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SDDL-2014便(bian)攜(xie)式電(dian)纜(lan)故障(zhang)測試儀(yi)
簡介
系統(tong)組(zu)成
電纜(lan)故障(zhang)測試管(guan)理系統(tong)由(you)測試系統(tong)、路徑(jing)信(xin)號(hao)產(chan)生(sheng)器、路徑(jing)信(xin)號(hao)接(jie)收器和(he)定(ding)位(wei)儀器幾部分組成，可(ke)完(wan)成電纜(lan)故障(zhang)的測試和(he)電纜(lan)資(zi)料(liao)的管(guan)理兩項任務(wu)。
筆記本(ben)電腦進(jin)行(xing)測量控制、數(shu)據處理(li)和(he)電纜(lan)資(zi)料(liao)管理(li)。
故障(zhang)測試系統(tong)與(yu)筆記本(ben)配合(he)可(ke)在(zai)故障(zhang)電纜(lan)壹(yi)端測出(chu)故障(zhang)點(dian)距(ju)測試端的(de)距(ju)離，也可(ke)用(yong)來測量電纜(lan)的長(chang)度和(he)電波(bo)在電(dian)纜(lan)中的傳播(bo)速(su)度。
路徑(jing)信(xin)號(hao)產(chan)生(sheng)器可(ke)產(chan)生(sheng)15KHZ、zui大幅(fu)度30V的(de)斷續(xu)正弦(xian)波(bo)信(xin)號(hao)，用(yong)於(yu)尋測電纜(lan)路徑(jing)。
路徑(jing)信(xin)號(hao)接(jie)收器用來接(jie)收路徑(jing)信(xin)號(hao)，查(zha)找電纜(lan)走(zou)向和(he)估測電纜(lan)埋設深度。
定(ding)位(wei)儀用(yong)於故(gu)障(zhang)點(dian)的(de)定(ding)位(wei)。
SDDL-2014便(bian)攜(xie)式電(dian)纜(lan)故障(zhang)測試儀(yi)技術性能
●可(ke)測試各(ge)種電力電(dian)纜(lan)的各類(lei)故障(zhang)及通(tong)信(xin)電(dian)纜(lan)和(he)市話(hua)電纜(lan)的開(kai)路、短路故障(zhang)。
●可(ke)測量長(chang)度已(yi)知的(de)任何電(dian)纜(lan)中電波(bo)傳播(bo)的速(su)度。
●測試距(ju)離：不小於(yu)40千米
●系統(tong)誤(wu)差(cha)：小於(yu)0.5米
●采樣頻率(lv)：25MHz
●測試盲(mang)區：小於(yu)5米
●電源：交(jiao)流(liu)220V±10％
2、路徑(jing)儀(yi)信(xin)號(hao)產(chan)生(sheng)器。
●信(xin)號(hao)頻(pin)率(lv)：15KHz
●振蕩(dang)方(fang)式：斷(duan)續
●輸出(chu)功率(lv)：30W
●電源：220V±10％
定(ding)位(wei)儀
測試靈(ling)敏度：50Ω內(nei)阻的(de)信(xin)號(hao)源輸出(chu)300Hz信(xin)號(hao)，定(ding)點(dian)儀(yi)在維(wei)持(chi)輸出(chu)為(wei)2V、信(xin)雜比優(you)於20：1的(de)情(qing)況(kuang)下輸入信(xin)號(hao)不大於10 μV。
●輸入阻抗：不小於(yu)1.2KΩ。 ●使用2×2000Ω耳機(ji)。
●工作電(dian)壓(ya)：9V±10％。 ●使用(yong)環(huan)境(jing)溫(wen)度：-10℃～40℃
按(an)下控制面(mian)板上的控制開(kai)關，啟(qi)動工控機。後打開(kai)電源開(kai)關，啟(qi)動WindowsXP後，雙(shuang)擊(ji)桌(zhuo)面(mian)上(shang)的(de)測試管(guan)理系統(tong)，屏(ping)幕顯示主(zhu)控界(jie)面(mian)如右(you)圖(tu)。（如使(shi)用外(wai)接筆記本(ben)則(ze)不要(yao)打開(kai)控制開(kai)關，將(jiang)USB線插入下側USB接口(kou)，則(ze)可(ke)控測試系統(tong)。）上(shang)側USB是內(nei)置(zhi)工控機數(shu)據輸入輸出(chu)接口(kou)<按“測試”按(an)鈕進(jin)入測試方(fang)式；按(an)“管理(li)”按鈕進(jin)入電纜(lan)資(zi)料(liao)和(he)測試資(zi)料(liao)的日(ri)常(chang)管(guan)理；按(an)“幫(bang)助”進入幫(bang)助系統(tong)；按(an)“結(jie)束”退(tui)出(chu)測試管(guan)理系統(tong)。
*部(bu)分 電(dian)纜(lan)故障(zhang)測試
壹(yi)、測試原(yuan)理
本(ben)儀器采用時域反(fan)射(she)（TDR）原(yuan)理(li)，對被(bei)測電纜(lan)發(fa)射(she)壹(yi)系列電(dian)脈沖，並接收電(dian)纜(lan)中因阻(zu)抗變化(hua)引起的反(fan)射(she)脈沖，再根據電(dian)波(bo)在電(dian)纜(lan)中的傳播(bo)速(su)度和(he)兩次(ci)反(fan)射(she)波(bo)的特征(zheng)拐點(dian)代(dai)表的(de)時間(jian)，可(ke)測出(chu)故障(zhang)點(dian)到(dao)測試端的(de)距(ju)離為(wei)：
S=VT/2
式中：S代(dai)表故(gu)障(zhang)點(dian)到(dao)測試端的(de)距(ju)離
V代(dai)表電(dian)波(bo)在電(dian)纜(lan)中的傳播(bo)速(su)度
T代(dai)表電(dian)波(bo)在電(dian)纜(lan)中來回(hui)傳播(bo)所需要的時間(jian)
這(zhe)樣，在V已(yi)知(zhi)和(he)T已經測出(chu)的情(qing)況(kuang)下，就(jiu)可(ke)計(ji)算出(chu)故障(zhang)點(dian)距(ju)測試。端的(de)距(ju)離S 。這(zhe)壹(yi)切(qie)只需稍(shao)加人(ren)工幹預(yu)，就(jiu)可(ke)由(you)計算機(ji)自(zi)動完(wan)成，測試故(gu)障(zhang)迅(xun)速(su)準(zhun)確(que)。
二、測試系統(tong)控制面(mian)板介紹
測試面(mian)板可(ke)分(fen)為(wei)四(si)部分(fen)：菜單(dan)欄(lan)、狀態欄、圖(tu)形顯示區、功能鍵(jian)區。
１、菜單(dan)欄(lan)
菜單(dan)欄(lan)包(bao)括：“數據(ju)管(guan)理”和(he)“測試幫(bang)助”兩個菜單(dan)項(xiang)。
“數據管理”菜單(dan)：包(bao)括“打印(yin)”，“讀盤”，“存(cun)盤”，“結(jie)束”四(si)個菜單(dan)項(xiang)。
選擇(ze)“打(da)印(yin)”可(ke)將(jiang)屏(ping)幕顯示內(nei)容(rong)用打(da)印(yin)機打印(yin)出(chu)來；選“存(cun)盤(pan)”可(ke)將(jiang)測試的(de)波(bo)形和(he)數據(ju)存儲(chu)於電腦的(de)硬(ying)盤或者(zhe)軟盤中，作為(wei)資(zi)料(liao)保(bao)存；選“讀(du)盤(pan)”可(ke)調(tiao)出(chu)以前(qian)測試時(shi)存在磁(ci)盤內的(de)波(bo)形；選“結(jie)束”可(ke)退(tui)出(chu)該控制面(mian)板。
“測試幫(bang)助”：點(dian)擊(ji)該菜單(dan)，可(ke)顯示測試管(guan)理系統(tong)的(de)使用(yong)說明書，可(ke)打(da)印(yin)輸出(chu)。
2、狀態(tai)欄
狀態欄裏(li)顯示四(si)個方(fang)面的信(xin)息(xi)，zui左邊(bian)是測試方(fang)式；第(di)二(er)個是選擇(ze)的(de)電(dian)纜(lan)介質(zhi)所對應(ying)電波(bo)速(su)度（若是(shi)測速(su)度，則(ze)不顯示介質(zhi)信(xin)息(xi)）第(di)三個是故(gu)障(zhang)距離（或電纜(lan)長(chang)度），右(you)邊(bian)顯示測試日(ri)期(qi)。3、圖(tu)形顯示區
圖(tu)形顯示區用來顯示采(cai)樣所得的波(bo)形，對波(bo)形進(jin)行(xing)分析處(chu)理和(he)顯示處(chu)理(li)結(jie)果。
4、功能鍵(jian)區
功能鍵(jian)區由14個按鍵(jian)組成，可(ke)分(fen)為(wei)三類(lei)。
初始化(hua)數據(ju)：包(bao)括測試方(fang)法(fa)和(he)介質(zhi)選擇(ze)兩(liang)個鍵(jian)。
測試方(fang)法(fa)：有兩(liang)種選擇(ze)，“測故障(zhang)”和(he)“測速(su)度”。
基(ji)本(ben)的測試方(fang)法(fa)有三種， “低壓(ya)脈沖”，“沖閃(shan)”，“直(zhi)閃(shan)”。
“低壓(ya)脈沖”包(bao)括有“2μs”和(he)“0.2μs”兩種脈寬可(ke)選擇(ze)；“沖(chong)閃(shan)”包(bao)括“電感(gan)電壓(ya)取樣”，“電阻(zu)電(dian)壓(ya)取樣”，“電流(liu)取樣”三個菜單(dan)項(xiang)；“直(zhi)閃(shan)”包(bao)括“電壓(ya)取樣”“電流(liu)取樣”兩個菜單(dan)項(xiang)。
介質(zhi)選擇(ze)：
程序(xu)初始化(hua)時設置為(wei)：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型”，如果是其(qi)他介質(zhi)的電(dian)纜(lan)，可(ke)根據電(dian)纜(lan)的介質(zhi)選擇(ze)。共(gong)有(you)五(wu)選項(xiang)：“油(you)浸(jin)紙(zhi)型”，“不滴(di)流(liu)型”，“交(jiao)聯乙烯(xi)”，“聚(ju)氯(lv)乙(yi)烯(xi)”，“自(zi)選介質(zhi)”五(wu)個菜單(dan)項(xiang) 。
選擇(ze)其(qi)中壹(yi)個菜單(dan)項(xiang)就等於選擇(ze)壹(yi)種速(su)度，即電(dian)波(bo)在該電(dian)纜(lan)中的傳播(bo)速(su)度。
數(shu)據采(cai)樣與(yu)測試：共(gong)有(you)八(ba)個按鍵(jian)。
“采樣”鍵(jian)：在系統(tong)測試時(shi)采用。每(mei)按動(dong)壹(yi)次(ci)“采樣”鍵(jian)，系統(tong)便(bian)采集(ji)壹(yi)次(ci)數據(ju)，並可(ke)以在(zai)圖(tu)形顯示區繪出(chu)波(bo)形圖(tu)來。
“擴展(zhan)”鍵(jian)：為(wei)了(le)計算故(gu)障(zhang)距離，按此鍵(jian)可(ke)將(jiang)顯示的(de)波(bo)形擴展(zhan)後再計(ji)算。每(mei)按(an)壹(yi)次(ci)波(bo)形擴展(zhan)壹(yi)倍(bei)，按(an)四(si)次(ci)為(wei)壹(yi)個循環(huan)。
“卷(juan)動(dong)”鍵(jian)：波(bo)形擴展(zhan)後，故障(zhang)點(dian)特征(zheng)波(bo)形可(ke)能會出(chu)於*屏(ping)以外(wai)的其(qi)它屏(ping)內，按(an)此(ci)鍵(jian)可(ke)將(jiang)顯示內(nei)容(rong)壹(yi)屏壹(yi)屏地向左移(yi)動(dong)，直(zhi)到(dao)故(gu)障(zhang)波(bo)形在(zai)屏顯示出(chu)來，便(bian)在光(guang)標(biao)定(ding)位(wei)。
“歸(gui)位(wei)”鍵(jian)：需要光(guang)標(biao)快速(su)回(hui)到(dao)屏(ping)幕zui左端時(shi)按(an)此(ci)鍵(jian)。
“定(ding)位(wei)”鍵(jian)：計算距(ju)離起點(dian)鍵(jian)。在光(guang)標(biao)移(yi)動(dong)到(dao)特征(zheng)波(bo)形的(de)起始拐(guai)點(dian)處(chu)按此(ci)鍵(jian)。
“左移(yi)”鍵(jian)和(he)“右(you)移(yi)”鍵(jian)：這(zhe)兩(liang)個鍵(jian)用於(yu)控制光(guang)標(biao)的(de)左右(you)移(yi)動(dong)。當(dang)按動它們(men)時，遊(you)標(biao)移(yi)動(dong)，每(mei)按(an)壹(yi)次(ci)移(yi)動(dong)壹(yi)個單位(wei)。此外(wai)，為(wei)了(le)快速(su)移(yi)動(dong)遊(you)標(biao)，可(ke)以用(yong)鼠(shu)標拖(tuo)動遊標，到(dao)合(he)適的(de)位(wei)置松(song)開(kai)即可(ke)。
“復位(wei)”鍵(jian)：系統(tong)復位(wei)鍵(jian)。無論系統(tong)處(chu)於何(he)種狀態(tai)，按(an)此鍵(jian)均(jun)可(ke)進(jin)入系統(tong)主(zhu)界(jie)面(mian)。
波(bo)形比較(jiao)：有(you)四(si)個鍵(jian)。
“儲存(cun)”鍵(jian)：按此(ci)鍵(jian)可(ke)將(jiang)測試的(de)波(bo)形和(he)數據(ju)存儲(chu)於電腦中。（“存儲”與(yu)“存盤(pan)”不同。“存盤(pan)”是(shi)將(jiang)數(shu)據存(cun)儲(chu)在磁(ci)盤上，可(ke)長(chang)期(qi)保(bao)存，而(er)“存儲(chu)”只是(shi)將(jiang)數(shu)據存(cun)儲(chu)在電腦內(nei)存(cun)中，關機(ji)後數據(ju)會(hui)丟(diu)失。）
“調(tiao)用”鍵(jian)：與(yu)“存儲(chu)”鍵(jian)配合(he)使用(yong)。按(an)此(ci)鍵(jian)可(ke)在(zai)屏幕上(shang)顯示上(shang)次(ci)存儲(chu)的(de)內(nei)容，以便(bian)分析(xi)與(yu)計算。
“比較(jiao)”鍵(jian)：按此(ci)鍵(jian)可(ke)將(jiang)現測的波(bo)形和(he)儀器內存儲的(de)波(bo)形同時顯示在(zai)屏(ping)幕上(shang)，用戶(hu)可(ke)對這(zhe)兩(liang)幅(fu)波(bo)形進(jin)行(xing)比較(jiao)分(fen)析。
“平移(yi)”鍵(jian)：按此(ci)鍵(jian)進入圖(tu)形左右(you)移(yi)動(dong)功能，點(dian)“左移(yi)”鍵(jian)可(ke)將(jiang)兩(liang)個波(bo)形的(de)起點(dian)對齊(qi)。
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