DGCT-TCT參數(shu)分(fen)析儀

DGCT-T CT參數(shu)分(fen)析儀是按(an)照鼎升(sheng)電力研(yan)發(fa)中心參照IEC60044-1/GB1208, IEC60044-2/GB1207，IEC60044-6/GB16847和IEEE C57.13國(guo)內(nei)外的(de)技(ji)術(shu)標(biao)準而研(yan)發(fa)生(sheng)產的(de) CT參數(shu)分(fen)析儀，也(ye)稱為(wei)互(hu)感(gan)器(qi)綜(zong)合(he)測試儀(yi)和CT分(fen)析儀， CT參數(shu)分(fen)析儀可以獲(huo)得(de)電流(liu)電壓互(hu)感(gan)器(qi)的(de)勵(li)磁(ci)特性(xing)，勵(li)磁(ci)參數(shu)，匝(za)比，匝(za)比誤差(cha)，極性(xing)線圈電阻等(deng)多(duo)種(zhong)試驗(yan)參數(shu)，CT參數(shu)分(fen)析儀可測被測電流(liu)

• 更(geng)新時(shi)間：2024-05-07
• 瀏覽次(ci)數(shu)：1550
• 廠(chang)商性(xing)質：生(sheng)產廠家(jia)
• 產   地：上海寶(bao)山(shan)

訂購留言(yan)

儀(yi)器(qi)功(gong)能

1、CT參數(shu)分(fen)析儀用(yong)於(yu)電流(liu)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)以(yi)下(xia)試(shi)驗(yan)：
勵(li)磁(ci)特性(xing)試驗(yan)試驗(yan)
匝(za)數比(bi)檢(jian)測試驗(yan)
比差(cha)與角差(cha)校驗(yan)試驗(yan)
極性(xing)校驗(yan)試驗(yan)
二(er)次繞(rao)組電阻測量試驗(yan)
二(er)次負(fu)荷測量試驗(yan)
5%和10%誤差(cha)曲線(xian)測量試驗(yan)
CT暫(zan)態(tai)特性(xing)測試與分析試驗(yan)
CT銘牌(pai)自(zi)動(dong)推斷試驗(yan)
拐點(dian)電壓/電流(liu)、準確限(xian)值系(xi)數(shu)、儀(yi)表(biao)保(bao)安(an)系(xi)數、二(er)次時(shi)間常數(shu)、剩磁(ci)系數(shu)、準確級(ji)、飽和(he)與不飽及電感(gan)等(deng)CT參數(shu)的(de)測量
2、CT參數(shu)分(fen)析儀還可用於(yu)電壓互(hu)感(gan)器(qi)的(de)以(yi)下(xia)試(shi)驗(yan)：
PT匝(za)數比(bi)檢(jian)測試驗(yan)
PT極性(xing)校驗(yan)試驗(yan)
PT二(er)次繞(rao)組電阻測量試驗(yan)
PT二(er)次負(fu)荷測量試驗(yan)
3、該CT參數(shu)分(fen)析儀裝(zhuang)置(zhi)的(de)應用場(chang)合(he)主要(yao)有(you)：
CT銘牌的(de)參數(shu)校驗(yan)試驗(yan)
CT接入當前(qian)負(fu)荷(he)時(shi)參數(shu)校驗(yan)試驗(yan)
分析CT的(de)暫(zan)態(tai)特性(xing)對(dui)繼電保護(hu)裝(zhuang)置的(de)影(ying)響(xiang) 
PT的(de)銘(ming)牌(pai)參數(shu)校驗(yan)試驗(yan)
PT二(er)次負(fu)荷校驗(yan)試驗(yan)