以外(wai)的(de)其它(ta)屏(ping)內(nei)，按此(ci)鍵可(ke)將顯(xian)示(shi)內容(rong)壹(yi)屏壹(yi)屏地向左移(yi)動，直到故(gu)障(zhang)波(bo)形在(zai)屏顯(xian)示(shi)出來(lai)，便在(zai)光(guang)標定位(wei)。
“歸(gui)位(wei)”鍵：需(xu)要(yao)光(guang)標快速(su)回到屏(ping)幕zui左端時(shi)按此(ci)鍵。
“定位(wei)”鍵：計算距離起點鍵。在光(guang)標移(yi)動到特(te)征波(bo)形的(de)起始(shi)拐(guai)點處(chu)按此(ci)鍵。
“左移(yi)”鍵和“右移(yi)”鍵：這兩個鍵用(yong)於控制(zhi)光(guang)標的(de)左右移(yi)動。當按動它(ta)們(men)時(shi)，遊(you)標(biao)移(yi)動，每(mei)按壹(yi)次(ci)移(yi)動壹(yi)個單(dan)位(wei)。此(ci)外，為了(le)快(kuai)速(su)移(yi)動遊(you)標(biao)，可(ke)以用(yong)鼠標拖動遊(you)標(biao)，到合適的(de)位(wei)置(zhi)松(song)開即可(ke)。
“復(fu)位(wei)”鍵：系(xi)統(tong)復(fu)位(wei)鍵。無論系(xi)統(tong)處(chu)於何種(zhong)狀(zhuang)態，按此(ci)鍵均可(ke)進入系(xi)統(tong)主界(jie)面。
波(bo)形比較：有四(si)個鍵。
“儲存(cun)”鍵：按此(ci)鍵可(ke)將測試(shi)的(de)波(bo)形和數據(ju)存(cun)儲(chu)於(yu)電腦中。（“存(cun)儲(chu)”與(yu)“存(cun)盤(pan)”不同。“存(cun)盤(pan)”是將數據(ju)存(cun)儲(chu)在(zai)磁(ci)盤(pan)上(shang)，可(ke)長期(qi)保(bao)存(cun)，而“存(cun)儲(chu)”只是將數據(ju)存(cun)儲(chu)在(zai)電腦內(nei)存(cun)中，關機(ji)後數據(ju)會(hui)丟(diu)失(shi)。）
“調(tiao)用(yong)”鍵：與“存(cun)儲(chu)”鍵配合使(shi)用(yong)。按此(ci)鍵可(ke)在屏(ping)幕上顯(xian)示(shi)上次(ci)存(cun)儲(chu)的(de)內容(rong)，以(yi)便(bian)分(fen)析與計算。
“比較”鍵：按此(ci)鍵可(ke)將現(xian)測(ce)的(de)波(bo)形和儀(yi)器內存(cun)儲(chu)的(de)波(bo)形同(tong)時(shi)顯(xian)示(shi)在屏(ping)幕上，用(yong)戶可(ke)對這(zhe)兩(liang)幅波(bo)形進行(xing)比較分析。
“平(ping)移(yi)”鍵：按此(ci)鍵進入圖形(xing)左右移(yi)動功能(neng)，點“左移(yi)”鍵可(ke)將兩個(ge)波(bo)形的(de)起點對齊。