PROLIST
產(chan)品展(zhan)示(shi)您的位(wei)置(zhi) >> 首(shou)頁 > 產(chan)品展(zhan)示(shi) > 全自(zi)動互感(gan)器測(ce)試儀 > CT分(fen)析(xi)儀 > HTCT-300 CT參數分(fen)析(xi)儀廠(chang)家(jia)
HTCT-300 CT參數分(fen)析(xi)儀適用(yong)測(ce)量電流(liu)電壓(ya)互感(gan)器的勵磁特(te)性，勵磁參(can)數，匝比，極性(xing)線(xian)圈電阻(zu)等多(duo)種試驗參數 參(can)考標準(zhun)： JB-T5356-2002，JJF1021-2007 用(yong)於(yu)電(dian)流(liu)互感(gan)器的多(duo)種(zhong)試驗(yan) 用(yong)於(yu)電(dian)壓(ya)互感(gan)器的多(duo)種(zhong)試驗(yan) 用(yong)於(yu)電(dian)壓(ya)互感(gan)器的PT勵磁特(te)性試(shi)驗，PT匝數(shu)比檢測(ce)，PT極性(xing)校(xiao)驗(yan)等(deng)多種試驗
HTCT-300CT參(can)數分(fen)析(xi)儀是(shi)在(zai)本(ben)公司開發的、廣(guang)受(shou)贊譽(yu)並(bing)大(da)量應用(yong)的互感(gan)器多功能全自(zi)動綜合測(ce)試儀基礎(chu)上，廣泛(fan)聽(ting)取用(yong)戶意見、經(jing)過(guo)大(da)量的市(shi)場(chang)調(tiao)研、深(shen)入(ru)進行(xing)理(li)論研究(jiu)之(zhi)後研發的新(xin)壹(yi)代革新型(xing)CT、PT測(ce)試儀器。裝置(zhi)采用(yong)高性(xing)能DSP和(he)ARM、*制(zhi)造(zao)工藝，保(bao)證了(le)產(chan)品性(xing)能穩(wen)定(ding)可靠、功(gong)能完備(bei)、自(zi)動化程(cheng)度高、測(ce)試效率高、在(zai)國內(nei)處於水平(ping)，是(shi)電(dian)力(li)行(xing)業(ye)用(yong)於(yu)互感(gan)器的專(zhuan)業(ye)測(ce)試儀器。
CT參(can)數(shu)分(fen)析(xi)儀、CT分(fen)析(xi)儀、變(bian)頻(pin)CT分(fen)析(xi)儀、C T分(fen)析(xi)儀、互感(gan)器特(te)性測(ce)試儀、變(bian)頻(pin)互感(gan)器特(te)性測(ce)試儀、互感(gan)器暫態特(te)性分(fen)析(xi)儀、電流(liu)互感(gan)器檢驗儀、CT特(te)性分(fen)析(xi)儀、電流(liu)互感(gan)器參數分(fen)析(xi)儀、電流(liu)互感(gan)器特(te)性分(fen)析(xi)儀、CT參數測(ce)試儀、電流(liu)互感(gan)器參數測(ce)試儀、電流(liu)互感(gan)器特(te)性測(ce)試儀
1、功能全面，既(ji)滿足各類CT（如：保(bao)護類、計(ji)量類、 類）的勵磁特(te)性（即(ji)伏(fu)安(an)特(te)性）、變(bian)比、極性(xing)、二次繞組(zu)電阻(zu)、二次負荷、比差以(yi)及角差等測(ce)試要(yao)求(qiu)，又可用(yong)於(yu)各類 PT電磁單元的勵磁特(te)性、變(bian)比、極性(xing)、二次繞組(zu)電阻(zu)、比差以(yi)及角差等測(ce)試
2、自(zi)動給出拐點電壓(ya)/電(dian)流(liu)、10%(5%)誤(wu)差曲(qu)線(xian)、準(zhun)確(que)限值系數（ALF）、儀表保(bao)安(an)系數（FS）、二次時間常數(Ts)、剩(sheng)磁系數(Kr)、飽(bao)和(he)及不飽(bao)和(he)電感(gan)等(deng)CT、PT參數
3、測(ce)試滿足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各類互感(gan)器標準(zhun)，並(bing)依(yi)照互感(gan)器類型(xing)和(he)級別自動選擇(ze)何(he)種(zhong)標準(zhun)進行(xing)測(ce)試
4、基(ji)於(yu)*低(di)頻(pin)法測(ce)試原(yuan)理(li)，能應對拐點高達30KV的CT測(ce)試
5、界面友(you)好(hao)美(mei)觀(guan)，全中(zhong)文(wen)圖(tu)形(xing)界面
6、裝(zhuang)置(zhi)可存儲(chu)2000組(zu)測(ce)試數(shu)據(ju)，掉(diao)電不丟(diu)失。試驗完畢(bi)後用(yong)U盤(pan)存入(ru)PC機，用(yong)軟(ruan)件進行(xing)數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)，並(bing)生成WORD報告
7、測(ce)試簡(jian)單方便(bian)，壹(yi)鍵完成CT直(zhi)阻(zu)、勵磁、變(bian)比和(he)極性(xing)測(ce)試，而(er)且(qie)除了(le)負荷測(ce)試外(wai)，CT其(qi)他(ta)各項測(ce)試都(dou)是(shi)采用(yong)同(tong)壹(yi)種接(jie)線(xian)方式
8、易於攜帶(dai)，裝置(zhi)重(zhong)量<9Kg
|
||||
|
||||
 |
 |
