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SDDL-2014電(dian)纜(lan)故障(zhang)定點儀(yi)
簡介(jie)
系(xi)統組(zu)成(cheng)
電(dian)纜(lan)故(gu)障(zhang)測試管理系(xi)統由(you)測試系(xi)統、路徑(jing)信(xin)號(hao)產生器、路徑(jing)信(xin)號(hao)接收(shou)器和定位儀(yi)器幾部(bu)分(fen)組(zu)成(cheng)，可(ke)完(wan)成(cheng)電纜故障(zhang)的測(ce)試和(he)電纜(lan)資料的管理兩項任務(wu)。
筆記(ji)本(ben)電腦(nao)進行(xing)測量(liang)控(kong)制、數(shu)據處(chu)理和電纜資(zi)料管理。
故障(zhang)測試系(xi)統與筆記(ji)本(ben)配合(he)可在(zai)故障(zhang)電纜(lan)壹端(duan)測出(chu)故(gu)障(zhang)點距(ju)測試端(duan)的距(ju)離(li)，也(ye)可用來(lai)測量(liang)電纜(lan)的長(chang)度(du)和電(dian)波在(zai)電纜(lan)中(zhong)的傳(chuan)播速度(du)。
路徑(jing)信(xin)號(hao)產生器可產(chan)生15KHZ、zui大幅度30V的斷(duan)續(xu)正弦(xian)波信(xin)號(hao)，用於尋(xun)測(ce)電(dian)纜(lan)路徑(jing)。
路徑(jing)信(xin)號(hao)接收(shou)器用來(lai)接收(shou)路徑(jing)信(xin)號(hao)，查找(zhao)電(dian)纜(lan)走向(xiang)和(he)估測電纜(lan)埋設深度(du)。
定位儀(yi)用於故(gu)障(zhang)點的定位。
技(ji)術性能
●可測(ce)試各種電力(li)電纜(lan)的各類(lei)故障(zhang)及通(tong)信(xin)電(dian)纜和(he)市(shi)話電(dian)纜的開(kai)路、短(duan)路故(gu)障(zhang)。
●可測(ce)量(liang)長度(du)已(yi)知的任(ren)何電纜中(zhong)電波傳(chuan)播的速(su)度(du)。
●測試距(ju)離(li)：不小(xiao)於40千米(mi)
●系(xi)統誤(wu)差(cha)：小於(yu)0.5米(mi)
●采樣(yang)頻(pin)率：25MHz
●測(ce)試盲(mang)區(qu)：小(xiao)於(yu)5米(mi)
●電源(yuan)：交(jiao)流220V±10％
2、路徑(jing)儀信(xin)號(hao)產生器。
●信(xin)號(hao)頻(pin)率：15KHz
●振(zhen)蕩(dang)方(fang)式(shi)：斷(duan)續(xu)
●輸出功率：30W
●電(dian)源(yuan)：220V±10％
定位儀(yi)
測試靈敏度：50Ω內(nei)阻的信(xin)號(hao)源(yuan)輸(shu)出(chu)300Hz信(xin)號(hao)，定點儀(yi)在(zai)維持輸(shu)出(chu)為(wei)2V、信(xin)雜(za)比優於(yu)20：1的情(qing)況下(xia)輸入信(xin)號(hao)不大(da)於(yu)10 μV。
●輸(shu)入阻抗(kang)：不小(xiao)於(yu)1.2KΩ。 ●使用2×2000Ω耳機。
●工作(zuo)電(dian)壓(ya)：9V±10％。 ●使用環境(jing)溫(wen)度(du)：-10℃～40℃
按下(xia)控(kong)制面板上(shang)的控(kong)制開關，啟動(dong)工控(kong)機。後(hou)打開(kai)電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)，啟動(dong)WindowsXP後(hou)，雙(shuang)擊桌(zhuo)面(mian)上(shang)的測(ce)試管理系(xi)統，屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)主(zhu)控(kong)界(jie)面如右圖(tu)。（如使用外接筆記(ji)本(ben)則(ze)不(bu)要打開控(kong)制開關，將(jiang)USB線(xian)插入下側(ce)USB接口(kou)，則(ze)可(ke)控(kong)測(ce)試系(xi)統。）上(shang)側(ce)USB是(shi)內置(zhi)工控(kong)機數(shu)據輸(shu)入輸出(chu)接口(kou)<按“測(ce)試”按(an)鈕進(jin)入測試方(fang)式(shi)；按“管理”按鈕進入電纜(lan)資(zi)料和測試資(zi)料的日(ri)常(chang)管理；按“幫(bang)助(zhu)”進入幫(bang)助(zhu)系(xi)統；按(an)“結束(shu)”退出測試管理系(xi)統。
*部(bu)分 電(dian)纜(lan)故(gu)障(zhang)測試
壹(yi)、測試原理
本儀器采用時域(yu)反(fan)射（TDR）原理，對被測電(dian)纜(lan)發(fa)射壹(yi)系(xi)列電(dian)脈(mai)沖(chong)，並(bing)接收(shou)電纜中(zhong)因阻抗(kang)變化引(yin)起的反(fan)射脈(mai)沖(chong)，再(zai)根據電(dian)波在(zai)電纜(lan)中(zhong)的傳(chuan)播速度(du)和(he)兩(liang)次(ci)反(fan)射波(bo)的特(te)征(zheng)拐點代(dai)表的時(shi)間(jian)，可(ke)測出故障(zhang)點到(dao)測(ce)試端(duan)的距(ju)離(li)為(wei)：
S=VT/2
式(shi)中：S代(dai)表故障(zhang)點到(dao)測(ce)試端(duan)的距(ju)離(li)
V代表電波(bo)在(zai)電纜(lan)中(zhong)的傳(chuan)播速度(du)
T代(dai)表電波(bo)在(zai)電纜(lan)中(zhong)來(lai)回(hui)傳播所需要的時(shi)間(jian)
這(zhe)樣(yang)，在(zai)V已(yi)知和(he)T已(yi)經測出(chu)的情(qing)況下(xia)，就(jiu)可(ke)計(ji)算(suan)出故(gu)障(zhang)點距(ju)測試。端(duan)的距(ju)離(li)S 。這(zhe)壹(yi)切(qie)只需稍加人(ren)工幹預(yu)，就(jiu)可(ke)由(you)計(ji)算(suan)機自(zi)動完(wan)成，測試故(gu)障(zhang)迅速(su)準確。
二(er)、測試系(xi)統控(kong)制面板介(jie)紹
測(ce)試面(mian)板可(ke)分為(wei)四(si)部分(fen)：菜單欄(lan)、狀(zhuang)態(tai)欄、圖(tu)形顯(xian)示區(qu)、功能鍵(jian)區(qu)。
１、菜(cai)單(dan)欄(lan)
菜單欄(lan)包括(kuo)：“數(shu)據管理”和“測試幫(bang)助(zhu)”兩個(ge)菜單(dan)項(xiang)。
“數(shu)據管理”菜單：包括(kuo)“打(da)印”，“讀(du)盤”，“存(cun)盤”，“結束”四(si)個菜(cai)單項。
選(xuan)擇(ze)“打印”可將(jiang)屏(ping)幕(mu)顯(xian)示(shi)內(nei)容(rong)用打印機打印出來(lai)；選“存(cun)盤”可將測試的波(bo)形(xing)和數(shu)據存(cun)儲於電腦(nao)的硬(ying)盤(pan)或(huo)者(zhe)軟(ruan)盤中(zhong)，作為(wei)資料保存(cun)；選“讀(du)盤”可(ke)調(tiao)出(chu)以前測試時(shi)存(cun)在(zai)磁盤(pan)內(nei)的波(bo)形(xing)；選“結(jie)束”可退出該控(kong)制面板。
“測(ce)試幫(bang)助(zhu)”：點擊(ji)該菜(cai)單，可顯(xian)示測(ce)試管理系(xi)統的使用說(shuo)明(ming)書，可打(da)印輸出(chu)。
2、狀(zhuang)態(tai)欄
狀(zhuang)態(tai)欄裏(li)顯示四(si)個方(fang)面的信(xin)息(xi)，zui左(zuo)邊是(shi)測試方(fang)式(shi)；第二(er)個是(shi)選擇(ze)的電(dian)纜(lan)介(jie)質所(suo)對(dui)應(ying)電波(bo)速(su)度（若是(shi)測速度(du)，則(ze)不(bu)顯示介(jie)質信(xin)息(xi)）第三(san)個是(shi)故障(zhang)距離(li)（或(huo)電(dian)纜(lan)長(chang)度），右邊顯(xian)示測(ce)試日(ri)期。3、圖(tu)形顯(xian)示區(qu)
圖(tu)形顯(xian)示區(qu)用來(lai)顯示(shi)采樣(yang)所得的波(bo)形(xing)，對波(bo)形進行(xing)分析(xi)處(chu)理和顯示處(chu)理結果。
4、功能鍵(jian)區(qu)
功能鍵(jian)區(qu)由(you)14個(ge)按(an)鍵組(zu)成(cheng)，可(ke)分(fen)為(wei)三(san)類(lei)。
初(chu)始(shi)化數(shu)據：包(bao)括測試方(fang)法和(he)介(jie)質選(xuan)擇(ze)兩個鍵(jian)。
測試方(fang)法：有(you)兩(liang)種選擇(ze)，“測故障(zhang)”和“測(ce)速度(du)”。
基本的測(ce)試方(fang)法有(you)三(san)種， “低壓(ya)脈(mai)沖(chong)”，“沖(chong)閃(shan)”，“直(zhi)閃(shan)”。
“低(di)壓(ya)脈(mai)沖(chong)”包(bao)括有(you)“2μs”和(he)“0.2μs”兩種脈寬可選擇(ze)；“沖(chong)閃(shan)”包(bao)括“電感電壓(ya)取樣(yang)”，“電阻電壓(ya)取樣(yang)”，“電流取樣(yang)”三(san)個菜(cai)單項；“直(zhi)閃(shan)”包(bao)括“電壓(ya)取樣(yang)”“電流取樣(yang)”兩個(ge)菜單(dan)項。
介(jie)質選(xuan)擇(ze)：
程(cheng)序(xu)初(chu)始(shi)化時設(she)置(zhi)為(wei)：“油(you)浸(jin)紙型(xing)”，如(ru)果是(shi)其(qi)他介(jie)質的電(dian)纜(lan)，可根據電(dian)纜的介(jie)質選(xuan)擇(ze)。共有五(wu)選項：“油(you)浸(jin)紙型(xing)”，“不(bu)滴流型(xing)”，“交(jiao)聯乙烯(xi)”，“聚氯(lv)乙烯(xi)”，“自(zi)選介(jie)質”五(wu)個(ge)菜(cai)單項(xiang) 。
選(xuan)擇(ze)其(qi)中(zhong)壹(yi)個菜(cai)單項就(jiu)等(deng)於(yu)選擇(ze)壹種速度(du)，即(ji)電(dian)波在(zai)該電(dian)纜中的傳(chuan)播速度(du)。
數(shu)據采樣(yang)與測試：共(gong)有八(ba)個按鍵。
“采樣(yang)”鍵：在(zai)系(xi)統測(ce)試時(shi)采用。每(mei)按(an)動(dong)壹(yi)次(ci)“采樣(yang)”鍵，系(xi)統便采集(ji)壹(yi)次(ci)數(shu)據，並(bing)可以在(zai)圖(tu)形顯(xian)示區(qu)繪(hui)出(chu)波(bo)形圖(tu)來(lai)。
“擴(kuo)展”鍵(jian)：為(wei)了(le)計算(suan)故障(zhang)距離(li)，按此(ci)鍵可將顯示的波(bo)形(xing)擴(kuo)展後(hou)再計(ji)算(suan)。每(mei)按(an)壹(yi)次(ci)波(bo)形擴(kuo)展壹(yi)倍(bei)，按(an)四(si)次(ci)為(wei)壹個(ge)循環。
“卷動”鍵(jian)：波形(xing)擴(kuo)展後(hou)，故障(zhang)點特(te)征(zheng)波形可(ke)能(neng)會出於(yu)*屏以外的其(qi)它屏(ping)內，按此鍵(jian)可(ke)將(jiang)顯示內(nei)容(rong)壹(yi)屏壹屏(ping)地(di)向(xiang)左(zuo)移(yi)動，直(zhi)到(dao)故(gu)障(zhang)波形(xing)在(zai)屏顯(xian)示(shi)出來(lai)，便在(zai)光標(biao)定位。
“歸(gui)位”鍵(jian)：需要光標快速(su)回(hui)到(dao)屏(ping)幕(mu)zui左(zuo)端(duan)時按(an)此(ci)鍵(jian)。
“定位”鍵(jian)：計算(suan)距離(li)起點鍵(jian)。在(zai)光標(biao)移(yi)動到(dao)特(te)征(zheng)波形的起始(shi)拐點處(chu)按此(ci)鍵。
“左(zuo)移(yi)”鍵和“右移(yi)”鍵(jian)：這(zhe)兩(liang)個(ge)鍵用於控(kong)制光標的左(zuo)右移(yi)動(dong)。當(dang)按(an)動(dong)它們(men)時(shi)，遊標移(yi)動，每(mei)按(an)壹(yi)次(ci)移(yi)動壹個(ge)單(dan)位。此(ci)外，為(wei)了(le)快速(su)移動遊標，可(ke)以用鼠(shu)標拖(tuo)動遊標，到(dao)合(he)適的位(wei)置(zhi)松(song)開即(ji)可(ke)。
“復位”鍵(jian)：系(xi)統復位鍵(jian)。無論(lun)系(xi)統處(chu)於何種狀(zhuang)態(tai)，按此(ci)鍵均(jun)可(ke)進入系(xi)統主(zhu)界面(mian)。
波(bo)形(xing)比較(jiao)：有四(si)個鍵(jian)。
“儲存(cun)”鍵：按此鍵可將(jiang)測試的波(bo)形(xing)和數(shu)據存(cun)儲於電腦(nao)中。（“存(cun)儲”與“存(cun)盤”不同。“存(cun)盤”是(shi)將數(shu)據存(cun)儲在(zai)磁盤(pan)上(shang)，可(ke)長期保存(cun)，而“存(cun)儲”只是(shi)將數(shu)據存(cun)儲在(zai)電腦(nao)內存(cun)中，關機後(hou)數(shu)據會(hui)丟失。）
“調(tiao)用”鍵：與“存(cun)儲”鍵配合(he)使用。按此(ci)鍵(jian)可在(zai)屏幕(mu)上(shang)顯(xian)示上(shang)次(ci)存(cun)儲的內(nei)容(rong)，以便分(fen)析(xi)與計算(suan)。
“比較(jiao)”鍵：按(an)此(ci)鍵可(ke)將(jiang)現測的波(bo)形(xing)和儀(yi)器內存(cun)儲的波(bo)形(xing)同時顯示(shi)在(zai)屏幕(mu)上(shang)，用戶可(ke)對(dui)這(zhe)兩(liang)幅波形(xing)進行(xing)比較(jiao)分析(xi)。
“平移(yi)”鍵：按此鍵進(jin)入圖(tu)形左(zuo)右移(yi)動(dong)功能，點(dian)“左(zuo)移(yi)”鍵可將兩(liang)個(ge)波(bo)形的起點對(dui)齊(qi)。
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